技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種中子閃爍體位敏探測器測試系統(tǒng)，包括脈沖光源模擬裝置、光學(xué)處理模塊、機(jī)械掃描平臺和數(shù)據(jù)獲取模塊，所述脈沖光源模擬裝置輸出脈沖光信號，所述光學(xué)處理模塊將所述脈沖光信號進(jìn)行衰減、偏振、擴(kuò)束處理后，通過一光纖準(zhǔn)直器進(jìn)行準(zhǔn)直處理并固定至所述機(jī)械掃描平臺上，且使所述脈沖光信號照射在待測的中子閃爍體位敏探測器的波移光纖的測試點(diǎn)上，脈沖光信號通過所述波移光纖輸出光子到有多路通道的被測光電倍增管，所述數(shù)據(jù)獲取模塊獲取所述被測光電倍增管的被測信號。本發(fā)明通過脈沖激光模擬中子激發(fā)閃爍體發(fā)出的光源，獲得從波移光纖到光電倍增管各個通道的性能參數(shù)，實現(xiàn)在無放射源環(huán)境中核探測器的檢測和測試。

技術(shù)研發(fā)人員：李儀;滕海云;孫志嘉;唐斌;楊雷;王艷鳳;許虹;趙曉芳;陳平平
受保護(hù)的技術(shù)使用者：東莞理工學(xué)院;東莞中子科學(xué)中心
文檔號碼：201710073862
技術(shù)研發(fā)日：2017.02.10
技術(shù)公布日：2017.05.31