技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種測量500kV主變高壓套管介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ的方法，在解開主變中性點套管的一次接地銅排后，從中性點套管一次回路處施加變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀高壓屏蔽線交流試驗電壓10kV，所經(jīng)一次回路包括主變中性點套管、高壓繞組、高壓套管、500kV?GIS、高壓電纜，變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀低壓芯線從主變高壓套管末屏處采集電流，變頻抗干擾介質(zhì)損耗測量儀即可自動計算tanδ，本發(fā)明減免了工作平臺搭設(shè)、GIS氣室SF6抽充、GIS內(nèi)部軟連接拆裝等大量工作，在降低工作人員安全風險的同時大大縮短了工期，同時也排除了對GIS精密設(shè)備的損壞風險，解決了目前測量主變高壓套管tanδ難度大的問題。

技術(shù)研發(fā)人員：廖維東;李惠明;朱克然;曹罡;閔萬雄;李選建;吳勇;王璐
受保護的技術(shù)使用者：貴州烏江水電開發(fā)有限責任公司構(gòu)皮灘發(fā)電廠
技術(shù)研發(fā)日：2017.06.01
技術(shù)公布日：2017.07.28