本發(fā)明涉及礦石的品位測(cè)試分析方法，具體是一種磁性礦的品位檢測(cè)分析方法。

背景技術(shù)：

礦石品位是指礦石中所含某種金屬或有用組分的多少，一般用百分?jǐn)?shù)（%）表示。有的用每噸或每立方米礦石中含多少克表示（克/噸，克/米3）。礦石的品位應(yīng)以取樣化驗(yàn)結(jié)果來(lái)求得，從而得到不同品位的礦石。

現(xiàn)有的磁性礦品位分析檢測(cè)方法都是首先到野外采集到測(cè)試品，然后將測(cè)試品帶回實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行化學(xué)成分分析從而得到磁性礦品位等級(jí)。但是這樣的操作方法為磁性礦的開(kāi)發(fā)帶來(lái)了較大的成本，首先需要建立實(shí)驗(yàn)室，其次還要將測(cè)試品帶回實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，由此可見(jiàn)目前的方法具有較高的時(shí)間成本、人力物力成本，從而大幅提升了礦石開(kāi)采成本。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是為了克服上述存在之不足，提供一種磁性礦的品位檢測(cè)方法及檢測(cè)的專(zhuān)用設(shè)備。

本發(fā)明為了實(shí)現(xiàn)上述目的所采用的技術(shù)方案如下：

一種磁性礦品位檢測(cè)方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟1：預(yù)處理：將待檢測(cè)磁性礦粉碎，

步驟2：參考樣品選定，選擇經(jīng)過(guò)精確分析的各種不同品位的標(biāo)準(zhǔn)參考樣品各一份，并標(biāo)注好標(biāo)準(zhǔn)參考樣品的品位，放置備用；

步驟3：將粉碎的磁性礦放入測(cè)試管，然后震動(dòng)壓實(shí)之后放入待測(cè)倉(cāng)，

步驟4：將任一參考樣品放入樣品倉(cāng)并震動(dòng)壓實(shí)后放入樣品倉(cāng)內(nèi)；

步驟5：然后在相同的環(huán)境下和條件下，檢測(cè)待測(cè)磁性礦粉和標(biāo)準(zhǔn)參考樣品的導(dǎo)電性，然后經(jīng)過(guò)信號(hào)比對(duì)判斷出待測(cè)磁性礦與標(biāo)準(zhǔn)參考樣品之間的數(shù)值差額并記錄；

步驟6：重復(fù)上述步驟1—5，并記錄每次測(cè)得的數(shù)值差，最終選定數(shù)值差最小的一組，從而判定該待測(cè)磁性礦與數(shù)值差最小的一組標(biāo)準(zhǔn)參考樣品的品位相同。

其中步驟5中的信號(hào)比對(duì)的具體過(guò)程是，首先測(cè)得經(jīng)過(guò)標(biāo)準(zhǔn)參考樣品或待測(cè)磁性礦粉的交流電壓，然后將該交流電壓通過(guò)信號(hào)放大-振流-濾波轉(zhuǎn)換成為直流電壓，然后通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號(hào)，然后對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行對(duì)比。

本發(fā)明還提供了一種用于前述檢測(cè)方法專(zhuān)用的磁性礦品位檢測(cè)分析儀，其包括機(jī)箱、樣品倉(cāng)、待測(cè)倉(cāng)、電源、振動(dòng)倉(cāng)、振動(dòng)器、線圈、處理器，控制面板，所述處理器連接電源和控制面板，所述控制面板設(shè)置在機(jī)箱表面，所述振動(dòng)器安裝在振動(dòng)倉(cāng)下方并與電源連接，所述線圈為三組，其中兩組分別套裝在樣品倉(cāng)和待測(cè)倉(cāng)上，剩余一組獨(dú)立安裝在機(jī)箱內(nèi)，所述電源連接振動(dòng)器和三組線圈。

本發(fā)明中所述機(jī)箱上還設(shè)置有電源充電接口，該設(shè)備還包括了一個(gè)用于存儲(chǔ)電源適配器的儲(chǔ)物倉(cāng)。

本發(fā)明說(shuō)所述的設(shè)備中的控制面板包括了振動(dòng)控制按鈕、測(cè)試按鈕及各類(lèi)參數(shù)設(shè)定按鈕。

本發(fā)明所述控制面板設(shè)置在機(jī)箱上表面。所述機(jī)箱由金屬外層和非金屬內(nèi)層兩層構(gòu)成。所述樣品倉(cāng)和測(cè)試倉(cāng)都是貫穿機(jī)箱的通孔，且在樣品倉(cāng)和待測(cè)底部設(shè)置有限位臺(tái)，且樣品倉(cāng)和測(cè)試倉(cāng)的內(nèi)邊緣上設(shè)置有一層隔離層。該設(shè)備還包括了一個(gè)儲(chǔ)物倉(cāng)，該儲(chǔ)物倉(cāng)用于存儲(chǔ)適配器，方便設(shè)備的攜帶和隨時(shí)充電。

本發(fā)明相比現(xiàn)有技術(shù)具有測(cè)試分析速度快，施工現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，極大的縮短了施工周期和檢測(cè)效率。同時(shí)該分析儀還具有體積小，方便攜帶，結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理緊湊，具有較好的市場(chǎng)應(yīng)用前景和推廣價(jià)值。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明中測(cè)試分析儀結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是測(cè)試分析儀三個(gè)線圈電路示意圖。

圖中：1-樣品倉(cāng)，2-待測(cè)倉(cāng)，3-振動(dòng)倉(cāng)，4-振動(dòng)器，5-線圈，6-機(jī)箱，7-電源，8-處理器，9-控制面板，10-儲(chǔ)物倉(cāng)。

具體實(shí)施方式

如圖1、2所示：一種磁性礦品位檢測(cè)分析儀，其包括機(jī)箱6、樣品倉(cāng)1、待測(cè)倉(cāng)2、電源7、振動(dòng)倉(cāng)3、振動(dòng)器4、線圈5、處理器8和控制面板9。其中樣品倉(cāng)1和待測(cè)倉(cāng)2設(shè)置成為圓柱狀，并且將機(jī)箱6上下貫穿了。

所述處理器8連接電源7和控制面板9，所述控制面板9設(shè)置在機(jī)箱6的表面，最好是設(shè)置在上表面，這樣方便操作，并且該控制面板上設(shè)置有電源開(kāi)關(guān)、參數(shù)設(shè)置按鈕、測(cè)試指令按鈕等操作按鈕。所述振動(dòng)器4安裝在振動(dòng)倉(cāng)3下方并與電源7連接，這樣當(dāng)待測(cè)樣品或者標(biāo)準(zhǔn)品放入到振動(dòng)倉(cāng)后就可以通過(guò)振動(dòng)器作用下將物料振實(shí)。所述線圈5為三組，其中兩組分別套裝在樣品倉(cāng)1和待測(cè)倉(cāng)2上，剩余一組獨(dú)立安裝在機(jī)箱6內(nèi)，為空心線圈。所述電源7還連接振動(dòng)器4和三組線圈6。所述機(jī)箱6上還設(shè)置有電源充電接口，同時(shí)該設(shè)備還包括了一個(gè)用于存儲(chǔ)電源適配器的儲(chǔ)物倉(cāng)10，這樣方便將電源的適配器放入到該儲(chǔ)物倉(cāng)內(nèi)10，方便攜帶同時(shí)使得整個(gè)設(shè)備及設(shè)備的配件收放十分規(guī)整，外形美觀好看。該設(shè)備中的控制面板包括了振動(dòng)控制按鈕、測(cè)試按鈕及各類(lèi)參數(shù)設(shè)定按鈕。所述機(jī)箱6由金屬外層和非金屬內(nèi)層兩層構(gòu)成，這樣可以盡可能地避免周?chē)h(huán)境對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響，最大可能地提升檢測(cè)地精準(zhǔn)度。所述樣品倉(cāng)1和測(cè)試倉(cāng)2都是貫穿機(jī)箱6的通孔，且在樣品倉(cāng)1和待測(cè)倉(cāng)2底部設(shè)置有限位臺(tái)，這樣當(dāng)待測(cè)樣品管放入到待測(cè)倉(cāng)之后不會(huì)直接掉出機(jī)箱，同時(shí)從樣品測(cè)試管里面灑落出來(lái)的樣品等會(huì)直接掉出機(jī)箱，使得機(jī)箱保持整潔，從而也提高了測(cè)試的精準(zhǔn)度。同時(shí)樣品倉(cāng)和測(cè)試倉(cāng)的內(nèi)邊緣上設(shè)置有一層隔離層，這樣進(jìn)一步提升測(cè)試的精準(zhǔn)度。

本設(shè)備的使用方法如下：為了保證測(cè)試的精度，儀表每次開(kāi)機(jī)需要預(yù)熱，預(yù)熱時(shí)間約為10分鐘，預(yù)熱完成后屏上會(huì)顯示“儀表就緒”，此時(shí)方可測(cè)試。為了延長(zhǎng)電池的使用時(shí)間，2分鐘不進(jìn)行操作儀表會(huì)關(guān)閉顯示屏背光，按任意鍵可以開(kāi)啟背光（預(yù)熱過(guò)程中背光也會(huì)自動(dòng)關(guān)閉，但預(yù)熱完成背光會(huì)自動(dòng)開(kāi)啟）。

本發(fā)明還提供了一種磁性礦品位檢測(cè)分析方法，該方法包括以下步驟：

步驟1：預(yù)處理：將待檢測(cè)磁性礦粉碎，

步驟2：參考樣品選定，選擇經(jīng)過(guò)精確分析的各種不同品位的標(biāo)準(zhǔn)參考樣品各一份，并標(biāo)注好標(biāo)準(zhǔn)參考樣品的品位，放置備用；

步驟3：將粉碎的磁性礦放入測(cè)試管，然后震動(dòng)壓實(shí)之后放入待測(cè)倉(cāng)，

步驟4：將任一參考樣品放入樣品倉(cāng)并震動(dòng)壓實(shí)后放入樣品倉(cāng)內(nèi)；

步驟5：然后在相同的環(huán)境下和條件下，檢測(cè)待測(cè)磁性礦粉和標(biāo)準(zhǔn)參考樣品的導(dǎo)電性，然后經(jīng)過(guò)信號(hào)比對(duì)判斷出待測(cè)磁性礦與標(biāo)準(zhǔn)參考樣品之間的數(shù)值差額并記錄；

步驟6：重復(fù)上述步驟1—5，并記錄每次測(cè)得的數(shù)值差，最終選定數(shù)值差最小的一組，從而判定該待測(cè)磁性礦與數(shù)值差最小的一組標(biāo)準(zhǔn)參考樣品的品位相同。

其中步驟5中的信號(hào)比對(duì)的具體過(guò)程是，首先測(cè)得經(jīng)過(guò)標(biāo)準(zhǔn)參考樣品或待測(cè)磁性礦粉的交流電壓，然后將該交流電壓通過(guò)信號(hào)放大-振流-濾波轉(zhuǎn)換成為直流電壓，然后通過(guò)模數(shù)轉(zhuǎn)換成為數(shù)字信號(hào)，然后對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行對(duì)比。該方法主要是利用磁性礦的導(dǎo)電性能通過(guò)在同樣環(huán)境下測(cè)得導(dǎo)電性，從而判斷出磁性礦的品位。

前述測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備使用方法如下：物料在測(cè)試前需要振實(shí)，首先將物料裝到筒體內(nèi)側(cè)黑線位置，放入振動(dòng)倉(cāng)按下振動(dòng)鍵直到料面不再下降，再補(bǔ)填一些物料振動(dòng)，保證振實(shí)后物料不低于紅線位置。將已知品位的料放到標(biāo)樣倉(cāng)，注意料要振動(dòng)實(shí)在并裝滿。按“set”鍵，進(jìn)入標(biāo)樣品位設(shè)定狀態(tài)，用“▲”、“▼”、“”輸入正確品位后按set”保存。上兩步只需要在更換標(biāo)樣后進(jìn)行。將待測(cè)料裝入待測(cè)筒振動(dòng)振動(dòng)實(shí)在并填滿放入待測(cè)待測(cè)倉(cāng)，按“測(cè)試”鍵，數(shù)秒后顯示出測(cè)量結(jié)果。如果品位顯示遠(yuǎn)超正常值，請(qǐng)檢查標(biāo)樣品位是否正確，標(biāo)樣應(yīng)品位與待測(cè)品位越接近測(cè)量越準(zhǔn)確根據(jù)信號(hào)強(qiáng)弱，本儀表會(huì)自動(dòng)切換檔位，當(dāng)前檔位會(huì)顯示于右下角，數(shù)字為0-7，信號(hào)最弱時(shí)會(huì)自動(dòng)切換到7檔，而信號(hào)最強(qiáng)則會(huì)切換到0檔。

以上實(shí)施例，僅是對(duì)本發(fā)明技術(shù)做更詳細(xì)的說(shuō)明，并不是對(duì)本發(fā)明的限制，在不脫離上述技術(shù)方案總體思路下，未經(jīng)創(chuàng)造性勞動(dòng)或直接進(jìn)行等同替換亦屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。