本發(fā)明涉及測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種落球試驗裝置。

背景技術(shù)：

落球試驗是產(chǎn)品機械檢驗的重要部分，通過使一定高度的、自由下落的、規(guī)定重量的鋼球(也即測試球)落到待測樣品上，對待測樣品進行沖擊，然后檢查待測樣品外觀、受損程度及各方面性能，用于判定其品質(zhì)。

在落球試驗中，一般要求落球次數(shù)為100—200次?，F(xiàn)有的落球試驗的試驗方法有兩種：一種是純手動測試，制作簡易管道，固定高度小球跌落，觀察實驗結(jié)果；另一種是半自動儀器測試，現(xiàn)行的落球試驗裝置，可自動調(diào)節(jié)跌落高度，但是落點難以控制。

以上兩種現(xiàn)行的落球試驗方法有如下弊端：無法保證每次試驗的測試條件一致性，無法消除人員操作引起的差異，小球更換和重復(fù)測試操作過于繁瑣，不僅增加了測試人員的勞動強度，繁瑣費事，而且測試效率低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種落球試驗裝置，能夠提高試驗的測試條件一致性，消除人員操作引起的差異，簡化測試步驟，縮短測試時間。

本發(fā)明所提供的技術(shù)方案如下：

一種落球試驗裝置，包括：

主架體；

設(shè)置在所述主架體上，用于投放測試球的落料機構(gòu)；

設(shè)置在所述主架體上，并位于所述落料機構(gòu)下方的基板定位機構(gòu)，所述基板定位機構(gòu)包括用于承載基板的承載臺、及用于移動所述承載臺，以改變所述承載臺上的基板位置，使所述測試球跌落至基板的預(yù)定待測試區(qū)上的移動單元；

用于回收從基板跌落的測試球，并將回收的測試球輸送至所述落球機構(gòu)內(nèi)的回料機構(gòu)；

及，用于控制所述落料機構(gòu)、所述基板定位機構(gòu)及所述回料機構(gòu)的工作狀態(tài)的控制機構(gòu)。

進一步的，所述主架體包括用于安裝所述落料機構(gòu)的第一工作臺面，在所述第一工作臺面上設(shè)置有落球口；

所述落料機構(gòu)包括：

設(shè)置在所述第一工作臺面上的測試球放置部，所述測試球放置部上設(shè)置有多個測試球安放口；

能夠移動所述測試球放置部，以改變所述測試球放置部上的各測試球安放口與所述落球口之間的相對位置的驅(qū)動部；

以及，設(shè)置在所述第一工作臺面下方，能夠遮擋所述落球口或避讓開所述落球口的遮擋部；

其中，所述落料機構(gòu)具有第一狀態(tài)和第二狀態(tài)，

在所述第一狀態(tài)，所述測試球放置部上的預(yù)定測試球安放口與所述落球口正對，所述遮擋部避讓開所述落球口，以使所述預(yù)定測試球安放口內(nèi)的測試球從所述落球口跌落；

在所述第二狀態(tài)，所述測試球放置部上的預(yù)定測試球安放口未與所述落球口正對，所述遮擋部遮擋所述落球口，以避免所述測試球放置部上除所述預(yù)定測試球安放口之外的其他測試球安放口內(nèi)的測試球從所述落球口跌落。

進一步的，所述測試球放置部的不同測試球安放口內(nèi)放置有不同型號的測試球。

進一步的，所述驅(qū)動部包括：第一驅(qū)動氣缸，所述第一驅(qū)動氣缸包括第一伸縮驅(qū)動桿；及，齒條，所述齒條與所述第一伸縮驅(qū)動桿連接，能夠在所述第一伸縮驅(qū)動桿帶動下往復(fù)運動；

所述測試球放置部包括測試球放置輪盤，所述測試球放置輪盤上沿周向設(shè)置有多個所述測試球安放口，且所述測試球放置輪盤沿周向設(shè)置有嚙合齒；

其中，所述測試球放置輪盤通過所述嚙合齒與所述齒條嚙合，并能夠在所述齒條帶動下旋轉(zhuǎn)，以改變各測試球安放口與所述落球口之間的相對位置。

進一步的，所述驅(qū)動部還包括用于限定所述齒條的移動行程的限定塊，所述限定塊設(shè)置在所述齒條的遠離所述第一伸縮驅(qū)動桿的一側(cè)。

進一步的，所述遮擋部包括：

第二驅(qū)動氣缸，所述第二驅(qū)動氣缸包括第二伸縮驅(qū)動桿；

以及，設(shè)置在所述第一工作臺面下方的遮擋板，所述遮擋板與所述第二伸縮驅(qū)動桿連接，并能夠在所述第二伸縮驅(qū)動桿帶動下往復(fù)運動，以遮擋或避讓開所述落球口。

進一步的，所述主架體包括用于安裝所述基板定位機構(gòu)的第二工作臺面；

所述移動單元包括：

固定在所述第二工作臺面上的固定座；

設(shè)置在所述固定座上，并沿第一方向延伸的絲杠，所述絲杠上設(shè)置有第一連接件；

用于驅(qū)動所述絲杠，以使所述第一連接件在所述絲杠上移動的驅(qū)動馬達；

設(shè)置在所述固定座上，并與所述絲杠平行設(shè)置的導(dǎo)桿，所述導(dǎo)桿上設(shè)置有第二連接件，且所述第二連接件能夠在所述導(dǎo)桿上滑動；

沿與所述第一方向垂直的第二方向延伸的連接軸，所述連接軸的兩端分別連接在所述第一連接件和所述第二連接件上，所述第二方向與所述第一方向垂直；

以及，設(shè)置在所述連接軸上的底座，所述底座能夠在所述連接軸上沿所述第二方向往復(fù)移動；

設(shè)置在所述底座上的能夠沿第三方向往復(fù)運動的伸縮驅(qū)動部，所述第三方向分別與所述第一方向和所述第二方向垂直；

其中所述承載臺設(shè)置在所述伸縮驅(qū)動部上。

進一步的，所述承載臺上設(shè)置有用于固定基板的固定部，所述固定部包括用于分別固定所述基板的四角的四個固定夾具，每一所述固定夾具包括：固定在所述承載臺上的第一夾具部件；及，與所述第一夾具部件可拆卸地連接的第二夾具部件，其中所述第一夾具部件和所述第一夾具部件相互扣合，并形成用于容置基板的容置腔，在所述容置腔的側(cè)壁上開設(shè)有用于避免基板的角部位損傷的避讓開口。

進一步的，所述回料機構(gòu)包括：

用于吸附從基板上跌落的測試球的吸附部件；

以及，用于將所述吸附部件上的測試球輸送至所述落料機構(gòu)內(nèi)的傳送帶，其中，所述吸附部件設(shè)置在所述傳送帶上，且所述傳送帶能夠帶動所述吸附部件在第一位置和第二位置之間往復(fù)傳送；

其中所述第一位置位于所述基板定位機構(gòu)的承載臺下方，并位于基板的預(yù)定一側(cè)；所述第二位置位于所述落料機構(gòu)的上方的預(yù)定位置上。

進一步的，所述吸附部件包括一電磁吸附件及第一感應(yīng)器；其中，

當所述第一感應(yīng)器感應(yīng)到所述測試球與所述電磁吸附件接觸時，所述控制機構(gòu)控制所述電磁吸附件通電，以控制所述電磁吸附件吸附所述測試球；

當所述電磁吸附件被所述傳送帶由第一位置輸送至第二位置時，所述控制機構(gòu)控制所述電磁吸附部件斷電，以釋放所述測試球，使所述測試球落入所述落料機構(gòu)內(nèi)。

進一步的，所述回料機構(gòu)還包括用于將所述測試球引導(dǎo)至所述第一位置，以使所述測試球被所述電磁吸附件吸附的引導(dǎo)部，所述引導(dǎo)部包括：

能夠感應(yīng)所述落料機構(gòu)內(nèi)的測試球是否跌落的第二感應(yīng)器；

以及，設(shè)置在所述承載臺上方的氣嘴，所述氣嘴能夠在所述第二感應(yīng)器感應(yīng)到所述落料機構(gòu)內(nèi)的測試球跌落時，向所述承載臺上的基板表面吹送氣體，以使跌落在基板上的測試球沿預(yù)定方向滾動，而從基板的所述預(yù)定一側(cè)跌落。

進一步的，所述主架體包括用于安裝所述基板定位機構(gòu)的第二工作臺面，在所述第二工作臺面的表面上設(shè)置有用于引導(dǎo)從所述基板跌落的測試球滾動至所述第一位置處的引導(dǎo)槽，所述引導(dǎo)槽位于所述基板的所述預(yù)定一側(cè)，所述引導(dǎo)槽包括靠近基板的第一端和遠離基板的第二端，且所述引導(dǎo)槽的深度自所述第一端至所述第二端逐漸增大，所述吸附部件處于第一位置時，所述吸附部件位于所述引導(dǎo)槽的第二端。

本發(fā)明所帶來的有益效果如下：

本發(fā)明所提供的落球試驗裝置，通過控制機構(gòu)來控制落料機構(gòu)、基板定位機構(gòu)及回料機構(gòu)的工作狀態(tài)，可以減少試驗由于人員操作引起的差異，測試效率高，且基板的位置可以移動，落球點比較一致。

附圖說明

圖1表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的基板定位機構(gòu)的立體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的基板定位機構(gòu)的主視圖；

圖4表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的落料機構(gòu)中的局部結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的落料機構(gòu)的遮擋部的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的承載臺的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的承載臺上的固定夾具的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的第二工作臺面上引導(dǎo)槽的主視圖；

圖9表示本發(fā)明實施例中所提供的落球試驗裝置的第二工作臺面上引導(dǎo)槽的側(cè)視圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例的附圖，對本發(fā)明實施例的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述。顯然，所描述的實施例是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例?；谒枋龅谋景l(fā)明的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

針對現(xiàn)有技術(shù)中落球試驗裝置無法保證每次試驗測試條件一致性，無法消除人員操作引起的差異等問題，本發(fā)明提供了一種落球試驗裝置，能夠提高落球試驗的測試條件一致性，消除人員操作引起的差異，簡化測試步驟，縮短測試時間。

如圖1所示，本發(fā)明所提供的落球試驗裝置包括：

主架體100；

設(shè)置在所述主架體100上，用于投放測試球的落料機構(gòu)；

設(shè)置在所述主架體100上，并位于所述落料機構(gòu)下方的基板定位機構(gòu)，所述基板定位機構(gòu)包括用于承載基板的承載臺200、及用于移動所述承載臺200，以改變所述承載臺200上的基板位置，使所述測試球跌落至基板的預(yù)定待測試區(qū)上的移動單元；

用于回收從基板跌落的測試球，并將回收的測試球輸送至所述落球機構(gòu)內(nèi)的回料機構(gòu)；

及，用于控制所述落料機構(gòu)、所述基板定位機構(gòu)及所述回料機構(gòu)的工作狀態(tài)的控制機構(gòu)。

本發(fā)明所提供的落球試驗裝置通過控制機構(gòu)來控制落料機構(gòu)、基板定位機構(gòu)及回料機構(gòu)的工作狀態(tài)，可以根據(jù)試驗需求，實現(xiàn)自動落球、自動定位落球點及自動回料等操作，可以減少試驗由于人員操作引起的差異，測試效率高，且基板的位置可以移動，落球點比較一致。

在本發(fā)明所提供的優(yōu)選實施例中，如圖1、圖4和圖5所示，所述主架體100包括用于安裝所述落料機構(gòu)的第一工作臺面101和用于安裝所述基板定位機構(gòu)的第二工作臺面102，所述主架體100為整個裝置提供支撐，通過型材設(shè)計和第一工作臺面101和第二工作臺面102堆疊為其他部件提供安裝基準。

其中，在所述第一工作臺面101上設(shè)置有落球口；

所述落料機構(gòu)包括：

設(shè)置在所述第一工作臺面101上的測試球放置部201，所述測試球放置部201上設(shè)置有多個測試球安放口2010；

能夠移動所述測試球放置部201，以改變所述測試球放置部201上的各測試球安放口2010與所述落球口之間的相對位置的驅(qū)動部；

以及，設(shè)置在所述第一工作臺面101下方，能夠遮擋所述落球口或避讓開所述落球口的遮擋部202；

其中，所述落料機構(gòu)具有第一狀態(tài)和第二狀態(tài)，

在所述第一狀態(tài)，所述測試球放置部201上的預(yù)定測試球安放口2010與所述落球口正對，所述遮擋部202避讓開所述落球口，以使所述預(yù)定測試球安放口2010內(nèi)的測試球從所述落球口跌落；

在所述第二狀態(tài)，所述測試球放置部201上的預(yù)定測試球安放口2010未與所述落球口正對，所述遮擋部202遮擋所述落球口，以避免所述測試球放置部201上除所述預(yù)定測試球安放口2010之外的其他測試球安放口2010內(nèi)的測試球從所述落球口跌落。

采用上述方案，所述測試球放置部201上的各測試球安放口2010內(nèi)均放置有測試球，當需要某一測試球安放口2010內(nèi)的測試球進行落球試驗時，可以通過控制機構(gòu)來控制驅(qū)動部驅(qū)動測試球放置部201移動，使測試球放置部201上的該測試球安放口2010與所述落球口正對，并控制所述遮擋部202避讓開所述落球口，以使所述預(yù)定測試球安放口2010內(nèi)的測試球從所述落球口跌落；其中，當所述測試球放置部201上的預(yù)定測試球安放口2010未與所述落球口正對時，所述控制機構(gòu)則控制所述遮擋部202遮擋住落球口，以避免所述測試球放置部201上除所述預(yù)定測試球安放口2010之外的其他測試球安放口2010內(nèi)的測試球從所述落球口跌落。

采用上述方案，可以實現(xiàn)落料機構(gòu)自動落料的目的。

其中，優(yōu)選的，所述測試球放置部201的不同測試球安放口2010內(nèi)放置有不同型號的測試球。

采用上述方案，不同測試球安放口2010內(nèi)放置有不同型號的測試球(如：測試球重量不同等)，可以根據(jù)測試需要，通過控制機構(gòu)內(nèi)參數(shù)設(shè)置，來選擇合適的測試球跌落來進行試驗。

此外，如圖1和圖4所示，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，所述驅(qū)動部包括：第一驅(qū)動氣缸301，所述第一驅(qū)動氣缸301包括第一伸縮驅(qū)動桿302；及，齒條303，所述齒條303與所述第一伸縮驅(qū)動桿302連接，能夠在所述第一伸縮驅(qū)動桿302帶動下往復(fù)運動；

所述測試球放置部201包括測試球放置輪盤2011，所述測試球放置輪盤2011上沿周向設(shè)置有多個所述測試球安放口2010，且所述測試球放置輪盤2011沿周向設(shè)置有嚙合齒；

其中，所述測試球放置輪盤2011通過所述嚙合齒與所述齒條303嚙合，并能夠在所述齒條303帶動下旋轉(zhuǎn)，以改變各測試球安放口2010與所述落球口之間的相對位置。

采用上述方案，所述控制機構(gòu)內(nèi)參數(shù)設(shè)置好需要進行測試的測試球型號，控制所述第一驅(qū)動氣缸301驅(qū)動齒條303往復(fù)運動，與齒條303嚙合的測試球放置輪盤2011則會旋轉(zhuǎn)，直至測試球放置輪盤2011上的預(yù)設(shè)測試球安放口2010對準落球口，此時，控制機構(gòu)控制所述遮擋部202避讓開所述落球口，以使所述預(yù)定測試球安放口2010內(nèi)的測試球從所述落球口跌落。應(yīng)當理解的是，在實際應(yīng)用中，對于所述驅(qū)動部和所述測試球放置部201的具體結(jié)構(gòu)并不進行限定。

在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，如圖1和圖4所示，所述驅(qū)動部還包括用于限定所述齒條303的移動行程的限定塊304，所述限定塊304設(shè)置在所述齒條303的遠離所述第一伸縮驅(qū)動桿302的一側(cè)。

此外，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，如圖1和圖5所示，所述遮擋部202包括：

第二驅(qū)動氣缸2021，所述第二驅(qū)動氣缸2021包括第二伸縮驅(qū)動桿2022；

以及，設(shè)置在所述第一工作臺面101下方的遮擋板2023，所述遮擋板2023與所述第二伸縮驅(qū)動桿2022連接，并能夠在所述第二伸縮驅(qū)動桿2022帶動下往復(fù)運動，以遮擋或避讓開所述落球口。

采用上述方案，通過控制機構(gòu)來控制第二驅(qū)動氣缸2021的工作狀態(tài)，來控制所述遮擋板2023來遮擋或避讓開落球口。

在上述優(yōu)選實施例中，所述落料機構(gòu)通過測試球放置輪盤2011與齒條303嚙合，并在測試球放置輪盤2011上開孔的方式，為不同規(guī)格的測試球提供選擇基準。操作人員給出測試基準后，控制機構(gòu)將對應(yīng)的測試球安放口2010的位移換算為齒條303的行程，第一驅(qū)動氣缸301進行伸縮運動，完成相應(yīng)規(guī)格測試球的選擇；相應(yīng)測試球到達落球口位置后，控制機構(gòu)發(fā)送第二驅(qū)動氣缸2021控制信號，使其推開遮擋板2023，讓測試球自由落下，由此實現(xiàn)自動選球、落球過程。

此外，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，如圖1至圖3所示，所述移動單元包括：

固定在所述第二工作臺面102上的固定座401；

設(shè)置在所述固定座401上，并沿第一方向延伸的絲杠402，所述絲杠402上設(shè)置有第一連接件403；

用于驅(qū)動所述絲杠402，以使所述第一連接件403在所述絲杠402上移動的驅(qū)動馬達404；

設(shè)置在所述固定座401上，并與所述絲杠402平行設(shè)置的導(dǎo)桿405，所述導(dǎo)桿405上設(shè)置有第二連接件406，且所述第二連接件406能夠在所述導(dǎo)桿405上滑動；

沿與所述第一方向垂直的第二方向延伸的連接軸407，所述連接軸407的兩端分別連接在所述第一連接件403和所述第二連接件406上，所述第二方向與所述第一方向垂直；

以及，設(shè)置在所述連接軸407上的底座408，所述底座408能夠在所述連接軸407上沿所述第二方向往復(fù)移動；

設(shè)置在所述底座408上的能夠沿第三方向往復(fù)運動的伸縮驅(qū)動部409，所述第三方向分別與所述第一方向和所述第二方向垂直；

其中所述承載臺200設(shè)置在所述伸縮驅(qū)動部409上。

采用上述方案，通過驅(qū)動馬達404控制絲杠402實現(xiàn)底座408在x、y方向上的位移，并在底座408上設(shè)置有伸縮驅(qū)動部409(如：第三驅(qū)動氣缸)，用于測試承載臺200的z向定位；可以通過控制機構(gòu)內(nèi)參數(shù)設(shè)置，來自動控制承載臺200精確移動至預(yù)設(shè)位置，可以精確定位測試球的落點位置，確保測試的準確性。當然可以理解的是，對于所述移動單元的具體結(jié)構(gòu)可以并不僅局限于此。

此外，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，如圖1和圖6所示，所述承載臺200上設(shè)置有用于固定基板的固定部，所述固定部包括用于分別固定所述基板的四角的四個固定夾具500，每一所述固定夾具500包括：固定在所述承載臺200上的第一夾具部件501；及，與所述第一夾具部件501可拆卸地連接的第二夾具部件502，其中所述第一夾具部件501和所述第一夾具部件501相互扣合，并形成用于容置基板的容置腔，在所述容置腔的側(cè)壁上開設(shè)有用于避免基板的角部位損傷的避讓開口。

采用上述方案，在所述承載臺200上通過四角位置處設(shè)置的四個固定夾具500來對待測試基板進行固定，其中，固定夾具500中第一夾具部件501和第二夾具部件502可拆卸連接，可以將第一夾具部件501拆卸下來放置待測試基板，待測試基板放置好之后，再通過擰裝螺釘503將第一夾具部件501和第二夾具部件502固定好，且在每一固定夾具500上設(shè)置避讓開口可以避免在待測試基板的取放過程中對待測試基板的角部位有損傷。

此外，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，如圖1所示，所述回料機構(gòu)包括：用于吸附從基板上跌落的測試球的吸附部件601；以及，用于將所述吸附部件601上的測試球輸送至所述落料機構(gòu)內(nèi)的傳送帶602，其中，所述吸附部件601設(shè)置在所述傳送帶602上，且所述傳送帶602能夠帶動所述吸附部件601在第一位置和第二位置之間往復(fù)傳送；其中所述第一位置位于所述基板定位機構(gòu)的承載臺200下方，并位于基板的預(yù)定一側(cè)；所述第二位置位于所述落料機構(gòu)的上方的預(yù)定位置上。

采用上述方案，所述回料機構(gòu)中，通過所述吸附部件601可以將從待測試基板上跌落下的測試球吸附固定住，然后通過傳送帶602將吸附有測試球的吸附部件601運送至落料機構(gòu)上方，并通過控制吸附部件601釋放測試球，使得測試球落入到落料機構(gòu)內(nèi)。

優(yōu)選的，所述吸附部件601包括一電磁吸附件及第一感應(yīng)器；其中，

當所述第一感應(yīng)器感應(yīng)到所述測試球與所述電磁吸附件接觸時，所述控制機構(gòu)控制所述電磁吸附件通電，以控制所述電磁吸附件吸附所述測試球；

當所述電磁吸附件被所述傳送帶602由第一位置輸送至第二位置時，所述控制機構(gòu)控制所述電磁吸附部件601斷電，以釋放所述測試球，使所述測試球落入所述落料機構(gòu)內(nèi)。

采用上述方案，第一感應(yīng)器可以為壓力感應(yīng)器，設(shè)置在電磁吸附部件601上，當所述壓力感應(yīng)器感應(yīng)到所述電磁吸附部件601與測試球接觸到時，則發(fā)出感應(yīng)信號，通過控制機構(gòu)來控制所述電磁吸附件通電，以使得所述電磁吸附件吸附固定住測試球；而當所述電磁吸附件被傳送到落料機構(gòu)上方的對應(yīng)位置時，則控制機構(gòu)可以通過控制所述電磁吸附件斷電，來使得測試球落入到落料機構(gòu)內(nèi)。

應(yīng)當理解的是，在本發(fā)明的其他實施例中，對于所述吸附部件601的具體結(jié)構(gòu)可以并不僅限于電磁吸附部件601，還可以是真空吸附部件601等，對此并不進行限定。

此外，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，所述回料機構(gòu)還包括用于將所述測試球引導(dǎo)至所述第一位置，以使所述測試球被所述電磁吸附件吸附的引導(dǎo)部，如圖1所示，所述引導(dǎo)部包括：

能夠感應(yīng)所述落料機構(gòu)內(nèi)的測試球是否跌落的第二感應(yīng)器；

以及，設(shè)置在所述承載臺200上方的氣嘴700，所述氣嘴700能夠在所述第二感應(yīng)器感應(yīng)到所述落料機構(gòu)內(nèi)的測試球跌落時，向所述承載臺200上的基板表面吹送氣體，以使跌落在基板上的測試球沿預(yù)定方向滾動，而從基板的所述預(yù)定一側(cè)跌落。

采用上述方案，所述第二感應(yīng)器可以設(shè)置在所述落球口的下方，其優(yōu)選可以采用光電感應(yīng)器，來感應(yīng)是否落球口有測試球跌落，當?shù)诙袘?yīng)器感應(yīng)到有測試球跌落時，控制機構(gòu)則控制氣嘴700瞬間噴出強氣流，將待測試基板上的測試球吹落至承載臺200的下方設(shè)置有電磁吸附部件601的一側(cè)。

此外，在本發(fā)明所提供的實施例中，優(yōu)選的，如圖1和圖8-9所示，所述主架體100包括用于安裝所述基板定位機構(gòu)的第二工作臺面102，在所述第二工作臺面102的表面上設(shè)置有用于引導(dǎo)從所述基板跌落的測試球滾動至所述第一位置處的引導(dǎo)槽800，所述引導(dǎo)槽800位于所述基板的所述預(yù)定一側(cè)，所述引導(dǎo)槽800包括靠近基板的第一端和遠離基板的第二端，且所述引導(dǎo)槽800的深度自所述第一端至所述第二端逐漸增大，所述吸附部件601處于第一位置時，所述吸附部件601位于所述引導(dǎo)槽800的第二端。

采用上述方案，通過在所述第二工作臺面102上設(shè)置引導(dǎo)槽800，且引導(dǎo)槽800有一定角度，從待測試基板上跌落的測試球落在第二工作臺面102上，會順著引導(dǎo)槽800的坡度滾動至電磁吸附件處，實現(xiàn)回料動作。

在上述優(yōu)選實施例中，所述回料機構(gòu)能夠?qū)崿F(xiàn)測試球循環(huán)多次測試，測試球從落球口落下時，途經(jīng)氣嘴700上設(shè)置的光電傳感器，光電傳感器發(fā)出信號，控制機構(gòu)打開氣嘴700閥門，將待測試基板上的測試球吹落至第二工作臺面102上，第二工作臺面102上設(shè)有引導(dǎo)槽800，測試球10沿引導(dǎo)槽800滾至電磁吸附件處，電磁吸附件通電，吸附住測試球，之后，傳送帶602啟動，將電磁吸附件運至落料機構(gòu)上方，電磁吸附件斷電，使測試球再次落料機構(gòu)的測試球安放口2010內(nèi)，實現(xiàn)多次重復(fù)的測試球跌落測試動作。

綜上所述，本發(fā)明所提供的落球試驗裝置可以通過參數(shù)設(shè)置選擇測試球型號、落點位置、測試次數(shù)，落球試驗裝置完成預(yù)設(shè)指令，能夠保證測試球跌落的測試條件一致性，全自動測試，可以簡化測試步驟，縮短測試時間。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進和替換，這些改進和替換也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。