技術(shù)總結(jié)
一種用于檢測被移送的光學薄膜的缺陷檢測系統(tǒng)，包括光源、影像捕獲設(shè)備及狹縫板。光源配置于光學薄膜的一側(cè)，影像捕獲設(shè)備配置于光學薄膜的另一側(cè)。狹縫板具有狹縫，狹縫板配置于光源與光學薄膜之間，以使入射光線穿過狹縫。其中，影像捕獲設(shè)備偏移自光源與狹縫的延伸連線。

技術(shù)研發(fā)人員：林寬宏;吳柏徵
受保護的技術(shù)使用者：住華科技股份有限公司
文檔號碼：201710035668
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.17
技術(shù)公布日：2017.06.27