1.一種基于X射線檢測(cè)3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、準(zhǔn)備厚度不同的多種3D硬金樣品,采用X射線透視儀對(duì)樣品分別進(jìn)行X射線測(cè)試,得到在相同測(cè)試條件下不同厚度樣品所對(duì)應(yīng)的圖像灰度值,依據(jù)所述圖像灰度值與厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系建立線性函數(shù);
S2、測(cè)量待測(cè)3D硬金飾品的實(shí)際厚度,并通過(guò)X射線透視儀測(cè)量得到待測(cè)3D硬金飾品的實(shí)際圖像灰度值;
S3、根據(jù)所述步驟S1中圖像灰度值與厚度的對(duì)應(yīng)線性函數(shù)關(guān)系,計(jì)算出在實(shí)際厚度值下所對(duì)應(yīng)的參考圖像灰度值;
S4、將待測(cè)3D硬金飾品的實(shí)際圖像灰度值與參考圖像灰度值進(jìn)行比較,若小于等于5‰,則待測(cè)3D硬金飾品的金含量合格;若大于5‰,則待測(cè)3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于X射線檢測(cè)3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法,其特征在于,所述步驟S1中準(zhǔn)備了四種材質(zhì)均一、厚度分別為0.081mm、0.125mm、0.142mm和0.183mm的3D硬金樣品。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于X射線檢測(cè)3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法,其特征在于,所述步驟S2中采用千分尺測(cè)量待測(cè)3D硬金飾品的實(shí)際厚度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于X射線檢測(cè)3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法,其特征在于,所述步驟S2中采用工作電壓為30~100KV、工作電流為30~100mA、焦距和放大倍率可調(diào)的X射線透視儀。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于X射線檢測(cè)3D硬金飾品內(nèi)部缺陷的方法,其特征在于,所述步驟S4中當(dāng)確定待測(cè)3D硬金飾品為可疑缺陷產(chǎn)品后,還包括采用化學(xué)法進(jìn)行金含量確定的步驟。