本實用新型涉及集成電路測試領(lǐng)域,尤其涉及的是一種托盤式集成電路芯片測試裝置。
背景技術(shù):
現(xiàn)有技術(shù)中,IC測試都是通過專用測試裝置單個進行測試,單個測試操作復雜,測試效率較低。
因此,現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷,需要改進。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本實用新型所要解決的技術(shù)問題是:提供一種整盤測試,測試效率高的托盤式集成電路芯片測試裝置。
本實用新型的技術(shù)方案如下:一種托盤式集成電路芯片測試裝置,包括測試機架和接觸導通用探針模組;其中,測試機架上設(shè)置測試料盤載盤、以及使測試料盤載盤升降運動的氣動升降部件,并且,測試料盤載盤還設(shè)置有對測試料盤進行限位的限位部件、以及升降感應及控制器;接觸導通用探針模組包括有托板、托板上由上往下設(shè)置有轉(zhuǎn)接插槽、PCB固定板、PCB轉(zhuǎn)接板、探針A板、探針B板和測試探針,其中,測試探針分別固定在探針A板和探針B板內(nèi),并與PCB轉(zhuǎn)接板接觸連通。
應用于上述技術(shù)方案,所述的托盤式集成電路芯片測試裝置中,還包括一放置在測試料盤載盤上的測試料盤,測試料盤上設(shè)置有若干用于放置待測IC的限位框,各限位框與測試探針一一對應。
應用于上述技術(shù)方案,所述的托盤式集成電路芯片測試裝置中,接觸導通用探針模組還設(shè)置有若干定位銷。
采用上述方案,本實用新型通過設(shè)置測試機架和接觸導通用探針模組測試機架,通過在測試機架設(shè)置托盤式測試料盤載盤和測試料盤,并通過設(shè)置的接觸導通用探針模組導通測試料盤上的待測IC,如此,可以進行整盤測試,測試效率高。
附圖說明
圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)立體圖;
圖2為本實用新型的正視圖;
圖3為本實用新型的俯視圖;
圖4為本實用新型中測試料盤的結(jié)構(gòu)圖;
圖5為本實用新型中接觸導通用探針模組的結(jié)構(gòu)圖;
圖6為本實用新型中接觸導通用探針模組的測試結(jié)構(gòu)圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和具體實施例,對本實用新型進行詳細說明。
本實施例提供了一種托盤式集成電路芯片測試裝置,如圖1-3所示,托盤式集成電路芯片測試裝置包括測試機架102和接觸導通用探針模組101;其中,測試機架上設(shè)置測試料盤載盤103、以及使測試料盤載盤升降運動的氣動升降部件106,并且,測試料盤載盤還設(shè)置有對測試料盤進行限位的限位部件105、以及升降感應及控制器104;其中,測試機架102是測試裝置共用的部件,測試不同IC通過更換不同的部件,例如,更換不同的接觸導通用探針模組101和裝載待測IC的料盤,可以實現(xiàn)不同IC芯片整TRAY測試,其中,TRAY即托盤,例如,可以分別測試如BGA132/152、TSOP48、UDP卡、TF卡等封裝的IC。
如圖4所示,測試料盤107設(shè)置有若干程點陣排布、并用于放置待測IC的限位框108,各限位框108與測試探針一一對應,如此,通過測試探針可以一一對應連通限位框1085上的待測IC,從而實現(xiàn)對待測IC的測試。
如圖5和6所示,接觸導通用探針模組101包括有托板204、托板204上由上往下設(shè)置有轉(zhuǎn)接插槽202、PCB固定板203、PCB轉(zhuǎn)接板205、探針A板206、探針B板207和測試探針209,其中,測試探針分別固定在探針A板和探針B板內(nèi),測試探針與PCB轉(zhuǎn)接板接觸連通;如此,在測試時,將測試母板201分別插入在轉(zhuǎn)接插槽202內(nèi),并通過轉(zhuǎn)接插槽與PCB轉(zhuǎn)接板205接觸連通,PCB轉(zhuǎn)接板分別與個測試探針209接觸連通,PCB固定板203用于固定PCB轉(zhuǎn)接板,探針A板和探針B板用于固定安裝測試探針209;測試探針209與測試料盤107內(nèi)的待測IC連通;從而將待測IC與測試母板連通后進行測試。
并且,在測試之前,先將待測IC放入芯片料盤,再將測試盤反扣到IC測試料盤107上,將測試盤料107和芯片料盤整體翻轉(zhuǎn)180°,使被待測IC倒入測試料盤107內(nèi),并使待測IC分別落入測試料盤的限位框108內(nèi),將測試料盤推入測試料盤載盤103內(nèi),并通過限位部件105有對測試料盤進行限位固定,在固定后,通過氣動升降部件106使測試料盤載盤103整體上升,并通過升降感應及控制器104使其上升到預設(shè)位置,測試料盤載盤103上升后,使測試盤料107內(nèi)的待測IC與觸導通用探針模組101上的測試探針相接觸,從而通過測試探針連通測試母板201對各待測IC進行測試。
并且,接觸導通用探針模組還設(shè)置有若干定位銷208,各定位銷208對接觸導通用探針模組的整體起到定位安裝固定的作用。
以上僅為本實用新型的較佳實施例而已,并不用于限制本實用新型,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等,均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。