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一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀的制作方法

文檔序號(hào):11374584閱讀:232來源:國(guó)知局
一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀的制造方法與工藝

本實(shí)用新型涉及測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀。



背景技術(shù):

作為一種測(cè)試裝置,負(fù)離子測(cè)試儀被廣泛地應(yīng)用于人們的日常生活中;其中,現(xiàn)有技術(shù)中存在形式各樣的負(fù)離子測(cè)試儀產(chǎn)品。

然而,對(duì)于現(xiàn)有的負(fù)離子測(cè)試儀產(chǎn)品而言,其普遍存在設(shè)計(jì)不合理、適用范圍小的缺點(diǎn)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀,該觸控式負(fù)離子測(cè)試儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)新穎,其運(yùn)用雙重傳感器保護(hù)措施并可針對(duì)不同性狀(例如固體類、液體類、粉體類)的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,且能夠精確的探測(cè)從0至10萬個(gè)/cm3負(fù)離子濃度,即能夠有效地適用于負(fù)離子粉、電氣石粉及其各類制成健康保健品涂料等產(chǎn)品產(chǎn)生的負(fù)離子測(cè)量。

為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。

一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀,包括有測(cè)試儀殼體,測(cè)試儀殼體包括有測(cè)試儀面殼、裝設(shè)于測(cè)試儀面殼下端側(cè)的測(cè)試儀底殼,測(cè)試儀殼體的內(nèi)部于測(cè)試儀面殼與測(cè)試儀底殼之間成型有殼體容置腔,殼體容置腔內(nèi)嵌裝有測(cè)試控制電路組件,測(cè)試儀面殼裝設(shè)有LCD顯示器、電源控制按鍵、測(cè)試按鍵、模式按鍵;

測(cè)試儀面殼開設(shè)有與殼體容置腔連通的出音孔,殼體容置腔內(nèi)于出音孔的內(nèi)側(cè)嵌裝有揚(yáng)聲器;

測(cè)試控制電路組件包括有MCU微處理控制器、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器,LCD顯示器、電源控制按鍵、測(cè)試按鍵、模式按鍵、揚(yáng)聲器、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器分別與MCU微處理控制器電連接;

該觸控式負(fù)離子測(cè)試儀裝設(shè)有兩個(gè)放射線傳感器,MCU微處理控制器配裝有電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路、電壓放大電路、電壓A/D轉(zhuǎn)換電路,各放射線傳感器的輸出端與電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路電連接,電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路的輸出端與電壓放大電路的輸入端電連接,電壓放大電路的輸出端與電壓A/D轉(zhuǎn)換電路的輸入端電連接,電壓A/D轉(zhuǎn)換電路的輸出端與MCU微處理控制器電連接。

其中,所述MCU微處理控制器配裝有時(shí)鐘模塊,時(shí)鐘模塊與MCU微處理控制器電連接。

其中,所述測(cè)試儀殼體裝設(shè)有信號(hào)指示燈,信號(hào)指示燈與所述MCU微處理控制器電連接。

其中,所述測(cè)試儀殼體裝設(shè)有通信串口,通信串口與所述MCU微處理控制器電連接。

本實(shí)用新型的有益效果為:本實(shí)用新型所述的一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀,其測(cè)試儀殼體內(nèi)部殼體容置腔內(nèi)嵌裝測(cè)試控制電路組件,測(cè)試儀面殼裝設(shè)LCD顯示器、電源控制按鍵、測(cè)試按鍵、模式按鍵;測(cè)試儀面殼開設(shè)出音孔,殼體容置腔內(nèi)于出音孔內(nèi)側(cè)嵌裝揚(yáng)聲器;測(cè)試控制電路組件包括MCU微處理控制器、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器;該觸控式負(fù)離子測(cè)試儀裝設(shè)兩個(gè)放射線傳感器,MCU微處理控制器配裝電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路、電壓放大電路、電壓A/D轉(zhuǎn)換電路。通過上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)新穎且運(yùn)用雙重傳感器保護(hù)措施可針對(duì)不同性狀(例如固體類、液體類、粉體類)的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,并能夠精確的探測(cè)從0至10萬個(gè)/cm3負(fù)離子濃度,即能夠有效地適用于負(fù)離子粉、電氣石粉及其各類制成健康保健品涂料等產(chǎn)品產(chǎn)生的負(fù)離子測(cè)量。

附圖說明

下面利用附圖來對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步的說明,但是附圖中的實(shí)施例不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的任何限制。

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型的原理框圖。

在圖1和圖2中包括有:

1——測(cè)試儀殼體 11——測(cè)試儀面殼

111——出音孔 2——LCD顯示器

31——電源控制按鍵 32——測(cè)試按鍵

33——模式按鍵 4——揚(yáng)聲器

5——MCU微處理控制器 6——數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器

7——放射線傳感器 81——電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路

82——電壓放大電路 83——電壓A/D轉(zhuǎn)換電路

9——時(shí)鐘模塊 100——信號(hào)指示燈

110——通信串口。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合具體的實(shí)施方式來對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行說明。

如圖1和圖2所示,一種觸控式負(fù)離子測(cè)試儀,包括有測(cè)試儀殼體1,測(cè)試儀殼體1包括有測(cè)試儀面殼11、裝設(shè)于測(cè)試儀面殼11下端側(cè)的測(cè)試儀底殼,測(cè)試儀殼體1的內(nèi)部于測(cè)試儀面殼與測(cè)試儀底殼之間成型有殼體容置腔,殼體容置腔內(nèi)嵌裝有測(cè)試控制電路組件,測(cè)試儀面殼11裝設(shè)有LCD顯示器2、電源控制按鍵31、測(cè)試按鍵32、模式按鍵33。

進(jìn)一步的,測(cè)試儀面殼11開設(shè)有與殼體容置腔連通的出音孔111,殼體容置腔內(nèi)于出音孔111的內(nèi)側(cè)嵌裝有揚(yáng)聲器4;在本實(shí)用新型工作過程中,揚(yáng)聲器4可以發(fā)出聲音提示信號(hào)。

更進(jìn)一步的,測(cè)試控制電路組件包括有MCU微處理控制器5、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器6,LCD顯示器2、電源控制按鍵31、測(cè)試按鍵32、模式按鍵33、揚(yáng)聲器4、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器6分別與MCU微處理控制器5電連接。其中,對(duì)于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器6而言,其可存儲(chǔ)28筆數(shù)據(jù),以方便用戶查看、記錄和對(duì)比測(cè)試。

需進(jìn)一步指出,該觸控式負(fù)離子測(cè)試儀裝設(shè)有兩個(gè)放射線傳感器7,MCU微處理控制器5配裝有電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路81、電壓放大電路82、電壓A/D轉(zhuǎn)換電路83,各放射線傳感器7的輸出端與電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路81電連接,電流轉(zhuǎn)電壓采樣電路81的輸出端與電壓放大電路82的輸入端電連接,電壓放大電路82的輸出端與電壓A/D轉(zhuǎn)換電路83的輸入端電連接,電壓A/D轉(zhuǎn)換電路83的輸出端與MCU微處理控制器5電連接。

需進(jìn)一步解釋,本實(shí)用新型具有三種測(cè)量模式,具體的:第一種,快速測(cè)量模式,探測(cè)器測(cè)量10秒鐘,然后將測(cè)量值顯示在LCD顯示器2;第三種,標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量模式,探測(cè)器測(cè)量20秒鐘,然后將測(cè)量值顯示在LCD顯示器2;第三種,精準(zhǔn)測(cè)量模式,探測(cè)器以測(cè)量8次20秒鐘的值,然后以平均值方式顯示LCD顯示器2,主要針對(duì)低濃度和不穩(wěn)定的負(fù)離子產(chǎn)品,以求得更加精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)。

在本實(shí)用新型使用過程中,使用者通過電源控制按鍵31、測(cè)試按鍵32、模式按鍵33進(jìn)行操作控制。對(duì)于電源控制按鍵31而言,短按1秒開機(jī),長(zhǎng)按3秒關(guān)機(jī)。對(duì)于測(cè)試按鍵32而言,在模式狀態(tài)下,輕按一下進(jìn)行測(cè)試;在測(cè)試過程中,長(zhǎng)按2秒顯示“STOP”停止測(cè)試;在查看存儲(chǔ)數(shù)據(jù)模式下,輕按進(jìn)行逐個(gè)數(shù)據(jù)的查看。對(duì)于模式按鍵33而言,短按進(jìn)行模式1-3之間切換;長(zhǎng)按兩秒,進(jìn)入存儲(chǔ)功能數(shù)據(jù)的查看;查看完后,短按一秒退出到測(cè)試模式。

需進(jìn)一步指出,本實(shí)用新型可以應(yīng)用于以下場(chǎng)合,具體的:

1、研發(fā)機(jī)構(gòu)對(duì)礦石類負(fù)離子的研究和論證;

2、高機(jī)能材料與固體類負(fù)離子材料的運(yùn)用和檢測(cè);

3、負(fù)離子保健品的研發(fā)測(cè)試、性能評(píng)估;

4、各種粉體負(fù)離子測(cè)試,如天然礦石、負(fù)離子粉、電氣石托瑪琳、隕石等負(fù)離子含量檢測(cè)和評(píng)估;

5、各種固體負(fù)離子產(chǎn)品的測(cè)試與評(píng)估,如負(fù)離子手環(huán)、負(fù)離子坐墊、能量杯、汗蒸房、巖盤浴、油漆涂料等研發(fā)和檢測(cè);

6、各種液體負(fù)離子產(chǎn)品的測(cè)試與評(píng)估,如納米銀、負(fù)離子面膜、負(fù)離子洗面乳等研發(fā)和檢測(cè);

7、其他相關(guān)新興行業(yè)。

通過上述結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)新穎且運(yùn)用雙重傳感器保護(hù)措施可針對(duì)不同性狀例如固體類、液體類、粉體類的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試,并能夠精確的探測(cè)從0至10萬個(gè)/cm3負(fù)離子濃度,即能夠有效地適用于負(fù)離子粉、電氣石粉及其各類制成健康保健品涂料等產(chǎn)品產(chǎn)生的負(fù)離子測(cè)量。

作為優(yōu)選的實(shí)施方式,如圖2所示,MCU微處理控制器5配裝有時(shí)鐘模塊9,時(shí)鐘模塊9與MCU微處理控制器5電連接。在本實(shí)用新型工作過程中,時(shí)鐘模塊9將相應(yīng)的時(shí)間信息發(fā)送至MCU微處理控制器5,MCU微處理控制器5通過LCD顯示器2顯示時(shí)間信息。

作為優(yōu)選的實(shí)施方式,如圖2所示,測(cè)試儀殼體1裝設(shè)有信號(hào)指示燈100,信號(hào)指示燈100與MCU微處理控制器5電連接。在本實(shí)用新型工作過程中,信號(hào)指示燈100可以通過光信號(hào)的方式提示相應(yīng)的工作狀態(tài)。

作為優(yōu)選的實(shí)施方式,如圖2所示,測(cè)試儀殼體1裝設(shè)有通信串口110,通信串口110與MCU微處理控制器5電連接。在本實(shí)用新型工作過程中,MCU微處理控制器5可通過通信串口110實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通訊。

以上內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員,依據(jù)本實(shí)用新型的思想,在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處,本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。

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