本發(fā)明屬于電力測試技術領域，涉及一種低功率損耗的掃頻阻抗測試系統(tǒng)。
背景技術：
掃頻阻抗法是一種新型的變壓器繞組變形檢測方法，它結合了頻率響應法和短路阻抗法的優(yōu)點，不僅能有效監(jiān)測出變壓器繞組變形，降低誤檢率，有效保證電網(wǎng)的運行，而且自身具有更高的信噪比，更好的重復性和再現(xiàn)性。
掃頻阻抗測試系統(tǒng)中有兩個采樣電阻，其中在電壓輸入端的采樣電阻還起到對高頻折反射波引入大地，避免掃頻阻抗測試系統(tǒng)功率放大器受高頻折反射信號的作用而損壞。其次，在掃頻阻抗測試方法中，通過提高系統(tǒng)的輸出電壓來提高系統(tǒng)的信噪比，從而使得測量系統(tǒng)具有較好的穩(wěn)定性和可重復性。但是，提高系統(tǒng)的輸出電壓的一個缺點是電壓輸入端的采樣電阻功耗變大，使得變壓器繞組獲得的功率下降，而且采樣電阻發(fā)熱嚴重，可能會對儀器產(chǎn)生不良后果。因而，采取一定的措施降低電壓輸入端的采樣電阻功耗具有重要的意義。
對于普通配置的計算機而言，通過LabView控制掃頻阻抗測試系統(tǒng)進行一次完整的信號采集需要大約一分鐘的時間，輸出電壓的幅值穩(wěn)定為30V，其頻率范圍為10Hz-1MHz。在不同頻率點，采樣的周期數(shù)是相同的。因而隨著輸出電壓頻率的提高，在該頻率點下采樣的速率會變快。另一方面，由于頻率較低，低頻段電壓的波長較長，電壓波的折反射對于儀器并沒有顯著的影響；而高頻段的電壓波折反射對儀器有一定的損壞。
技術實現(xiàn)要素：
本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術的缺點，提供了一種低功率損耗的掃頻阻抗測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)中采樣電阻的損耗較低，并且在高頻段能夠對待測試儀器進行保護。
為達到上述目的，本發(fā)明所述的低功率損耗的掃頻阻抗測試系統(tǒng)包括待測儀器、變壓器、第一采樣電阻、第二采樣電阻及電容，其中，待測儀器的輸出端經(jīng)變壓器的初級線圈與待測儀器的輸入端相連接，待測儀器的輸出端依次經(jīng)電容及第一采樣電阻接地，待測儀器的輸入端經(jīng)第二采樣電阻接地，變壓器的次級線圈的兩端相連接。
電容的電容值為47pF。
電容的耐壓值為100V。
在測試過程中，第一采樣電阻的功耗P2為：
本發(fā)明具有以下有益效果：
本發(fā)明所述的低功率損耗的掃頻阻抗測試系統(tǒng)在測試過程中，由于待測儀器的輸出端依次經(jīng)電容及第一采樣電阻接地，從而在低頻測試時，通過電容切斷待測儀器與第一采樣電阻的聯(lián)系，使第一采樣電阻與電容組成的串聯(lián)電路不消耗功率，第一采樣電阻不發(fā)熱，從而降低采樣電阻的功率損耗，同時在高頻段測試時，有害的折反射波被電容與第一采樣電阻連接而成的串聯(lián)電路引入大地，從而消除有害折反射波對待測儀器的影響，進而在高頻段測試時有效的保護待測儀器。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的電路原理圖。
1為待測儀器、2為變壓器。
具體實施方式
下面結合附圖對本發(fā)明做進一步詳細描述：
參考圖1，本發(fā)明所述的低功率損耗的掃頻阻抗測試系統(tǒng)包括待測儀器1、變壓器2、第一采樣電阻R1、第二采樣電阻R2及電容C，其中，待測儀器1的輸出端經(jīng)變壓器2的初級線圈與待測儀器1的輸入端相連接，待測儀器1的輸出端依次經(jīng)電容C及第一采樣電阻R1接地，待測儀器1的輸入端經(jīng)第二采樣電阻R2接地，變壓器2的次級線圈的兩端相連接。
電容C的電容值為47pF；電容C的耐壓值為100V，在測試過程中，第一采樣電阻R1的功耗P2為：
電容C的選取依據(jù)：1)電容C具有低阻高通的特點，在頻率較低時，由于電容C和第一采樣電阻R1串聯(lián)，不會有電流流入該支路，因而第一采樣電阻R1不消耗功率；在頻率較高時，折反射波通過電容C與第一采樣電阻R1的串聯(lián)支路將該電壓波引入大地，避免其對待測儀器1的損壞；2)根據(jù)文獻，變壓器2繞組的縱向電容C取值范圍為幾至幾百pF，故取數(shù)量級相同的電容值；3)由于電容值越大，則其容抗值越小，則電流越大，在電壓入口處的第一采樣電阻R1上損耗的功率就越大，因而電容C的電容值要盡量取低；4)最壞的情況為幅值為30V的兩電壓疊加，故其耐壓值要取一定的裕度。