本發(fā)明涉及貴金屬檢測技術(shù)領域，具體涉及一種基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法。

背景技術(shù)：

“3D硬金”是珠寶首飾行業(yè)中的新品種，相較于傳統(tǒng)的足金，既有足金的高成色，又具有很高的表面硬度，非常受消費者的喜愛。目前，市場上3D硬金的內(nèi)部結(jié)構(gòu)多為薄壁中空，金含量為999‰，其生產(chǎn)方式主要包括電鑄法和熔金冶煉法兩種，在生產(chǎn)工藝中具有模具刷銀的步驟，因而對于成品內(nèi)層除銀是否干凈需要進行探究，即需要對產(chǎn)品金含量進行檢測，目前檢驗檢測機構(gòu)普遍使用的是X射線熒光光譜法與化學法。但是，本發(fā)明的發(fā)明人經(jīng)過研究發(fā)現(xiàn)，前一種方法僅對3D硬金表層部分的金屬含量進行檢測，而未對其內(nèi)空處是否有銀殘留進行檢測；后一種方法則是完全有損的檢測，將樣品溶解后進行含量測定，這樣就加大了樣品的損失，即不管樣品內(nèi)部是否存在缺陷，均會消耗樣品。

因此，針對現(xiàn)有3D硬金飾品缺陷檢測的不足，有必要找到一種簡易的初篩方法，能剝離出可疑的缺陷樣品，從而有針對性的進行化學法金含量確定，這樣則降低了樣品材料消耗成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的發(fā)明人經(jīng)過研究發(fā)現(xiàn)，X射線具有圖像對比度高、檢測速度快、能區(qū)分具有一定密度差值材料的功能，因而當密度不同的樣品，在相同的X射線測試條件下，能夠得到不同的圖像灰度值，對于金、銀(含量均達到999‰)樣品，其密度差別為8.83g/cm³，因而在相同條件下其圖像灰度值存在顯著差別，若飾品內(nèi)層含銀，其圖像灰度值較相同厚度足金產(chǎn)品圖像灰度值會偏大，因此可用于飾品內(nèi)部缺陷的篩查。

據(jù)此，針對現(xiàn)有技術(shù)存在的X射線熒光光譜法只能檢測3D硬金飾品表層金含量，而化學法則有損耗材的技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案：

一種基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法，包括以下步驟：

S1、準備厚度不同的多種3D硬金樣品，采用X射線透視儀對樣品分別進行X射線測試，得到在相同測試條件下不同厚度樣品所對應的圖像灰度值，依據(jù)所述圖像灰度值與厚度的對應關(guān)系建立線性函數(shù)；

S2、測量待測3D硬金飾品的實際厚度，并通過X射線透視儀測量得到待測3D硬金飾品的實際圖像灰度值；

S3、根據(jù)所述步驟S1中圖像灰度值與厚度的對應線性函數(shù)關(guān)系，計算出在實際厚度值下所對應的參考圖像灰度值；

S4、將待測3D硬金飾品的實際圖像灰度值與參考圖像灰度值進行比較，若小于等于5‰，則待測3D硬金飾品的金含量合格；若大于5‰，則待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法，首先建立已知足金層厚度與X射線圖像灰度值的線性函數(shù)關(guān)系，將線性函數(shù)關(guān)系中的圖像灰度值作為參考圖像灰度值，然后分別測量出待測3D硬金飾品的厚度和實際圖像灰度值，并根據(jù)待測3D硬金飾品的厚度計算出在線性函數(shù)關(guān)系中所對應的參考圖像灰度值，最后比較待測3D硬金飾品的實際圖像灰度值和參考圖像灰度值的相對差值，若相對差值小于等于5‰則待測3D硬金飾品的金含量合格，即產(chǎn)品的金含量達到999‰，若相對差值大于5‰則待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品，即認為產(chǎn)品內(nèi)部存在缺陷。因此，利用本發(fā)明提供的方法能對3D硬金飾品內(nèi)部是否含銀進行初篩，避免了所有產(chǎn)品均進行有損耗材的弊端，具有簡便、快速、高效、無損和低成本的特點，拓展了X射線在貴金屬檢測領域的應用。

進一步，所述步驟S1中準備了四種材質(zhì)均一、厚度分別為0.081mm、0.125mm、0.142mm和0.183mm的3D硬金樣品。

進一步，所述步驟S2中采用千分尺測量待測3D硬金飾品的實際厚度。

進一步，所述步驟S2中采用工作電壓為30～100KV、工作電流為30～100mA、焦距和放大倍率可調(diào)的X射線透視儀。

進一步，所述步驟S4中當確定待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品后，還包括采用化學法進行金含量確定的步驟。

附圖說明

圖1是本發(fā)明提供的基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法流程示意圖。

圖2a是本發(fā)明實施例提供的厚度為0.081mm 3D硬金飾品對應的圖像灰度示意圖。

圖2b是本發(fā)明實施例提供的厚度為0.125mm 3D硬金飾品對應的圖像灰度示意圖。

圖2c是本發(fā)明實施例提供的厚度為0.142mm 3D硬金飾品對應的圖像灰度示意圖。

圖2d是本發(fā)明實施例提供的厚度為0.183mm 3D硬金飾品對應的圖像灰度示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示，進一步闡述本發(fā)明。

在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術(shù)語“縱向”、“徑向”、“長度”、“寬度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。在本發(fā)明的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。

在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

請參考圖1所示，本發(fā)明提供一種基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法，包括以下步驟：

S1、準備厚度不同的多種3D硬金樣品，采用X射線透視儀對樣品分別進行X射線測試，得到在相同測試條件下不同厚度樣品所對應的圖像灰度值，依據(jù)所述圖像灰度值與厚度的對應關(guān)系建立線性函數(shù)，即依據(jù)所得圖像灰度值與對應的厚度得到相應的線性關(guān)系，根據(jù)Beer定理，推導出厚度與圖像灰度值的函數(shù)關(guān)系，并以此作為實際產(chǎn)品檢測中特定厚度的參考圖像灰度值；

S2、測量待測3D硬金飾品的實際厚度，并通過X射線透視儀測量得到待測3D硬金飾品的實際圖像灰度值，其中采用X射線透視儀測量產(chǎn)品的實際圖像灰度值的方法為本領域技術(shù)人員所熟知，在此不再贅述；

S3、根據(jù)所述步驟S1中圖像灰度值與厚度的對應線性函數(shù)關(guān)系，計算出在實際厚度值下所對應的參考圖像灰度值，即將測量的實際厚度值代入到線性函數(shù)關(guān)系中，求出在待測產(chǎn)品實際厚度下對應的參考圖像灰度值；

S4、將待測3D硬金飾品的實際圖像灰度值與參考圖像灰度值進行比較，若小于等于5‰，則待測3D硬金飾品的金含量合格，即待測產(chǎn)品無缺陷；若大于5‰，則待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品，即表示產(chǎn)品內(nèi)部含銀，內(nèi)層除銀沒有除干凈，因而產(chǎn)品內(nèi)部存在缺陷；其中，本發(fā)明中區(qū)分可疑缺陷產(chǎn)品與合格產(chǎn)品的臨界值5‰，是建立在多次X射線透射掃描儀檢測結(jié)果與化學法檢測結(jié)果相互驗證的基礎上的，即當參考圖像灰度值與實際圖像灰度值的相對差值小于等于5‰時，用化學法測試產(chǎn)品的金含量均能達到999‰，產(chǎn)品內(nèi)部無缺陷；當參考圖像灰度值與實際圖像灰度值的相對差值大于5‰時，用化學法測試產(chǎn)品的金含量不能達到999‰，樣品內(nèi)部金含量存在缺陷，證明篩選方法真實可行。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的基于X射線檢測3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法，首先建立已知足金層厚度與X射線圖像灰度值的線性函數(shù)關(guān)系，將線性函數(shù)關(guān)系中的圖像灰度值作為參考圖像灰度值，然后分別測量出待測3D硬金飾品的厚度和實際圖像灰度值，并根據(jù)待測3D硬金飾品的厚度計算出在線性函數(shù)關(guān)系中所對應的參考圖像灰度值，最后比較待測3D硬金飾品的實際圖像灰度值和參考圖像灰度值的相對差值，若相對差值小于等于5‰則待測3D硬金飾品的金含量合格，即產(chǎn)品的金含量達到999‰，若相對差值大于5‰則待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品，即認為產(chǎn)品內(nèi)部存在缺陷。因此，利用本發(fā)明提供的方法能對3D硬金飾品內(nèi)部是否含銀進行初篩，避免了所有產(chǎn)品均進行有損耗材的弊端，具有簡便、快速、高效、無損和低成本的特點，拓展了X射線在貴金屬檢測領域的應用。

作為具體實施例，請參考圖2a-2d所示，所述步驟S1中準備了四種材質(zhì)均一、厚度分別為0.081mm、0.125mm、0.142mm和0.183mm的3D硬金樣品，由圖2a-2d所示的圖像灰度示意圖可知，隨著3D硬金樣品的厚度不斷增加圖像的灰度越黑；同時，使用X射線透視儀分別對0.081mm、0.125mm、0.142mm和0.183mm的3D硬金樣品進行掃描時，除厚度以外其他測試條件保護一致。當然，所述3D硬金樣品的厚度種類并不局限于此，本領域技術(shù)人員在前述實施例的基礎上，還可以根據(jù)實際需要選擇多種厚度的3D硬金樣品進行掃描檢測，以建立起厚度和圖像灰度值的線性關(guān)系。

作為具體實施例，所述步驟S2中采用千分尺測量待測3D硬金飾品的實際厚度，而具體的測量方法為本領域技術(shù)人員熟知，在此不再贅述；當然，本領域技術(shù)人員也可以采用其他現(xiàn)有的技術(shù)方法進行測量，只要能夠準確測量出3D硬金飾品的厚度即可。

作為具體實施例，所述步驟S2中采用工作電壓為30～100KV、工作電流為30～100mA、焦距和放大倍率可調(diào)的X射線透視儀，具體可以選用型號為View X1800的X射線透視儀，由此可以更加準確地測試出3D硬金飾品的圖像灰度值，以提升本發(fā)明檢測方法的精確度。

作為具體實施例，所述步驟S4中當確定待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品后，還包括采用化學法進行金含量確定的步驟，即當待測3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品時，還需要進一步采用化學法進行金含量的確定，而采用化學法進行金含量確定的方法已為本領域技術(shù)人員所熟知，在此不再說明。

最后說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領域的普通技術(shù)人員應當理解，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。