專利名稱：綜合型電磁繼電器高、低溫壽命實(shí)驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種綜合型電磁繼電器高、低溫觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)裝置。用于各種單線圈、雙線圈、磁保持、單雙脈沖電磁繼電器(簡稱試品)觸點(diǎn)作低電平負(fù)載切換試驗(yàn)和中等電流負(fù)載切換試驗(yàn)，供用戶對品種廣泛的試品進(jìn)行老化篩選試驗(yàn)用。
隨著信息產(chǎn)業(yè)和國防軍工產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，電磁繼電器的品種、規(guī)格越來越多，可靠性要求越來越高。目前市場銷售和使用的繼電器觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)裝置，基本上都是單一試驗(yàn)功能的，現(xiàn)用戶對電磁繼電器觸點(diǎn)進(jìn)行壽命試驗(yàn)往往要購買多種品種規(guī)格的試驗(yàn)設(shè)備，該現(xiàn)狀的缺點(diǎn)是①設(shè)備利用率低，互相不能兼顧，篩選成本提高。②設(shè)備購置費(fèi)用大，占用大量廠房和操作人員，勞動(dòng)率低下。③自動(dòng)化程度低。
本發(fā)明的目的在于提供一種適用品種、類型廣泛、適用觸點(diǎn)低電平試驗(yàn)和中等電流試驗(yàn)的綜合型電磁繼電器高、低溫觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)裝置。
本發(fā)明包括殼體內(nèi)裝有高、低溫試驗(yàn)箱、老化板、一級負(fù)載電源、線圈電源，由一個(gè)控制監(jiān)測電路控制至少一個(gè)置于高、低溫試驗(yàn)箱環(huán)境中的老化板，老化板裝載有試品；該控制監(jiān)測電路發(fā)生、輸出繼電器老化所需線圈時(shí)序信號、試品觸點(diǎn)負(fù)載電源、觸點(diǎn)粘、斷壓降監(jiān)測測量時(shí)序信號，該控制監(jiān)測電路具有一個(gè)安裝有專用老化軟件的主控計(jì)算機(jī)，經(jīng)通訊接口連接一個(gè)由單片機(jī)組成的下位機(jī)，該主控計(jì)算機(jī)可將直流低電平負(fù)載切換和中等電流切換試驗(yàn)條件，線圈動(dòng)作時(shí)序信號、測量時(shí)序信號編輯為老化信號、數(shù)據(jù)，傳送到下位機(jī)，下位機(jī)至少連接一個(gè)線圈時(shí)序控制裝置、窗口比較、采樣保持測量裝置、二級負(fù)載電源裝置；所述二級負(fù)載電源在接到下位機(jī)輸出的電壓程控信號后向老化板饋送試品觸點(diǎn)負(fù)載電壓；所述線圈時(shí)序控制裝置接到下位機(jī)單線圈、雙線圈、磁保持線圈信號后發(fā)出驅(qū)動(dòng)信號后給老化板試品的線圈；所述窗口比較、采樣保持測量裝置在接到下位機(jī)時(shí)序測量信號時(shí)，開始對試品常閉常開觸點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)測，試品觸點(diǎn)失誤后失誤信號，一路作故障鎖存，另一路送采樣保持和A/D電路，鎖定失誤電壓；下位機(jī)通過通訊接口將該失誤觸點(diǎn)的工位號、已累計(jì)循環(huán)次數(shù)、已失誤累計(jì)次數(shù)、失誤時(shí)測量的電壓數(shù)據(jù)，回送到主控計(jì)算機(jī)。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是裝置總體體積小，自動(dòng)化程度高，成本低，可同時(shí)對120組觸點(diǎn)進(jìn)行高、低溫觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)。該裝置至少可替代市售產(chǎn)品中高溫低電平負(fù)載切換、高溫中等電流負(fù)載切換、低溫低電平負(fù)載切換、低溫中等電流負(fù)載切換四種試驗(yàn)裝置，而且具有自動(dòng)化程度高、安裝操作方便、使用可靠的優(yōu)點(diǎn)，給各電磁繼電器生產(chǎn)和使用廠家提供良好的試驗(yàn)手段。
下面結(jié)合附圖
進(jìn)一步說明本發(fā)明。
圖①綜合型電磁繼電器高、低溫觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)裝置方框圖。
圖②控制監(jiān)測電路方框圖。
圖③線圈測量時(shí)序圖。
本裝置的試驗(yàn)腔裝在市售符合標(biāo)準(zhǔn)的+125℃—-60℃高溫、低溫試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)腔放置10塊標(biāo)準(zhǔn)寬度的老化板，可分為二個(gè)不同老化電壓的工作區(qū)，每塊老化板上安排8個(gè)用于固定試品孔位的載體板和12組觸點(diǎn)，及相應(yīng)的線圈、觸點(diǎn)的連接點(diǎn)，每組線圈的負(fù)端均通過一個(gè)保險(xiǎn)絲接公共地線，正端接線圈時(shí)序控制裝置，老化板采用平行放置，能靈活插拔調(diào)換，通過調(diào)節(jié)試驗(yàn)箱控制器達(dá)到不同溫度梯度的試驗(yàn)。老化板觸點(diǎn)負(fù)載電阻是事先按標(biāo)準(zhǔn)固定的，通過更換不同負(fù)載電阻的老化板實(shí)現(xiàn)觸點(diǎn)低電平負(fù)載切換試驗(yàn)和中等電流負(fù)載切換試驗(yàn)的選擇，觸點(diǎn)負(fù)載試驗(yàn)電壓和線圈時(shí)序控制及觸點(diǎn)粘、斷故障判別和測量，均通過老化板的輸出端與一個(gè)上位機(jī)控制的控制監(jiān)測電路連接。
上位機(jī)安裝一個(gè)專用老化軟件，按照試品試驗(yàn)方法是觸點(diǎn)直流低電平負(fù)載切換或觸點(diǎn)中等電流切換；試品類別是單線圈單脈沖、單線圈雙脈沖、雙線圈單脈沖、磁保持型式；觸點(diǎn)粘、斷故障失效判據(jù)、線圈吸放頻率，編輯成二級程控電源信號、線圈時(shí)序控制信號、觸點(diǎn)測量時(shí)序信號，通過通訊接口可靠地傳送到下位機(jī)，下位機(jī)經(jīng)存貯、運(yùn)算后，至少連接一個(gè)線圈時(shí)序控制裝置、一個(gè)二級負(fù)載電源裝置、一個(gè)窗口比較和采樣保持、測量裝置。所述線圈時(shí)序控制裝置接到下位機(jī)信號后發(fā)出驅(qū)動(dòng)脈沖向老化板上的試品線圈供電，進(jìn)行吸合動(dòng)作；二級負(fù)載電源裝置接到下位機(jī)電壓程控信號后向老化板饋送試品觸點(diǎn)負(fù)載電壓；所述窗口比較和采樣保持測量裝置接到下位機(jī)測量時(shí)序信號后，監(jiān)測來自老化板試品常開常閉觸點(diǎn)電壓信號。當(dāng)觸點(diǎn)閉合壓降大于負(fù)載供電電壓的5％、觸點(diǎn)開路壓降小于負(fù)載供電電壓95％時(shí)窗口比較器動(dòng)作作失誤鎖存，另一路送采樣保持和A/D電路，觸發(fā)采樣保持鎖存失誤電壓；下位機(jī)通過通訊接口將該失誤觸點(diǎn)組的工位號、已累計(jì)循環(huán)次數(shù)、已失誤累計(jì)次數(shù)、失誤類別、失誤時(shí)測量的電壓數(shù)據(jù)回送到上位機(jī)存貯或顯示。系統(tǒng)電源分別向各裝置提供工作電壓，AC控制裝置分別向高溫、低溫試驗(yàn)箱、一級負(fù)載電源、系統(tǒng)電源、線圈電源、主控計(jì)算機(jī)分配和提供電源。
本發(fā)明的工作過程如下試品安裝在定制的載體板上，載體板安裝在老化板上，這樣可用一種類型的老化板滿足幾十種試品裝載的目的。用導(dǎo)線焊接好試品線圈、觸點(diǎn)組與老化板接點(diǎn)，安裝檢查線圈負(fù)端保險(xiǎn)絲，檢查老化板觸點(diǎn)負(fù)載電阻與進(jìn)行的試驗(yàn)方法是否相同，正常后將老化板插入試驗(yàn)架。保持電接觸良好，開啟試驗(yàn)箱，設(shè)定溫度值，開啟系統(tǒng)電源、線圈電源、一級負(fù)載電源、主控計(jì)算機(jī)電源，待計(jì)算機(jī)啟動(dòng)后，通過鍵盤或鼠標(biāo)輸入試驗(yàn)日期、試品型號，編輯好老化信號或從元件庫中取出存儲的程序，將試品、線圈時(shí)序信號、二級程控電源信號、窗口報(bào)警上下限、測量時(shí)序信號檢查確信后，按確認(rèn)鍵存盤，同時(shí)發(fā)送信號，下位機(jī)通過由75175接收芯片和75174驅(qū)動(dòng)芯片收到上位機(jī)的信號，即開始對線圈時(shí)序控制裝置、二級負(fù)載電源、窗口比較和采樣保持測量裝置發(fā)出信號，老化板上的試品開始動(dòng)作。線圈時(shí)序控制裝置由低阻抗功率驅(qū)動(dòng)器組成，動(dòng)作脈沖在ms級，大大高于市售用水銀繼電器作線圈時(shí)序控制元件的質(zhì)量，二級程控電源可輸出10mV～50mV/5A和1V～50V/12A直流負(fù)載電源，窗口比較器由斷比較器和粘比較器組成，每一組常閉常開觸點(diǎn)有二組窗口比較電路，窗口比較器信號輸入端裝有衰減和放大電路，分別對于中等電流切換和低電平負(fù)載切換試驗(yàn)，通過老化板輸出端來識別的。當(dāng)觸點(diǎn)閉合壓降大于負(fù)載供電電壓5％時(shí)粘比較器動(dòng)作，輸出失誤信號；當(dāng)觸點(diǎn)開路壓降小于負(fù)載供電電壓95％時(shí)斷比較器動(dòng)作，輸出失誤信號，一路失誤信號到故障鎖存器鎖存，并用發(fā)光二極管指示失誤工位號、失誤類別；另一路失誤信號通過單片機(jī)多路開關(guān)送采樣保持和A/D電路，觸發(fā)采樣保持鎖存失誤時(shí)電壓。多路開關(guān)掃描十次后將失誤鎖存取消，該觸點(diǎn)繼續(xù)老化試驗(yàn)，而下位機(jī)將通過通訊接口將該失誤觸點(diǎn)組的參數(shù)回送上位機(jī)顯示、存儲、打印輸出。
權(quán)利要求
1.一種綜合型的電磁繼電器高、低溫觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)裝置，包括殼體內(nèi)裝有高、低溫試驗(yàn)箱、老化板、一級負(fù)載電源、線圈電源，其特征在于由一個(gè)控制監(jiān)測電路控制至少一個(gè)置于高、低溫試驗(yàn)箱環(huán)境中的老化板②，老化板裝載有試品；該控制監(jiān)測電路發(fā)生、輸出繼電器老化所需線圈時(shí)序信號、試品觸點(diǎn)負(fù)載電源、觸點(diǎn)粘、斷壓降監(jiān)測測量時(shí)序信號，該控制監(jiān)測電路具有一個(gè)安裝有專用老化軟件的主控計(jì)算機(jī)⑤，經(jīng)通訊接口⑥連接一個(gè)由單片機(jī)組成的下位機(jī)④，該主控計(jì)算機(jī)⑤可將直流低電平負(fù)載切換和中等電流切換試驗(yàn)條件，線圈動(dòng)作時(shí)序信號、測量時(shí)序信號編輯為老化信號、數(shù)據(jù)，傳送到下位機(jī)④，下位機(jī)④至少連接一個(gè)線圈時(shí)序控制裝置①、窗口比較、采樣保持測量裝置③、二級負(fù)載電源裝置⑦；所述二級負(fù)載電源⑦在接到下位機(jī)④輸出的電壓程控信號后向老化板②饋送試品觸點(diǎn)負(fù)載電壓；所述線圈時(shí)序控制裝置①接到下位機(jī)④單線圈、雙線圈、磁保持線圈信號后發(fā)出驅(qū)動(dòng)信號后給老化板②試品的線圈；所述窗口比較、采樣保持測量裝置③在接到下位機(jī)④時(shí)序測量信號時(shí)，開始對試品常閉常開觸點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)測，試品觸點(diǎn)失誤后失誤信號，一路作故障鎖存，另一路送采樣保持和A/D電路，鎖定失誤電壓；下位機(jī)④通過通訊接口⑥將該失誤觸點(diǎn)的工位號、已累計(jì)循環(huán)次數(shù)、已失誤累計(jì)次數(shù)、失誤時(shí)測量的電壓數(shù)據(jù)，回送到主控計(jì)算機(jī)⑤。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種綜合型電磁繼電器高、低溫觸點(diǎn)壽命試驗(yàn)裝置,包括殼體,殼體內(nèi)裝有高、低溫箱、老化板、線圈電源、負(fù)載電源、系統(tǒng)電源。還包括一個(gè)裝有專用軟件的主控計(jì)算機(jī)、下位機(jī)、線圈時(shí)序控制裝置、二級負(fù)載電壓裝置、窗口比較和采樣保持測量裝置組成的控制監(jiān)測電路,該電路將控制測量信號輸出到老化板試品上,進(jìn)行壽命試驗(yàn),并有失誤信號監(jiān)測,可廣泛應(yīng)用于電磁繼電器生產(chǎn)、使用廠、所。
文檔編號G01R31/327GK1243957SQ9811697
公開日2000年2月9日 申請日期1998年7月30日 優(yōu)先權(quán)日1998年7月30日
發(fā)明者曹驥 申請人:曹驥