專(zhuān)利名稱(chēng)：防止集成電路誤入測(cè)試模式的內(nèi)置裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路，特別涉及設(shè)置于集成電路內(nèi)，用以檢測(cè)集成電路的測(cè)試模式從而防止集成電路誤入測(cè)試模式的電路。
在生產(chǎn)和使用IC的各個(gè)階段都可對(duì)集成電路(IC)進(jìn)行測(cè)試。例如，隨著生產(chǎn)的進(jìn)行可完成多項(xiàng)測(cè)試來(lái)考核IC的功能和參數(shù)特性，以證明IC的規(guī)格。
為便于測(cè)試，現(xiàn)有技術(shù)的IC中通常的做法是為IC添加一個(gè)或多個(gè)輸入和輸出(I/O)管腳，專(zhuān)門(mén)用來(lái)接收在測(cè)試模式期間由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)。但添加I/O管腳會(huì)增大IC的尺寸，這不是我們所希望的，因?yàn)檫@將增加封裝成本。
為克服上述缺點(diǎn)，如

圖1所示，其他現(xiàn)有技術(shù)的IC是在IC1中包含一個(gè)測(cè)試模式檢測(cè)電路12。IC1包含有正常模式工作電路11，它備有I/O管腳，原設(shè)計(jì)是在IC1的正常工作時(shí)作為I/O用。這個(gè)I/O管腳是復(fù)用的，用以接收測(cè)試模式檢測(cè)電路12依次識(shí)別的測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)。因此，圖1所示的設(shè)置可以檢測(cè)IC1的工作模式而不需添加管腳。
用作測(cè)試模式輸入端與功能輸入端的復(fù)用管腳仍具有一些固有的缺點(diǎn)。最主要的缺點(diǎn)是，在IC正常工作期間，由于突然的噪音等的存在，或是由于一個(gè)或多個(gè)電路元件偶然發(fā)生故障，常使IC誤入測(cè)試模式。
為此，“正常工作”是指IC已被用于某個(gè)特殊系統(tǒng)或電路后的工作狀態(tài)。“正常工作”是相對(duì)于生產(chǎn)期間進(jìn)行測(cè)試時(shí)IC的工作狀態(tài)而言的。鑒于上述缺點(diǎn)，希望IC只在生產(chǎn)期間進(jìn)入測(cè)試模式，并有安全裝置防止IC在正常工作期間誤入測(cè)試模式。
因此，仍有必要克服現(xiàn)有技術(shù)IC的缺點(diǎn)，防止IC在正常工作期間誤入測(cè)試模式。
因此，本發(fā)明的目的是提供一種IC，它無(wú)需另外的輸入和輸出測(cè)試管腳來(lái)進(jìn)行測(cè)試工作。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種IC，它利用功能管腳輸入測(cè)試模式觸發(fā)信號(hào)。
本發(fā)明的再一個(gè)目的是提供一種IC，利用內(nèi)置測(cè)試模式檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)測(cè)試模式。
本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供一種IC，用內(nèi)置測(cè)試模式檢測(cè)電路來(lái)識(shí)別經(jīng)功能管腳輸入的測(cè)試模式觸發(fā)信號(hào)。
本發(fā)明的更進(jìn)一步的目的是防止IC在正常工作時(shí)誤入測(cè)試模式。
為達(dá)到這些目的，本發(fā)明提出一種IC，包括啟動(dòng)測(cè)試模式電路，用于產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，以使IC進(jìn)入測(cè)試模式；自動(dòng)復(fù)位電路，響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，用于防止IC在正常工作期間誤入測(cè)試模式。
按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，自動(dòng)復(fù)位電路含有負(fù)沿瞬態(tài)檢測(cè)器，它響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿而產(chǎn)生系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)；系統(tǒng)啟動(dòng)計(jì)時(shí)器，用于響應(yīng)系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生第一復(fù)位信號(hào)，使IC復(fù)位，第一復(fù)位信號(hào)相對(duì)于系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)有一延遲。
按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，啟動(dòng)測(cè)試模式電路包括一個(gè)測(cè)試觸發(fā)信號(hào)輸入端，以接收測(cè)試觸發(fā)信號(hào)；一個(gè)數(shù)據(jù)輸入端，用于接收測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)；一個(gè)存儲(chǔ)器，用于儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)圖形；一個(gè)比較器，與存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)輸入端耦合，用于對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)和測(cè)試數(shù)據(jù)圖形進(jìn)行比較，產(chǎn)生比較信號(hào)；一個(gè)D型觸發(fā)器，具有D輸入端，該觸發(fā)器與比較器耦合，用于接收比較信號(hào)；一個(gè)AND門(mén)，與觸發(fā)器的Q輸出相連，用于產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)。觸發(fā)器在預(yù)定時(shí)間周期后在其Q輸出再產(chǎn)生待傳送至AND門(mén)的比較信號(hào)。
按照本發(fā)明的IC還包含另一個(gè)AND門(mén)，它響應(yīng)測(cè)試觸發(fā)信號(hào)和反相的測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生第二復(fù)位信號(hào)，使IC在正常工作期間復(fù)位。
本發(fā)明還提供一種防止IC誤入測(cè)試模式的方法，其中IC包含一個(gè)產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)使IC進(jìn)入測(cè)試模式的啟動(dòng)測(cè)試模式電路。該方法包括以下步驟檢測(cè)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿；響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿產(chǎn)生系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)；及響應(yīng)于復(fù)位IC的系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生第一復(fù)位信號(hào)，使IC復(fù)位。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，該方法還包括相對(duì)于系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)將第一復(fù)位信號(hào)的產(chǎn)生延遲一預(yù)定時(shí)間周期的步驟。
按照本發(fā)明的方法還有一個(gè)步驟，即預(yù)存測(cè)試數(shù)據(jù)圖形，它與正常工作期間預(yù)期輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)是不同的。按照本發(fā)明的另一個(gè)步驟是，當(dāng)預(yù)儲(chǔ)在啟動(dòng)測(cè)試模式電路的存儲(chǔ)器中的測(cè)試數(shù)據(jù)圖形與輸入到啟動(dòng)測(cè)試模式電路的一串?dāng)?shù)據(jù)信號(hào)匹配時(shí)，才產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)的IC的示意框圖，它含有內(nèi)置測(cè)試模式檢測(cè)電路；圖2是一種IC的示意框圖，帶有按照本發(fā)明實(shí)施例的內(nèi)置測(cè)試模式檢測(cè)電路；圖3是說(shuō)明圖2的IC的信號(hào)波形時(shí)序圖。
下面詳細(xì)描述實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目前設(shè)想的最佳模式。該說(shuō)明并非局限意義上的描述，而僅是為了舉例說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的一般性原理。本發(fā)明的范圍已為所附的權(quán)利要求書(shū)所限定。在某些情況下，對(duì)已知的電路和部件不作詳細(xì)描述，以免因不必要的細(xì)節(jié)而模糊了對(duì)本發(fā)明的描述。
圖2展示了本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的內(nèi)置測(cè)試模式檢測(cè)電路200。系統(tǒng)時(shí)鐘輸入腳CK1、系統(tǒng)時(shí)鐘輸出腳CK2、以及常規(guī)IC的系統(tǒng)復(fù)位輸入腳RES用作測(cè)試信號(hào)輸入端。系統(tǒng)復(fù)位輸入腳RES用作測(cè)試觸發(fā)信號(hào)輸入端。在IC生產(chǎn)期間，RES通常保持高電平。然而，當(dāng)IC用在正常工作狀態(tài)時(shí)，正常工作期間IC復(fù)位時(shí)，除非單次邏輯高或高電平脈沖加至RES腳，RES通常保持低電平。
為在IC生產(chǎn)期間激活測(cè)試模式檢測(cè)電路，一通電檢測(cè)器212接收外電源供給的電壓VDD。通電檢測(cè)器212向D型觸發(fā)器(FF)207的R輸入施加單邏輯高或高電平脈沖，使FF 207的Q輸出復(fù)位，輸出低電平信號(hào)。
在高電平脈沖施加至FF207后，數(shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)系統(tǒng)時(shí)鐘輸出腳CK2連續(xù)輸入至門(mén)延遲電路201。AND門(mén)203耦合來(lái)自系統(tǒng)時(shí)鐘輸入腳CK1的寫(xiě)使能信號(hào)與反相的測(cè)試使能信號(hào)。來(lái)自系統(tǒng)時(shí)鐘輸入CK1腳的信號(hào)是一列或一串時(shí)鐘信號(hào)。因此，AND門(mén)203的輸出工作，激活移位寄存器(SR)202，使來(lái)自門(mén)延遲電路201的一串?dāng)?shù)據(jù)信號(hào)移位。
存儲(chǔ)器204，如只讀存儲(chǔ)器(ROM)或可編程只讀存儲(chǔ)器(PROM)，用于預(yù)存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形。在生產(chǎn)期間需要使IC進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，將對(duì)應(yīng)于測(cè)試數(shù)據(jù)圖形的數(shù)據(jù)圖形輸入門(mén)延遲電路201。來(lái)自門(mén)延遲電路201的數(shù)據(jù)信號(hào)寄存在SR 202中。比較器205則將SR 202中的數(shù)據(jù)圖形與預(yù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器204中的測(cè)試數(shù)據(jù)圖形進(jìn)行比較。比較器205將輸出“高”或“低”信號(hào)，分別指示SR 202中和存儲(chǔ)器204中的數(shù)據(jù)圖形是“匹配”或“失配”。由此比較器205的“匹配”或“高”輸出用于觸發(fā)此IC的測(cè)試模式。所以作為防止IC在正常工作期間誤入測(cè)試模式的安全措施，最好使預(yù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器204中預(yù)存儲(chǔ)完全不同于正常工作期間CK1和CK2接收到的通常數(shù)據(jù)圖形的測(cè)試數(shù)據(jù)圖形。
來(lái)自SR202的數(shù)據(jù)和比較器205的輸出作為AND門(mén)206的輸入。AND門(mén)206的輸出送至FF207的D輸入。經(jīng)過(guò)FF207固有的延時(shí)后，D輸入出現(xiàn)在FF 207的Q輸出端。由RES輸入端提供的系統(tǒng)復(fù)位信號(hào)以及FF 207的Q輸出供給AND門(mén)208作為輸入，用于產(chǎn)生測(cè)試使能或測(cè)試模式觸發(fā)信號(hào)TEST。由于RES在生產(chǎn)期間通常維持高電平，來(lái)自FF 207的Q輸出的高電平信號(hào)將使AND門(mén)208產(chǎn)生高電平輸出，代表測(cè)試使能信號(hào)TEST。TEST信號(hào)的高電平使得反相的TEST信號(hào)成為低電平，因而阻止SR 202接受任何其它數(shù)據(jù)。TEST信號(hào)用于使IC進(jìn)入測(cè)試模式。
在生產(chǎn)期間當(dāng)希望IC退出測(cè)試模式時(shí)，使RES變低，進(jìn)而引起AND門(mén)208輸出低電平TEST信號(hào)。低電平TEST信號(hào)導(dǎo)致反相的TEST信號(hào)變高，因而允許SR202開(kāi)始接受來(lái)自門(mén)延遲電路201的數(shù)據(jù)圖形。這一直持續(xù)到需要IC再次進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，此時(shí)經(jīng)門(mén)延遲電路201輸入一個(gè)相應(yīng)于預(yù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器204中的測(cè)試數(shù)據(jù)圖形的數(shù)據(jù)圖形。
由于RES在正常工作期間通常處于低電平，AND門(mén)208在正常工作期間通常輸出低電平TEST信號(hào)，這樣在正常工作期間通常將不會(huì)進(jìn)入測(cè)試模式。
在正常工作期間IC將按以下方式復(fù)位。由于在正常工作期間RES通常處于低電平，單脈沖高電平信號(hào)加于RES腳。當(dāng)RES恢復(fù)至其正常的低電平時(shí)，反相器213及或門(mén)214將使FF 207復(fù)位，從而由其Q輸出端輸出一低電平信號(hào)。來(lái)自FF 207的Q輸出端的低電平信號(hào)將使AND門(mén)208的TEST信號(hào)在復(fù)位期間保持低電平。這個(gè)低電平的TEST信號(hào)加至AND門(mén)211的反相輸入端，當(dāng)與瞬時(shí)高電平RES信號(hào)同時(shí)耦合時(shí)，AND門(mén)211將產(chǎn)生RESET2信號(hào)使IC復(fù)位。因此這種電路配置實(shí)現(xiàn)了適于多種用途的復(fù)用功能管腳。
另一種防止IC在正常工作期間誤入測(cè)試模式的安全措施是通過(guò)設(shè)置RES信號(hào)、反相器213和FF 207提供的。由于RES在正常工作期間通常處于低電平，F(xiàn)F 207的R輸入端在正常工作期間將保持高電平，因此，F(xiàn)F 207的Q輸出端將保持低電平，因而使AND門(mén)208的輸出保持低電平。
不幸的是，當(dāng)如前節(jié)所述RES變“高”使IC復(fù)位時(shí)，F(xiàn)F 207的Q輸出可能產(chǎn)生高電平信號(hào)。這會(huì)因環(huán)境中的噪音等引起，或因來(lái)自FF207或任何其他電路元件的偶然故障引起。因此TEST信號(hào)變高，將導(dǎo)致誤入測(cè)試模式而未使IC復(fù)位(因?yàn)镽ESET2將為低電平)。
本發(fā)明提供了一種自動(dòng)復(fù)位電路220以防止IC在正常工作期間誤入測(cè)試模式。自動(dòng)復(fù)位電路220包含有負(fù)沿瞬態(tài)檢測(cè)器209和按以下方式工作的系統(tǒng)啟動(dòng)計(jì)時(shí)器210。當(dāng)RES的單高電平信號(hào)后，恢復(fù)到其正常的低電平時(shí)，TEST信號(hào)變?yōu)榈碗娖?，并被?fù)沿檢測(cè)器209檢測(cè)到。響應(yīng)于TEST信號(hào)由高到低的邏輯電平變化，負(fù)沿檢測(cè)器209產(chǎn)生系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)來(lái)啟動(dòng)可以是計(jì)數(shù)器的系統(tǒng)啟動(dòng)計(jì)時(shí)器210。計(jì)時(shí)器210計(jì)數(shù)一預(yù)定的延時(shí)，以使系統(tǒng)振蕩器達(dá)到穩(wěn)定，然后產(chǎn)生RESET1信號(hào)使IC復(fù)位。在IC由測(cè)試模式轉(zhuǎn)換至正常工作時(shí)也發(fā)生此情況。
因此，自動(dòng)復(fù)位電路220的工作就是每當(dāng)TEST信號(hào)由高變低時(shí)提供一自動(dòng)復(fù)位信號(hào)RESET1，即使發(fā)生失誤而未提供RESET2信號(hào)的情況下，IC也會(huì)被RESET1信號(hào)復(fù)位。使IC復(fù)位就防止了IC進(jìn)入測(cè)試模式。
所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員明白，測(cè)試模式檢測(cè)電路200實(shí)際上為防止IC在正常工作時(shí)誤入測(cè)試模式提供了三項(xiàng)安全措施。第一個(gè)安全措施是在存儲(chǔ)器204中預(yù)儲(chǔ)了獨(dú)特的與眾不同的數(shù)據(jù)圖形，使得比較器205不太可能引起FF 207產(chǎn)生測(cè)試使能信號(hào)TEST。第二個(gè)安全措施是通過(guò)設(shè)置通常的低電平RES信號(hào)、反相器213和FF 207提供的，一般情況下會(huì)使AND門(mén)208在正常工作期間輸出一低電平信號(hào)。第三個(gè)安全措施是由自動(dòng)復(fù)位電路220提供的。提供了這三個(gè)安全措施就使IC很難在正常工作期間誤入測(cè)試模式，同時(shí)有益于帶復(fù)用管腳的IC實(shí)現(xiàn)其測(cè)試模式工作。
雖然上面結(jié)合本發(fā)明的特定實(shí)施例進(jìn)行了說(shuō)明，但還是應(yīng)理解，可以作出許多修改而不背離此處所述的精神。所附的權(quán)利要求書(shū)擬覆蓋這樣一些不超出本發(fā)明的真實(shí)范圍與精神的修改。
權(quán)利要求
1.一種集成電路，包括測(cè)試模式檢測(cè)電路，其特征在于，測(cè)試模式檢測(cè)電路包括接受測(cè)試觸發(fā)信號(hào)的測(cè)試觸發(fā)信號(hào)輸入端；接受測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)輸入端；儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)圖形的存儲(chǔ)器；與存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)輸入端相連，用于對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)和測(cè)試數(shù)據(jù)圖形進(jìn)行比較，從而產(chǎn)生比較信號(hào)的比較器；及響應(yīng)測(cè)試觸發(fā)信號(hào)和比較信號(hào)而產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)使集成電路進(jìn)入測(cè)試模式的裝置。
2.如權(quán)利要求1的集成電路，其中測(cè)試模式檢測(cè)電路還包含第一AND門(mén)，它響應(yīng)于測(cè)試觸發(fā)信號(hào)和反相的測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，從而在集成電路正常工作期間產(chǎn)生第二復(fù)位信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1的集成電路，其中測(cè)試模式檢測(cè)電路還包含自動(dòng)復(fù)位電路，用于防止集成電路誤入測(cè)試模式。
4.如權(quán)利要求3的集成電路，其中自動(dòng)復(fù)位電路包括響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿以產(chǎn)生系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿瞬態(tài)檢測(cè)器；以及響應(yīng)系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)從而產(chǎn)生第一復(fù)位信號(hào)的系統(tǒng)啟動(dòng)計(jì)時(shí)器，第一復(fù)位信號(hào)相對(duì)于系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)有一延時(shí)。
5.如權(quán)利要求2的集成電路，其中測(cè)試觸發(fā)信號(hào)輸入端是集成電路的復(fù)位輸入端。
6.如權(quán)利要求1的集成電路，其中接收測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)的數(shù)據(jù)輸入端是集成電路的系統(tǒng)時(shí)鐘信號(hào)的輸出腳。
7.如權(quán)利要求1的集成電路，其中產(chǎn)生裝置包括第二AND門(mén)，與數(shù)據(jù)輸入端和比較器耦合，用于產(chǎn)生比較信號(hào)；具有D輸入端且與第二個(gè)AND門(mén)耦合的D型觸發(fā)器，用于使比較信號(hào)延遲，并在一段預(yù)定時(shí)間周期后在其Q輸出端再產(chǎn)生比較信號(hào)；及耦合至觸發(fā)器的Q輸出端的第三AND門(mén)，用以產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)。
8.如權(quán)利要求7的集成電路，其中測(cè)試模式檢測(cè)電路還包括接收外電源供給的電壓的通電檢測(cè)器；使測(cè)試觸發(fā)信號(hào)反相的反相器；與觸發(fā)器耦合的OR門(mén)，它響應(yīng)通電檢測(cè)器和反相器，使觸發(fā)器復(fù)位。
9.如權(quán)利要求1的集成電路，其中測(cè)試模式檢測(cè)電路還包括移位寄存器，用于儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)，并與比較器耦合；寫(xiě)使能輸入端，用于接收寫(xiě)使能信號(hào)；及與寫(xiě)使能信號(hào)耦合的第四AND門(mén)，它響應(yīng)反相的測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，使移位寄存器接受測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)。
10.如權(quán)利要求9的集成電路，其中寫(xiě)使能信號(hào)輸入端是輸入集成電路系統(tǒng)的時(shí)鐘信號(hào)的管腳。
11.如權(quán)利要求9的集成電路，其中測(cè)試模式檢測(cè)電路還包含門(mén)延遲電路，它與移位寄存器耦合，使測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)被移位寄存器接收前，延遲預(yù)定時(shí)間。
12.一種集成電路，其特征在于該電路包括啟動(dòng)測(cè)試模式電路，用于產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，使集成電路進(jìn)入測(cè)試模式；響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的自動(dòng)復(fù)位電路，用于防止集成電路在正常工作期間誤入測(cè)試模式。
13.如權(quán)利要求12的集成電路，其中自動(dòng)復(fù)位電路包括負(fù)沿瞬態(tài)檢測(cè)器，響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿，產(chǎn)生系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)；系統(tǒng)啟動(dòng)計(jì)時(shí)器，響應(yīng)系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生第一復(fù)位信號(hào)，第一復(fù)位信號(hào)相對(duì)于系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)有一延時(shí)。
14.如權(quán)利要求13的集成電路，其中啟動(dòng)測(cè)試模式電路包括測(cè)試觸發(fā)信號(hào)輸入端，接收測(cè)試觸發(fā)信號(hào)；數(shù)據(jù)輸入端，接收測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)；存儲(chǔ)器，儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)圖形；與存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)輸入端耦合比較測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)和測(cè)試數(shù)據(jù)圖形產(chǎn)生比較信號(hào)的比較器；具有D輸入端且與比較器耦合的D型觸發(fā)器，接收比較信號(hào)，在預(yù)定的時(shí)間后，觸發(fā)器在其Q輸出端再產(chǎn)生比較信號(hào)；與觸發(fā)器的Q輸出耦合的第一AND門(mén)，產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)。
15.如權(quán)利要求14的集成電路，還包含響應(yīng)于測(cè)試觸發(fā)信號(hào)和反相的測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)用于在集成電路正常工作期間產(chǎn)生第二復(fù)位信號(hào)的第二AND門(mén)。
16.一種防止集成電路在正常工作期間誤入測(cè)試模式的方法，其中的集成電路包括啟動(dòng)測(cè)試模式電路，它產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)，使集成電路進(jìn)入測(cè)試模式，其特征在于，該方法包括以下步驟檢測(cè)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿；響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的負(fù)沿從而產(chǎn)生系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)；響應(yīng)系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)從而產(chǎn)生第一復(fù)位信號(hào)，使集成電路復(fù)位。
17.如權(quán)利要求16的方法，還包含使第一復(fù)位信號(hào)的產(chǎn)生相對(duì)于系統(tǒng)啟動(dòng)驅(qū)動(dòng)信號(hào)延遲一個(gè)預(yù)定的時(shí)間周期的步驟。
18.如權(quán)利要求16的方法，還包括預(yù)存儲(chǔ)于啟動(dòng)測(cè)試模式電路的存儲(chǔ)器中的測(cè)試數(shù)據(jù)圖形與輸入啟動(dòng)測(cè)試模式電路的數(shù)據(jù)信號(hào)串相匹配時(shí)，產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào)的步驟。
19.如權(quán)利要求18的方法，還包括預(yù)存儲(chǔ)一不同于正常工作期間預(yù)期輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)的測(cè)試數(shù)據(jù)圖形的步驟。
全文摘要
本文公開(kāi)的集成電路包括:啟動(dòng)測(cè)試模式電路,它產(chǎn)生測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào),使集成電路進(jìn)入測(cè)試模式;自動(dòng)復(fù)位電路,響應(yīng)測(cè)試模式啟動(dòng)信號(hào),防止集成電路在正常工作期間誤入測(cè)試模式。
文檔編號(hào)G01R31/317GK1197213SQ98101709
公開(kāi)日1998年10月28日 申請(qǐng)日期1998年4月21日 優(yōu)先權(quán)日1997年4月21日
發(fā)明者陳俊雄, 孫葆祥, 范姜弘宇 申請(qǐng)人:合泰半導(dǎo)體股份有限公司