本發(fā)明涉及安全檢測(cè)技術(shù)，尤其涉及一種探測(cè)方法與裝置。

背景技術(shù)：

目前，很多場(chǎng)所使用射線對(duì)貨物進(jìn)行安全檢查或者對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部探傷。這主要是利用了加速器和X安檢儀在不同物質(zhì)上的穿透率不同，而衰減率不同來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

目前X射線透射成像技術(shù)，測(cè)量的是穿過(guò)被檢測(cè)對(duì)象的X光子數(shù)目，X光被吸收的幾率反映了被檢測(cè)物質(zhì)的密度信息。透射成像技術(shù)的檢測(cè)方法是通過(guò)工作人員對(duì)被檢測(cè)物質(zhì)形狀和密度信息的解釋來(lái)進(jìn)行的。即現(xiàn)有技術(shù)是使用固定能量的X射線持續(xù)照射待檢測(cè)對(duì)象體，獲得待檢測(cè)對(duì)象體的照射圖像，由于不同的待檢測(cè)對(duì)象體的X射線的穿透率不相同，根據(jù)待檢測(cè)對(duì)象體的照射圖像即可獲得待檢測(cè)對(duì)象體的材質(zhì)等信息。

但是，現(xiàn)有技術(shù)在檢測(cè)過(guò)程中使用的射線裝置在最大能量下持續(xù)曝光，其對(duì)周圍環(huán)境的輻射比較嚴(yán)重，有可能造成安全事故。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種探測(cè)方法與裝置，用于解決現(xiàn)有的探測(cè)裝置在輻射檢測(cè)過(guò)程中射線對(duì)周圍環(huán)境的輻射量大的問(wèn)題。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種探測(cè)方法，包括：

調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率；

根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像，所述待檢測(cè)對(duì)象包括至少一個(gè)檢測(cè)范圍；

根據(jù)每個(gè)所述第一圖像，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。

在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，具體包括：

根據(jù)所述待檢測(cè)對(duì)象的體積，確定所述射線的單次照射范圍；

根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)動(dòng)速度，確定所述射線的照射頻率。

在第一方面的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述方法還包括：

判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件；

若否，將所述第一圖像中不符合所述預(yù)設(shè)條件的部分作為新的照射范圍；

根據(jù)所述預(yù)設(shè)條件調(diào)整所述射線的照射能量，獲得新的照射能量；

采用所述新的照射能量照射所述新的照射范圍，獲得新的第一圖像。

在第一方面的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述預(yù)設(shè)條件包括目標(biāo)陰影面積，判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件，具體包括：

解析所述第一圖像，獲取所述第一圖像的陰影面積；

判斷所述第一圖像的陰影面積是否小于或等于目標(biāo)陰影面積。

在第一方面的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，探測(cè)裝置為安檢儀，所述調(diào)整射線的單次照射范圍，具體可以包括：

調(diào)整所述安檢儀中的電荷耦合元件CCD的排列方式，確定所述射線的單次照射范圍。

第二方面，本發(fā)明提供一種探測(cè)裝置，包括：

調(diào)整模塊，用于調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率；

檢測(cè)獲取模塊，用于根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像；

獲取模塊，用于根據(jù)每個(gè)所述第一圖像，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。

在第二方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述調(diào)整模塊，具體用于根據(jù)所述待檢測(cè)對(duì)象的體積，確定所述射線的單次照射范圍，并根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)動(dòng)速度，確定所述射線的照射頻率。

在第二方面的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述裝置還包括：判斷模塊，所述判斷模塊，用于判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件；

所述檢測(cè)獲取模塊，還用于在所述判斷模塊判斷所述第一圖像不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，將所述第一圖像中不符合預(yù)設(shè)條件的部分作為新的照射范圍，并根據(jù)所述預(yù)設(shè)條件調(diào)整所述射線的照射能量，獲取新的照射能量，采用所述新的照射能量照射所述新的照射范圍，獲得新的第一圖像。

在第二方面的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述判斷模塊包括解析單元和判斷單元：

所述解析單元，用于解析所述第一圖像，獲取所述第一圖像的陰影面積；

所述判斷單元，用于判斷所述第一圖像的陰影面積是否小于或等于目標(biāo)陰影面積。

在第二方面的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述探測(cè)裝置為安檢儀，所述調(diào)整模塊，還用于調(diào)整所述安檢儀中的電荷耦合元件CCD的排列方式，確定所述射線的單次照射范圍。

本發(fā)明提供的探測(cè)方法與裝置，探測(cè)裝置調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像，根據(jù)每個(gè)所述第一圖像，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。即本實(shí)施例的方法實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的間歇照射，防止持續(xù)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射造成的輻射量大的問(wèn)題。在輻射檢查時(shí)，首先使用較低能量的射線或中子來(lái)進(jìn)行曝光和成像；如果在成像結(jié)果中，發(fā)現(xiàn)存在低能量的射線或中子未能穿透被測(cè)物體而產(chǎn)生的陰影，再使用更高能量的射線或中子進(jìn)行曝光。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明提供的探測(cè)方法實(shí)施例一的流程示意圖；

圖2為本發(fā)明提供的探測(cè)方法實(shí)施例二的流程示意圖；

圖3為本發(fā)明提供的探測(cè)方法實(shí)施例三的流程示意圖；

圖4為本發(fā)明提供的探測(cè)裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明提供的探測(cè)裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6為本發(fā)明提供的探測(cè)裝置實(shí)施例三的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明提供的探測(cè)方法與裝置，用于解決現(xiàn)有的探測(cè)裝置在輻射檢測(cè)過(guò)程中射線對(duì)周圍環(huán)境的輻射量大的問(wèn)題。

本發(fā)明的技術(shù)方案，通過(guò)調(diào)整射線的單次照射范圍和射線的照射頻率，并根據(jù)射線的單次照射范圍和射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得待檢測(cè)對(duì)象的每個(gè)檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像，再根據(jù)第一圖像，獲得待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的間歇性照射，降低了輻射檢測(cè)的輻射量，從而提高了輻射檢測(cè)的安全性。

需要說(shuō)明的是，本文中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對(duì)重要性。

下面以具體地實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。下面這幾個(gè)具體的實(shí)施例可以相互結(jié)合，對(duì)于相同或相似的概念或過(guò)程可能在某些實(shí)施例不再贅述。

圖1為本發(fā)明提供的探測(cè)方法實(shí)施例一的流程示意圖。本實(shí)施例的執(zhí)行主體是具有輻射檢測(cè)功能的探測(cè)裝置，例如安檢儀。本實(shí)施例涉及的是探測(cè)裝置調(diào)整射線的單次照射范圍和射線的照射頻率，并使用該射線的照射范圍和照射頻率對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行間歇照射獲得目標(biāo)照射圖像的具體過(guò)程。如圖1所示，本實(shí)施例的方法可以包括：

S101、調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率。

具體的，探測(cè)裝置調(diào)整射線的照射范圍具體可以是增大射線的一次照射范圍?？蛇x的，探測(cè)裝置根據(jù)待檢測(cè)對(duì)象的體積和待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)行速度，調(diào)整射線的一次照射范圍和射線的照射頻率?？蛇x的，還可以期望檢測(cè)時(shí)間和待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)行速度，調(diào)整射線的一次照射范圍和照射頻率?？蛇x的，還可以根據(jù)待檢測(cè)對(duì)象預(yù)設(shè)的檢測(cè)范圍確定射線的照射范圍，例如射線的單次照射范圍等于檢測(cè)范圍。

探測(cè)裝置可以通過(guò)調(diào)節(jié)準(zhǔn)直器的射線出口大小，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)射線的照射范圍的調(diào)節(jié)。在本實(shí)施例中，探測(cè)裝置優(yōu)選的使用恰當(dāng)?shù)恼丈浞秶鷣?lái)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行輻射檢測(cè)。

在本實(shí)施例中當(dāng)待檢測(cè)對(duì)象的尺寸較小時(shí)，探測(cè)裝置可以將射線的照射范圍的大小調(diào)整成與待檢測(cè)對(duì)象的體積相等，使得對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行一次輻射檢測(cè)即可，避免對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行連續(xù)性輻射造成的檢測(cè)輻射量大的問(wèn)題。

可選的，在本實(shí)施例的探測(cè)裝置可以為安檢儀時(shí)，本實(shí)施例的方法還可以通過(guò)調(diào)整安檢儀中的電荷耦合元件(Charge Coupled Device，簡(jiǎn)稱CCD)的排列方式，確定所述射線的單次照射范圍。例如，為了改變射線的照射范圍，本實(shí)施例可以在安檢儀出廠時(shí)，將現(xiàn)有的線性排列的CCD設(shè)置成具有一定寬度的整面的CCD，以調(diào)整射線的照射范圍。

本實(shí)施例的方法，通過(guò)調(diào)整射線的一次照射的照射范圍，使得射線在一次照射時(shí)可以照射到待檢測(cè)對(duì)象的較多體積，進(jìn)而避免了現(xiàn)有技術(shù)持續(xù)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行輻射檢測(cè)，造成對(duì)周圍環(huán)境輻射量大的問(wèn)題。

S102、根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像，所述待檢測(cè)對(duì)象包括至少一個(gè)檢測(cè)范圍。

具體的，探測(cè)裝置使用當(dāng)前照射范圍和照射頻率的射線對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像。例如，貨車車廂長(zhǎng)10m、高3m，射線的單次照射范圍為長(zhǎng)5m高3m，單次曝光的時(shí)間長(zhǎng)為1/60s，即該貨車的檢測(cè)范圍為長(zhǎng)5m高3m，假設(shè)貨車的運(yùn)行速度為5m/min，此時(shí)貨車的檢測(cè)范圍為兩個(gè)，在第0.5min時(shí)貨車的第一檢測(cè)范圍的中點(diǎn)正對(duì)著探測(cè)裝置，在該時(shí)刻探測(cè)裝置采用上述照射能量的射線對(duì)第一檢測(cè)范圍進(jìn)行一次照射，獲得第一圖像A。接著，射線發(fā)生裝置關(guān)閉，在第1.5min時(shí)第二個(gè)檢測(cè)范圍的中點(diǎn)正對(duì)探測(cè)裝置，在該時(shí)刻探測(cè)裝置的射線發(fā)生裝置開啟對(duì)第二檢測(cè)范圍進(jìn)行一次照射，獲得第一圖像B，然后射線發(fā)生裝置再關(guān)閉。由此可知，使用本實(shí)施例的方法，只需要貨車進(jìn)行兩次間歇性照射即可完成對(duì)貨車的輻射檢測(cè)，其避免了連續(xù)對(duì)貨車進(jìn)行照射造成的輻射量大得問(wèn)題。優(yōu)選地，在設(shè)置檢測(cè)范圍時(shí)，所獲得的相鄰兩個(gè)第一圖像的內(nèi)容可以存在重疊的部分，以避免漏檢的情況發(fā)生。

S103、根據(jù)每個(gè)所述第一圖像，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。

具體的，探測(cè)裝置根據(jù)上述確定的待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像，獲得待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。可選的，可以將每個(gè)第一圖像按照順序合成，獲得待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。參照上述例子，可以將第一圖像A和第一圖像B進(jìn)行合成，獲得待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。

本發(fā)明提供的探測(cè)方法，探測(cè)裝置調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像，根據(jù)每個(gè)所述第一圖像，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。即本實(shí)施例的方法實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的間歇照射，防止持續(xù)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射造成的輻射量大的問(wèn)題。

圖2為本發(fā)明提供的探測(cè)方法實(shí)施例二的流程示意圖。在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例涉及的是探測(cè)裝置調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率的具體過(guò)程。即上述S101具體可以包括：

S201、根據(jù)所述待檢測(cè)對(duì)象的體積，確定所述射線的單次照射范圍。

具體的，探測(cè)裝置獲得待檢測(cè)對(duì)象的體積，其具體方法可以是探測(cè)裝置對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行射線掃描或其它非射線掃描(例如紅外掃描或可見光掃描)獲得待檢測(cè)對(duì)象的體積；可選的，還可以是用戶直接將待檢測(cè)對(duì)象的體積輸入到探測(cè)裝置中；可選的，還可以是探測(cè)裝置從待檢測(cè)對(duì)象的相關(guān)資料中獲取待檢測(cè)對(duì)象的體積。需要說(shuō)明的是，上述探測(cè)裝置通過(guò)掃描的方式獲得待檢測(cè)對(duì)象體積的方法所使用的射線的劑量較小或無(wú)。

接著，探測(cè)裝置根據(jù)待檢測(cè)對(duì)象的體積，確定射線對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行一次照射的照射范圍。

S202、根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)動(dòng)速度，確定所述射線的照射頻率。

具體的，探測(cè)裝置根據(jù)射線的單次照射范圍和待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)行速度，確定射線的照射頻率。例如，射線的照射頻率等于射線的單次照射范圍的長(zhǎng)度除以待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)行速度，即射線的照射頻率等于待檢測(cè)對(duì)象通過(guò)一個(gè)照射范圍所用的時(shí)間。可選的，還可以使得射線的照射頻率小于待檢測(cè)對(duì)象通過(guò)一個(gè)照射范圍所用的時(shí)間，進(jìn)而避免對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)范圍漏檢的情況發(fā)生。

本發(fā)明提供的探測(cè)方法，探測(cè)裝置通過(guò)根據(jù)待檢測(cè)對(duì)象的體積和運(yùn)行速度確定射線的單次照射范圍和射線的照射頻率，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了對(duì)射線的單次照射范圍的射線和照射頻率的準(zhǔn)確確定。

圖3為本發(fā)明提供的探測(cè)方法實(shí)施例三的流程示意圖。在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例的探測(cè)方法可以包括：

S301、判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件。

具體的，探測(cè)裝置將上述步驟獲得的當(dāng)前待檢測(cè)范圍的第一圖像與預(yù)設(shè)條件進(jìn)行比較，判斷該當(dāng)前待檢測(cè)范圍的第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件?？蛇x的，本實(shí)施例的預(yù)設(shè)條件可以是圖像的清晰度或者圖像的陰影面積；可選的，預(yù)設(shè)條件還可以是生成第一圖像的射線的輻射量等，本實(shí)施例對(duì)預(yù)設(shè)條件的類型不做限制，具體根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定。

S302、若否，將所述第一圖像中不符合所述預(yù)設(shè)條件的部分作為新的照射范圍。

S303、根據(jù)所述預(yù)設(shè)條件調(diào)整所述射線的照射能量，獲得新的照射能量。

S304、采用所述新的照射能量照射所述新的照射范圍，獲得新的第一圖像。

具體的，根據(jù)上述步驟，判斷當(dāng)前待檢測(cè)范圍的第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件，若是，則說(shuō)明獲得第一圖像的射線的照射能量滿足要求，可以使用該照射能量的射線照射待檢測(cè)對(duì)象的其他待檢測(cè)范圍。如果探測(cè)裝置判斷第一圖像不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，則需要根據(jù)預(yù)設(shè)條件來(lái)確定射線的新的照射能量。具體為將第一圖像中不符合預(yù)設(shè)條件的部分作為新的照射范圍，同時(shí)根據(jù)預(yù)設(shè)條件調(diào)整射線的照射能量，進(jìn)而獲得新的照射范圍。接著，探測(cè)裝置采用新的照射能量照射新的照射范圍，獲得新的第一圖像。進(jìn)一步的，探測(cè)裝置還可以判斷新的第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件，若否，則繼續(xù)調(diào)整射線的照射能量，直到新的第一圖像滿足預(yù)設(shè)條件為止。

例如，如果在成像結(jié)果中，發(fā)現(xiàn)存在低能量的射線或中子未能穿透被測(cè)物體而產(chǎn)生的陰影，再使用更高能量的射線或中子進(jìn)行曝光，以避免因之前使用低能量的射線或中子進(jìn)行曝光而導(dǎo)致無(wú)法獲得測(cè)物體的完整影像；若仍無(wú)法獲得清晰影像，還可以考慮繼續(xù)增加射線或中子的能量進(jìn)行下一次曝光，這一步驟可以一直重復(fù)至獲得清晰的圖像為止?？蛇x的，探測(cè)裝置還可以只對(duì)第一圖像中的不清楚的地方進(jìn)行局部照射，進(jìn)而降低整體照射的輻射量。

在本實(shí)施例的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，當(dāng)預(yù)設(shè)條件包括目標(biāo)陰影面積時(shí)，探測(cè)裝置判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件的具體過(guò)程可以如下所述，即上述S301具體可以包括：

S3011、解析所述第一圖像，獲取所述第一圖像的陰影面積。

S3012、判斷所述第一圖像的陰影面積是否小于或等于目標(biāo)陰影面積。

具體的，當(dāng)本實(shí)施例的預(yù)設(shè)條件為目標(biāo)陰影面積時(shí)，則上述探測(cè)裝置解析當(dāng)前待檢測(cè)范圍的第一圖像的陰影面積，判斷該第一圖像的陰影面積是否大于或等于目標(biāo)陰影面積。若是，則使用該第一圖像對(duì)應(yīng)的射線的照射強(qiáng)度照射待檢測(cè)對(duì)象的其余待檢測(cè)范圍。若否，則根據(jù)該目標(biāo)陰影面積調(diào)整射線的照射能量。例如，當(dāng)?shù)谝粓D像的清晰度低于目標(biāo)陰影面積時(shí)，探測(cè)裝置根據(jù)目標(biāo)陰影面積將射線的照射能量增大，使得新的照射能量的射線可以獲得滿足目標(biāo)陰影面積的第一圖像。當(dāng)?shù)谝粓D像的清晰度高于目標(biāo)清晰度時(shí)，探測(cè)裝置根據(jù)目標(biāo)陰影面積降低射線的照射能量，以降低對(duì)輻射監(jiān)測(cè)的輻射量。

本實(shí)施例的探測(cè)裝置可以將當(dāng)前待檢測(cè)范圍的第一圖像與下一個(gè)待檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像進(jìn)行拼接，獲得待檢測(cè)對(duì)象的整幅檢測(cè)圖像。

本發(fā)明提供的探測(cè)方法，通過(guò)判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件，若否，根據(jù)所述預(yù)設(shè)條件調(diào)整所述射線的照射能量，獲得新的照射能量，并采用所述新的照射能量照射所述檢測(cè)范圍，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)射線的照射能量的精確確定，保證第一圖像滿足預(yù)設(shè)條件的前提下，進(jìn)一步降低了射線的照射能量。

圖4為本發(fā)明提供的探測(cè)裝置實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。該裝置可以通過(guò)軟件、硬件或者軟硬結(jié)合的方式實(shí)現(xiàn)成為探測(cè)系統(tǒng)的部分或者全部。本實(shí)施例的探測(cè)裝置可以包括：

調(diào)整模塊10，用于調(diào)整射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率。

檢測(cè)獲取模塊20，用于根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述射線的照射頻率，對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行照射，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的不同檢測(cè)范圍對(duì)應(yīng)的第一圖像。

獲取模塊30，用于根據(jù)每個(gè)所述第一圖像，獲得所述待檢測(cè)對(duì)象的目標(biāo)照射圖像。

本實(shí)施例的裝置，可以用于執(zhí)行上述所示方法實(shí)施例的技術(shù)方案，其實(shí)現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似，此處不再贅述。

在本發(fā)明的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述調(diào)整模塊10，具體用于根據(jù)所述待檢測(cè)對(duì)象的體積，確定所述射線的單次照射范圍，并根據(jù)所述射線的單次照射范圍和所述待檢測(cè)對(duì)象的運(yùn)動(dòng)速度，確定所述射線的照射頻率。

在本發(fā)明的另一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，當(dāng)上述探測(cè)裝置為安檢儀，則上述調(diào)整模塊10，還用于調(diào)整所述安檢儀中的電荷耦合元件CCD的排列方式，確定所述射線的單次照射范圍。

圖5為本發(fā)明提供的探測(cè)裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述裝置還包括：判斷模塊40。

所述判斷模塊40，用于判斷所述第一圖像是否滿足預(yù)設(shè)條件；

所述檢測(cè)獲取模塊20，還用于在所述判斷模塊40判斷所述第一圖像不滿足預(yù)設(shè)條件時(shí)，將所述第一圖像中不符合預(yù)設(shè)條件的部分作為新的照射范圍，并根據(jù)所述預(yù)設(shè)條件調(diào)整所述射線的照射能量，獲取新的照射能量，采用所述新的照射能量照射所述新的照射范圍，獲得新的第一圖像。

本實(shí)施例的裝置，可以用于執(zhí)行上述所示方法實(shí)施例的技術(shù)方案，其實(shí)現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似，此處不再贅述。

圖6為本發(fā)明提供的探測(cè)裝置實(shí)施例三的結(jié)構(gòu)示意圖，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例的判斷模塊40包括解析單元401和判斷單元402：

所述解析單元401，用于解析所述第一圖像，獲取所述第一圖像的陰影面積；

所述判斷單元402，用于判斷所述第一圖像的陰影面積是否小于或等于目標(biāo)陰影面積。

本實(shí)施例的裝置，可以用于執(zhí)行上述所示方法實(shí)施例的技術(shù)方案，其實(shí)現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似，此處不再贅述。

最后應(yīng)說(shuō)明的是：以上各實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。