一種雙天線的電磁干擾測(cè)試方法和系統(tǒng)的制作方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電磁干擾測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種雙天線的電磁干擾測(cè)試方法和系統(tǒng)。
【【背景技術(shù)】】
[0002]輻射干擾測(cè)試是電磁兼容測(cè)試領(lǐng)域中的一項(xiàng)重要項(xiàng)目，幾乎所有的電子產(chǎn)品都需要執(zhí)行此測(cè)試才能進(jìn)入流通市場(chǎng)。該測(cè)試當(dāng)前的方案主要是在一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試場(chǎng)地，利用一根天線進(jìn)行接收電磁波，再將電磁波傳遞到接收機(jī)或頻譜分析儀進(jìn)行分析并最終得出數(shù)據(jù)，但為測(cè)試出電子產(chǎn)品的最大干擾強(qiáng)度，實(shí)際測(cè)試時(shí)除了必要的旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)和天線塔以外，還必須將測(cè)量天線分別置于水平極化和垂直極化進(jìn)行，除此之外還需要在產(chǎn)品的不同工作模式下進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。隨著社會(huì)的發(fā)展以及產(chǎn)品功能的更加復(fù)雜多樣化，進(jìn)行一個(gè)電子產(chǎn)品的輻射干擾測(cè)試所花費(fèi)的時(shí)間也就越來越長(zhǎng)。在這種情形下，需要采取一些更加高效的測(cè)試方法來降低測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試效率。
[0003]關(guān)于輻射干擾的測(cè)試時(shí)間，其等于產(chǎn)品模式數(shù)量*單個(gè)模式及單個(gè)天線極化方向下的測(cè)試時(shí)間*2 (天線水平極化+垂直極化)，由此可見兩個(gè)極化方向也就意味著測(cè)試時(shí)間翻倍。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種同時(shí)進(jìn)行水平極化和垂直極化測(cè)試的方法，用以同時(shí)得出水平和垂直的輻射干擾測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:
[0005]一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種雙天線的電磁干擾測(cè)試方法，包括設(shè)置為水平方向極化的天線A、設(shè)置為垂直方向極化的天線B、開關(guān)矩陣和HMI接收機(jī)，所述方法包括:
[0006]控制所述開關(guān)矩陣分別連接其雙進(jìn)端口 A和端口 B到所述天線A和天線B，分別連接所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D到所述EMI接收機(jī)的信號(hào)輸入端口 ；
[0007]控制所述雙進(jìn)開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 D，使得所述EMI接收機(jī)上能夠分別顯示水平方向極化的天線A和垂直方向極化的天線B接收到的信號(hào)。
[0008]優(yōu)選的，所述EMI接收機(jī)具體包括EMI接收機(jī)A和EMI接收機(jī)B時(shí)，所述分別連接所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D到所述EMI接收機(jī)的信號(hào)輸入端口，具體包括:所述雙出端口 C和端口 D分別連接到所述EMI接收機(jī)A和EMI接收機(jī)B，則所述方法還包括:控制所述開關(guān)矩陣，切換內(nèi)部端口連接方式，導(dǎo)通所述端口 A和端口 D，以及端口 B和端口 C。
[0009]優(yōu)選的，所述顯示水平方向極化的天線A和垂直方向極化的天線B接收到的信號(hào)，具體還包括:顯示接收到信號(hào)對(duì)應(yīng)的峰值、準(zhǔn)峰值、平均值，輸出功率中的一種或者多種參數(shù)數(shù)據(jù)。
[0010]優(yōu)選的，調(diào)整開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 C，使得所述EMI接收機(jī)上能夠顯示混合了所述天線A和天線B接收的信號(hào)的頻譜。
[0011]另一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種雙天線的電磁干擾測(cè)試方法，包括設(shè)置為水平方向極化的天線A、設(shè)置為垂直方向極化的天線B、開關(guān)矩陣、EMI接收機(jī)和頻譜分析儀，所述方法包括:
[0012]控制所述開關(guān)矩陣分別連接其雙進(jìn)端口 A和端口 B到所述天線A和天線B，分別連接所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D到所述EMI接收機(jī)的信號(hào)輸入端口和頻譜分析儀的信號(hào)輸入端口 ；控制所述雙進(jìn)開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 D，并在所述EMI接收機(jī)完成對(duì)所述天線A的信號(hào)記錄和所述頻譜分析儀對(duì)天線B的信號(hào)記錄后，切換端口 A和端口 D導(dǎo)通，以及端口 B和端口 C導(dǎo)通。
[0013]優(yōu)選的，所述EMI接收機(jī)完成對(duì)所述天線A的信號(hào)記錄，具體包括:峰值、準(zhǔn)峰值、平均值，輸出功率中的一種或者多種參數(shù)數(shù)據(jù)的記錄。
[0014]優(yōu)選的，所述頻譜分析儀對(duì)天線B的信號(hào)記錄，具體包括:信號(hào)失真度、調(diào)制度、譜純度、頻率穩(wěn)定度和交調(diào)失真中的一種或者多種參數(shù)數(shù)據(jù)的記錄。
[0015]還有一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種雙天線的電磁干擾測(cè)試系統(tǒng)，包括設(shè)置為水平方向極化的天線A、設(shè)置為垂直方向極化的天線B、開關(guān)矩陣和EMI接收機(jī)，所述系統(tǒng)包括:
[0016]控制所述開關(guān)矩陣分別連接其雙進(jìn)端口 A和端口 B到所述天線A和天線B，分別連接所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D到所述EMI接收機(jī)的信號(hào)輸入端口 ；控制所述雙進(jìn)開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 D，使得所述EMI接收機(jī)上能夠分別顯示水平方向極化的天線A和垂直方向極化的天線B接收到的信號(hào)。
[0017]優(yōu)選的，調(diào)整開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 C，使得所述EMI接收機(jī)上能夠顯示混合了所述天線A和天線B接收的信號(hào)的頻譜。
[0018]還有一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種雙天線的電磁干擾測(cè)試系統(tǒng)，包括設(shè)置為水平方向極化的天線A、設(shè)置為垂直方向極化的天線B、開關(guān)矩陣、EMI接收機(jī)和頻譜分析儀，所述系統(tǒng)包括:
[0019]控制所述開關(guān)矩陣分別連接其雙進(jìn)端口 A和端口 B到所述天線A和天線B，分別連接所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D到所述EMI接收機(jī)的信號(hào)輸入端口和頻譜分析儀的信號(hào)輸入端口 ；控制所述雙進(jìn)開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 D，并在所述EMI接收機(jī)完成對(duì)所述天線A的信號(hào)記錄和所述頻譜分析儀對(duì)天線B的信號(hào)記錄后，切換端口 A和端口 D導(dǎo)通，以及端口 B和端口 C導(dǎo)通。
[0020]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明實(shí)施例利用了兩根接收天線來同時(shí)測(cè)量水平和垂直方向的干擾信號(hào)，以及開關(guān)矩陣，解決了因?yàn)楦鼡Q天線極化方向造成的雙倍測(cè)量時(shí)間，極大的提高了測(cè)量效率。
【【附圖說明】】
[0021]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種雙天線的電磁干擾測(cè)試的方法流程圖；
[0022]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種雙天線的電磁干擾測(cè)試的方法流程圖；
[0023]圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種雙天線的電磁干擾測(cè)試的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種雙天線的電磁干擾測(cè)試的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0025]圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種雙天線的電磁干擾測(cè)試的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖?！尽揪唧w實(shí)施方式】】
[0026]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0027]此外，下面所描述的本發(fā)明各個(gè)實(shí)施方式中所涉及到的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互組合。
[0028]實(shí)施例1:
[0029]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例1提供了一種雙天線的電磁干擾測(cè)試方法，包括設(shè)置為水平方向極化的天線A、設(shè)置為垂直方向極化的天線B、開關(guān)矩陣和EMI接收機(jī)，所述方法包括:
[0030]在步驟201中，控制所述開關(guān)矩陣分別連接其雙進(jìn)端口 A和端口 B到所述天線A和天線B，分別連接所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D到所述EMI接收機(jī)的信號(hào)輸入端口。[0031 ] 在步驟202中，控制所述雙進(jìn)開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 D，使得所述EMI接收機(jī)上能夠分別顯示水平方向極化的天線A和垂直方向極化的天線B接收到的信號(hào)。
[0032]其中，顯示接收到的信號(hào)，包括的顯示接收到信號(hào)對(duì)應(yīng)的峰值、準(zhǔn)峰值、平均值，輸出功率中的一種或者多種參數(shù)數(shù)據(jù)。
[0033]本發(fā)明實(shí)施例利用了兩根接收天線來同時(shí)測(cè)量水平和垂直方向的干擾信號(hào)，以及開關(guān)矩陣，解決了因?yàn)楦鼡Q天線極化方向造成的雙倍測(cè)量時(shí)間，極大的提高了測(cè)量效率。
[0034]在本實(shí)施例中，所述EMI接收機(jī)具體可以是由I臺(tái)提供2個(gè)信號(hào)輸入端口給所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D，其對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖3所示；也可以是由2臺(tái)EMI接收機(jī)分別提供I個(gè)信號(hào)輸入端口給所述開關(guān)矩陣的雙出端口 C和端口 D，其對(duì)應(yīng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖4所示。對(duì)于其中后者的實(shí)現(xiàn)方式，具體包括:所述雙出端口 C和端口 D分別連接到所述EMI接收機(jī)A和EMI接收機(jī)B，則所述方法還包括:控制所述開關(guān)矩陣，切換內(nèi)部端口連接方式，導(dǎo)通所述端口 A和端口 D，以及端口 B和端口 C。
[0035]結(jié)合本實(shí)施例所述的開關(guān)矩陣，不僅提供如實(shí)施例一所述的雙通道并行測(cè)試功能，還能夠提供極化天線間信號(hào)干擾后的測(cè)試結(jié)果。因此，結(jié)合本實(shí)施例還存在一種擴(kuò)展的實(shí)現(xiàn)方案，其中，調(diào)整開關(guān)矩陣，導(dǎo)通所述端口 A和端口 C，以及端口 B和端口 C，使得所述EMI接收機(jī)上能夠顯示混合了所述天線A和天線B接收的信號(hào)的頻譜。
[0036]實(shí)施例2:<