技術(shù)編號(hào):12303871
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)和方法。背景技術(shù)間歇壽命試驗(yàn)是對(duì)電路間斷地施加應(yīng)力,使器件受到“開(kāi)”和“關(guān)”之間的電應(yīng)力周期變化,來(lái)加速電路內(nèi)部物理、化學(xué)反應(yīng)過(guò)程,而這種周期變化的電應(yīng)力又導(dǎo)致器件和外殼溫度的周期變化,最終得到測(cè)定微電子器件的典型失效率或者證實(shí)器件的質(zhì)量或可靠性。GJB360、GJB548對(duì)現(xiàn)行電子元器件及微電子器件的間歇壽命試驗(yàn)都有明確的規(guī)定。間歇壽命試驗(yàn)的方法是在試驗(yàn)器件和電源之間串聯(lián)一個(gè)“時(shí)間開(kāi)關(guān)”來(lái)有規(guī)律的間斷地給試驗(yàn)器件施加應(yīng)力從而達(dá)到試驗(yàn)...
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