技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種脈沖寬度調(diào)制器抗輻照能力無損篩選方法及裝置，方法包括：獲取作為隨機(jī)子樣的脈沖寬度調(diào)制器輻照前的輸出占空比和15Hz噪聲點頻值；獲取作為隨機(jī)子樣的脈沖寬度調(diào)制器經(jīng)過輻照后的輸入灌電流；以輸出占空比和15Hz噪聲點頻值作為信息參數(shù)，以輸入灌電流作為輻照性能參數(shù)，建立多元線性回歸方程，并計算線性回歸方程中的系數(shù)向量；基于系數(shù)向量，建立所述信息參數(shù)和輻照性能參數(shù)之間的無損篩選回歸預(yù)測方程；利用無損篩選回歸預(yù)測方程，預(yù)測單個脈沖寬度調(diào)制器的抗輻照性能，對同批其他脈沖寬度調(diào)制器進(jìn)行篩選。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在對脈沖寬度調(diào)制器無損壞的前提下，進(jìn)行對元器件準(zhǔn)確、高效的抗輻照能力的測試篩選。

技術(shù)研發(fā)人員：石強(qiáng);李兆成
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市量為科技有限公司
文檔號碼：201710063088
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.19
技術(shù)公布日：2017.06.13