1.一種中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：包括脈沖光源模擬裝置、光學(xué)處理模塊、機(jī)械掃描平臺(tái)和數(shù)據(jù)獲取模塊，所述脈沖光源模擬裝置輸出脈沖光信號(hào)，所述光學(xué)處理模塊將所述脈沖光信號(hào)進(jìn)行衰減、偏振、擴(kuò)束處理后，通過(guò)一光纖準(zhǔn)直器進(jìn)行準(zhǔn)直處理并固定至所述機(jī)械掃描平臺(tái)上，且使所述脈沖光信號(hào)照射在待測(cè)的中子閃爍體位敏探測(cè)器的波移光纖的測(cè)試點(diǎn)上，脈沖光信號(hào)通過(guò)所述波移光纖輸出光子到有多路通道的被測(cè)光電倍增管，所述數(shù)據(jù)獲取模塊獲取所述被測(cè)光電倍增管放大后的被測(cè)信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：還包括參考光電倍增管，所述光學(xué)處理模塊還包括分光器，所述光學(xué)處理模塊將所述脈沖光信號(hào)進(jìn)行衰減、偏振、擴(kuò)束、分光處理以輸出功率相同的兩路脈沖光信號(hào)，一路脈沖光信號(hào)通過(guò)一光纖準(zhǔn)直器固定至所述機(jī)械掃描平臺(tái)上，且使所述脈沖光信號(hào)照射至所述測(cè)試點(diǎn)上，另一路所述脈沖光信號(hào)通過(guò)一光纖準(zhǔn)直器準(zhǔn)直處理后照射至所述參考光電倍增管，所述參考光電倍增管依據(jù)所述脈沖光信號(hào)輸出參考信號(hào)，所述數(shù)據(jù)獲取模塊還獲取所述參考光電倍增管輸出的參考信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述機(jī)械掃描平臺(tái)包括固定臺(tái)和機(jī)械臂，所述固定臺(tái)固定所述光纖準(zhǔn)直器，所述機(jī)械臂帶動(dòng)所述固定臺(tái)在相互垂直的兩方向上移動(dòng)以使所述脈沖光信號(hào)照射至所述測(cè)試點(diǎn)上。
4.如權(quán)利要求1、2所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：所述數(shù)據(jù)獲取模塊將獲取的信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)后進(jìn)行放大、濾波成形、甄別、觸發(fā)、計(jì)數(shù)處理后上傳到上位計(jì)算機(jī)，并獲得、記錄對(duì)應(yīng)讀出通道的響應(yīng)。
5.如權(quán)利要求4所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：還包括控制模塊，所述控制模塊分別與所述機(jī)械掃描平臺(tái)、脈沖光源模擬裝置以及數(shù)據(jù)獲取模塊相連，并協(xié)調(diào)、控制所述機(jī)械掃描平臺(tái)、脈沖光源模擬裝置及數(shù)據(jù)獲取模塊的動(dòng)作。
6.如權(quán)利要求1所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于：傳輸所述脈沖光信號(hào)的光纖為多模光纖，且所述光學(xué)處理模塊和所述光纖準(zhǔn)直器之間的多模光纖安裝于一光纖彎曲消模裝置上，所述光纖彎曲消模裝置包括環(huán)形的內(nèi)盤繞模具、以一定間距環(huán)繞于所述內(nèi)盤繞模具上的外盤繞模具，所述外盤繞模具上開(kāi)設(shè)有通孔，所述多模光纖纏繞于所述內(nèi)盤繞模具后穿過(guò)所述通孔纏繞于所述外盤繞模具上，以使所述多模光纖形成纏繞于所述內(nèi)盤繞模具上的小半徑盤繞部分和纏繞于所述外盤繞模具的大半徑盤繞部分。
7.一種中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試方法，其特征在于：使用激光器輸出穩(wěn)定的脈沖光信號(hào)，將所述脈沖光信號(hào)進(jìn)行衰減、偏振、擴(kuò)束、準(zhǔn)直處理后，固定照射至待測(cè)的中子閃爍體位敏探測(cè)器的波移光纖的測(cè)試點(diǎn)上，脈沖光信號(hào)通過(guò)所述波移光纖輸出光子到有多路通道的被測(cè)光電倍增管，獲取所述被測(cè)光電倍增管的被測(cè)信號(hào)。
8.如權(quán)利要求7所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試方法，其特征在于：將所述脈沖光信號(hào)進(jìn)行準(zhǔn)直處理前還進(jìn)行分光處理以輸出功率相同的兩路脈沖光信號(hào)，一路脈沖光信號(hào)經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直處理后照射至所述測(cè)試點(diǎn)上，另一路所述脈沖光信號(hào)經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直處理后照射至一參考光電倍增管上，所述參考光電倍增管依據(jù)所述脈沖光信號(hào)輸出參考信號(hào)，獲取所述參考信號(hào)。
9.如權(quán)利要求7、8所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試方法，其特征在于：將獲取的信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)后進(jìn)行放大、濾波成形、甄別、觸發(fā)、計(jì)數(shù)處理后上傳到上位計(jì)算機(jī)，并獲得、記錄對(duì)應(yīng)讀出通道的響應(yīng)。
10.如權(quán)利要求7所述的中子閃爍體位敏探測(cè)器測(cè)試方法，其特征在于：傳輸所述脈沖光信號(hào)的光纖為多模光纖，將所述脈沖光信號(hào)進(jìn)行準(zhǔn)直處理前還進(jìn)行消模處理，消模處理的步驟包括；將所述多模光纖分為相連的前半部分和后半部分，將所述多模光纖的前半部分彎曲纏繞形成一環(huán)形的第一盤繞部分，將所述多模光纖的前半部分彎曲纏繞形成一環(huán)形的第二盤繞部分，所述第二盤繞部分的半徑大于所述第一盤繞部分的半徑，以使所述第二盤繞部分為大半徑盤繞部分，所述第一盤繞部分為小半徑盤繞部分，脈沖光信號(hào)耦合進(jìn)所述多模光纖后，經(jīng)所述小半徑盤繞部分衰減所述脈沖光信號(hào)中的高次模成分并激發(fā)彎曲傳輸模后輸送至大半徑盤繞部分，在經(jīng)過(guò)所述大半徑盤繞部分過(guò)濾所述彎曲傳輸模以形成彎曲消模后的脈沖光信號(hào)。