1.一種晶體上轉換發(fā)光特性測量裝置，其特征在于，包括用于激發(fā)樣品(3)發(fā)出上轉換熒光信號的激發(fā)光路(1)，用于放置上述樣品(3)的樣品臺(2)，用于采集樣品(3)的上轉換熒光信號并轉化成熒光光譜數(shù)據(jù)的光譜儀(5)，以及接收熒光光譜數(shù)據(jù)并進行分析對比的計算機(7)；
所述樣品臺(2)呈圓盤狀并可在驅動裝置驅動下繞其自身中心軸旋轉，該樣品臺(2)上設置有至少兩個用于放置樣品(3)的樣品位，且各樣品位均布在樣品臺(2)上并位于同一個以樣品臺(2)的中心為圓心的圓上；
所述激發(fā)光路(1)包括激光器(11)、偏振片(12)以及透鏡(13)，所述激光器(11)的出射激光通過偏振片(12)的正中心后垂直照射在透鏡(13)的正中心，從而聚焦在樣品臺(2)的其中一個樣品(3)上。
2.如權利要求1所述的晶體上轉換發(fā)光特性測量裝置，其特征在于，所述驅動裝置為步進電機(4)。
3.如權利要求1所述的晶體上轉換發(fā)光特性測量裝置，其特征在于，所述樣品臺(2)的底部支撐有可升降的載物臺(6)。
4.一種利用如權利要求1所述的裝置的上轉換發(fā)光特性測量方法，其特征在于包括以下步驟：
(1)打開激光器(11)，使激光器(11)的出射激光通過偏振片(12)的正中心后垂直照射在透鏡(13)的正中心；
(2)在樣品臺(2)上放置至少一個上轉換發(fā)光樣品(3)，并使出射激光垂直照射在其中一個樣品(3)的正中心；
(3)上述樣品(3)在激光照射下發(fā)生上轉換反應，發(fā)出熒光，將光譜儀(5)的光纖探頭(51)固定在待測樣品(3)前合適的位置，測量該樣品(3)的發(fā)光光譜；
(4)將樣品臺(2)旋轉一定角度，使出射激光垂直照射在另一樣品(3)的正中心，按上述步驟(3)測量其發(fā)光光譜；按同樣的步驟測量剩余樣品(3)的發(fā)光光譜；
(5)利用計算機(7)對獲得的發(fā)光光譜數(shù)據(jù)進行分析對比，從而獲得樣品(3)的上轉換發(fā)光特性。
5.如權利要求4所述的上轉換發(fā)光特性測量方法，其特征在于，所述樣品臺(2)通過步進電機(4)驅動，且樣品臺(2)的底部支撐有可升降的載物臺(6)，所述步驟(2)中，通過步進電機(4)驅動樣品臺(2)旋轉并調(diào)節(jié)上述載物臺(6)的高度，以使出射激光垂直照射在其中一個樣品(3)的正中心。