本實(shí)用新型屬于探測器測試領(lǐng)域，特別是涉及一種測試夾具及探測器MTF測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

X射線探測器經(jīng)歷了百年的發(fā)展，由傳統(tǒng)的膠片式逐漸發(fā)展至當(dāng)今的數(shù)字式，這其中又經(jīng)歷了CR探測器、CCD X射線探測器、CCD拼接式X射線探測器以及目前最為主流的X射線平板探測器。X射線平板探測器可以捕獲X光，將被測物體的X射線影像轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字圖像以便于查看、分析、存儲以及傳播，其被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、生物、材料和工業(yè)檢測等領(lǐng)域。

X射線平板探測器可分為直接成像式和間接成像式兩種，直接成像式探測器直接將X射線轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?，而間接成像式探測器結(jié)構(gòu)由閃爍材料或熒光材料層、具有光電二極管作用的非晶硅層以及TFT陣列構(gòu)成，先采用一層閃爍體或熒光材料將X射線變?yōu)榭梢姽?，再由可見光探測器將其轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?。在獲取電信號后，探測器通過濾波、放大以及模數(shù)轉(zhuǎn)換后，將數(shù)據(jù)按照一定的格式傳送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示和存儲。

MTF為探測器對比度空間頻率轉(zhuǎn)移函數(shù)，用來表示探測器對于圖像細(xì)節(jié)的分辨能力，在系統(tǒng)應(yīng)用的空間頻率范圍內(nèi)，MTF值越高，則空間頻率特性越好，對于影像系統(tǒng)來說，可以獲得更好的圖像對比度。由于對探測器進(jìn)行MTF測試時(shí)，需要將鎢片以一定角度的要求放置，而現(xiàn)有技術(shù)中并沒有相應(yīng)的測試夾具，因此，需要操作人員按照經(jīng)驗(yàn)擺放鎢片，如果角度不在要求范圍內(nèi)，需要多次調(diào)整，直到角度符合要求，而且因?yàn)椴煌蔚臏y試、不同操作人員的經(jīng)驗(yàn)關(guān)系等因素的影響，每次測試時(shí)鎢片擺放的角度、位置均不相同，導(dǎo)致每次測試結(jié)果都會有相應(yīng)的偏差；并且多次調(diào)整鎢片位置也會浪費(fèi)測試時(shí)間。

鑒于此，有必要設(shè)計(jì)一種新的測試夾具及探測器MTF測試系統(tǒng)用以解決上述技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種測試夾具及探測器MTF測試系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中對探測器進(jìn)行MTF測試時(shí)鎢片的擺放位置及角度均不相同，影響測試結(jié)果及測試時(shí)多次調(diào)整鎢片，浪費(fèi)時(shí)間的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本實(shí)用新型提供一種測試夾具，所述測試夾具包括

夾具本體；

位于所述夾具本體任意兩側(cè)邊的固定裝置；

位于所述夾具本體上、并貫穿所述夾具本體的鎢片放置區(qū)；以及

位于所述鎢片放置區(qū)兩側(cè)的把手；

其中，在水平方向上，所述鎢片放置區(qū)與夾具本體具有一定的傾斜角度。

優(yōu)選地，所述傾斜角度為1.5～3度。

優(yōu)選地，所述夾具本體的厚度大于等于0.2cm。

優(yōu)選地，所述固定裝置為與所述夾具本體任意兩側(cè)邊連接的螺孔，及與所述螺孔配合的螺釘。

本實(shí)用新型還提供一種探測器MTF測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括：

探測器；

如上述任一項(xiàng)所述的測試夾具，其中，所述測試夾具通過固定裝置固定在所述探測器的照射面上；以及

位于所述鎢片放置區(qū)內(nèi)的鎢片。

優(yōu)選地，所述夾具本體的形狀與探測器照射面的形狀相同。

優(yōu)選地，所述夾具本體的各側(cè)邊分別與對應(yīng)的探測器照射面的各側(cè)邊對齊。

優(yōu)選地，所述鎢片放置區(qū)的形狀與鎢片的形狀相同。

優(yōu)選地，所述鎢片放置區(qū)的各側(cè)邊長度大于對應(yīng)的鎢片的各側(cè)邊長度。

如上所述，本實(shí)用新型的測試夾具及探測器MTF測試系統(tǒng)，具有以下有益效果：通過固定裝置將所述測試夾具固定在探測器照射面上，并在所述鎢片放置區(qū)放置鎢片，由于鎢片放置區(qū)本身就是帶有一定傾斜角度，所以在使用該測試夾具時(shí)，無需在人為調(diào)整鎢片的擺放位置及角度，而且一次實(shí)現(xiàn)測試，減少測試時(shí)間的浪費(fèi)。

附圖說明

圖1顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例一所述測試夾具的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例二所述測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3顯示為本實(shí)用新型實(shí)施例二所述測試系統(tǒng)移除測試夾具后的結(jié)構(gòu)示意圖。

元件標(biāo)號說明

1 測試夾具

11 夾具本體

12 固定裝置

13 鎢片放置區(qū)

14 把手

2 探測器

3 鎢片

具體實(shí)施方式

以下通過特定的具體實(shí)例說明本實(shí)用新型的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實(shí)用新型的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本實(shí)用新型還可以通過另外不同的具體實(shí)施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說明書中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒有背離本實(shí)用新型的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。

請參閱圖1至圖3。須知，本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等，均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀，并非用以限定本實(shí)用新型可實(shí)施的限定條件，故不具技術(shù)上的實(shí)質(zhì)意義，任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本實(shí)用新型所能產(chǎn)生的功效及所能達(dá)成的目的下，均應(yīng)仍落在本實(shí)用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時(shí)，本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本實(shí)用新型可實(shí)施的范圍，其相對關(guān)系的改變或調(diào)整，在無實(shí)質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下，當(dāng)亦視為本實(shí)用新型可實(shí)施的范疇。

實(shí)施例一

如圖1所示，本實(shí)施例提供一種測試夾具1，所述測試夾具1包括：

夾具本體11；

位于所述夾具本體11任意兩側(cè)邊的固定裝置12；

位于所述夾具本體11上、并貫穿所述夾具本體11的鎢片放置區(qū)13；以及

位于所述鎢片放置區(qū)13兩側(cè)的把手14；

其中，在水平方向上，所述鎢片放置區(qū)13與夾具本體11具有一定的傾斜角度。

具體的，所述夾具本體11的形狀及大小與待測探測器照射面的形狀及大小完全相同，即所述夾具本體11的各個(gè)側(cè)邊與對應(yīng)的探測器照射面的各個(gè)側(cè)邊完全對齊。

具體的，所述夾具本體11的厚度大于等于0.2cm。

需要說明的是，所述夾具本體11的厚度與其平整度相關(guān)，如果所述夾具本體11的厚度太小，所述夾具本體11的平整度就會變差，故為了保證所述夾具本體11的平整度，其厚度不能太小。但也盡量不要讓所述夾具本體11的厚度太厚，如果夾具本體11的厚度太厚，其重量就會較大，不便于搬運(yùn)。

優(yōu)選地，在本實(shí)施例中，所述夾具本體11的厚度為0.5cm。

具體的，所述夾具本體11的材料為電木片或金屬；優(yōu)選地，在本實(shí)施例中，所述夾具本體11的材料為電木片。

具體的，所述固定裝置12為與所述夾具本體任意兩側(cè)邊連接的螺孔，及與所述螺孔配合的螺釘。優(yōu)選地，所述螺釘為塑料釘。當(dāng)然，在其它實(shí)施例中，所述固定裝置12還可以為其它任意可實(shí)現(xiàn)固定功能的裝置及結(jié)構(gòu)。

具體的，所述鎢片放置區(qū)13的形狀與鎢片的形狀相同，但鎢片放置區(qū)13的大小要大于所述鎢片的大小，即所述鎢片放置區(qū)13的各側(cè)邊長度大于對應(yīng)的鎢片的各側(cè)邊長度。優(yōu)選地，在本實(shí)施例中，所述鎢片的形狀為正方形，所述正方形的邊長為14cm；故所述鎢片放置區(qū)13的形狀也為正方形，該正方形的長度為14.2cm。

需要說明的是，對于不同探測器，所述鎢片放置區(qū)13在所述夾具本體11上的位置可能不同。

具體的，所述傾斜角度為1.5～3度。優(yōu)選地，在本實(shí)施例中，所述傾斜角度為2.25度；當(dāng)然，在其它實(shí)施例中，所述傾斜角度還可以為1.5度、1.8度、2度、2.5度、2.7度或3度等。

實(shí)施例二

如圖2所示，本實(shí)施例提供一種探測器MTF測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括：

探測器2；

如實(shí)施例一所述的測試夾具1，其中，所述測試夾具1通過固定裝置12固定在所述探測器的照射面上；以及

位于所述鎢片放置區(qū)13內(nèi)的鎢片3。

具體的，所述夾具本體11的形狀及大小與待測探測器照射面的形狀及大小完全相同，即所述夾具本體11的各個(gè)側(cè)邊與對應(yīng)的探測器照射面的各個(gè)側(cè)邊完全對齊；優(yōu)選地，在本實(shí)施例中，所述探測器照射面的形狀為長方形，故所述夾具本體11的形狀也為長方形；并且所述夾具本體11的長與探測器照射面的長相等，且所述夾具本體11的寬與所述探測器照射面的寬相等。

具體的，所述鎢片放置區(qū)13的形狀與鎢片的形狀相同，但鎢片放置區(qū)13的大小要大于所述鎢片3的大小，即所述鎢片放置區(qū)13的各側(cè)邊長度大于對應(yīng)的鎢片3的各側(cè)邊長度。優(yōu)選地，在本實(shí)施例中，所述鎢片3的形狀為正方形，所述正方形的邊長為14cm；故所述鎢片放置區(qū)13的形狀也為正方形，該正方形的長度為14.2cm。

需要說明的是，對于不同探測器，所述鎢片放置區(qū)13在所述夾具本體11上的位置可能不同。

下面請參閱圖2和圖3對本實(shí)施例中探測器MTF測試系統(tǒng)的測試情況進(jìn)行說明。

首先，通過把手14將測試夾具1放置在探測器照射面上，并通過固定裝置12將測試夾具1固定在探測器2上；之后，將鎢片3放置在鎢片放置區(qū)13內(nèi)，此時(shí)，鎢片3的相鄰雙邊與對應(yīng)的鎢片放置區(qū)13的相鄰雙邊靠攏；然后通過把手14將測試夾具1移開，再對探測器2進(jìn)行MTF測試。

綜上所述，本實(shí)用新型的測試夾具及探測器MTF測試系統(tǒng)，具有以下有益效果：通過固定裝置將所述測試夾具固定在探測器照射面上，并在所述鎢片放置區(qū)放置鎢片，由于鎢片放置區(qū)本身就是帶有一定傾斜角度，所以在使用該測試夾具時(shí)，無需在人為調(diào)整鎢片的擺放位置及角度，而且一次實(shí)現(xiàn)測試，減少測試時(shí)間的浪費(fèi)。

上述實(shí)施例僅例示性說明本實(shí)用新型的原理及其功效，而非用于限制本實(shí)用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實(shí)用新型的精神及范疇下，對上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本實(shí)用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本實(shí)用新型的權(quán)利要求所涵蓋。