一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機(jī)械工裝治具,特別是涉及一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在電子制造產(chǎn)業(yè)中,電路板的生產(chǎn)制造是一個(gè)很總要的環(huán)節(jié),電路板在生產(chǎn)中需要對(duì)每塊電路進(jìn)行通斷測(cè)試,之前的工藝全部是通過(guò)工人對(duì)每個(gè)點(diǎn)依次進(jìn)行測(cè)試檢查,這樣的效率是非常低的,往往需要很多的工人等待在生產(chǎn)線上。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0003]本發(fā)明主要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,能夠快速裝載測(cè)試,對(duì)同一電路板的多個(gè)接點(diǎn)一次性全部測(cè)試結(jié)束,測(cè)試效率快數(shù)倍,而且不會(huì)遺漏測(cè)試接點(diǎn)。
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,其使用方法為:第一步拉開手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)的手動(dòng)直推夾鉗,第二步將待測(cè)試電路板放置到中空測(cè)試座的上平面,定位好探針位置,第三步往下拉手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)的手動(dòng)直推夾鉗手柄,壓縮彈性滑柱,將絕緣上壓板下壓到待測(cè)試電路板,使得待測(cè)試電路板和探針接觸上,第四步通電測(cè)試,電路板接點(diǎn)不通的發(fā)聲報(bào)警,結(jié)束后松開手動(dòng)直推夾鉗,取出電路板。
[0005]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,能夠快速裝載測(cè)試,對(duì)同一電路板的多個(gè)接點(diǎn)一次性全部測(cè)試結(jié)束,測(cè)試效率快數(shù)倍,而且不會(huì)遺漏測(cè)試接點(diǎn)。
【附圖說(shuō)明】
[0006]圖1是本發(fā)明一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0007]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述,以使發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解,從而對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
[0008]請(qǐng)參閱圖1,本發(fā)明實(shí)施例包括:
一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,其使用方法為:第一步拉開手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)I的手動(dòng)直推夾鉗2,第二步將待測(cè)試電路板3放置到中空測(cè)試座4的上平面,定位好探針5位置,第三步往下拉手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)I的手動(dòng)直推夾鉗2手柄,壓縮彈性滑柱6,將絕緣上壓板7下壓到待測(cè)試電路板3,使得待測(cè)試電路板3和探針5接觸上,第四步通電測(cè)試,電路板接點(diǎn)不通的發(fā)聲報(bào)警,結(jié)束后松開手動(dòng)直推夾鉗2,取出電路板。
[0009]本發(fā)明一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,能夠快速裝載測(cè)試,對(duì)同一電路板的多個(gè)接點(diǎn)一次性全部測(cè)試結(jié)束,測(cè)試效率快數(shù)倍,而且不會(huì)遺漏測(cè)試接點(diǎn)。
[0010]以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說(shuō)明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,其使用方法為:第一步拉開手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)的手動(dòng)直推夾鉗,第二步將待測(cè)試電路板放置到中空測(cè)試座的上平面,定位好探針位置,第三步往下拉手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)的手動(dòng)直推夾鉗手柄,壓縮彈性滑柱,將絕緣上壓板下壓到待測(cè)試電路板,使得待測(cè)試電路板和探針接觸上,第四步通電測(cè)試,電路板接點(diǎn)不通的發(fā)聲報(bào)警,結(jié)束后松開手動(dòng)直推夾鉗,取出電路板。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電子電路板多接點(diǎn)測(cè)試治具的使用方法,第一步拉開手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)的手動(dòng)直推夾鉗,第二步將待測(cè)試電路板放置到中空測(cè)試座的上平面,定位好探針位置,第三步往下拉手動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)的手動(dòng)直推夾鉗手柄,壓縮彈性滑柱,將絕緣上壓板下壓到待測(cè)試電路板,使得待測(cè)試電路板和探針接觸上,第四步通電測(cè)試,電路板接點(diǎn)不通的發(fā)聲報(bào)警,結(jié)束后松開手動(dòng)直推夾鉗,取出電路板。通過(guò)上述方式,本發(fā)明能夠快速裝載測(cè)試,對(duì)同一電路板的多個(gè)接點(diǎn)一次性全部測(cè)試結(jié)束,測(cè)試效率快數(shù)倍,而且不會(huì)遺漏測(cè)試接點(diǎn)。
【IPC分類】G01R31-02
【公開號(hào)】CN104678239
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310633901
【發(fā)明人】卞月會(huì)
【申請(qǐng)人】蘇州市吳中區(qū)臨湖俊峰機(jī)械廠
【公開日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2013年12月2日