專利名稱：一種落球沖擊試驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及材料抗沖擊檢測(cè)技術(shù)，特別是涉及ー種落球沖擊試驗(yàn)裝置。
背景技術(shù)：
隨著汽車輕量化的呼聲越來越高，塑料等非金屬材料在汽車上的應(yīng)用越來越多。各整車廠對(duì)材料的管控也更加嚴(yán)格，并提出自己制定的方法進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證。其中一方面需要對(duì)塑料進(jìn)行低溫沖擊試驗(yàn)，塑料的低溫沖擊試驗(yàn)體現(xiàn)塑料在低溫時(shí)的斷裂趨勢(shì)和裂紋傾向，現(xiàn)有技術(shù)中采用的試驗(yàn)方式大多為把試驗(yàn)的塑料試樣放入低溫裝置內(nèi)若干小時(shí)，然后再取出來進(jìn)行沖擊試驗(yàn)，因溫度對(duì)塑料試驗(yàn)的影響很大，在塑料試樣從低溫裝置內(nèi)取出來 后，其自身溫度會(huì)發(fā)生變化，后續(xù)進(jìn)行的沖擊試驗(yàn)結(jié)果會(huì)受到很大影響，不能正確反映塑料性能。

實(shí)用新型內(nèi)容(一 )要解決的技術(shù)問題本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是如何提高塑料等材料在低溫下進(jìn)行沖擊試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確率。( ニ )技術(shù)方案為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供ー種落球沖擊試驗(yàn)裝置，其包括底座，其上放置測(cè)試樣品；高臺(tái)，位于所述底座上方，其上設(shè)置有電磁鐵和吸附在電磁鐵下方的鋼球；所述高臺(tái)上還設(shè)置有微處理器，所述微處理器與電磁鐵相連，控制電磁鐵開關(guān)的閉合或切斷；所述微處理器上設(shè)置有溫度和時(shí)間監(jiān)控模塊，實(shí)時(shí)監(jiān)控顯示環(huán)境溫度和裝置的累積開啟時(shí)間。其中，所述底座上設(shè)置有垂直于底座的固定桿，所述高臺(tái)安裝在固定桿上。其中，所述固定桿頂端設(shè)置有連桿，所述連桿套設(shè)在固定桿的頂端外部，且所述連桿上設(shè)置有鎖緊栓。其中，所述底座上開設(shè)有凹槽，凹槽上放置測(cè)試樣品，所述凹槽位于鋼球的正下方。其中，所述鋼球直徑為50mm，質(zhì)量為500g。其中，所述底座上安裝阻尼試驗(yàn)臺(tái)架，所述高臺(tái)安裝在所述阻尼試驗(yàn)臺(tái)架頂端。其中，所述阻尼試驗(yàn)臺(tái)架頂端設(shè)置連桿，所述連桿套設(shè)在阻尼試驗(yàn)臺(tái)架的頂端外部，且所述連桿上設(shè)置有鎖緊栓。(三)有益效果上述技術(shù)方案所提供的落球沖擊試驗(yàn)裝置，可直接在低溫箱內(nèi)進(jìn)行落球沖擊試驗(yàn)，通過電磁鐵吸住鋼球，由微處理器中的溫度監(jiān)控模塊監(jiān)測(cè)低溫箱內(nèi)的溫度，當(dāng)達(dá)到所需溫度時(shí)，啟動(dòng)時(shí)間監(jiān)控模塊，進(jìn)行計(jì)時(shí)，時(shí)間達(dá)到后微處理器控制自動(dòng)切斷電磁鐵的電源，放下鋼球，撞擊底座上放置的測(cè)試樣品，可以避免工作人員長(zhǎng)時(shí)間的等待試驗(yàn)過程，以及從低溫箱內(nèi)取出測(cè)試樣品所帯來的溫度變化，能夠使試驗(yàn)結(jié)果更精確。

圖I是本實(shí)用新型實(shí)施例I的落球沖擊試驗(yàn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例2的落球沖擊試驗(yàn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。其中，I:底座；2:凹槽；3:測(cè)試樣品；4:固定桿；5:連桿；6 :微處通器；7 :聞臺(tái)；8 :鋼球；9 :阻尼試驗(yàn)臺(tái)架；10 :鎖緊栓。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
作進(jìn)ー步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型，但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。實(shí)施例I圖I示出了本實(shí)施例中落球沖擊試驗(yàn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，其包括底座I和位于其上方的高臺(tái)7，底座I上用于放置測(cè)試樣品3，高臺(tái)7上設(shè)置有電磁鐵(圖中未示出)和吸附在電磁鐵下方的鋼球8，電磁鐵與設(shè)置在高臺(tái)7上的微處理器6相連，由微處理器6控制電磁鐵開關(guān)的閉合或切斷，微處理器6上還設(shè)置有溫度和時(shí)間監(jiān)控模塊，實(shí)時(shí)監(jiān)控顯示環(huán)境溫度和裝置的累積開啟時(shí)間。具體地，底座I上開設(shè)有ー凹槽2，凹槽2的深度為10mm，直徑為50mm，測(cè)試樣品3放置在凹槽2上，且鋼球8位于凹槽2的正上方。測(cè)試樣品3從需要進(jìn)行沖擊測(cè)試的成品上直接截取或者通過注塑形成的平整的樣品，以真實(shí)地反映實(shí)際成品的抗沖擊能力，測(cè)試樣品3的大小以超過凹槽2四周至少3cm為最佳，即在凹槽2直徑為50mm吋，測(cè)試樣品3的直徑不小于8cm，以盡可能的貼近實(shí)際成品環(huán)境。本實(shí)施例中，底座I上設(shè)置有垂直于底座I的固定桿4，高臺(tái)7安裝在固定桿4上。為了滿足鋼球8在不同高度對(duì)測(cè)試樣品3進(jìn)行沖擊測(cè)試，優(yōu)選在固定桿4頂端設(shè)置連桿5，連桿5套設(shè)在固定桿4的頂端外部，并在連桿5上設(shè)置鎖緊栓10，根據(jù)需要移動(dòng)連桿5，由其帶動(dòng)高臺(tái)7到達(dá)所需要的高度，然后由鎖緊栓10將連桿5的位置鎖定。本實(shí)施例中，鋼球8按照所規(guī)定的沖擊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置為直徑50mm，質(zhì)量500g，以便與測(cè)試樣品相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)材料的抗沖擊力進(jìn)行對(duì)照。使用本實(shí)施例的落球沖擊試驗(yàn)裝置進(jìn)行塑料樣品在低溫環(huán)境下的抗沖擊カ測(cè)試時(shí)，測(cè)試工作流程如下首先，從需要進(jìn)行沖擊測(cè)試的成品上直接截取或者通過注塑形成平整的測(cè)試樣品3，并將測(cè)試樣品3放在底座I上，通過微處理器6設(shè)定溫度和時(shí)間監(jiān)控模塊的監(jiān)控指數(shù)，以便及時(shí)準(zhǔn)確地將鋼球8放下；然后，將試驗(yàn)裝置放入低溫箱，設(shè)定低溫箱的試驗(yàn)溫度和持續(xù)時(shí)間，并關(guān)閉箱門，啟動(dòng)低溫箱；接下來，由微處理器6進(jìn)行自動(dòng)監(jiān)控和顯示，當(dāng)?shù)蜏叵錅囟冗_(dá)到預(yù)設(shè)溫度吋，微處理器6控制時(shí)間監(jiān)控模塊進(jìn)行計(jì)時(shí)，待達(dá)到設(shè)定的持續(xù)時(shí)間后，微處理器6控制自動(dòng)切斷電磁鐵的電源，放下鋼球8，沖擊測(cè)試樣品3，完成試驗(yàn)過程。實(shí)施例2圖2示出了本實(shí)施例中落球沖擊試驗(yàn)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，本實(shí)施例的落球沖擊試驗(yàn)裝置與實(shí)施例I的落球沖擊試驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)相似，其區(qū)別之處在于將實(shí)施例I中的固定桿4替換為阻尼試驗(yàn)臺(tái)架9，將阻尼試驗(yàn)臺(tái)架9安裝在底座I上，將高臺(tái)7安裝在阻尼試驗(yàn)臺(tái)架9頂端，并在阻尼試驗(yàn)臺(tái)架9頂端設(shè)置與實(shí)施例I相同的連桿5，連桿5套設(shè)在阻尼試驗(yàn)臺(tái)架9的頂端外部，且在連桿5上設(shè)置鎖緊栓10，實(shí)現(xiàn)高臺(tái)7的高度可調(diào)。本實(shí)施例的落球沖擊試驗(yàn)裝置，由于采用阻尼試驗(yàn)臺(tái)架9固定高臺(tái)7，可將材料測(cè)試中的阻尼試驗(yàn)與落球沖擊試驗(yàn)集中在一臺(tái)裝置上，節(jié)省成本。由以上實(shí)施例可以看出，本實(shí)用新型實(shí)施例的落球沖擊試驗(yàn)裝置，可直接在低溫箱內(nèi)進(jìn)行落球沖擊試驗(yàn)，通過電磁鐵吸住鋼球，由微處理器中的溫度監(jiān)控模塊監(jiān)測(cè)低溫箱內(nèi)的溫度，當(dāng)達(dá)到所需溫度時(shí)，啟動(dòng)時(shí)間監(jiān)控模塊，進(jìn)行計(jì)時(shí)，時(shí)間達(dá)到后微處理器控制自動(dòng)切斷電磁鐵的電源，放下鋼球，撞擊底座上放置的測(cè)試樣品，可以避免工作人員長(zhǎng)時(shí)間的等待試驗(yàn)過程，以及從低溫箱內(nèi)取出測(cè)試樣品所帯來的溫度變化，能夠使試驗(yàn)結(jié)果更精確。以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和替換，這些改進(jìn)和替換也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.ー種落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，包括底座，其上放置測(cè)試樣品；高臺(tái)，位于所述底座上方，其上設(shè)置有電磁鐵和吸附在電磁鐵下方的鋼球；所述高臺(tái)上還設(shè)置有微處理器，所述微處理器與電磁鐵相連，控制電磁鐵開關(guān)的閉合或切斷；所述微處理器上設(shè)置有溫度和時(shí)間監(jiān)控模塊，實(shí)時(shí)監(jiān)控顯示環(huán)境溫度和裝置的累積開啟時(shí)間。
2.如權(quán)利要求I所述的落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述底座上設(shè)置有垂直于底座的固定桿，所述高臺(tái)安裝在固定桿上。
3.如權(quán)利要求2所述的落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述固定桿頂端設(shè)置有連桿，所述連桿套設(shè)在固定桿的頂端外部，且所述連桿上設(shè)置有鎖緊栓。
4.如權(quán)利要求I所述的落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述底座上開設(shè)有凹槽，凹槽上放置測(cè)試樣品，所述凹槽位于鋼球的正下方。
5.如權(quán)利要求4所述的落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述鋼球直徑為50_，質(zhì)量為500go
6.如權(quán)利要求I所述的落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述底座上安裝阻尼試驗(yàn)臺(tái)架，所述高臺(tái)安裝在所述阻尼試驗(yàn)臺(tái)架頂端。
7.如權(quán)利要求6所述的落球沖擊試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述阻尼試驗(yàn)臺(tái)架頂端設(shè)置連桿，所述連桿套設(shè)在阻尼試驗(yàn)臺(tái)架的頂端外部，且所述連桿上設(shè)置有鎖緊栓。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種落球沖擊試驗(yàn)裝置，包括底座，其上放置測(cè)試樣品；高臺(tái)，位于底座上方，其上設(shè)置有電磁鐵和吸附在電磁鐵下方的鋼球；高臺(tái)上還設(shè)置有微處理器，微處理器與電磁鐵相連，控制電磁鐵開關(guān)的閉合或切斷；微處理器上設(shè)置有溫度和時(shí)間監(jiān)控模塊，實(shí)時(shí)監(jiān)控顯示環(huán)境溫度和裝置的累積開啟時(shí)間。本實(shí)用新型裝置可直接在低溫箱內(nèi)進(jìn)行落球沖擊試驗(yàn)，通過電磁鐵吸住鋼球，由微處理器監(jiān)測(cè)低溫箱內(nèi)的溫度，當(dāng)達(dá)到所需溫度時(shí)，進(jìn)行計(jì)時(shí)，時(shí)間達(dá)到后微處理器控制自動(dòng)切斷電磁鐵的電源，放下鋼球，撞擊底座上放置的測(cè)試樣品，可以避免工作人員長(zhǎng)時(shí)間的等待試驗(yàn)過程，以及從低溫箱內(nèi)取出測(cè)試樣品所帶來的溫度變化，能夠使試驗(yàn)結(jié)果更精確。
文檔編號(hào)G01N3/303GK202453256SQ201120523289
公開日2012年9月26日 申請(qǐng)日期2011年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月14日
發(fā)明者任鵬, 周建, 周鍇, 姚燕, 宋慶源, 汪莉, 王洪杰, 陸子平 申請(qǐng)人:北汽福田汽車股份有限公司