1.一種應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，包括工作臺板，其特征在于，工作臺板上設(shè)有應(yīng)力檢測機(jī)構(gòu)和二次元檢測機(jī)構(gòu)，所述應(yīng)力檢測機(jī)構(gòu)設(shè)置在工作臺板上，對待檢樣品進(jìn)行應(yīng)力檢測，所述二次元檢測機(jī)構(gòu)架設(shè)在所述應(yīng)力檢測機(jī)構(gòu)上方，對待檢樣品進(jìn)行二次元信息檢測。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的應(yīng)力檢測機(jī)構(gòu)包括照明單元、光折射單元、成像單元、圖像處理單元，所述照明單元與所述成像單元位于所述工作臺板下方，所述光折射單元位于所述工作臺板上，供放置待檢樣品，所述照明單元、所述光折射單元與所述成像單元構(gòu)成一條光路，所述光折射單元位于所述照明單元的光發(fā)射方向，所述成像單元位于所述光路后端，所述照明單元發(fā)射出的光入射到光折射單元上的待檢樣品中，經(jīng)全反射之后進(jìn)入所述成像單元成像，所述成像單元連接所述圖像處理單元，所述圖像處理單元對所述成像單元獲得的圖像進(jìn)行計(jì)算處理。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的照明單元包括第一光源和第一光源調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述第一光源調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)是，所述工作臺板下方設(shè)置有固定座和調(diào)節(jié)塊，所述固定座設(shè)置在所述工作臺板下側(cè)上，所述調(diào)節(jié)塊一端經(jīng)銷軸與所述固定座鉸接，所述調(diào)節(jié)塊另一端設(shè)有所述第一光源，所述調(diào)節(jié)塊中部設(shè)有上下貫通的調(diào)節(jié)螺紋孔，所述調(diào)節(jié)螺紋孔內(nèi)設(shè)有調(diào)節(jié)螺桿，所述調(diào)節(jié)螺桿的一端頂靠在所述工作臺板下側(cè)上，所述調(diào)節(jié)螺桿的另一端設(shè)有旋鈕，所述固定座與所述調(diào)節(jié)塊之間設(shè)有復(fù)位彈簧。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的第一光源一端的調(diào)節(jié)塊上設(shè)有直線軸承，所述直線軸承內(nèi)設(shè)有可沿其自由滑動的滑動軸，所述滑動軸上設(shè)有光源固定座，所述光源固定座上設(shè)有至少一個第一光源。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的第一光源為LED陣列光源。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的光折射單元是在所述工作臺板上設(shè)有棱鏡臺，所述棱鏡臺中部設(shè)有上下貫通的棱鏡安裝孔，所述棱鏡安裝孔內(nèi)設(shè)有等腰三棱鏡，所述等腰三棱鏡的底面略凸出于所述棱鏡安裝孔上表面，所述待檢樣品放置在所述等腰三棱鏡的底面上。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的成像單元是沿所述光路方向依次設(shè)置有透鏡組、偏振片和圖像傳感器，所述透鏡組的前端位于所述光折射單元的光射出方向，對所述光折射單元射出的光進(jìn)行匯聚，所述透鏡組的后端設(shè)有偏振片，所述偏振片將所述透鏡組匯聚后的光分離成相對于所述光折射單元與所述待檢樣品的邊界面平行振動和垂直振動的兩種光成分，所述偏振片的后端設(shè)有圖像傳感器，所述圖像傳感器將接收到的光進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，將構(gòu)成圖像的多個像素的逐個亮度值作為數(shù)字圖像數(shù)據(jù)輸出到圖像處理單元。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的二次元檢測機(jī)構(gòu)包括架設(shè)在工作臺板上方的檢測框架，檢測框架上設(shè)有取像單元，所述取像單元位于所述光折射單元上方，所述取像單元連接圖像處理單元。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述取像單元是在所述光折射單元上方設(shè)有多組相機(jī)，所述相機(jī)上設(shè)有同軸光源，所述工作臺板上設(shè)有反射元件，所述光折射單元設(shè)置在所述反射元件上，所述反射元件對所述同軸光源發(fā)射出的光進(jìn)行反射。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的應(yīng)力二次元檢測一體機(jī)，其特征在于，所述的檢測框架上設(shè)有導(dǎo)向桿和導(dǎo)向桿調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，所述導(dǎo)向桿調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)對導(dǎo)向桿的位置進(jìn)行調(diào)節(jié)，所述取向單元設(shè)置在所述導(dǎo)向桿上，所述導(dǎo)向桿沿待檢樣品長邊、短邊方向各設(shè)置一組，所述長邊方向的導(dǎo)向桿上對應(yīng)設(shè)置有三組相機(jī)，所述短邊方向的導(dǎo)向桿上對應(yīng)設(shè)置有兩組相機(jī)。