本實用新型屬于電路板測試治具技術領域，尤其涉及兩針一線測試治具。

背景技術：

目前，市面上現(xiàn)有的Pcb測試治具均采用一個測試探針連接一個彈簧或漆包線和對應的測試接口(測試連接針)連接的結構。但是，隨著pcb越來越精密，使用現(xiàn)有這些Pcb測試治具進行測試時，測試治具的測試探針與Pcb板上的測試點往往出現(xiàn)位置偏移、難以對準的情況，使測試越來越困難，測試準確度低，從而需要反復檢測，以減少錯檢問題，測試操作十分麻煩，測試效率極低，更無法對規(guī)格類似的Pcb板進行測試，通用性較差。

技術實現(xiàn)要素：

為了解決現(xiàn)有技術中存在的上述技術問題，本實用新型提供了一種可解決因待測試的Pcb板上測試點位置偏移而難以對準、無法測試的問題，測試準確度和效率高，操作簡單、方便，通用性好，且結構簡單，制作難度低、周期短、成本低的兩針一線測試治具。

本實用新型解決現(xiàn)有技術問題所采用的技術方案為：

一種兩針一線測試治具，包括有針盤、線盤、測試連接口；所述針盤的上表面穿插有間隔設置且可上下活動的多根測試探針，所述線盤上穿設間隔設置的多條導電線，所述多條導電線的一端與針盤上受壓下移的測試探針一一對應導通連接，另一端以兩條以上為一組地連接在測試連接口內的一根測試連接針上；具體為：所述多條導電線的另一端可以以兩條、三條、四條或五條為一組地連接在測試連接口內的一根測試連接針上。

進一步地，每條導電線穿設在線盤的一端設有連接觸點，所述連接觸點是復位彈簧或漆包線。

進一步地，所述復位彈簧的上端繞制有連接一體連接插入部，所述測試探針的下端設有防卡端頭，所述防卡端頭的橫向寬度與連接插入部的插入孔孔徑相適配、并大于復位彈簧的孔徑；受壓下移的測試探針的下端以可分離的方式一對一地插入連接插入部內，且防卡端頭壓在復位彈簧的孔口外側，以實現(xiàn)與導電線導通連接。

進一步地，所述防卡端頭是扁平端頭或球體或半球體，與測試探針連接一體。

進一步地，所述測試探針是金屬針，所述導電線為漆包線或OK線。

本實用新型的有益效果如下：

本實用新型通過上述技術方案，即可在測試中無論哪根測試探針接觸到待測試的Pcb板上的測試點均可以完成測試，解決了傳統(tǒng)測試治在測試時因待測試的Pcb板上測試點位置偏移而難以對準測試點、測試越來越困難，甚至無法測試問題，大大提高了測試準確度，測試操作十分簡單、方便，測試效率也明顯提高，同時可對規(guī)格類似的Pcb板測試，通用性好，而且結構簡單，制作難度低、周期短、成本低。

【附圖說明】

圖1是本實用新型所述兩針一線測試治具實施例的結構示意圖；

圖2是本實用新型所述兩針一線測試治具實施例中測試探針與復位彈簧的連接結構示意圖。

【具體實施方式】

為了使本實用新型的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

如圖1和圖2中所示：

本實用新型實施例提供了一種兩針一線測試治具，包括有針盤1、線盤2、測試連接口3；所述針盤1的上表面穿插有間隔設置且可上下活動的多根測試探針4，所述線盤2上穿設間隔設置的多條導電線5，所述多條導電線5的一端與針盤1上受壓下移的測試探針4一一對應導通連接，另一端以兩條以上為一組地連接在測試連接口3內的一根測試連接針31上(如圖1，所述多條導電線5的另一端可以以兩條為一組地連接在測試連接口3內的一根測試連接針31上，當然也可以以三條、四條或五條為一組地連接在測試連接口3內的一根測試連接針31上。)。其中，所述測試探針4可以是金屬針，所述導電線5為漆包線或OK線。每條導電線5穿設在線盤2的一端設有連接觸點6，所述連接觸點6可以是復位彈簧(當然也可以是漆包線)，所述復位彈簧的上端繞制有連接一體連接插入部61，所述測試探針4的下端設有防卡端頭41，所述防卡端頭41可以是扁平端頭，該扁平端頭是采用工具在測試探針4的下端打扁形成的扁平外凸端頭，其與測試探針4連接一體(當然防卡端頭41也可以是球體或半球體，與測試探針4連接一體，例如所述球體或半球體與測試探針4通過數(shù)控車床加工一體成型。)；所述防卡端頭41的橫向寬度與連接插入部61的插入孔孔徑相適配、并大于復位彈簧的孔徑；受壓下移的測試探針4的下端以可分離的方式一對一地插入連接插入部61內，且防卡端頭41壓在復位彈簧的孔口外側，以實現(xiàn)與導電線5導通連接。

以上內容是結合具體的優(yōu)選技術方案對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本實用新型的保護范圍。