本發(fā)明涉及一種led光電熱特性的測試系統(tǒng)及其應(yīng)用，屬于led性能測試的技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

與傳統(tǒng)光源相比，led具有諸多優(yōu)勢，目前已成為最具前景的固體光源，并被廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)生活的各個(gè)領(lǐng)域。如何快速、準(zhǔn)確的測試led在不同電熱條件下的光特性對led產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展起著重要的作用，而對led結(jié)溫的測量，又是測試led光電熱特性的重要一環(huán)。

目前l(fā)ed結(jié)溫的測試方法主要包括管腳溫度法、紅外成像法、發(fā)光光譜峰位移法和電壓法。管腳溫度法需要測量管腳溫度和芯片耗散功率跟熱阻系數(shù)，因芯片耗散功率跟熱阻系數(shù)的不準(zhǔn)確，測量精度比較低；紅外成像法只能測試未封裝的芯片，無法實(shí)現(xiàn)led器件的無損壞測量，同時(shí)紅外成像技術(shù)受被測led器件的光發(fā)射率、環(huán)境濕度等因素的影響，測試誤差較大；發(fā)光光譜峰位移法對光譜儀分辨精度要求較高，發(fā)光峰位的精度測定難度較大，測量精度和重復(fù)性都比較低；電壓法是在特定電流下，設(shè)定恒定的環(huán)境溫度，使led結(jié)溫等于環(huán)境溫度，根據(jù)led的正向壓降與led芯片溫度成線性關(guān)系，測量兩個(gè)溫度間隔大于50度的點(diǎn)的正向電壓，從而確定該led電壓與溫度的關(guān)系，電壓法可以實(shí)現(xiàn)對led器件結(jié)溫的非破壞性測試，但是其測量精確度有待進(jìn)一步提高。

另外，現(xiàn)有技術(shù)中l(wèi)ed測試系統(tǒng)的光學(xué)參數(shù)測量需要手動(dòng)調(diào)節(jié)電流、電壓、溫度等各種參數(shù)，而且對led光學(xué)特性跟熱學(xué)特性的測量系統(tǒng)是分開的，各部分需要單獨(dú)測量，測量過程復(fù)雜。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種led光電熱特性的測試系統(tǒng)

本發(fā)明還提供一種利用上述測試系統(tǒng)進(jìn)行l(wèi)ed光電熱特性測試的方法。

發(fā)明概述：

本發(fā)明對led光學(xué)特性跟熱學(xué)特性的測量進(jìn)行了整合，并利用計(jì)算機(jī)軟件對測試系統(tǒng)控制，在對led進(jìn)行光電熱特性測量后，得到不同溫度下對應(yīng)的led驅(qū)動(dòng)電流、正向電壓關(guān)系，根據(jù)溫度與i/v曲線的關(guān)系，得出led光譜隨電流、電壓、溫度的變化關(guān)系并建立光電熱特性的整合模型。

本發(fā)明的技術(shù)方案為：

一種led光電熱特性的測試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)、電源模塊、電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊；計(jì)算機(jī)分別用與電源模塊、電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊連接；所述電源模塊還分別與電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊連接。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述電源模塊包括電源電表和電源供應(yīng)器；所述電熱測試模塊包括恒溫腔、加熱裝置和溫度控制器，恒溫腔內(nèi)設(shè)置有l(wèi)ed；所述光學(xué)測試模塊包括積分球和光譜儀；所述電源電表分別與計(jì)算機(jī)和led連接，計(jì)算機(jī)通過電源供應(yīng)器與加熱裝置連接；所述溫度控制器分別與加熱裝置和計(jì)算機(jī)連接；所述積分球分別與光譜儀和led連接，所述光譜儀與計(jì)算機(jī)連接。在測量i/v與溫度的關(guān)系時(shí)，電源電表供給led脈沖電流，測量光譜時(shí)，電源電表供給led直流電流，并將測得的電流電壓數(shù)據(jù)發(fā)送給計(jì)算機(jī)；所述電源供應(yīng)器與計(jì)算機(jī)連接，用于供給恒溫腔加熱裝置電源。恒溫腔用于保持led環(huán)境溫度的穩(wěn)定，使led發(fā)光溫度與環(huán)境溫度相同；加熱裝置與溫度控制器相連，用于加熱恒溫腔中的溫度；溫度控制器與計(jì)算機(jī)、加熱裝置相連，用于設(shè)定加熱溫度，并向計(jì)算機(jī)發(fā)送恒溫腔的溫度數(shù)據(jù)。光譜儀用于測試led光譜及光功率，并向計(jì)算機(jī)發(fā)送光譜、光功率數(shù)據(jù)，供計(jì)算機(jī)做進(jìn)一步的處理。

所述計(jì)算機(jī)用于發(fā)送和接收數(shù)據(jù)，設(shè)置溫度控制器的溫度及不同的led發(fā)光電壓、電流，并對接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得出led在不同溫度下的i/v曲線，進(jìn)而得出led的發(fā)光光譜圖隨led順向電壓、電流、溫度的變化關(guān)系并建立led光電熱特性模型；所述電源模塊用于供給led及其他測試模塊電源，并將不同的電流、電壓數(shù)據(jù)發(fā)送給計(jì)算機(jī)；所述的電熱測試模塊用于測量led在不同溫度下的i/v曲線關(guān)系，對led的發(fā)光溫度進(jìn)行監(jiān)控測量，使led發(fā)光受溫度的影響控制在設(shè)定范圍之內(nèi)，并將收集到的數(shù)據(jù)發(fā)送到計(jì)算機(jī)處理；所述光學(xué)測試模塊用于測試led在不同i/v下的光譜，并將光譜數(shù)據(jù)發(fā)送到計(jì)算機(jī)處理。

進(jìn)一步優(yōu)選的，所述積分球上設(shè)置有l(wèi)ed燈座。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，計(jì)算機(jī)通過信號線分別用與電源模塊、電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊連接。

一種利用上述測試系統(tǒng)進(jìn)行l(wèi)ed光電熱特性測試的方法，包括步驟如下：

1、將標(biāo)準(zhǔn)光源放置于積分球的led燈座，接通標(biāo)準(zhǔn)光源的電源，對積分球進(jìn)行校準(zhǔn)；標(biāo)準(zhǔn)光源是指具有固定已知色溫的光源，用來校準(zhǔn)積分球；

2、將led放入恒溫腔中，接通電源點(diǎn)亮led，測量led正向電壓-脈沖電流-led發(fā)光溫度-led光譜數(shù)據(jù)關(guān)系；

a1、設(shè)置恒溫腔溫度，待led發(fā)光溫度與恒溫腔溫度平衡后，所述電源電表供給led脈沖電流，測量電源電表發(fā)送的led正向電壓；依次增加脈沖電流的電流值，測量同一恒溫腔溫度下，不同脈沖電流對應(yīng)的led正向電壓；設(shè)置下一個(gè)恒溫腔溫度；脈沖電流的條件下，led自身產(chǎn)生的發(fā)光溫度是可以忽略的。

a2、重復(fù)步驟a1直至達(dá)到恒溫腔溫度的上限，得到恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)關(guān)系；

a3、所述電源電表供給led恒定電流，led發(fā)出的光譜投入積分球內(nèi)，光譜儀對不同時(shí)間點(diǎn)的led光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測量，得到led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系；led發(fā)光會自身產(chǎn)生溫度，根據(jù)步驟a2中的電流、電壓、溫度關(guān)系，進(jìn)行光學(xué)測試時(shí)，不需要恒溫腔的溫度，利用led發(fā)光產(chǎn)生的溫度，即可建立光電熱的模型。

a4、將步驟a3得到的led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系與步驟a2測得的恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)關(guān)系進(jìn)行比對，以“l(fā)ed正向電壓/恒定電流”與“l(fā)ed正向電壓/脈沖電流”相等為橋梁，得到同一恒定電流下，不同led發(fā)光溫度對應(yīng)的led光譜；

led發(fā)光溫度對應(yīng)所述恒溫腔溫度，供給led恒定電流時(shí)，恒溫腔溫度的溫度值是led的發(fā)光溫度，led發(fā)光溫度是通過步驟a2中恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)確定的，即不同的溫度會有一個(gè)對應(yīng)的電流/電壓；由于電壓法測溫度的時(shí)候是用的脈沖電流，所以led自發(fā)熱忽略；

a5、待led發(fā)光溫度降回室溫，增加供給led的恒定電流，恒定電流的增量為50ma；

a6、重復(fù)步驟a3-a5，直至led的恒定電流增加至700ma，根據(jù)步驟a4中得出的同一恒定電流下不同led發(fā)光溫度對應(yīng)的led光譜，得到led正向電壓-脈沖電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系；

經(jīng)過上述步驟后，得到led正向電壓-脈沖電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系，通過計(jì)算機(jī)軟件給定不同的電流、電壓值，即可得到對應(yīng)的光譜。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟a3中，所述光譜儀分別對led點(diǎn)亮后第5秒、第10秒、第15秒、第20秒、第25秒、第30秒、第35秒、第40秒、第45秒、第50秒、第60秒、第120秒、第180秒、第240秒、第300秒、第1800秒的led光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測量。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述恒溫腔溫度是指恒溫腔中用于測試led的溫度，恒溫腔溫度的溫度范圍為30℃～120℃。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟a1中，依次增加脈沖電流值至150ma、200ma、250ma、300ma、350ma、400ma、450ma、500ma、550ma、600ma、650ma、700ma。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟a1中，通過計(jì)算機(jī)設(shè)置恒溫腔溫度；下一個(gè)恒溫腔溫度比當(dāng)前的恒溫腔溫度高20℃；通過計(jì)算機(jī)測量電源電表發(fā)送的led正向電壓；通過計(jì)算機(jī)測量同一恒溫腔溫度下，不同脈沖電流對應(yīng)的led正向電壓。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟a3中，計(jì)算機(jī)控制所述電源電表供給led恒定電流；計(jì)算機(jī)處理得到led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系；光譜儀對不同時(shí)間點(diǎn)的led光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測量，并將led光譜數(shù)據(jù)發(fā)送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，得到led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系；所述步驟a4中，計(jì)算機(jī)將步驟a3得到的led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系與步驟a2測得的恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)關(guān)系進(jìn)行比對。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟a5中，靜置10分鐘待led發(fā)光溫度降回室溫。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟a1中，每次增加脈沖電流的電流值后靜置10分鐘，使led發(fā)光溫度與恒溫腔溫度平衡。

根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選的，所述步驟2中，測量led正向電壓-電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系通過自動(dòng)測試模式實(shí)現(xiàn)：

b1、通過計(jì)算機(jī)設(shè)置恒溫腔溫度、待測led電屬性的電流最大值；

b2、計(jì)算機(jī)根據(jù)設(shè)置的恒溫腔溫度，待測led電屬性的電流最大值和電熱測試模塊、光學(xué)測試模塊返回的數(shù)據(jù)自動(dòng)測量并記錄led電熱特性和光學(xué)特性；電熱模塊返回的數(shù)據(jù)包括，電熱模塊返回的通過led的電流、led的正向電壓和恒溫腔的溫度，所述光學(xué)測試模塊返回的數(shù)據(jù)包括，光學(xué)測試模塊返回的通過led的電流、led的發(fā)光光譜數(shù)據(jù)；電熱測試模塊測量結(jié)束且計(jì)算機(jī)做記錄后才測光學(xué)測試模塊，因此，電熱模塊返回的通過led的電流與光學(xué)測試模塊返回的通過led的電流是兩個(gè)階段內(nèi)通過led的電流。

b3、對led電熱特性和光學(xué)特性進(jìn)行整合得到led正向電壓-電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系。

進(jìn)一步優(yōu)選的，所述步驟b1中恒溫腔溫度為30℃～120℃，待測led電屬性的電流最大值為700ma。根據(jù)待測led所能承受電流最大值，設(shè)置led的電流最大值。

本發(fā)明的有益效果為：

1.本發(fā)明所述led光電熱特性的測試系統(tǒng)，通過計(jì)算機(jī)控制的電壓法準(zhǔn)確測試led結(jié)溫的光電熱集成特性，能在不同的電流及電壓條件下，得出led的光電熱整合模型；僅提供驅(qū)動(dòng)電流或者正向壓降，即可完整描述led的光電熱特性，得到led的光譜數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)對led器件光電熱特性的集成測試及不同光電熱條件下的led光譜預(yù)測；測試過程簡單、測量準(zhǔn)確。

2.本發(fā)明所述led光電熱特性的測試系統(tǒng)，對電壓法進(jìn)行了改進(jìn)，對多個(gè)溫度及同一溫度下不同電流進(jìn)行測量，從而得出更精確的溫度/電壓關(guān)系，提高了測試的準(zhǔn)確性。

附圖說明

圖1為實(shí)施例1所述led光電熱特性的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為實(shí)施例2所述led光電熱特性的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為led光電熱特性測試的方法流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合實(shí)施例和說明書附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步說明，但不限于此。

實(shí)施例1

如圖1所示。

一種led光電熱特性的測試系統(tǒng)，包括計(jì)算機(jī)、電源模塊、電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊；計(jì)算機(jī)分別用與電源模塊、電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊連接；所述電源模塊還分別與電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊連接。

實(shí)施例2

如圖2所示。

如實(shí)施例1所述的led光電熱特性的測試系統(tǒng)，所不同的是，所述電源模塊包括電源電表和電源供應(yīng)器；所述電熱測試模塊包括恒溫腔、加熱裝置和溫度控制器，恒溫腔內(nèi)設(shè)置有l(wèi)ed；所述光學(xué)測試模塊包括積分球和光譜儀；所述電源電表分別與計(jì)算機(jī)和led連接，計(jì)算機(jī)通過電源供應(yīng)器與加熱裝置連接；所述溫度控制器分別與加熱裝置和計(jì)算機(jī)連接；所述積分球分別與光譜儀和led連接，所述光譜儀與計(jì)算機(jī)連接。在測量i/v與溫度的關(guān)系時(shí)，電源電表供給led脈沖電流，測量光譜時(shí)，電源電表供給led直流電流，并將測得的電流電壓數(shù)據(jù)發(fā)送給計(jì)算機(jī)；所述電源供應(yīng)器與計(jì)算機(jī)連接，用于供給恒溫腔加熱裝置電源。恒溫腔用于保持led環(huán)境溫度的穩(wěn)定，使led發(fā)光溫度與環(huán)境溫度相同；加熱裝置與溫度控制器相連，用于加熱恒溫腔中的溫度；溫度控制器與計(jì)算機(jī)、加熱裝置相連，用于設(shè)定加熱溫度，并向計(jì)算機(jī)發(fā)送恒溫腔的溫度數(shù)據(jù)。光譜儀用于測試led光譜及光功率，并向計(jì)算機(jī)發(fā)送光譜、光功率數(shù)據(jù)，供計(jì)算機(jī)做進(jìn)一步的處理。

所述計(jì)算機(jī)用于發(fā)送和接收數(shù)據(jù)，設(shè)置溫度控制器的溫度及不同的led發(fā)光電壓、電流，并對接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得出led在不同溫度下的i/v曲線，進(jìn)而得出led的發(fā)光光譜圖隨led順向電壓、電流、溫度的變化關(guān)系并建立led光電熱特性模型；所述電源模塊用于供給led及其他測試模塊電源，并將不同的電流、電壓數(shù)據(jù)發(fā)送給計(jì)算機(jī)；所述的電熱測試模塊用于測量led在不同溫度下的i/v曲線關(guān)系，對led的發(fā)光溫度進(jìn)行監(jiān)控測量，使led發(fā)光受溫度的影響控制在設(shè)定范圍之內(nèi)，并將收集到的數(shù)據(jù)發(fā)送到計(jì)算機(jī)處理；所述光學(xué)測試模塊用于測試led在不同i/v下的光譜，并將光譜數(shù)據(jù)發(fā)送到計(jì)算機(jī)處理。

實(shí)施例3

如實(shí)施例2所述的led光電熱特性的測試系統(tǒng)，所不同的是，所述積分球上設(shè)置有l(wèi)ed燈座。

實(shí)施例4

如實(shí)施例1所述的led光電熱特性的測試系統(tǒng)，所不同的是，計(jì)算機(jī)通過信號線分別用與電源模塊、電熱測試模塊和光學(xué)測試模塊連接。

實(shí)施例5

如圖3所示。

一種利用實(shí)施例1-4任意一項(xiàng)所述測試系統(tǒng)進(jìn)行l(wèi)ed光電熱特性測試的方法，包括步驟如下：

1、將標(biāo)準(zhǔn)光源放置于積分球的led燈座，接通標(biāo)準(zhǔn)光源的電源，對積分球進(jìn)行校準(zhǔn)；標(biāo)準(zhǔn)光源是指具有固定已知色溫的光源，用來校準(zhǔn)積分球；

2、將led放入恒溫腔中，接通電源點(diǎn)亮led，測量led正向電壓-脈沖電流-led發(fā)光溫度-led光譜數(shù)據(jù)關(guān)系；

a1、設(shè)置恒溫腔溫度，待led發(fā)光溫度與恒溫腔溫度平衡后，所述電源電表供給led脈沖電流，測量電源電表發(fā)送的led正向電壓；依次增加脈沖電流的電流值，測量同一恒溫腔溫度下，不同脈沖電流對應(yīng)的led正向電壓；設(shè)置下一個(gè)恒溫腔溫度；脈沖電流的條件下，led自身產(chǎn)生的發(fā)光溫度是可以忽略的。

a2、重復(fù)步驟a1直至達(dá)到恒溫腔溫度的上限，得到恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)關(guān)系；

a3、所述電源電表供給led恒定電流，led發(fā)出的光譜投入積分球內(nèi)，光譜儀對不同時(shí)間點(diǎn)的led光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測量，得到led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系；led發(fā)光會自身產(chǎn)生溫度，根據(jù)步驟a2中的電流、電壓、溫度關(guān)系，進(jìn)行光學(xué)測試時(shí)，不需要恒溫腔的溫度，利用led發(fā)光產(chǎn)生的溫度，即可建立光電熱的模型。

a4、將步驟a3得到的led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系與步驟a2測得的恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)關(guān)系進(jìn)行比對，以“l(fā)ed正向電壓/恒定電流”與“l(fā)ed正向電壓/脈沖電流”相等為橋梁，得到同一恒定電流下，不同led發(fā)光溫度對應(yīng)的led光譜；

led發(fā)光溫度對應(yīng)所述恒溫腔溫度，供給led恒定電流時(shí)，恒溫腔溫度的溫度值是led的發(fā)光溫度，led發(fā)光溫度是通過步驟a2中恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)確定的，即不同的溫度會有一個(gè)對應(yīng)的電流/電壓；由于電壓法測溫度的時(shí)候是用的脈沖電流，所以led自發(fā)熱忽略；

a5、待led發(fā)光溫度降回室溫，增加供給led的恒定電流，恒定電流的增量為50ma；

a6、重復(fù)步驟a3-a5，直至led的恒定電流增加至700ma，根據(jù)步驟a4中得出的同一恒定電流下不同led發(fā)光溫度對應(yīng)的led光譜，得到led正向電壓-脈沖電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系；

經(jīng)過上述步驟后，得到led正向電壓-脈沖電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系，通過計(jì)算機(jī)軟件給定不同的電流、電壓值，即可得到對應(yīng)的光譜。

實(shí)施例6

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟a3中，所述光譜儀分別對led點(diǎn)亮后第5秒、第10秒、第15秒、第20秒、第25秒、第30秒、第35秒、第40秒、第45秒、第50秒、第60秒、第120秒、第180秒、第240秒、第300秒、第1800秒的led光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測量。

實(shí)施例7

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述恒溫腔溫度是指恒溫腔中用于測試led的溫度，恒溫腔溫度的溫度范圍為100℃。

實(shí)施例8

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟a1中，依次增加脈沖電流值至150ma、200ma、250ma、300ma、350ma、400ma、450ma、500ma、550ma、600ma、650ma、700ma。

實(shí)施例9

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟a1中，通過計(jì)算機(jī)設(shè)置恒溫腔溫度；下一個(gè)恒溫腔溫度比當(dāng)前的恒溫腔溫度高20℃；通過計(jì)算機(jī)測量電源電表發(fā)送的led正向電壓；通過計(jì)算機(jī)測量同一恒溫腔溫度下，不同脈沖電流對應(yīng)的led正向電壓。

實(shí)施例10

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟a3中，計(jì)算機(jī)控制所述電源電表供給led恒定電流；計(jì)算機(jī)處理得到led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系；光譜儀對不同時(shí)間點(diǎn)的led光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行測量，并將led光譜數(shù)據(jù)發(fā)送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，得到led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系；所述步驟a4中，計(jì)算機(jī)將步驟a3得到的led光譜-led正向電壓/恒定電流的數(shù)據(jù)關(guān)系與步驟a2測得的恒溫腔溫度-led正向電壓/脈沖電流數(shù)據(jù)關(guān)系進(jìn)行比對。

實(shí)施例11

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟a5中，靜置10分鐘待led發(fā)光溫度降回室溫。

實(shí)施例12

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟a1中，每次增加脈沖電流的電流值后靜置10分鐘，使led發(fā)光溫度與恒溫腔溫度平衡。

實(shí)施例13

如實(shí)施例5所述led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟2中，測量led正向電壓-電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系通過自動(dòng)測試模式實(shí)現(xiàn)：

b1、通過計(jì)算機(jī)設(shè)置恒溫腔溫度、待測led電屬性的電流最大值；

b2、計(jì)算機(jī)根據(jù)設(shè)置的恒溫腔溫度，待測led電屬性的電流最大值和電熱測試模塊、光學(xué)測試模塊返回的數(shù)據(jù)自動(dòng)測量并記錄led電熱特性和光學(xué)特性；電熱模塊返回的數(shù)據(jù)包括，電熱模塊返回的通過led的電流、led的正向電壓和恒溫腔的溫度，所述光學(xué)測試模塊返回的數(shù)據(jù)包括，光學(xué)測試模塊返回的通過led的電流、led的發(fā)光光譜數(shù)據(jù)；電熱測試模塊測量結(jié)束且計(jì)算機(jī)做記錄后才測光學(xué)測試模塊，因此，電熱模塊返回的通過led的電流與光學(xué)測試模塊返回的通過led的電流是兩個(gè)階段內(nèi)通過led的電流。

b3、對led電熱特性和光學(xué)特性進(jìn)行整合得到led正向電壓-電流-led發(fā)光溫度-led光譜的關(guān)系。

實(shí)施例14

如實(shí)施例13led光電熱特性測試的方法，所不同的是，所述步驟b1中恒溫腔溫度為100測led電屬性的電流最大值為700ma。根據(jù)待測led所能承受電流最大值，設(shè)置led的電流最大值。