1.一種用于磁體-傳感器裝置(1)的信號處理的方法，其中，所述磁體-傳感器裝置(1)包括至少一個(gè)傳感器對(3)和一個(gè)相對于所述傳感器對可動(dòng)式支承的磁體(2)，此方法具有以下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，可運(yùn)動(dòng)的所述磁體(2)以圍繞至少一個(gè)轉(zhuǎn)軸可樞轉(zhuǎn)的方式支承，并且所述位置變化以偏轉(zhuǎn)角的形式被測量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，通過三角函數(shù)由所測得的磁通密度計(jì)算出所述偏轉(zhuǎn)角。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法，其特征在于，通過三角函數(shù)，由所測得的磁通密度的差，計(jì)算出微分計(jì)算的偏轉(zhuǎn)角。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述加權(quán)平均值分別由所述非微分計(jì)算的位置變化之一和所述微分計(jì)算的位置變化所形成，其中，通過這些加權(quán)平均值的平均值，算出總體計(jì)算的位置變化。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，根據(jù)步驟e)的歸一化通過多點(diǎn)校準(zhǔn)、尤其是9點(diǎn)校準(zhǔn)或15點(diǎn)校準(zhǔn)來進(jìn)行。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，由兩個(gè)不同計(jì)算的位置變化的差確定出影響測量的磁性外場，其中，通過所述多點(diǎn)校準(zhǔn)，修正所述位置變化。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，由兩個(gè)不同計(jì)算的位置變化的差確定出影響測量的磁性外場，其中，通過用實(shí)驗(yàn)室條件下的測量進(jìn)行校準(zhǔn)，修正所述位置變化。
9.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在計(jì)算所述加權(quán)因子時(shí)，考慮一可預(yù)定義的常數(shù)amax，該常數(shù)描述了在微分和非微分計(jì)算的位置變化之間的偏差程度，自該偏差程度起，對于位置變化的計(jì)算，只使用來自根據(jù)步驟d)微分計(jì)算的位置變化的信號。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在計(jì)算所述加權(quán)因子時(shí)，考慮一可預(yù)定義的常數(shù)odiff，通過該常數(shù)能夠預(yù)設(shè)：將微分信號的多少百分比用于計(jì)算位置變化。