本發(fā)明涉及測試領(lǐng)域，尤其涉及一種存儲卡卡座性能的測試裝置。

背景技術(shù)：

目前，存儲卡采用閃存作為存儲介質(zhì)，已經(jīng)可以存儲越來越多的信息，成為便攜式信息設(shè)備中不可或缺的部分。因此在便攜式信息設(shè)備中，例如手機、個人數(shù)字助理(pda，personaldigitalassistance)等得到了廣泛的應(yīng)用?，F(xiàn)有的存儲卡可以包括：安全數(shù)碼(sd，securedigital)卡、用戶識別模塊(sim，subscriberidentifymodule)卡、多媒體卡(mmc，multi-mediacard)等等。

存儲卡可通過存儲卡卡座(也可稱為卡座連接器)與便攜式信息設(shè)備連接，通過將存儲卡插裝在存儲卡卡座中，再將存儲卡卡座裝在便攜式信息設(shè)備上，從而實現(xiàn)存儲卡與便攜式信息設(shè)備的連接。因此對存儲卡卡座性能的測試是尤為重要的，特別是在金融支付領(lǐng)域，如果存儲卡卡座出現(xiàn)異常，可能會使金融交易中數(shù)據(jù)丟失、出錯等造成交易無法進行。

目前對存儲卡卡座性能測試采用的方法主要是直接將符合標準的存儲卡插入待測試的存儲卡卡座，通過與存儲卡卡座連接的便攜式信息設(shè)備讀取存儲卡內(nèi)的數(shù)據(jù)，根據(jù)讀取到的數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常來判斷存儲卡卡座的性能，但存在不足：

1、存儲卡卡座大多數(shù)都為翻蓋式，即為非拔插式卡座，必須由操作人員先將卡座的保護蓋掀開再將存儲卡裝入方可進行相應(yīng)的功能測試，測試結(jié)束后又執(zhí)行取卡、壓合保護蓋的動作，看似一個簡單動作在大量重復(fù)操作時同樣會流失相當可觀的人工成本，一定程度上制約著產(chǎn)品大批量快速測試；

2、存儲卡卡座本身也存在一定的使用壽命，操作人員經(jīng)過頻繁連續(xù)的工作后，很難主觀地保證對存儲卡卡座掀蓋、壓合這個動作的一致性和連貫性，由此可能導致存儲卡卡座本身的損壞，更因此增加了產(chǎn)品返修的人物力投入；

3、存儲卡在整個操作過程中頻繁取放，存儲卡的金手指接觸端也因此存在很大程度的磨損，最終將導致存儲卡測試失效，無形中也增加了一定數(shù)量的測試耗材成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是：提供一種高效的存儲卡卡座性能的測試裝置。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：

一種存儲卡卡座性能的測試裝置，包括上底座和下底座；

所述上底座設(shè)有待測試的存儲卡卡座，所述存儲卡卡座包括與讀取存儲卡內(nèi)數(shù)據(jù)的讀取裝置電連接的金屬彈片；

所述下底座設(shè)有fpc測試條，用于上底座和下底座進行壓合操作時，與金屬彈片電連接；所述fpc測試條上設(shè)有與之電連接的存儲卡。

本發(fā)明的有益效果在于：

本發(fā)明提供的一種存儲卡卡座性能的測試裝置，通過設(shè)置在上底座的待測試的存儲卡卡座以及設(shè)置在下底座的fpc測試條，在現(xiàn)有的控制裝置的作用下進行壓合或者分離操作，當上底座和下底座進行壓合操作時fpc測試條與金屬彈片電連接，此時讀取裝置通過金屬彈片、fpc測試條讀取到存儲卡內(nèi)的數(shù)據(jù)，根據(jù)讀取到的數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常來判斷待測試的存儲卡卡座的性能。在測試過程中，fpc測試條與存儲卡接口采用壓合的方式，有別于傳統(tǒng)的插卡測試，不僅有效減少接觸端的磨損，避免造成硬件耗損，而且無需放卡、取卡、壓合保護蓋的步驟，只需簡單壓合上底座和下底座即可，因而提升測試效率，進一步的，由原本的金屬彈片與存儲卡直接接觸電連接改為間接電連接，存儲卡與fpc測試條是固定連接，因此可有效減少存儲卡的損壞。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的存儲卡卡座性能的測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

標號說明：

1、下底座；11、fpc測試條；111、金手指區(qū)域；1111、金手指；112、安裝孔；113、定位孔；12、安裝塊；121、條形凸臺；1211、第一側(cè)面；

1212、第二側(cè)面；122、定位柱；123、螺絲孔；124、條形通孔；125、導軸；126、擋板；1261、傾斜部；13、安裝部。

具體實施方式

為詳細說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、所實現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖予以說明。

本發(fā)明最關(guān)鍵的構(gòu)思在于：通過設(shè)置在上底座的待測試的存儲卡卡座以及設(shè)置在下底座的fpc測試條，在現(xiàn)有的控制裝置的作用下進行壓合或者分離操作，讀取裝置通過金屬彈片、fpc測試條讀取到存儲卡內(nèi)的數(shù)據(jù)，根據(jù)讀取到的數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常來判斷待測試的存儲卡卡座的性能。

請參照圖1，本發(fā)明提供的一種存儲卡卡座性能的測試裝置，包括上底座和下底座1；

所述上底座設(shè)有待測試的存儲卡卡座，所述存儲卡卡座包括與讀取存儲卡內(nèi)數(shù)據(jù)的讀取裝置電連接的金屬彈片；

所述下底座1設(shè)有fpc測試條11，用于上底座和下底座進行壓合操作時，與金屬彈片電連接；所述fpc測試條11上設(shè)有與之電連接的存儲卡。

從上述描述可知，本發(fā)明的有益效果在于：

本發(fā)明提供的一種存儲卡卡座性能的測試裝置，通過設(shè)置在上底座的待測試的存儲卡卡座以及設(shè)置在下底座的fpc測試條，在現(xiàn)有的控制裝置的作用下進行壓合或者分離操作，當上底座和下底座進行壓合操作時fpc測試條與金屬彈片電連接，此時讀取裝置通過金屬彈片、fpc測試條讀取到存儲卡內(nèi)的數(shù)據(jù)，根據(jù)讀取到的數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常來判斷待測試的存儲卡卡座的性能。在測試過程中，fpc測試條與存儲卡接口采用壓合的方式，有別于傳統(tǒng)的插卡測試，不僅有效減少接觸端的磨損，避免造成硬件耗損，而且無需放卡、取卡、壓合保護蓋的步驟，只需簡單壓合上底座和下底座即可，因而提升測試效率，進一步的，由原本的金屬彈片與存儲卡直接接觸電連接改為間接電連接，存儲卡與fpc測試條是固定連接，因此可有效減少存儲卡的損壞。

進一步的，所述存儲卡卡座設(shè)置在上底座下表面，所述fpc測試條設(shè)置在下底座上表面，所述存儲卡卡座與fpc測試條相對設(shè)置。

由上述描述可知，在具體實施方式中，存儲卡卡座設(shè)置在上底座下表面，fpc測試條設(shè)置在下底座上表面，當控制裝置控制上底座下壓時，上下底座壓合，此時存儲卡卡座內(nèi)的金屬彈片就會與fpc測試條的金手指區(qū)域接觸，形成電連接，便于測試操作。

進一步的，所述下底座1上設(shè)有用于固定fpc測試條的安裝塊12；所述安裝塊上設(shè)有條形凸臺121、定位柱122和螺絲孔123，所述條形凸臺121的兩側(cè)均設(shè)有定位柱122和螺絲孔123。

由上述描述可知，在具體實施方式中，安裝塊是安裝在下底座的上表面上，安裝塊用來固定fpc測試條，安裝塊上的條形凸臺用來抵靠fpc測試條上的金手指區(qū)域，使得金手指區(qū)域更加突出，避免上底座和下底座壓合時，金手指區(qū)域下凹等現(xiàn)象造成金手指區(qū)域無法與金屬彈片接觸，進而影響測試；安裝塊上的定位柱是用來給fpc測試條定位的，具體是通過在fpc測試條上設(shè)置對應(yīng)定位柱大小的定位孔，定位柱穿過定位孔，實現(xiàn)位置精確定位；安裝塊上的螺絲孔用來安裝固定fpc測試條的，具體是通過在fpc測試條上設(shè)置安裝孔，螺絲穿過安裝孔與螺絲孔連接，然后鎖緊，即可使fpc測試條固定在安裝孔上，避免測試過程發(fā)生偏移，導致金手指區(qū)域內(nèi)的金手指與金屬彈片無法準確對準。

進一步的，所述條形凸臺121的一側(cè)的定位柱122的數(shù)量為一個，螺絲孔123的數(shù)量為兩個，定位柱122位于兩個螺絲孔123之間。

由上述描述可知，在具體實施方式中，在條形凸臺的兩側(cè)共設(shè)置四個螺絲孔，可確保金手指區(qū)域面平整，不會有翹起、彎折等現(xiàn)象，利于金手指區(qū)域與存儲卡接口的對位，以及設(shè)置兩個定位柱，與定位孔相配合，根據(jù)兩點確定一條線，可防止fpc測試條發(fā)生偏移，進一步確定測試條的位置，提升測試的準確性。

進一步的，所述定位柱122與條形凸臺121之間設(shè)有固定間隔；所述定位柱122與條形凸臺121之間的固定間隔為5mm。

進一步的，所述螺絲孔123與條形凸臺121之間設(shè)有固定間隔；所述螺絲孔123與條形凸臺121之間的固定間隔為5mm。

由上述的描述可知，在具體實施方式中，定位柱與條形凸臺之間的固定間隔為5mm，螺絲孔與條形凸臺之間的固定間隔為5mm，安裝時不會對金手指區(qū)域內(nèi)的金手指造成壓迫，而使金手指斷裂，并且設(shè)有固定間隔可使金手指更具有韌性。

進一步的，所述fpc測試條11上至少設(shè)有一個用于與待測試的存儲卡卡座的金屬彈片電連接的金手指區(qū)域111，所述金手指區(qū)域111的兩側(cè)均設(shè)有安裝孔112和與定位柱122相適配的定位孔113；

所述金手指區(qū)域111抵靠在條形凸臺上；螺絲穿過安裝孔112與螺絲孔123連接，使fpc測試條固定在安裝塊12上。

由上述的描述可知，在具體實施方式中，fpc測試條作為信息交互的過渡載體，fpc測試條的一端(非金手指區(qū)域)連接有存儲卡，金手指區(qū)域通過設(shè)置在測試條上的走線與存儲卡電連接，其中安裝孔和定位孔是與上述的安裝塊相配的，可使fpc測試條準確的固定在安裝塊上。

進一步的，所述條形凸臺與金手指區(qū)域的接觸面的面積與金手指區(qū)域的面積相等。

由上述的描述可知，在具體實施方式中，條形凸臺與金手指區(qū)域的接觸面的面積與金手指區(qū)域的面積相等，其實接觸面的面積也可以大于金手指區(qū)域的面積，主要是使金手指區(qū)域都位于條形凸臺的上表面上，這樣設(shè)計，金手指區(qū)域內(nèi)的金手指不易折損。

進一步的，所述條形凸臺的兩端分別設(shè)有垂直于條形凸臺上表面的延伸部，所述金手指區(qū)域位于兩個延伸部之間。

由上述的描述可知，在具體實施方式中，兩個延伸部起到限位的作用，金手指區(qū)域位于兩個延伸部之間，安裝時，先通過定位柱與定位孔的定位，再結(jié)合是否能夠裝配至兩個延伸部之間來判定是否產(chǎn)生偏移，進而設(shè)置這兩個延伸部是為了提升安裝定位的精確度。

進一步的，所述條形凸臺121包括分別由條形凸臺上表面相對兩側(cè)延伸的第一側(cè)面1211和第二側(cè)面1212，所述第一側(cè)面1211與條形凸臺上表面相垂直，所述第二側(cè)面1212與條形凸臺上表面所成的夾角為鈍角。

進一步的，所述金手指區(qū)域111內(nèi)設(shè)有多個相互平行的金手指1111，所述金手指為長方形，所述金手指的長度大于寬度的兩倍。

由上述的描述可知，由于在金屬彈片與金手指區(qū)域接觸時，會對金手指區(qū)域造成應(yīng)力，易造成金手指斷裂或折損，因此延長金手指的長度，可增強金手指的韌性，在測試過程中，金手指可承受一定程度的彎曲變形，因而確保測試有效進行。

進一步的，所述金手指的長度為2.5mm，所述金手指的寬度為0.8mm。

由上述的描述可知，金手指的長度為2.5mm，而常用金手指的長度為0.8mm，比常用的金手指增長了1.7mm，原因在于：當金屬彈片與金手指區(qū)域接觸時，由于金手指與布線之間有一個過渡變化區(qū)域，該區(qū)域?qū)τ趹?yīng)力較為敏感，容易折斷，因此將金手指長度延長，使印制板的脆弱區(qū)域遠離金屬彈片接觸位置。

進一步的，相鄰兩個金手指的間隔為0.3mm。

進一步的，相鄰兩個金手指的中心距與存儲卡卡座上的相鄰金屬彈片的中心距相等。

由上述的描述可知，fpc線相鄰金手指中心距與存儲卡卡座內(nèi)的相鄰彈片的中心距一致(約1.1mm)，為了滿足金手指與彈片有效接觸的可靠性，同時防止結(jié)構(gòu)件公差等因素或可能導致相鄰金手指無接觸的風險，將金手指寬度和相鄰縫隙分別設(shè)置為0.8mm、0.3mm。

進一步的，所述金手指包括接觸部和傳導部，所述接觸部為位于金手指上遠離存儲卡的區(qū)域，所述傳導部為位于金手指上靠近存儲卡的區(qū)域，且位于接觸部與存儲卡之間。

由上述的描述可知，對金手指進行有效劃分，分為接觸部和傳導部，其中接觸部就是用來與存儲卡卡座內(nèi)的金屬彈片接觸的區(qū)域，并且該接觸部為位于金手指上遠離存儲卡的區(qū)域，可有效減少對金手指與布線連接處的應(yīng)力，進而削弱對連接處的損壞，從而確保穩(wěn)定通訊。

進一步的，所述傳導部上設(shè)有覆膜涂層。

由上述的描述可知，通過在傳導部上設(shè)有覆膜涂層，進一度提升該過渡區(qū)域的強度，確保穩(wěn)定通訊。

進一步的，所述安裝塊12上設(shè)有供fpc測試條11穿過的條形通孔124。

進一步的，所述下底座1上對應(yīng)位于安裝塊上的條形通孔位置設(shè)有供fpc測試條穿過的條形通孔，位于下底座上的條形通孔的徑向長度大于位于安裝塊上的條形通孔的徑向長度。

由上述的描述可知，安裝fpc測試條時，先通過上述的螺絲固定fpc測試條，fpc測試條剩余部分穿過安裝塊上的條形通孔，再通過下底座上的條形通孔引出，可避免因fpc測試條過長，而影響測試過程。并且位于下底座上的條形通孔的徑向長度大于位于安裝塊上的條形通孔的徑向長度，可使安裝塊移動過程，fpc測試條可以在下底座上的條形通孔中橫向移動。

進一步的，還包括與條形凸臺平行的導軸125；所述下底座1上表面對應(yīng)導軸兩端位置分別設(shè)有一個安裝部13，所述導軸125兩端分別與兩個安裝部13連接；所述安裝塊12與導軸125可滑動連接。

由上述的描述可知，在安裝塊的下部設(shè)有橫向貫穿的通孔，套設(shè)在導軸上，即可沿導軸滑動。

進一步的，所述導軸125的數(shù)量為兩根以上且相互平行設(shè)置。

由上述的描述可知，導軸的數(shù)量為兩根以上且相互平行設(shè)置，可使安裝塊安裝更加穩(wěn)定。

進一步的，所述安裝部13垂直于下底座1上表面。

進一步的，所述安裝部上設(shè)有通孔，所述導軸的兩端分別與兩個通孔連接。

由上述的描述可知，所述導軸的兩端分別與兩個通孔連接，相當于架設(shè)在兩個通孔上，便于拆裝。

進一步的，所述安裝塊12上對應(yīng)條形凸臺兩端位置設(shè)有兩個相對設(shè)置的擋板126，所述擋板126上端設(shè)有傾斜部1261；所述上底座下表面對應(yīng)安裝塊上的擋板位置設(shè)有兩個凸塊，用于上底座和下底座進行壓合操作時，凸塊與傾斜部接觸，使得安裝塊在導軸上滑動。

由上述的描述可知，通過上底座下壓，位于上底座上的存儲卡卡座隨著下壓，其上的兩個凸塊會與安裝塊通過其上的兩個擋板的傾斜部接觸，在下壓力的作用下，安裝塊因為下壓力作用在傾斜部上的作用力分力，推動安裝塊在導軸上移動，從而可以克服整機裝配偏差及smt貼片偏差，使存儲卡卡座上的金屬彈片準確接觸到金手指上，實現(xiàn)自動調(diào)節(jié)精準對位。另外可將安裝塊傾斜導軸一端設(shè)置，使得安裝塊對位測試后能夠恢復(fù)到初始位置。

進一步的，兩個凸塊之間的距離與兩個擋板之間的最小距離相等。

由上述的描述可知，當兩個凸塊之間的距離與兩個擋板之間的最小距離相等時，只要兩個凸塊通過兩個擋板之間的最小距離，說明對位完成，并且對位準確，不會再發(fā)生偏移。

進一步的，所述凸塊上設(shè)有用于與擋板上的傾斜部相接觸的傾斜部。

進一步的，所述擋板上的傾斜部向內(nèi)側(cè)傾斜，所述凸塊上的傾斜部向外側(cè)傾斜。

由上述的描述可知，將凸塊上對應(yīng)設(shè)計成傾斜狀，使得凸塊與擋板形成面接觸，可提高對位調(diào)節(jié)精度。

請參照圖1，本發(fā)明的實施例一為：

本發(fā)明提供的一種存儲卡卡座性能的測試裝置，包括上底座和下底座；

所述上底座設(shè)有待測試的存儲卡卡座，所述存儲卡卡座包括與讀取存儲卡內(nèi)數(shù)據(jù)的讀取裝置電連接的金屬彈片；所述下底座設(shè)有fpc測試條，用于上底座和下底座進行壓合操作時，與金屬彈片電連接；所述fpc測試條上設(shè)有與之電連接的存儲卡。所述下底座上設(shè)有用于固定fpc測試條的安裝塊；所述安裝塊上設(shè)有條形凸臺、定位柱和螺絲孔，所述條形凸臺的兩側(cè)均設(shè)有定位柱和螺絲孔。

其中安裝塊是安裝在下底座的上表面上，安裝塊用來固定fpc測試條，安裝塊上的條形凸臺用來抵靠fpc測試條上的金手指區(qū)域，使得金手指區(qū)域更加突出，避免上底座和下底座壓合時，金手指區(qū)域下凹等現(xiàn)象造成金手指區(qū)域無法與金屬彈片接觸，進而影響測試；安裝塊上的定位柱是用來給fpc測試條定位的，具體是通過在fpc測試條上設(shè)置對應(yīng)定位柱大小的定位孔，定位柱穿過定位孔，實現(xiàn)位置精確定位；安裝塊上的螺絲孔用來安裝固定fpc測試條的，具體是通過在fpc測試條上設(shè)置安裝孔，螺絲穿過安裝孔與螺絲孔連接，然后鎖緊，即可使fpc測試條固定在安裝孔上，避免測試過程發(fā)生偏移，導致金手指區(qū)域內(nèi)的金手指與金屬彈片無法準確對準。

由上述描述可知：通過設(shè)置在上底座的待測試的存儲卡卡座以及設(shè)置在下底座的fpc測試條，在控制裝置的作用下進行壓合或者分離操作，讀取裝置通過金屬彈片、fpc測試條讀取到存儲卡內(nèi)的數(shù)據(jù)，根據(jù)讀取到的數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常來判斷待測試的存儲卡卡座的性能。

本發(fā)明的實施例二為：

在實施例一的基礎(chǔ)上，進一步對fpc測試條的具體結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：所述fpc測試條上至少設(shè)有一個用于與待測試的存儲卡卡座的金屬彈片電連接的金手指區(qū)域，所述金手指區(qū)域的兩側(cè)均設(shè)有安裝孔和與定位柱相適配的定位孔；所述金手指區(qū)域抵靠在條形凸臺上；螺絲穿過安裝孔與螺絲孔連接，使fpc測試條固定在安裝塊上。

由上述的描述可知，fpc測試條作為信息交互的過渡載體，fpc測試條的一端(非金手指區(qū)域)連接有存儲卡，金手指區(qū)域通過設(shè)置在測試條上的走線與存儲卡電連接，其中安裝孔和定位孔是與上述的安裝塊相配的，可使fpc測試條準確的固定在安裝塊上。

本發(fā)明的實施例三為：

在實施例二的基礎(chǔ)上，進一步對條形凸臺的具體結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：所述條形凸臺與金手指區(qū)域的接觸面的面積與金手指區(qū)域的面積相等。在實際過程中，接觸面的面積也可以大于金手指區(qū)域的面積，主要是使金手指區(qū)域都位于條形凸臺的上表面上，這樣設(shè)計，金手指區(qū)域內(nèi)的金手指不易折損。

所述條形凸臺的兩端分別設(shè)有垂直于條形凸臺上表面的延伸部，所述金手指區(qū)域位于兩個延伸部之間。兩個延伸部起到限位的作用，金手指區(qū)域位于兩個延伸部之間，安裝時，先通過定位柱與定位孔的定位，再結(jié)合是否能夠裝配至兩個延伸部之間來判定是否產(chǎn)生偏移，進而設(shè)置這兩個延伸部是為了提升安裝定位的精確度。

本發(fā)明的實施例四為：

在實施例二的基礎(chǔ)上，進一步對條形凸臺的具體結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：

所述條形凸臺包括分別由條形凸臺上表面相對兩側(cè)延伸的第一側(cè)面和第二側(cè)面，所述第一側(cè)面與條形凸臺上表面相垂直，所述第二側(cè)面與條形凸臺上表面所成的夾角為鈍角。fpc測試條上的金手指與位于測試條上的走線位于第二側(cè)面上，將第二側(cè)面與條形凸臺上表面所成的夾角設(shè)計為鈍角，說明兩個面不垂直，可減弱對金手指與走線連接處因彎折產(chǎn)生的作用力，確保正常數(shù)據(jù)交互。

所述金手指區(qū)域內(nèi)設(shè)有多個相互平行的金手指，所述金手指為長方形，所述金手指的長度大于寬度的兩倍。由于在金屬彈片與金手指區(qū)域接觸時，會對金手指區(qū)域造成應(yīng)力，易造成金手指斷裂或折損，因此延長金手指的長度，可增強金手指的韌性，在測試過程中，金手指可承受一定程度的彎曲變形，因而確保測試有效進行。

本發(fā)明的實施例五為：

在實施例四的基礎(chǔ)上，進一步對金手指區(qū)域的具體結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：

1、所述金手指的長度為2.5mm，所述金手指的寬度為0.8mm，相鄰兩個金手指的間隔為0.3mm。其中常用金手指的長度為0.8mm，本方案比常用的金手指增長了1.7mm，原因在于：當金屬彈片與金手指區(qū)域接觸時，由于金手指與布線之間有一個過渡變化區(qū)域，該區(qū)域?qū)τ趹?yīng)力較為敏感，容易折斷，因此將金手指長度延長，使印制板的脆弱區(qū)域遠離金屬彈片接觸位置。

2、相鄰兩個金手指的中心距與存儲卡卡座上的相鄰金屬彈片的中心距相等。fpc線相鄰金手指中心距與存儲卡卡座內(nèi)的相鄰彈片的中心距一致(約1.1mm)，為了滿足金手指與彈片有效接觸的可靠性，同時防止結(jié)構(gòu)件公差等因素或可能導致相鄰金手指無接觸的風險，將金手指寬度和相鄰縫隙分別設(shè)置為0.8mm、0.3mm。

3、所述金手指包括接觸部和傳導部，所述接觸部為位于金手指上遠離存儲卡的區(qū)域，所述傳導部為位于金手指上靠近存儲卡的區(qū)域，且位于接觸部與存儲卡之間。對金手指進行有效劃分，分為接觸部和傳導部，其中接觸部就是用來與存儲卡卡座內(nèi)的金屬彈片接觸的區(qū)域，并且該接觸部為位于金手指上遠離存儲卡的區(qū)域，可有效減少對金手指與布線連接處的應(yīng)力，進而削弱對連接處的損壞，從而確保穩(wěn)定通訊。

4、所述傳導部上設(shè)有覆膜涂層。通過在傳導部上設(shè)有覆膜涂層，進一度提升該過渡區(qū)域的強度，確保穩(wěn)定通訊。

本發(fā)明的實施例六為：

在實施例一的基礎(chǔ)上，進一步對安裝塊和下底座的具體結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：

所述安裝塊上設(shè)有供fpc測試條穿過的條形通孔。所述下底座上對應(yīng)位于安裝塊上的條形通孔位置設(shè)有供fpc測試條穿過的條形通孔，位于下底座上的條形通孔的徑向長度大于位于安裝塊上的條形通孔的徑向長度。安裝fpc測試條時，先通過上述的螺絲固定fpc測試條，fpc測試條剩余部分穿過安裝塊上的條形通孔，再通過下底座上的條形通孔引出，可避免因fpc測試條過長，而影響測試過程。并且位于下底座上的條形通孔的徑向長度大于位于安裝塊上的條形通孔的徑向長度，可使安裝塊移動過程，fpc測試條可以在下底座上的條形通孔中橫向移動。

本發(fā)明的實施例七為：

在實施例一的基礎(chǔ)上，進一步對安裝塊的安裝結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：

還包括與條形凸臺平行的導軸；所述下底座上表面對應(yīng)導軸兩端位置分別設(shè)有一個安裝部，所述導軸兩端分別與兩個安裝部連接；所述安裝塊與導軸可滑動連接。在安裝塊的下部設(shè)有橫向貫穿的通孔，套設(shè)在導軸上，即可沿導軸滑動。所述導軸的數(shù)量為兩根以上且相互平行設(shè)置，可使安裝塊安裝更加穩(wěn)定。所述安裝部垂直于下底座上表面。所述安裝部上設(shè)有通孔，所述導軸的兩端分別與兩個通孔連接，相當于架設(shè)在兩個通孔上，便于拆裝。

本發(fā)明的實施例八為：

在實施例七的基礎(chǔ)上，進一步對安裝塊的具體結(jié)構(gòu)進行限定，具體為：

所述安裝塊上對應(yīng)條形凸臺兩端位置設(shè)有兩個相對設(shè)置的擋板，所述擋板上端設(shè)有傾斜部；所述上底座下表面對應(yīng)安裝塊上的擋板位置設(shè)有兩個凸塊，用于上底座和下底座進行壓合操作時，凸塊與傾斜部接觸，使得安裝塊在導軸上滑動。通過上底座下壓，位于上底座上的存儲卡卡座隨著下壓，其上的兩個凸塊會與安裝塊通過其上的兩個擋板的傾斜部接觸，在下壓力的作用下，安裝塊因為下壓力作用在傾斜部上的作用力分力，推動安裝塊在導軸上移動，從而可以克服整機裝配偏差及smt貼片偏差，使存儲卡卡座上的金屬彈片準確接觸到金手指上，實現(xiàn)自動調(diào)節(jié)精準對位。另外可將安裝塊傾斜導軸一端設(shè)置，使得安裝塊對位測試后能夠恢復(fù)到初始位置。

兩個凸塊之間的距離與兩個擋板之間的最小距離相等。只要兩個凸塊通過兩個擋板之間的最小距離，說明對位完成，并且對位準確，不會再發(fā)生偏移。

所述凸塊上設(shè)有用于與擋板上的傾斜部相接觸的傾斜部。所述擋板上的傾斜部向內(nèi)側(cè)傾斜，所述凸塊上的傾斜部向外側(cè)傾斜。將凸塊上對應(yīng)設(shè)計成傾斜狀，使得凸塊與擋板形成面接觸，可提高對位調(diào)節(jié)精度。

綜上所述，本發(fā)明提供的一種存儲卡卡座性能的測試裝置，通過設(shè)置在上底座的待測試的存儲卡卡座以及設(shè)置在下底座的fpc測試條，在現(xiàn)有的控制裝置的作用下進行壓合或者分離操作，當上底座和下底座進行壓合操作時fpc測試條與金屬彈片電連接，此時讀取裝置通過金屬彈片、fpc測試條讀取到存儲卡內(nèi)的數(shù)據(jù)，根據(jù)讀取到的數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異常來判斷待測試的存儲卡卡座的性能。在測試過程中，fpc測試條與存儲卡接口采用壓合的方式，有別于傳統(tǒng)的插卡測試，不僅有效減少接觸端的磨損，避免造成硬件耗損，而且無需放卡、取卡、壓合保護蓋的步驟，只需簡單壓合上底座和下底座即可，因而提升測試效率，進一步的，由原本的金屬彈片與存儲卡直接接觸電連接改為間接電連接，存儲卡與fpc測試條是固定連接，因此可有效減少存儲卡的損壞。

以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換，或直接或間接運用在相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。