本發(fā)明涉及一種帶電平板監(jiān)測(cè)儀及其應(yīng)用方法，尤其涉及一種能夠利用電壓反饋(voltagefeedback)方式消除(eliminate)繼電器開關(guān)(relayswitch)的雜散電容(straycapacitor)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀及其應(yīng)用方法。

背景技術(shù)：

帶電平板監(jiān)測(cè)儀(chargeplatemonitor)包括測(cè)量?jī)x主體、由七段(7-segment)或液晶顯示器等構(gòu)成的顯示裝置、連接到測(cè)量?jī)x主體的測(cè)量平板、作為評(píng)估對(duì)象的條狀(bar)結(jié)構(gòu)的離子發(fā)生器(ionizer)、沿著離子發(fā)生器的長度方向配置的多個(gè)發(fā)射器(放電電極)。其中，測(cè)量?jī)x主體中內(nèi)置有高壓電源或表面電位計(jì)、場(chǎng)強(qiáng)計(jì)、定時(shí)器等，主要配備有對(duì)測(cè)量平板的表面電位進(jìn)行測(cè)定的功能，用于對(duì)離子發(fā)生器的除靜電性能或離子平衡性能進(jìn)行測(cè)定。此外，測(cè)量平板采用如將邊長為150mm的導(dǎo)電性平板以6～20mm的間隔層疊2個(gè)的結(jié)構(gòu)，整體具有約20pf的靜電容量。

第一，為了對(duì)離子發(fā)生器的除靜電性能進(jìn)行測(cè)定，首先從測(cè)量?jī)x主體的高壓電源向測(cè)量平板加載+1000v或-1000v的高電壓使其帶電，接下來將離子發(fā)生器的發(fā)射器所生成的離子傳遞到測(cè)量平板，并通過測(cè)量?jī)x主體測(cè)定出在上述狀態(tài)下測(cè)量平板的電位通過陰離子的中和作用從+1000v衰減到+100v所需的時(shí)間或通過陽離子的中和作用從-1000v衰減到-100v所需的時(shí)間。此時(shí)所測(cè)定到的時(shí)間越短，就代表離子發(fā)生器的離子發(fā)生量或發(fā)生率越高，從而判定其除靜電性能越高。此外，加載到測(cè)量平板中的電壓能夠在±1000～±5000v的范圍內(nèi)選擇多種不同的類型。執(zhí)行如上所述的測(cè)定動(dòng)作的模式被稱之為衰減測(cè)定模式。

第二，為了對(duì)離子平衡性能進(jìn)行測(cè)定，首先通過將測(cè)量平板接地使其電位成為0v，接下來將離子發(fā)生器所生成的陽離子/陰離子傳遞到測(cè)量平板，此時(shí)如果離子發(fā)生器所生成的陽離子的量和陰離子的量一致，則測(cè)量平板的電位也將穩(wěn)定在0v左右的狀態(tài)，通過測(cè)量?jī)x主體測(cè)量出相應(yīng)電位的大小以及極性，能夠?qū)﹄x子發(fā)生器的離子平衡性能進(jìn)行評(píng)估。執(zhí)行如上所述的測(cè)定動(dòng)作的模式被稱之為離子平衡測(cè)定模式。

上述離子發(fā)生器的除靜電對(duì)象物品即液晶顯示屏用基板或等離子顯示屏用基板在最近呈現(xiàn)出了大型化趨勢(shì)，因此條狀結(jié)構(gòu)的離子發(fā)生器的長度也隨之增加。當(dāng)利用帶電平板監(jiān)測(cè)儀對(duì)如上所述的大尺寸離子發(fā)生器的性能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，需要借助于在整個(gè)離子發(fā)生器的長度方向配置的多個(gè)發(fā)射器，沿著離子發(fā)生器的長度方向相對(duì)移動(dòng)1臺(tái)帶電平板監(jiān)測(cè)儀的位置，從而順序地完成所需的測(cè)定作業(yè)。因此為了對(duì)1臺(tái)離子發(fā)生器的性能進(jìn)行評(píng)估，需要付出較多的工作和時(shí)間。而為了一次性地完成對(duì)大尺寸離子發(fā)生器的測(cè)定，能夠通過排列多臺(tái)帶電平板監(jiān)測(cè)儀同時(shí)進(jìn)行測(cè)定，但是因?yàn)閹щ娖桨灞O(jiān)測(cè)儀的價(jià)格昂貴，所以需要非常多的成本投入。

在日本公開專利第10-2008-519260號(hào)(于2008.06.05公開)中，公開了一種通過將測(cè)量平板分割成多個(gè)區(qū)塊并加載特定的偏置電壓，從而能夠?qū)﹄x子平衡以及離子發(fā)生率同時(shí)進(jìn)行測(cè)定的離子平衡監(jiān)測(cè)儀。根據(jù)所公開的技術(shù)，其特征在于，在將測(cè)量平板分割成多個(gè)區(qū)塊并分別向上述各個(gè)區(qū)塊交替地加載正偏置電壓和負(fù)偏置電壓的狀態(tài)下，對(duì)離子發(fā)生器所生成離子的離子平衡或正離子/負(fù)離子發(fā)生率進(jìn)行測(cè)定。但是所公開的技術(shù)并不能解決伴隨離子發(fā)生器的大尺寸化而出現(xiàn)的操作繁雜或測(cè)定時(shí)間過長的問題。

在韓國公開專利第10-2012-0049780號(hào)(于2012.05.17公開)中，公開了一種通過對(duì)離子發(fā)生器的除靜電性能或離子平衡性能(正離子/負(fù)離子平衡的保持性能)進(jìn)行測(cè)定而評(píng)估其離子發(fā)生器性能的帶電平板監(jiān)測(cè)儀，其特征在于，一種利用測(cè)量平板檢測(cè)出離子發(fā)生器所生成的正離子/負(fù)離子并對(duì)離子發(fā)生器的除靜電性能以及正離子/負(fù)離子的離子平衡性能進(jìn)行評(píng)估的帶電平板監(jiān)測(cè)儀，上述帶電平板監(jiān)測(cè)儀的1臺(tái)測(cè)量?jī)x主體中同時(shí)配備有對(duì)已加載特定電壓的測(cè)量平板的電位衰減到特定值所需的衰減時(shí)間進(jìn)行測(cè)定的功能以及基于測(cè)量平板的電位對(duì)離子平衡進(jìn)行測(cè)定的功能，且根據(jù)評(píng)估對(duì)象即離子發(fā)生器的長度配備多臺(tái)測(cè)量平板并將上述測(cè)量平板并聯(lián)或串聯(lián)到測(cè)量?jī)x主體中。根據(jù)所公開的技術(shù)，因?yàn)槟軌驅(qū)⑺枧_(tái)數(shù)的測(cè)量平板并聯(lián)或串聯(lián)到1臺(tái)測(cè)量?jī)x主體中，所以能夠利用1臺(tái)帶電平板監(jiān)測(cè)儀對(duì)大尺寸離子發(fā)生器的除靜電性能或離子平衡性能進(jìn)行評(píng)估，從而快速且低成本地實(shí)現(xiàn)離子發(fā)生器的性能評(píng)估，且因?yàn)槟軌蚋鶕?jù)離子發(fā)生器的長度對(duì)與測(cè)量?jī)x主體連接的測(cè)量平板的臺(tái)數(shù)進(jìn)行變更，所以能夠適用于不同長度的各種離子發(fā)生器。

如上所述的現(xiàn)有的帶電平板監(jiān)測(cè)儀的測(cè)量平板如圖1所示，包括導(dǎo)體平板(conductiveplate)、與大地接地分離的浮動(dòng)接地(floatingground)、介于導(dǎo)體平板和浮動(dòng)接地之間的絕緣體(insulator)。

如上所述的測(cè)量平板需要利用使導(dǎo)體平板和浮動(dòng)接地之間相互分離的電壓跟隨器(voltagefollower)方式形成等價(jià)電容(例如20pf±2pf的靜電容量)，在通過接觸方式進(jìn)行測(cè)定時(shí)，因?yàn)樾枰粉櫦虞d到導(dǎo)體平板中的電壓并向浮動(dòng)接地加載相同的1000v電壓(高壓)，所以必須使用高壓線纜，從而使得高壓線纜的選用變得非常重要。而在通過非接觸方式進(jìn)行測(cè)定時(shí)，在加載高壓時(shí)需要實(shí)現(xiàn)機(jī)械連接而接下來又需要完全分離，所以需要構(gòu)建會(huì)對(duì)其重量和大小造成重大影響的機(jī)械裝置。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于解決上述現(xiàn)有問題而提供一種能夠利用電壓反饋(voltagefeedback)方式消除(eliminate)繼電器開關(guān)(relayswitch)的雜散電容(straycapacitor)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀及其應(yīng)用方法。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種帶電平板監(jiān)測(cè)儀，其特征在于，包括：測(cè)量平板部，配備有導(dǎo)電平板、接地表面體、介于導(dǎo)電平板和接地表面體之間的絕緣體；非接觸電位計(jì)部，安裝于上述測(cè)量平板部的導(dǎo)電平板和接地表面體之間，對(duì)導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行檢測(cè)；測(cè)定部，對(duì)上述非接觸電位計(jì)部所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行測(cè)定或分流；以及電壓反饋電路部，對(duì)上述測(cè)定部所分流的導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行反饋并加載到繼電器開關(guān)端。

在一實(shí)施例中，上述帶電平板監(jiān)測(cè)儀的特征在于，還包括：hvps，通過將電源加載部分結(jié)合到上述測(cè)量平板部中而形成。

在一實(shí)施例中，上述非接觸電位計(jì)部的特征在于：在上述hvps通過上述繼電器開關(guān)向上述測(cè)量平板部加載高壓時(shí)對(duì)上述導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行檢測(cè)。

在一實(shí)施例中，上述電壓反饋電路部的特征在于：通過將上述非接觸電位計(jì)部中所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位加載到上述繼電器開關(guān)端中使其電流趨于零，且在上述繼電器開關(guān)的接點(diǎn)斷開之后也使其不會(huì)受到上述雜散電容的影響。

在一實(shí)施例中，上述測(cè)定部的特征在于：在衰減模式下生成hvps接通信號(hào)以及繼電器開關(guān)接通信號(hào)，將hvps接通信號(hào)加載到上述hvps而將繼電器開關(guān)接通信號(hào)加載到上述繼電器開關(guān)。

在一實(shí)施例中，上述hvps的特征在于：根據(jù)上述測(cè)定部所加載的hvps接通信號(hào)將電壓供應(yīng)到上述繼電器開關(guān)。

在一實(shí)施例中，上述繼電器開關(guān)的特征在于：根據(jù)上述測(cè)定部所加載的繼電器開關(guān)接通信號(hào)進(jìn)行接通，將上述hvps所供應(yīng)的電壓以高于預(yù)設(shè)值的電壓充電至上述導(dǎo)電平板。

在一實(shí)施例中，上述非接觸電位計(jì)部的特征在于：在上述hvps所供應(yīng)的電壓高于預(yù)設(shè)值時(shí)，將所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位值加載到上述測(cè)定部。

在一實(shí)施例中，上述測(cè)定部的特征在于：在上述hvps所供應(yīng)的電壓高于預(yù)設(shè)值時(shí)生成繼電器開關(guān)斷開信號(hào)而在電壓低于預(yù)設(shè)值時(shí)生成hvps斷開信號(hào)，并將繼電器開關(guān)斷開信號(hào)加載到上述繼電器開關(guān)而將hvps斷開信號(hào)加載到上述hvps。

在一實(shí)施例中，上述hvps的特征在于：根據(jù)上述測(cè)定部所加載的hvps斷開信號(hào)斷開加載到上述繼電器開關(guān)中的電壓。

在一實(shí)施例中，上述繼電器開關(guān)的特征在于：根據(jù)上述測(cè)定部所加載的繼電器開關(guān)斷開信號(hào)斷開開關(guān)，從而斷開上述hvps所供應(yīng)的電壓。

在一實(shí)施例中，上述測(cè)定部的特征在于：對(duì)上述非接觸電位計(jì)部在上述hvps所供應(yīng)的電壓高于預(yù)設(shè)值時(shí)所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位值進(jìn)行讀取，并將所讀取的導(dǎo)電平板的電位值通過上述電壓反饋電路部進(jìn)行反饋，從而對(duì)上述hvps的加載電壓進(jìn)行追蹤。

在一實(shí)施例中，上述測(cè)定部的特征在于：將導(dǎo)電平板的電位值通過上述電壓反饋電路部進(jìn)行反饋并借此對(duì)上述hvps的加載電壓進(jìn)行追蹤，從而使上述繼電器開關(guān)的兩端電位保持相同。

本發(fā)明還提供一種帶電平板監(jiān)測(cè)儀的應(yīng)用方法，其特征在于，包括：通過安裝在配備于測(cè)量平板部中的導(dǎo)電平板和接地表面體之間的非接觸電位計(jì)部檢測(cè)出上述導(dǎo)電平板的電位的步驟；通過測(cè)定部對(duì)上述非接觸電位計(jì)部所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行測(cè)定或分流的步驟；以及通過電壓反饋電路部對(duì)上述測(cè)定部所分流的導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行反饋并加載到繼電器開關(guān)端的步驟。

本發(fā)明通過提供一種在平板總成部(plateassembly)中配備高壓發(fā)生部并利用電壓反饋(voltagefeedback)方式消除(eliminate)繼電器開關(guān)(relayswitch)的雜散電容(straycapacitor)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀及其應(yīng)用方法，能夠無需使用高壓線纜且能夠通過將雜散電容(straycapacitor)降至最低而保持等價(jià)電容(例如20pf±2pf的靜電容量)，并借此在利用繼電器開關(guān)進(jìn)行高電壓接通(on)/斷開(off)時(shí)防止因?yàn)殡s散電容而對(duì)靜電放電時(shí)間等測(cè)定值造成影響，從而能夠準(zhǔn)確地對(duì)離子發(fā)生器的性能進(jìn)行測(cè)定。此外，本發(fā)明能夠在用于對(duì)產(chǎn)業(yè)用除靜電器的性能進(jìn)行測(cè)定的帶電平板監(jiān)測(cè)儀中將雜散電容的影響降至最低，從而能夠準(zhǔn)確地對(duì)產(chǎn)業(yè)用除靜電器的衰減時(shí)間(decaytime)進(jìn)行測(cè)定。

本發(fā)明還能夠通過將高壓加載部結(jié)合到測(cè)量平板中縮小測(cè)量?jī)x主體(控制器)的外觀大小使其更加簡(jiǎn)單(simple)，且因?yàn)樵跍y(cè)量?jī)x主體(控制器)和測(cè)量平板之間只需要連接信號(hào)線纜，所以線纜的選用能夠變得非常簡(jiǎn)單。

本發(fā)明還能夠通過使用當(dāng)帶電平板監(jiān)測(cè)儀向測(cè)量平板加載高壓時(shí)利用非接觸電位計(jì)(non-contactingelectrometer)檢測(cè)出導(dǎo)電平板的電位并向繼電器開關(guān)端加載相同的電位而使得電流趨于零(0)的電壓反饋電路，從而在繼電器開關(guān)的接點(diǎn)斷開之后也能夠使其幾乎不會(huì)受到雜散電容的影響，且能夠使平板電容保持等價(jià)電容(例如20pf±2pf的靜電容量)，從而能夠避免對(duì)自然放電時(shí)間等測(cè)定值造成影響。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有的帶電平板監(jiān)測(cè)儀的測(cè)量平板的說明圖。

圖2是適用本發(fā)明之實(shí)施例的帶電平板監(jiān)測(cè)儀的說明圖。

圖3是圖2中的電壓反饋電路部的說明圖。

具體實(shí)施方式

下面，將結(jié)合附圖對(duì)適用本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明，以便具有本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域之一般知識(shí)的人員能夠輕易地實(shí)施本發(fā)明。但是本發(fā)明相關(guān)的說明只是用于對(duì)其結(jié)構(gòu)以及功能進(jìn)行說明的實(shí)施例，因此本發(fā)明的權(quán)利要求范圍并不應(yīng)解釋為受到本文所述實(shí)施例的限制。即，因?yàn)閷?shí)施例能夠進(jìn)行多種變更且能夠具有不同的形態(tài)，因此本發(fā)明的權(quán)利要求范圍應(yīng)理解為包括能夠?qū)崿F(xiàn)其技術(shù)思想的均等物。此外，在本發(fā)明中所公開的目的或效果并不代表特定實(shí)施例包括所有效果或只能包括對(duì)應(yīng)的效果，因此本發(fā)明的權(quán)利要求范圍不應(yīng)理解為受到相關(guān)內(nèi)容的限制。

在本發(fā)明中所使用的術(shù)語應(yīng)按照下述方式理解其含義。

“第1”、“第2”等術(shù)語僅用于對(duì)一個(gè)構(gòu)成要素和其他構(gòu)成要素進(jìn)行區(qū)分，本發(fā)明的權(quán)利要求范圍并不應(yīng)受到上述術(shù)語的限制。例如，第1構(gòu)成要素也能夠被命名為第2構(gòu)成要素，同理，第2構(gòu)成要素也能夠被命名為第1構(gòu)成要素。當(dāng)記載為某個(gè)構(gòu)成要素“連接到”其他構(gòu)成要素時(shí)，應(yīng)理解為不僅包括直接連接到上述其他構(gòu)成要素的情況，還包括中間有其他構(gòu)成要素存在的情況。與此相反，當(dāng)記載為某個(gè)構(gòu)成要素“直接連接到”其他構(gòu)成要素時(shí)，應(yīng)理解為只包括中間沒有其他構(gòu)成要素存在的情況。此外，用于對(duì)構(gòu)成要素之間的關(guān)系進(jìn)行說明的其他術(shù)語，如“在～之間”和“直接在～之間”或“與～相鄰”和“直接與～相鄰”等也應(yīng)按照相同的方式解釋。

除非上下文中有明確的相反含義，否則單數(shù)型語句應(yīng)理解為包括復(fù)數(shù)型含義，且“包括”、“具有”等術(shù)語只是用于說明所實(shí)施的特征、數(shù)字、步驟、動(dòng)作、構(gòu)成要素、部件或上述的組合存在，應(yīng)理解為不排除其他一個(gè)或更多其他特征、數(shù)字、步驟、動(dòng)作、構(gòu)成要素、部件或上述的組合存在或附加的可能性。

除非另有定義，否則在本說明書中所使用的所有術(shù)語的含義與具有本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域之一般知識(shí)的人員所通常理解的含義相同。通常所使用的已在詞典做出定義的術(shù)語應(yīng)解釋為與相關(guān)技術(shù)的上下文內(nèi)容一致的含義，且除非在本發(fā)明中有明確定義，否則不應(yīng)解釋為理想化或過于形式化的含義。

下面，將結(jié)合附圖對(duì)適用本發(fā)明之實(shí)施例的帶電平板監(jiān)測(cè)儀及其應(yīng)用方法進(jìn)行詳細(xì)說明。

圖2是適用本發(fā)明之實(shí)施例的帶電平板監(jiān)測(cè)儀的說明圖。

如圖2所示，帶電平板監(jiān)測(cè)儀100包括：測(cè)量平板部110、非接觸電位計(jì)部120、測(cè)定部130、電壓反饋電路部140。

測(cè)量平板部110為導(dǎo)電性平板，包括：導(dǎo)電平板111、接地表面體112、介于導(dǎo)電平板111和接地表面體(groundedsurface)112之間的絕緣體113，在其內(nèi)部(即，導(dǎo)電平板111和接地表面體112之間)安裝有非接觸電位計(jì)部120。

在一實(shí)施例中，導(dǎo)電平板111能夠具有10～25cm*10～25cm(15cm(6")*15cm(6")為宜)的大小。

非接觸電位計(jì)部120安裝于測(cè)量平板部110的內(nèi)部(即，導(dǎo)電平板111和接地表面體112之間)，對(duì)測(cè)量平板110(導(dǎo)電平板111)的電位進(jìn)行檢測(cè)并將所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位加載到測(cè)定部130中。

測(cè)定部130包括場(chǎng)強(qiáng)計(jì)(fieldmeter)以及dac(數(shù)模轉(zhuǎn)換器，digitaltoanalogconverter)，對(duì)非接觸電位計(jì)部120所加載的導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行測(cè)定，并將非接觸電位計(jì)部120所加載的導(dǎo)電平板的電位分流到電壓反饋電路部140中。

電壓反饋電路部140對(duì)測(cè)定部130所分流的導(dǎo)電平板的電位進(jìn)行反饋(feedback)并加載到繼電器開關(guān)(relayswitch)端而使得電流趨于零(0)，從而在繼電器開關(guān)的接點(diǎn)斷開之后也能夠使其幾乎不會(huì)受到雜散電容的影響。

具有如上所述結(jié)構(gòu)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀100，通過在平板總成部(plateassembly)中配備hvps(高壓電源，highvoltagepowersupply)并利用電壓反饋電路部140消除(eliminate)繼電器開關(guān)的雜散電容(straycapacitor)，能夠無需使用高壓線纜且能夠通過將雜散電容(straycapacitor)降至最低而保持等價(jià)電容(例如20pf±2pf的靜電容量)，并借此在利用繼電器開關(guān)進(jìn)行高電壓接通(on)/斷開(off)時(shí)防止因?yàn)殡s散電容而對(duì)靜電放電時(shí)間等測(cè)定值造成影響，從而能夠準(zhǔn)確地對(duì)離子發(fā)生器的性能進(jìn)行測(cè)定。

具有如上所述結(jié)構(gòu)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀100，能夠作為對(duì)產(chǎn)業(yè)用除靜電器的性能進(jìn)行測(cè)定的裝置使用，通過將雜散電容的影響降至最低，能夠準(zhǔn)確地對(duì)產(chǎn)業(yè)用除靜電器的衰減時(shí)間(decaytime)進(jìn)行測(cè)定。

具有如上所述結(jié)構(gòu)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀100，通過將hvps的高壓電源加載部分結(jié)合到測(cè)量平板110中，能夠縮小測(cè)定部130的外觀大小使其更加簡(jiǎn)單(simple)，且因?yàn)樵跍y(cè)定部130和測(cè)量平板110之間只需要連接信號(hào)線纜，所以線纜的選用能夠變得非常簡(jiǎn)單。

具有如上所述結(jié)構(gòu)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀100，通過使用當(dāng)hvps向測(cè)量平板110加載高壓時(shí)利用非接觸電位計(jì)120檢測(cè)出導(dǎo)電平板111的電位并向繼電器開關(guān)端加載所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位而使得電流趨于零(0)的電壓反饋電路部140，從而在繼電器開關(guān)的接點(diǎn)斷開之后也能夠使其幾乎不會(huì)受到雜散電容的影響，且能夠使平板電容保持等價(jià)電容(例如20pf±2pf的靜電容量)，從而能夠避免對(duì)自然放電時(shí)間等測(cè)定值造成影響。

具有如上所述結(jié)構(gòu)的帶電平板監(jiān)測(cè)儀100，能夠在使用繼電器開關(guān)加載電壓的電路中將雜散電容的影響降至最低，或適用于需要較高絕緣電阻的產(chǎn)品中。

圖3是圖2中的電壓反饋電路部的說明圖。

如圖3所示，測(cè)定部130在衰減模式(decaymode)下通過配備于其內(nèi)部的主控制器(maincontroller)(為了便于說明在附圖中未作圖示)生成用于加載hvps電壓的hvps接通信號(hào)(例如，正hvps接通信號(hào)(hvpson#1)，負(fù)hvps接通信號(hào)(hvpson#2))以及繼電器開關(guān)接通信號(hào)(例如，正繼電器開關(guān)接通信號(hào)(+outon#1)，負(fù)繼電器開關(guān)接通信號(hào)(-outon#2))，并將所生成的hvps接通信號(hào)(例如，正hvps接通信號(hào)(hvpson#1)，負(fù)hvps接通信號(hào)(hvpson#2))分別傳送到正hvps以及負(fù)hvps，同時(shí)將所生成的繼電器開關(guān)接通信號(hào)(例如，正繼電器開關(guān)接通信號(hào)(+outon#1)，負(fù)繼電器開關(guān)接通信號(hào)(-outon#2))分別傳送到正繼電器開關(guān)以及負(fù)繼電器開關(guān)。

正hvps以及負(fù)hvps根據(jù)主控制器所傳送的hvps接通信號(hào)(例如，正hvps接通信號(hào)(hvpson#1)，負(fù)hvps接通信號(hào)(hvpson#2))分別將電壓供應(yīng)到正繼電器開關(guān)以及負(fù)繼電器開關(guān)。

正繼電器開關(guān)以及負(fù)繼電器開關(guān)根據(jù)主控制器所傳送的繼電器開關(guān)接通信號(hào)(例如，正繼電器開關(guān)接通信號(hào)(+outon#1)，負(fù)繼電器開關(guān)接通信號(hào)(-outon#2))分別接通開關(guān)，并將正hvps以及負(fù)hvps所供應(yīng)的電壓以高于預(yù)設(shè)值(例如1050v)的電壓充電(charge)至測(cè)量平板部110的導(dǎo)電平板111中。

非接觸電位計(jì)部120對(duì)測(cè)量平板110(導(dǎo)電平板111)的電位值進(jìn)行檢測(cè)并將所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位值加載到測(cè)定部130中，此時(shí)如果正hvps及負(fù)hvps所供應(yīng)的電壓高于預(yù)設(shè)值(例如1050v)，則能夠?qū)⑺鶛z測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位值加載到測(cè)定部130中。

此外，測(cè)定部130的主控制器在正hvps以及負(fù)hvps所供應(yīng)的電壓高于預(yù)設(shè)值(例如1050v)時(shí)，生成繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(例如，正繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(+outoff#1)，負(fù)繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(-outoff#2))，而在導(dǎo)電平板的電位值低于預(yù)設(shè)值(例如100v)時(shí)生成用于斷開hvps的加載電壓的hvps斷開信號(hào)(例如，正hvps斷開信號(hào)(hvpsoff#1)，負(fù)hvps斷開信號(hào)(hvpsoff#2))，并將所生成的繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(例如，正繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(+outoff#1)，負(fù)繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(-outoff#2))分別傳送到正繼電器開關(guān)以及負(fù)繼電器開關(guān)，同時(shí)將所生成的hvps斷開信號(hào)(例如，正hvps斷開信號(hào)(hvpsoff#1)，負(fù)hvps斷開信號(hào)(hvpsoff#2))分別傳送到正hvps以及負(fù)hvps。

正hvps以及負(fù)hvps根據(jù)hvps斷開信號(hào)(例如，正hvps斷開信號(hào)(hvpsoff#1)，負(fù)hvps斷開信號(hào)(hvpsoff#2))分別斷開加載到正繼電器開關(guān)以及負(fù)繼電器開關(guān)中的電壓。

正繼電器開關(guān)以及負(fù)繼電器開關(guān)根據(jù)主控制器所傳送的繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(例如，正繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(+outoff#1)，負(fù)繼電器開關(guān)斷開信號(hào)(-outoff#2))分別斷開開關(guān)，并斷開正hvps以及負(fù)hvps所供應(yīng)的電壓。

測(cè)定部130的主控制器，對(duì)非接觸電位計(jì)部120在正hvps以及負(fù)hvps所供應(yīng)的電壓高于預(yù)設(shè)值(例如1050v)時(shí)所檢測(cè)出的導(dǎo)電平板的電位值進(jìn)行讀取，并通過上述電壓反饋電路部140進(jìn)行反饋直至所讀取的導(dǎo)電平板的電位值小于預(yù)設(shè)值(例如100v)，從而對(duì)上述hvps的加載電壓進(jìn)行追蹤，借此使繼電器開關(guān)的兩端電位相同并使電流區(qū)域零(0)，從而在繼電器開關(guān)的接點(diǎn)斷開之后也能夠使其幾乎不會(huì)受到雜散電容的影響。

上面說明的適用本發(fā)明的實(shí)施例并不只是通過上述裝置和/或應(yīng)用方法實(shí)現(xiàn)，還能夠通過用于實(shí)現(xiàn)適用本發(fā)明之實(shí)施例的構(gòu)成所對(duì)應(yīng)的功能的應(yīng)用程序、記錄有上述應(yīng)用程序的記錄媒介等實(shí)現(xiàn)，本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的專業(yè)人士能夠通過上述實(shí)施例相關(guān)的記載輕易地實(shí)現(xiàn)上述構(gòu)成。上面對(duì)適用本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明，但本發(fā)明的權(quán)利要求范圍并不因此受到限定，相關(guān)從業(yè)人員利用下述權(quán)利要求書中所定義的本發(fā)明的基本概念所進(jìn)行的各種變形以及改良形態(tài)也屬于本發(fā)明的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。