技術總結
本發(fā)明公開了一種低功率損耗的掃頻阻抗測試系統(tǒng)，包括待測儀器、變壓器、第一采樣電阻、第二采樣電阻及電容，其中，待測儀器的輸出端經變壓器的初級線圈與待測儀器的輸入端相連接，待測儀器的輸出端依次經電容及第一采樣電阻接地，待測儀器的輸入端經第二采樣電阻接地，變壓器的次級線圈的兩端相連接，該測試系統(tǒng)中采樣電阻的損耗較低，并且在高頻段能夠對待測試儀器進行保護。

技術研發(fā)人員：毛辰;段瑋;吳經鋒;張璐;丁彬;尚宇;汲勝昌;任富強
受保護的技術使用者：國網陜西省電力公司電力科學研究院;西安交通大學
文檔號碼：201710115009
技術研發(fā)日：2017.02.28
技術公布日：2017.05.31