技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)和方法，涉及產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)領(lǐng)域。該試驗(yàn)系統(tǒng)包括：輸入模塊、控制器模塊、顯示模塊和繼電器輸出模塊；控制器模塊與繼電器輸出模塊連接，用于根據(jù)輸入模塊獲取的用戶輸入設(shè)置試驗(yàn)參數(shù)，并根據(jù)試驗(yàn)參數(shù)發(fā)出中斷信號(hào)；繼電器輸出模塊與試驗(yàn)電源連接，用于向試驗(yàn)電源輸出中斷信號(hào)，以控制試驗(yàn)電源的通斷。相應(yīng)的試驗(yàn)方法包括：獲取用戶輸入以設(shè)置試驗(yàn)參數(shù)；根據(jù)用戶選擇的所述試驗(yàn)參數(shù)執(zhí)行試驗(yàn)并產(chǎn)生中斷信號(hào)；通過(guò)所述中斷信號(hào)控制試驗(yàn)電源的通斷；顯示所述試驗(yàn)參數(shù)。本發(fā)明能夠按照試驗(yàn)需要靈活設(shè)置試驗(yàn)流程，對(duì)時(shí)間的控制精確度高，可直觀的看到試驗(yàn)狀態(tài)，并且系統(tǒng)穩(wěn)定性強(qiáng)，可兼容多種產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)，成本較低。

技術(shù)研發(fā)人員：王文岳;顧衛(wèi)東;錢思宇;陳鵬;崔杰;任德潔;謝明振;張培躍;程德鵬;何宏飛;呂杰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：工業(yè)和信息化部電子第五研究所華東分所
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.28
技術(shù)公布日：2017.10.27