本實(shí)用新型的實(shí)施例涉及拉曼光譜檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備。

背景技術(shù)：

拉曼光譜分析技術(shù)是一種以拉曼散射效應(yīng)為基礎(chǔ)的非接觸式光譜分析技術(shù)，它能對(duì)物質(zhì)的成分進(jìn)行定性、定量分析。拉曼光譜是一種分子振動(dòng)光譜，它可以反映分子的指紋特征，可用于對(duì)物質(zhì)的檢測(cè)。拉曼光譜檢測(cè)通過(guò)檢測(cè)待測(cè)物對(duì)于激發(fā)光的拉曼散射效應(yīng)所產(chǎn)生的拉曼光譜來(lái)檢測(cè)和識(shí)別物質(zhì)。拉曼光譜檢測(cè)方法已經(jīng)廣泛應(yīng)用于液體安檢、珠寶檢測(cè)、爆炸物檢測(cè)、毒品檢測(cè)、藥品檢測(cè)等領(lǐng)域。

近年來(lái)，拉曼光譜分析技術(shù)在危險(xiǎn)品檢查和物質(zhì)識(shí)別等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。在物質(zhì)識(shí)別領(lǐng)域，由于各種物質(zhì)的顏色、形狀各異，人們通常無(wú)法準(zhǔn)確判斷物質(zhì)的屬性，而拉曼光譜由被檢物的分子能級(jí)結(jié)構(gòu)決定，因而拉曼光譜可作為物質(zhì)的“指紋”信息，用于物質(zhì)識(shí)別。因此拉曼光譜分析技術(shù)在海關(guān)、公共安全、食品藥品、環(huán)境等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為了至少部分地環(huán)節(jié)現(xiàn)有技術(shù)中的一個(gè)或多個(gè)問(wèn)題，提出了一種安全性更高的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備。

本實(shí)用新型的實(shí)施例提供了一種拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備，包括：

激光器，用于發(fā)射激發(fā)光；

光學(xué)裝置，用于將所述激發(fā)光引導(dǎo)至待測(cè)樣品和收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的光信號(hào)；

光譜儀，用于對(duì)接收的光信號(hào)進(jìn)行分光以生成待測(cè)樣品的拉曼光譜；以及

安全探測(cè)器，用于檢測(cè)所述待測(cè)樣品發(fā)出的紅外光。

在一實(shí)施例中，所述光學(xué)裝置包括：

拉曼光信號(hào)收集光路，用于收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的拉曼光信號(hào)，其中，在所述拉曼光路信號(hào)收集光路中設(shè)置有第一分光鏡，所述第一分光鏡布置成從拉曼光路信號(hào)收集光路中形成紅外輻射支路，以將來(lái)自待測(cè)樣品的光中的紅外光朝向安全探測(cè)器引導(dǎo)。

在一實(shí)施例中，所述第一分光鏡為短通二向色鏡，所述短通二向色鏡設(shè)置成將波長(zhǎng)大于預(yù)定波長(zhǎng)的光朝向安全探測(cè)器反射，而使波長(zhǎng)小于該預(yù)定波長(zhǎng)的光透射通過(guò)所述短通二向色鏡，所述預(yù)定波長(zhǎng)在700納米至300微米之間。

在一實(shí)施例中，所述第一分光鏡設(shè)置成將一部分光朝向安全檢測(cè)探測(cè)器反射，而將另一部分光朝向光譜儀透射。

在一實(shí)施例中，所述拉曼光信號(hào)收集光路中還包括：

第一會(huì)聚透鏡，所述第一會(huì)聚透鏡用于將激發(fā)光會(huì)聚到待測(cè)樣品并收集來(lái)自待測(cè)樣品的光信號(hào)；

第二會(huì)聚透鏡，所述第二會(huì)聚透鏡用于將收集來(lái)的光信號(hào)會(huì)聚到光譜儀；以及

第二分光鏡，所述第二分光鏡在所述拉曼光信號(hào)收集光路中位于第一分光鏡和第二會(huì)聚透鏡之間或位于第一分光鏡和第一會(huì)聚透鏡之間，布置成用于將來(lái)自于激光器的激發(fā)光向所述第一會(huì)聚透鏡反射并使由第一會(huì)聚透鏡收集的來(lái)自待測(cè)樣品的反射光的至少一部分透射通過(guò)以射向所述第二會(huì)聚透鏡。

在一實(shí)施例中，所述第二分光鏡為長(zhǎng)通二向色鏡。

在一實(shí)施例中，所述拉曼光信號(hào)收集光路中還設(shè)置有長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片，所述長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片位于所述第一分光鏡的下游，用于濾除經(jīng)過(guò)第一分光鏡之后的光信號(hào)中的瑞利光。

在一實(shí)施例中，所述拉曼光信號(hào)收集光路中還設(shè)置有長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片，所述長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片位于所述待測(cè)樣品和光譜儀之間，用于濾除光信號(hào)中的瑞利光。

在一實(shí)施例中，所述光學(xué)裝置包括：

拉曼光信號(hào)收集光路，用于收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的拉曼光信號(hào)；以及

紅外光收集光路，用于收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的紅外光，所述紅外光收集光路完全獨(dú)立于所述拉曼光信號(hào)收集光路。

在一實(shí)施例中，所述拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備還包括控制器，所述控制器接收所述安全探測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果并向所述激光器發(fā)送控制信號(hào)，所述控制器配置成在由安全探測(cè)器檢測(cè)到的紅外光的輻射能量超過(guò)預(yù)定閾值時(shí)減小激光器的功率或關(guān)斷激光器。

在一實(shí)施例中，所述光學(xué)裝置集成在光纖探頭中，所述激光器發(fā)出的激發(fā)光通過(guò)導(dǎo)入光纖導(dǎo)入所述光纖探頭，所述光纖探頭通過(guò)收集光纖將收集到的拉曼光信號(hào)傳送至光譜儀。

借助于根據(jù)上述實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備，能夠防止在拉曼光譜檢測(cè)過(guò)程中因?yàn)闃悠愤^(guò)熱損毀而導(dǎo)致安全性問(wèn)題。

附圖說(shuō)明

為了更好的理解本實(shí)用新型，將根據(jù)以下附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行描述：

圖1示出了根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的示意圖；

圖2示出了根據(jù)本實(shí)用新型另一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的示意圖；

圖3示出了根據(jù)本實(shí)用新型又一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的示意圖；

圖4示出了根據(jù)本實(shí)用新型再一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的示意圖；

圖5示出了根據(jù)本實(shí)用新型另一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的示意圖；

圖6示出了根據(jù)本實(shí)用新型一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的安全監(jiān)控方法的流程圖；以及

圖7示出了根據(jù)本實(shí)用新型另一實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的示意圖。

附圖沒(méi)有對(duì)實(shí)施例的所有電路或結(jié)構(gòu)進(jìn)行顯示。貫穿所有附圖相同的附圖標(biāo)記表示相同或相似的部件或特征。

具體實(shí)施方式

下面通過(guò)實(shí)施例，并結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步具體的說(shuō)明。在說(shuō)明書(shū)中，相同或相似的附圖標(biāo)號(hào)表示相同或相似的部件。下述參照附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施方式的說(shuō)明旨在對(duì)本實(shí)用新型的總體實(shí)用新型構(gòu)思進(jìn)行解釋，而不應(yīng)當(dāng)理解為對(duì)本實(shí)用新型的一種限制。

根據(jù)本實(shí)用新型的總體構(gòu)思，提供一種拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備，包括：激光器，用于發(fā)射激發(fā)光；光學(xué)裝置，用于將所述激發(fā)光引導(dǎo)至待測(cè)樣品和收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的光信號(hào)；光譜儀，用于對(duì)接收的光信號(hào)進(jìn)行分光以生成待測(cè)樣品的拉曼光譜；以及安全探測(cè)器，用于檢測(cè)所述待測(cè)樣品發(fā)出的紅外光。

另外，在下面的詳細(xì)描述中,為便于解釋,闡述了許多具體的細(xì)節(jié)以提供對(duì)本披露實(shí)施例的全面理解。然而明顯地，一個(gè)或更多個(gè)實(shí)施例在沒(méi)有這些具體細(xì)節(jié)的情況下也可以被實(shí)施。在其他情況下，公知的結(jié)構(gòu)和裝置以圖示的方式體現(xiàn)以簡(jiǎn)化附圖。

圖1示出了根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100的結(jié)構(gòu)示意圖。所述拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100包括：激光器10，用于發(fā)射激發(fā)光11；光學(xué)裝置20，用于將所述激發(fā)光11引導(dǎo)至待測(cè)樣品30和收集來(lái)自所述待測(cè)樣品30的光信號(hào)；光譜儀40，用于對(duì)接收的光信號(hào)進(jìn)行分光以生成待測(cè)樣品30的拉曼光譜；以及安全探測(cè)器50，用于檢測(cè)所述待測(cè)樣品30發(fā)出的紅外光31。作為示例，由光譜儀40生成的待測(cè)樣品30的拉曼光譜可以與已知物質(zhì)的拉曼光譜進(jìn)行比較以確定待測(cè)樣品30的成分。該比較可以例如通過(guò)計(jì)算機(jī)或處理器來(lái)完成。

在拉曼檢測(cè)過(guò)程中，產(chǎn)生安全問(wèn)題往往是由于樣品吸熱導(dǎo)致溫度上升，進(jìn)而有可能導(dǎo)致對(duì)被測(cè)物的燒蝕，甚至產(chǎn)生引燃、引爆等現(xiàn)象。而在本實(shí)用新型的實(shí)施例中，采用了安全探測(cè)器(例如紅外探測(cè)器)50來(lái)檢測(cè)所述待測(cè)樣品30發(fā)出的紅外光31，能夠監(jiān)控待測(cè)樣品30的溫度。這是由于當(dāng)樣品溫度的上升時(shí)，往往伴隨著紅外光的輻射能量加大。而通過(guò)對(duì)于紅外光的輻射能量的監(jiān)控就能夠發(fā)現(xiàn)待測(cè)樣品30的溫度變化情況并及時(shí)控制激光出束，從而避免出現(xiàn)安全事故。

在一示例中，如圖2所示，光學(xué)裝置20可以包括拉曼光信號(hào)收集光路21，用于收集來(lái)自所述待測(cè)樣品30的拉曼光信號(hào)。在所述拉曼光路信號(hào)收集光路21中設(shè)置有第一分光鏡22，所述第一分光鏡22布置成從拉曼光路信號(hào)收集光路21中形成紅外輻射支路23，以將來(lái)自待測(cè)樣品30的光中的紅外光朝向安全探測(cè)器50引導(dǎo)。該第一分光鏡22能夠?qū)⒋郎y(cè)樣品30發(fā)出的紅外光從拉曼光路信號(hào)收集光路21中提取出來(lái)，可以在盡量不影響拉曼光信號(hào)的情況下對(duì)紅外光進(jìn)行探測(cè)。作為示例，第一分光鏡22要求在盡量不影響拉曼光(一般是0‐3000cm^‐1范圍)的前提下，盡量將安全探測(cè)器響應(yīng)波段的紅外光反射到安全探測(cè)器。當(dāng)然，也可以根據(jù)需要對(duì)紅外輻射支路23中的紅外光進(jìn)行波段選擇、會(huì)聚等處理。

在上述示例中，紅外光所經(jīng)過(guò)的光路和拉曼光所經(jīng)過(guò)的光路在前端(靠近待測(cè)樣品30的一端)是相同的，以這種方式收集的紅外光能夠更好地體現(xiàn)待測(cè)樣品30的實(shí)際溫度。

作為示例，第一分光鏡22為短通二向色鏡，所述短通二向色鏡設(shè)置成將波長(zhǎng)大于預(yù)定波長(zhǎng)的光朝向安全探測(cè)器50反射，而使波長(zhǎng)小于該預(yù)定波長(zhǎng)的光透射通過(guò)所述短通二向色鏡。例如，所述預(yù)定波長(zhǎng)可以700納米至300微米之間，如在900納米至1500納米之間，如可以將預(yù)定波長(zhǎng)設(shè)定成1200納米。但本實(shí)用新型的實(shí)施例中的短通二向色鏡的預(yù)定波長(zhǎng)不限于此范圍。通常，拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備中的光譜儀所處理的拉曼光譜的波長(zhǎng)范圍為550至1100納米。波長(zhǎng)短于所述預(yù)定波長(zhǎng)的光可以透射通過(guò)該短通二向色鏡(例如透射率可以在90％以上)，對(duì)拉曼光譜檢測(cè)基本上沒(méi)有影響，波長(zhǎng)長(zhǎng)于所述預(yù)定波長(zhǎng)的光可以被反射到紅外輻射支路中被傳輸?shù)桨踩綔y(cè)器50。而相應(yīng)的紅外光將被安全探測(cè)器接收分析。而典型的安全探測(cè)器響應(yīng)波段例如為1500至3000納米。但本實(shí)用新型的實(shí)施例不限于此。

雖然在上述示例中，以短通二向色鏡對(duì)于第一分光鏡22進(jìn)行介紹，但是這不是必須的，也可以采用本領(lǐng)域已知的任何其它波長(zhǎng)選擇分光部件來(lái)實(shí)現(xiàn)第一分光鏡22。

在本申請(qǐng)的實(shí)施例中，第一分光鏡22例如也可以采用普通分光鏡來(lái)實(shí)現(xiàn)。作為示例，第一分光鏡可以設(shè)置成將一部分光朝向安全檢測(cè)探測(cè)器反射，而將另一部分光朝向光譜儀透射。這也可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)光收集功能和溫度監(jiān)測(cè)功能。

在一示例中，如圖2所示的示例性的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100b，拉曼光信號(hào)收集光路21中可以還設(shè)置有第一會(huì)聚透鏡24、第二會(huì)聚透鏡41和第二分光鏡25。所述第一會(huì)聚透鏡24用于將激發(fā)光11會(huì)聚到待測(cè)樣品30并收集來(lái)自待測(cè)樣品30的光信號(hào)。第二會(huì)聚透鏡41用于將收集來(lái)的光信號(hào)會(huì)聚到光譜儀。所述第二分光鏡25在所述拉曼光信號(hào)收集光路21中位于第一會(huì)聚透鏡24和第一分光鏡22之間，布置成用于將來(lái)自于激光器10的激發(fā)光11向第一會(huì)聚透鏡24反射并使由第一會(huì)聚透鏡24收集的來(lái)自待測(cè)樣品30的反射光的至少一部分透射通過(guò)以射向所述第一分光鏡22或第二會(huì)聚透鏡41。在該示例中，激發(fā)光11被引導(dǎo)至待測(cè)樣品30上的光路和拉曼光信號(hào)收集光路21在從第二分光鏡25和待測(cè)樣品30之間的部分是重合的。而在光路中，第一分光鏡22位于第二分光鏡25的下游，可以避免對(duì)于光路前端的干擾。

作為示例，圖2中的第一分光鏡22和第二分光鏡25的位置可以互換。例如，如圖7所示，在拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100b’中，第二分光鏡25在所述拉曼光信號(hào)收集光路21中位于第一分光鏡22和第二會(huì)聚透鏡41之間。

作為示例，所述第二分光鏡25可以為長(zhǎng)通二向色鏡，即僅允許波長(zhǎng)長(zhǎng)于一定閾值的光透射通過(guò)，而將波長(zhǎng)短于該閾值的光擋住。該方案的優(yōu)勢(shì)在于，可以削弱來(lái)自待測(cè)樣品30的瑞利光。待測(cè)樣品30在產(chǎn)生拉曼光的同時(shí)往往也會(huì)產(chǎn)生波長(zhǎng)小于拉曼光的瑞利光，而長(zhǎng)通二向色鏡的該閾值可以設(shè)置成削弱甚至消除波長(zhǎng)較短的瑞利光，從而提高拉曼光信號(hào)的信噪比。長(zhǎng)通二向色鏡的具體閾值可以根據(jù)實(shí)際測(cè)量的要求來(lái)進(jìn)行選擇。本實(shí)用新型的實(shí)施例中，第二分光鏡25不限于長(zhǎng)通二向色鏡，例如也可以采用本領(lǐng)域已知的任何其它分光部件來(lái)實(shí)現(xiàn)第二分光鏡25。

在一示例中，為了更好地抑制瑞利光，還可以在拉曼光信號(hào)收集光路21中第一分光鏡的下游設(shè)置長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片26，用于濾除經(jīng)過(guò)第一分光鏡之后的光信號(hào)中的瑞利光。在本實(shí)用新型的實(shí)施例中，長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片26在拉曼光信號(hào)收集光路21中的位置不限于此，其可以設(shè)置在待測(cè)樣品和光譜儀之間的任何位置上，只要能夠起到去除收集光路中的光信號(hào)的瑞利光的作用即可。例如，長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片26也可以位于第一分光鏡的上游，如對(duì)于圖5所示的實(shí)施例的變體，長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片26也可以設(shè)置在第一分光鏡與第二分光鏡之間的位置。在此情況下，收集光路中的光信號(hào)可以依次經(jīng)過(guò)第一會(huì)聚透鏡、第二分光鏡、長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片、第一分光鏡、第二會(huì)聚透鏡和光譜儀。當(dāng)然，本實(shí)用新型的實(shí)施例并不限于此，例如，也可以不設(shè)置長(zhǎng)通濾波片或陷波濾波片26。

在另一示例中，如圖3和圖4所示，光學(xué)裝置20’還可以包括：拉曼光信號(hào)收集光路21，用于收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的拉曼光信號(hào)；以及紅外光收集光路23’，用于收集來(lái)自所述待測(cè)樣品30的紅外光。與上述如圖1和圖2所示的示例中的紅外輻射支路23不同，所述紅外光收集光路23’完全獨(dú)立于所述拉曼光信號(hào)收集光路21。這可以盡可能地保留拉曼光譜檢測(cè)裝置的原有光路結(jié)構(gòu)。安全探測(cè)器50可以設(shè)置于待測(cè)樣品30附近的任何位置，只要紅外信號(hào)的強(qiáng)度能夠滿足安全探測(cè)器50的檢測(cè)要求即可。

圖3中示出的示例性的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100c和圖4中示出的示例性的拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100d的區(qū)別僅在于，在圖3中，激發(fā)光11被引導(dǎo)至待測(cè)樣品30上的光路和拉曼光信號(hào)收集光路21在從第二分光鏡25和待測(cè)樣品30之間的部分是重合的，而在圖4中，激發(fā)光11被引導(dǎo)至待測(cè)樣品30上的光路和拉曼光信號(hào)收集光路21是完全獨(dú)立的(或者稱為激發(fā)光11被偏軸照射到待測(cè)樣品30)。在圖4的示例中，第二分光鏡25并不是必要的元件，在圖4中示出僅僅是為了便于與圖3的示例進(jìn)行比較。

在圖1和圖4的示例中，作為示例，在激發(fā)光照射到待測(cè)樣品30上之前還可以被某些光學(xué)元件(如反射鏡等)來(lái)改變方向以更為方便和準(zhǔn)確地被引導(dǎo)到待測(cè)樣品30上。

如圖5所示，在一示例中，拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備100e還可以包括控制器60。所述控制器60接收所述安全探測(cè)器50的檢測(cè)結(jié)果并向所述激光器10發(fā)送控制信號(hào)。所述控制器60可以配置成在由安全探測(cè)器50檢測(cè)到的紅外光的輻射能量超過(guò)預(yù)定閾值時(shí)減小激光器10的功率或關(guān)斷激光器10。作為示例，由于待測(cè)樣品30的溫度與其所發(fā)出的紅外光的輻射能量存在對(duì)應(yīng)關(guān)系，因此，控制器60中所設(shè)定的紅外光的輻射能量的預(yù)定閾值可以對(duì)應(yīng)于一不超過(guò)待測(cè)樣品30的最大允許溫度的溫度值，從而避免待測(cè)樣品30因?yàn)闇囟冗^(guò)高而被毀。所述控制器60可以由如集成電路、信號(hào)處理器、計(jì)算機(jī)等部件來(lái)實(shí)現(xiàn)。

作為示例，所述光學(xué)裝置20可以集成在光纖探頭70中，所述激光器10發(fā)出的激發(fā)光11可以通過(guò)導(dǎo)入光纖71導(dǎo)入所述光纖探頭70，所述光纖探頭70通過(guò)收集光纖72將收集到的拉曼光信號(hào)傳送至光譜儀40。當(dāng)然，光學(xué)裝置20也可以由分立的光學(xué)元件來(lái)構(gòu)建。但采用光纖探頭70的方式，能夠提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

作為示例，激發(fā)光在到達(dá)第二分光鏡25或第一會(huì)聚透鏡24之間，還可以經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直透鏡27和窄帶濾波片28。準(zhǔn)直透鏡27可以使激發(fā)光稱為近似于平行光以提高方向性和光學(xué)效率。窄帶濾波片28可以去除干擾，提高激發(fā)光在期望的波長(zhǎng)段上的信噪比。作為示例，為了實(shí)現(xiàn)光路的折疊，還可以設(shè)置一個(gè)或更多個(gè)偏轉(zhuǎn)反射鏡29。作為示例，為了使拉曼信號(hào)光能夠更好地耦合入光譜儀40，還可以在收集光纖72的上游設(shè)置第二會(huì)聚透鏡41。

本實(shí)用新型的實(shí)施例還提供了一種拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備的安全監(jiān)控方法200。如圖6所示，該安全監(jiān)控方法200可以包括：

步驟S10：由激光器發(fā)射激發(fā)光；

步驟S20：將所述激發(fā)光引導(dǎo)至待測(cè)樣品和收集來(lái)自所述待測(cè)樣品的拉曼光信號(hào)；以及

步驟S30：由安全探測(cè)器檢測(cè)所述待測(cè)樣品發(fā)出的紅外光的輻射能量以監(jiān)控所述待測(cè)樣品的溫度。

該方法可以用于在拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備工作時(shí)監(jiān)控待測(cè)樣品的溫度。

作為示例，所述安全監(jiān)控方法200還可以包括：

步驟S40：在所述待測(cè)樣品的溫度大于預(yù)定閾值時(shí)減小激光器的功率或關(guān)斷激光器。

該步驟S40可以在拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備工作時(shí)實(shí)時(shí)地監(jiān)測(cè)待測(cè)樣品的溫度是否大于預(yù)定閾值(該預(yù)定閾值例如可以為80度、100度、150度等等，可依賴于待測(cè)樣品30來(lái)確定)，從而保證檢測(cè)工作的安全性。

作為示例，所述監(jiān)控方法200還可以包括：

步驟S50：在激光器發(fā)射激發(fā)光持續(xù)一預(yù)定時(shí)間段后關(guān)斷激光器，并根據(jù)待測(cè)樣品在該預(yù)定時(shí)間段中的溫度變化來(lái)確定待測(cè)樣品的安全性。

該步驟S50可以用于在正式執(zhí)行拉曼光譜檢測(cè)操作之前評(píng)估檢測(cè)的安全性。該預(yù)定時(shí)間段例如可以是0.5秒、1秒、3秒等等。如果預(yù)計(jì)待測(cè)樣品的溫度可能過(guò)高，則可以有針對(duì)性地控制拉曼檢測(cè)參數(shù)(例如激光功率、待測(cè)樣品位置等)，從而避免在正式檢測(cè)中出現(xiàn)安全風(fēng)險(xiǎn)。

在本實(shí)用新型的實(shí)施例中，步驟S40和步驟S50可以擇一使用，也可以組合使用。圖6中虛線部分表示可選的步驟。

以上的詳細(xì)描述通過(guò)使用示意圖、流程圖和/或示例，已經(jīng)闡述了上述拉曼光譜檢測(cè)設(shè)備及其監(jiān)控方法的眾多實(shí)施例。在這種示意圖、流程圖和/或示例包含一個(gè)或多個(gè)功能和/或操作的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)理解，這種示意圖、流程圖或示例中的每一功能和/或操作可以通過(guò)各種結(jié)構(gòu)、硬件、軟件、固件或?qū)嵸|(zhì)上它們的任意組合來(lái)單獨(dú)和/或共同實(shí)現(xiàn)。在一個(gè)實(shí)施例中，本實(shí)用新型的實(shí)施例所述主題的若干部分可以通過(guò)專用集成電路(ASIC)、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、或其他集成格式來(lái)實(shí)現(xiàn)。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)認(rèn)識(shí)到，這里所公開(kāi)的實(shí)施例的一些方面在整體上或部分地可以等同地實(shí)現(xiàn)在集成電路中，實(shí)現(xiàn)為在一臺(tái)或多臺(tái)計(jì)算機(jī)上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序(例如，實(shí)現(xiàn)為在一臺(tái)或多臺(tái)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)程序)，實(shí)現(xiàn)為在一個(gè)或多個(gè)處理器上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)程序(例如，實(shí)現(xiàn)為在一個(gè)或多個(gè)微處理器上運(yùn)行的一個(gè)或多個(gè)程序)，實(shí)現(xiàn)為固件，或者實(shí)質(zhì)上實(shí)現(xiàn)為上述方式的任意組合，并且本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本公開(kāi)，將具備設(shè)計(jì)電路和/或?qū)懭胲浖?或固件代碼的能力。此外，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到，本公開(kāi)所述主題的機(jī)制能夠作為多種形式的程序產(chǎn)品進(jìn)行分發(fā)，并且無(wú)論實(shí)際用來(lái)執(zhí)行分發(fā)的信號(hào)承載介質(zhì)的具體類型如何，本公開(kāi)所述主題的示例性實(shí)施例均適用。信號(hào)承載介質(zhì)的示例包括但不限于：可記錄型介質(zhì)，如軟盤、硬盤驅(qū)動(dòng)器、光盤(CD、DVD)、數(shù)字磁帶、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器等；以及傳輸型介質(zhì)，如數(shù)字和/或模擬通信介質(zhì)(例如，光纖光纜、波導(dǎo)、有線通信鏈路、無(wú)線通信鏈路等)。

除非存在技術(shù)障礙或矛盾，本實(shí)用新型的上述各種實(shí)施方式可以自由組合以形成另外的實(shí)施例，這些另外的實(shí)施例均在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍中。

雖然結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了說(shuō)明，但是附圖中公開(kāi)的實(shí)施例旨在對(duì)本實(shí)用新型優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行示例性說(shuō)明，而不能理解為對(duì)本實(shí)用新型的一種限制。附圖中的尺寸比例僅僅是示意性的，并不能理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。

雖然本實(shí)用新型總體構(gòu)思的一些實(shí)施例已被顯示和說(shuō)明，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將理解，在不背離本總體實(shí)用新型構(gòu)思的原則和精神的情況下，可對(duì)這些實(shí)施例做出改變，本實(shí)用新型的范圍以權(quán)利要求和它們的等同物限定。