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時域電壓測量方法、測量校準(zhǔn)方法及測量校準(zhǔn)驗證方法與流程

文檔序號:12714686閱讀:來源:國知局

技術(shù)特征:

1.一種時域電壓測量方法,其特征在于,包括以下步驟:

固定待測PCB板微帶線與電壓探頭的相對位置,在向所述待測PCB板微帶線上輸入待測板級射頻電壓時,將所述電壓探頭放置在所述待測PCB板微帶線上方,使所述電壓探頭底端中心的投影落在所述待測PCB板微帶線上,且所述電壓探頭與所述待測PCB板微帶線垂直;

通過所述電壓探頭利用電場耦合感應(yīng)出由所述待測板級射頻電壓在所述待測PCB板微帶線周圍產(chǎn)生的感應(yīng)電動勢;

通過與所述電壓探頭的輸出端相連接的示波器采集所述感應(yīng)電動勢;

通過計算機根據(jù)所述示波器采集到的感應(yīng)電動勢計算所述待測板級射頻電壓。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時域電壓測量方法,其特征在于,將所述電壓探頭放置在所述待測PCB板微帶線上方的步驟包括:

將所述電壓探頭固定在夾具上,并把安裝了所述電壓探頭的夾具固定在支架上,使所述電壓探頭與所述待測PCB板微帶線垂直;

將所述待測PCB板微帶線固定在樣品臺上;

調(diào)整所述樣品臺,使得所述電壓探頭底端中心的投影落在所述待測PCB板微帶線上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的時域電壓測量方法,其特征在于,調(diào)整所述樣品臺,使得所述電壓探頭底端中心的投影落在所述待測PCB板微帶線上的步驟包括:

調(diào)整所述樣品臺,使得所述電壓探頭底端的平面與所述待測PCB板微帶線的表面平行,所述電壓探頭底端中心的投影在所述待測PCB板微帶線的中心處,并且使所述電壓探頭底端與所述待測PCB板微帶線表面的距離為1毫米。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的時域電壓測量方法,其特征在于,所述夾具固定在所述支架上后,所述支架在水平方向和垂直方向上可調(diào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任意一項所述的時域電壓測量方法,其特征在于,通過計算機根據(jù)所述示波器采集到的所述感應(yīng)電動勢計算所述待測板級射頻電壓的步驟包括:

根據(jù)以下方式計算待測板級射頻電壓:

v(t)=IFFT[FPK(ω)];

其中,F(xiàn)PK(ω)=FP(ω)·K(ω);

FP(ω)=FFT[vP(t)];

式中,v(t)為所述待測板級射頻電壓,vP(t)為所述感應(yīng)電動勢,K(ω)為校準(zhǔn)因子。

6.一種時域電壓測量校準(zhǔn)方法,其特征在于,包括以下步驟:

固定校準(zhǔn)PCB板微帶線和所述電壓探頭的相對位置,在向所述校準(zhǔn)PCB板微帶線上輸入校準(zhǔn)板級射頻電壓時,將所述電壓探頭放置在所述校準(zhǔn)PCB板微帶線上方,使所述電壓探頭底端中心的投影落在所述校準(zhǔn)PCB板微帶線上,且所述電壓探頭與所述校準(zhǔn)PCB板微帶線垂直;

通過網(wǎng)絡(luò)分析儀測試由所述校準(zhǔn)PCB板微帶線與所述電壓探頭構(gòu)成的二端口網(wǎng)絡(luò),得到用于對待測PCB板微帶線的待測板級射頻電壓進行測量校準(zhǔn)的校準(zhǔn)因子;

其中,所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口與所述校準(zhǔn)PCB板微帶線的一端連接,所述網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口與所述電壓探頭的輸出端連接,所述校準(zhǔn)PCB板微帶線的另一端與阻抗匹配的負(fù)載連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的時域電壓測量校準(zhǔn)方法,其特征在于,所述網(wǎng)絡(luò)分析儀進一步根據(jù)以下公式計算校準(zhǔn)因子:

K(ω)=S21;

式中,K(ω)為校準(zhǔn)因子,S21為網(wǎng)絡(luò)分析儀測得的傳輸系數(shù)。

8.一種時域電壓測量校準(zhǔn)驗證方法,其特征在于,包括以下步驟:

固定校準(zhǔn)PCB板微帶線和所述電壓探頭的相對位置,在向所述校準(zhǔn)PCB板微帶線上輸入校準(zhǔn)板級射頻電壓時,將所述電壓探頭放置在所述校準(zhǔn)PCB板微帶線的上方,使所述電壓探頭底端中心的投影落在所述校準(zhǔn)PCB板微帶線上,且所述電壓探頭與所述校準(zhǔn)PCB板微帶線垂直;

通過任意波形發(fā)生器向所述校準(zhǔn)PCB板微帶線的一端輸入任意波形的電壓信號;

通過所述電壓探頭利用電場耦合感應(yīng)出由所述電壓信號在所述校準(zhǔn)PCB板微帶線周圍產(chǎn)生的感應(yīng)電動勢;

將示波器的第一通道與所述電壓探頭的輸出端連接,通過所述第一通道采集電壓探頭輸出的感應(yīng)電動勢;

將所述示波器的第二通道與所述校準(zhǔn)PCB板微帶線的另一端連接,通過所述第二通道采集所述校準(zhǔn)PCB板微帶線上的第二校準(zhǔn)驗證電壓;

通過計算機根據(jù)所述示波器采集到的感應(yīng)電動勢計算第一校準(zhǔn)驗證電壓,并根據(jù)所述第一校準(zhǔn)驗證電壓和第二校準(zhǔn)驗證電壓對校準(zhǔn)因子進行校驗;其中,所述校準(zhǔn)因子用于對待測PCB板微帶線的待測板級射頻電壓進行測量校準(zhǔn)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的時域電壓測量校準(zhǔn)驗證方法,其特征在于,通過計算機根據(jù)所述示波器采集到的感應(yīng)電動勢計算第一校準(zhǔn)驗證電壓的步驟包括:

根據(jù)如下公式計算第一校準(zhǔn)驗證電壓:

vMK(t)=IFFT[FMK(ω)];

其中,F(xiàn)MK(ω)=FM(ω)·K(ω);

FM(ω)=FFT[vM(t)];

式中,vM(t)為所述感應(yīng)電動勢,vMK(t)為所述第一校準(zhǔn)驗證電壓,K(ω)為校準(zhǔn)因子。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的時域電壓測量校準(zhǔn)驗證方法,其特征在于,根據(jù)所述第一校準(zhǔn)驗證電壓和所述第二校準(zhǔn)驗證電壓對校準(zhǔn)因子進行校驗的步驟包括:

若所述第一校準(zhǔn)驗證電壓與所述第二校準(zhǔn)驗證電壓的差值小于預(yù)設(shè)的閾值,判定校驗成功;

反之,判定校驗失敗。

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