【技術(shù)領(lǐng)域】

本發(fā)明涉及一種天線電阻測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種天線電阻測試工裝及其測試方法。

背景技術(shù)：

隨著移動(dòng)通訊技術(shù)的發(fā)展，各種電子產(chǎn)品對(duì)人們的娛樂及生活起到重要作用，并且多種電子產(chǎn)品逐漸更新為具有通訊功能的電子通訊產(chǎn)品，其中天線為電子通訊產(chǎn)品的核心部件之一。

現(xiàn)有的金屬殼上的天線，由于天線的信號(hào)點(diǎn)和接地點(diǎn)整合在金屬殼相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)，在測試天線性能時(shí)不好裝入測試治具，要分多次對(duì)天線進(jìn)行測試，使得金屬殼雙內(nèi)側(cè)面難測，天線測試效率低下。

因此，有必要提供一種新型的天線電阻測試工裝及其測試方法以解決上述問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種天線電阻測試工裝及其測試方法，其可以一次性完成金屬殼上天線電阻的測試，有效解決金屬殼雙內(nèi)側(cè)面難測問題。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：一種天線電阻測試工裝，包括：

第一pcb，可平移，設(shè)有第一pin針組；

第二pcb，可平移，與所述第一pcb相對(duì)并間隔設(shè)置，設(shè)有第二pin針組；

連接線，用于將所述第一pcb和所述第二pcb電連接；

工作臺(tái)，用于放置待測試的金屬殼，所述第一pcb和所述第二pcb均安裝于所述工作臺(tái)下方；

固定裝置，用于將待測試的金屬殼固定于所述工作臺(tái)；

其中，所述金屬殼設(shè)有待測試電阻的天線，所述天線包括天線測試點(diǎn)，所述天線測試點(diǎn)分設(shè)于所述金屬殼相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)，通過平移所述第一pcb和所述第二pcb實(shí)現(xiàn)所述第一pin針組和所述第二pin針組分別接觸所述金屬殼相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)的所述天線測試點(diǎn)，所述天線測試點(diǎn)包括天線信號(hào)點(diǎn)和天線接地點(diǎn)，通過所述第一pcb的所述第一pin針組和所述第二pcb的所述第二pin針組將所述天線信號(hào)點(diǎn)接入網(wǎng)絡(luò)分析儀以判斷所述天線是否合格。

優(yōu)選的，所述天線電阻測試工裝包括平面氣缸，所述平面氣缸用于驅(qū)動(dòng)所述第一pcb和所述第二pcb相向/背向平移。

優(yōu)選的，所述天線測試點(diǎn)的數(shù)量為六個(gè)，所述金屬殼相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)各設(shè)有三個(gè)所述天線測試點(diǎn)。

優(yōu)選的，所述第一pin針組內(nèi)的pin針數(shù)和所述第二pin針組內(nèi)的pin針數(shù)相同，且都為三個(gè)。

優(yōu)選的，所述連接線為軟排線。

優(yōu)選的，所述固定裝置包括直線氣缸，所述直線氣缸用于下壓所述金屬殼以將所述金屬殼固定于所述工作臺(tái)。

優(yōu)選的，所述金屬殼為鋁合金金屬殼。

本發(fā)明還提供了一種天線電阻的測試方法，包括如下步驟：

提供所述天線電阻測試工裝和待測試的所述金屬殼；

將所述金屬殼放置于所述天線電阻測試工裝的所述工作臺(tái)；

通過所述固定裝置將所述金屬殼固定于所述工作臺(tái)；

平移所述第一pcb和所述第二pcb，使得所述第一pin針組和所述第二pin針組接觸所述天線的所述天線測試點(diǎn)，所述天線測試點(diǎn)包括天線信號(hào)點(diǎn)和天線接地點(diǎn)；

通過所述第一pcb的所述第一pin針組和所述第二pcb的所述第二pin針組將所述天線信號(hào)點(diǎn)接入網(wǎng)絡(luò)分析儀以自動(dòng)判定所述天線是否合格。

與相關(guān)技術(shù)相比，本發(fā)明提供的天線電阻測試工裝及其測試方法，其通過平面氣缸左右移動(dòng)第一pcb和第二pcb，帶動(dòng)第一pin針組和第二pin針組分別接觸到金屬殼相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)上的天線測試點(diǎn)，從而可以有效解決金屬殼雙內(nèi)側(cè)面難測問題；第一pcb和第二pcb同時(shí)運(yùn)動(dòng)，可以做到一個(gè)產(chǎn)品相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)一次測試完成；同時(shí)中間軟排線可以連接第一pcb和第二pcb電路；利用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行分析，能自動(dòng)高效判定天線是否合格。

【附圖說明】

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖，其中：

圖1為本發(fā)明天線電阻測試工裝的立體圖；

圖2為本發(fā)明天線電阻測試工裝的部分結(jié)構(gòu)立體圖；

圖3為金屬殼的立體圖；

圖4為本發(fā)明天線電阻的測試方法的流程圖。

【具體實(shí)施方式】

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請參閱圖1和圖2，本發(fā)明提供了一種天線電阻測試工裝100，包括第一pcb1、第二pcb2、連接線3、工作臺(tái)4以及固定裝置5。

所述第一pcb1可平移，設(shè)有第一pin針組10。所述第二pcb2可平移，與所述第一pcb1相對(duì)并間隔設(shè)置，設(shè)有第二pin針組20。所述天線電阻測試工裝100包括平面氣缸6，所述平面氣缸6用于驅(qū)動(dòng)所述第一pcb1和所述第二pcb2相向/背向平移。

所述連接線3用于將所述第一pcb1和所述第二pcb2電連接，所述連接線3優(yōu)選的采用軟排線，這樣可以讓所述連接線3預(yù)留足夠長的長度，保證所述第一pcb1和所述第二pcb2在背向平移時(shí)不會(huì)扯斷所述連接線3。

所述工作臺(tái)4用于放置待測試的金屬殼7，所述金屬殼7為鋁合金金屬殼。所述第一pcb1和所述第二pcb2均安裝于所述工作臺(tái)4下方，所述第一pin針組10和所述第二pin針組20均穿過所述工作臺(tái)4以便與所述金屬殼7配合。

所述固定裝置5用于將所述金屬殼7固定于所述工作臺(tái)4。所述固定裝置5包括直線氣缸50，所述直線氣缸50用于下壓所述金屬殼7以將所述金屬殼7固定于所述工作臺(tái)4。

請一并參閱圖3，所述金屬殼7設(shè)有待測試電阻的天線70，所述天線70包括天線測試點(diǎn)700，所述天線測試點(diǎn)700分設(shè)于所述金屬殼7相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)。通過平移所述第一pcb1和所述第二pcb2實(shí)現(xiàn)所述第一pin針組10和所述第二pin針組20分別接觸所述金屬殼7相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)的所述天線測試點(diǎn)700。

所述天線測試點(diǎn)700包括天線信號(hào)點(diǎn)和天線接地點(diǎn)，通過所述第一pcb1的所述第一pin針組10和所述第二pcb2的所述第二pin針組20將所述天線信號(hào)點(diǎn)接入網(wǎng)絡(luò)分析儀以判斷所述天線是否合格。所述網(wǎng)絡(luò)分析儀在本發(fā)明優(yōu)選的實(shí)施方式中，屬于外界設(shè)備，并不屬于所述天線電阻測試工裝100的一部分。

所述天線測試點(diǎn)700的數(shù)量為六個(gè)，所述金屬殼7相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)各設(shè)有三個(gè)所述天線測試點(diǎn)700，每一端的所述金屬殼7的內(nèi)側(cè)的所述天線測試點(diǎn)700中，一個(gè)屬于所述天線信號(hào)點(diǎn)，兩個(gè)屬于所述天線接地點(diǎn)。所述第一pin針組10內(nèi)的pin針數(shù)和所述第二pin針組20內(nèi)的pin針數(shù)相同，且都為三個(gè)。

請一并參閱圖4，本發(fā)明還提供了一種天線電阻的測試方法，包括如下步驟：

s1、提供所述天線電阻測試工裝100和待測試的所述金屬殼7；

s2、將所述金屬殼7放置于所述天線電阻測試工裝100的所述工作臺(tái)4；

s3、通過所述固定裝置5將所述金屬殼7固定于所述工作臺(tái)4；

s4、平移所述第一pcb1和所述第二pcb2，使得所述第一pin針組10和所述第二pin針組20接觸所述天線70的所述天線測試點(diǎn)700，所述天線測試點(diǎn)700包括天線信號(hào)點(diǎn)和天線接地點(diǎn)；

s5、通過所述第一pcb1的所述第一pin針組10和所述第二pcb2的所述第二pin針組20將所述天線信號(hào)點(diǎn)接入網(wǎng)絡(luò)分析儀以自動(dòng)判定所述天線是否合格。

與相關(guān)技術(shù)相比，本發(fā)明提供的天線電阻測試工裝及其測試方法，其通過所述平面氣缸6左右移動(dòng)所述第一pcb1和所述第二pcb2，帶動(dòng)所述第一pin針組10和所述第二pin針組20分別接觸到所述金屬殼7相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)上的所述天線測試點(diǎn)700，從而可以有效解決所述金屬殼7雙內(nèi)側(cè)面難測問題；所述第一pcb1和所述第二pcb2同時(shí)運(yùn)動(dòng)，可以做到一個(gè)產(chǎn)品相對(duì)兩端的內(nèi)側(cè)一次測試完成；同時(shí)中間軟排線可以連接所述第一pcb1和所述第二pcb2電路；利用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行分析，能自動(dòng)高效判定天線是否合格。

以上所述的僅是本發(fā)明的實(shí)施方式，在此應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出改進(jìn)，但這些均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。