技術(shù)編號(hào)：6136039
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種集成電路，特別涉及設(shè)置于集成電路內(nèi)，用以檢測(cè)集成電路的測(cè)試模式從而防止集成電路誤入測(cè)試模式的電路。在生產(chǎn)和使用IC的各個(gè)階段都可對(duì)集成電路(IC)進(jìn)行測(cè)試。例如，隨著生產(chǎn)的進(jìn)行可完成多項(xiàng)測(cè)試來考核IC的功能和參數(shù)特性，以證明IC的規(guī)格。為便于測(cè)試，現(xiàn)有技術(shù)的IC中通常的做法是為IC添加一個(gè)或多個(gè)輸入和輸出(I/O)管腳，專門用來接收在測(cè)試模式期間由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)。但添加I/O管腳會(huì)增大IC的尺寸，這不是我們所希望的，因?yàn)檫@將增加封...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。