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一種便攜式互感器檢測裝置的制作方法

文檔序號(hào):12905401閱讀:296來源:國知局
一種便攜式互感器檢測裝置的制作方法

本實(shí)用新型涉及一種互感器現(xiàn)場檢測裝置,尤其是指一種便攜式互感器檢測裝置。



背景技術(shù):

互感器包括電壓互感器和電流互感器,是電能計(jì)量的主要器具,是計(jì)量法規(guī)定的強(qiáng)檢計(jì)量設(shè)備之一。根據(jù)國家規(guī)程要求必須要對安裝在現(xiàn)場的互感器進(jìn)行新裝前和運(yùn)行中的周期性檢測。

目前,現(xiàn)場開展互感器檢測的方法主要有比較法和低壓外推法。

比較法采用的是測差原理,即將被檢電壓(電流)互感器與標(biāo)準(zhǔn)電壓(電流)互感器接成并聯(lián)(串聯(lián))回路,在一次側(cè)施加相同的電壓(電流),以一定的二次電壓(電流)作為標(biāo)準(zhǔn)電壓(電流),取得二次差壓(差流)信號(hào),對該信號(hào)進(jìn)行處理即可得到互感器的比差和角差。

按檢測規(guī)程要求,采用該方法檢測互感器時(shí)需要升壓(升流)至120%額定電壓(電流)點(diǎn)。采用比較法檢測互感器時(shí),需要使用升壓(升流)裝置、標(biāo)準(zhǔn)PT(CT)、負(fù)荷箱、校驗(yàn)儀、大電流導(dǎo)線等設(shè)備。測試時(shí),升高壓(電壓互感器額定電壓的1.2倍)、大電流(電流互感器額定電流的1.2倍)。因此,該方法具有設(shè)備多、體積大、接線操作復(fù)雜、需電源容量大、安全性差等弊端,尤其對于一次回路存在寄生電容、引線長的GIS(封閉式組合電器)內(nèi)的互感器,因無功分量消耗大,升壓(升流)困難而難以開展現(xiàn)場檢測,同時(shí)受現(xiàn)場空間狹小的因素,開關(guān)柜內(nèi)互感器也很難在現(xiàn)場開展檢測工作。

為了解決比較法檢測原理在現(xiàn)場工作中存在的種種弊端,低壓外推法被研究應(yīng)用。低壓外推法也稱之為間接測試法,主要測試原理為:將互感器看成一個(gè)兩端口的網(wǎng)絡(luò)電路,推算出各個(gè)物理因數(shù)對互感器誤差的影響關(guān)系,得出互感器誤差計(jì)算的公式,通過在互感器的一次側(cè)和二次施加一定的電壓信號(hào),測試出影響誤差的各個(gè)因數(shù),再代入公式,從而得到互感器誤差。該方法測試時(shí)通過施加低電壓信號(hào)(150V以內(nèi))來完成互感器各物理參數(shù)的測試。設(shè)備的功耗小,且各測試模塊可集成在一臺(tái)設(shè)備內(nèi),通過程控的方式自動(dòng)完成測試,因此可作為現(xiàn)場工作的便攜式設(shè)備,且避免了比較法體積大、設(shè)備多、容量大、高電壓等弊端,但目前在現(xiàn)場運(yùn)行的便攜式設(shè)備存在功能單一(只能測量CT或PT一類互感器)、不能兼容GIS內(nèi)PT測試及抗干擾能力差等問題。

綜上,本實(shí)用新型的方向是研制一種采用低壓外推法原理的便攜式互感器校驗(yàn)儀,解決現(xiàn)有便攜式設(shè)備功能單一、兼容性差、抗干擾能力差的問題。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型的目的在于提供一種體積小、重量輕、兼容性強(qiáng)、功能強(qiáng)大、易攜帶、高精度的互感器檢測裝置,其能完成電磁式互感器(包括電壓互感器、電流互感器)的實(shí)際變比、比差、角差、1.6kHz導(dǎo)納等參數(shù)的測量,同時(shí)兼容GIS內(nèi)電壓及電流互感器的檢測,解決便攜式設(shè)備的功能單一、兼容性差、抗干擾能力差的難題。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:

一種便攜式互感器現(xiàn)場檢測裝置,可測量電磁式電壓互感器和電流互感器的誤差及變比等參數(shù),包括:第一處理器、第二處理器、第一信號(hào)發(fā)生器、第一信號(hào)放大器、第一信號(hào)采集器、CT/PT切換繼電器組、驅(qū)動(dòng)模塊、顯示屏和鍵盤。

所述第一處理器與鍵盤連接接收所述鍵盤輸入的被測互感器的參數(shù),向下與第二處理器連接,發(fā)送測試命令,并接收第二處理器返回的測試狀態(tài)信息及數(shù)據(jù)信息;向上與顯示屏連接,將接收第二處理器返回的信息上傳至顯示屏;

所述第二處理器與第一處理器連接,用于接收第一處理器的測試命令,并控制第一信號(hào)發(fā)生器的信號(hào)輸出;與驅(qū)動(dòng)模塊連接,控制驅(qū)動(dòng)信號(hào)的輸出;同時(shí)接收第一信號(hào)采集器上傳的信號(hào),對信號(hào)進(jìn)行處理運(yùn)算,得出被測互感器的誤差、變比等參數(shù);

所述第一信號(hào)發(fā)生器向上與第二處理器相連接,接收第二處理器的控制信號(hào),輸出目標(biāo)電壓信號(hào);向下與第一信號(hào)放大器連接,將目標(biāo)電壓信號(hào)輸出至第一信號(hào)放大器;

所述第一信號(hào)放大器向上與第一信號(hào)發(fā)生器連接,接收第一信號(hào)發(fā)生器輸出的電壓信號(hào),對該電壓信號(hào)進(jìn)行放大,并向下與CT/PT切換繼電器組連接,通過CT/PT切換繼電器組將電壓信號(hào)施加至被測互感器;為了滿足測量不同變比、不同電壓等級的互感器時(shí)輸出信號(hào)兼容性的需要,所述第一信號(hào)放大器設(shè)計(jì)了五個(gè)擋位,分別為0.4V/1A、2.5V/1A、15V/0.5A、50V/0.2A、150V/0.1A。

所述第一信號(hào)采集器向下與CT/PT切換繼電器組連接,接收被測互感器返回的測量信號(hào)和第一信號(hào)放大器施加的測試信號(hào),并對信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換處理;向上與第一處理器連接,將采集信號(hào)上傳到第二處理器;

所述驅(qū)動(dòng)模塊向上連接第二處理器,接收控制信號(hào),向下輸出繼電器驅(qū)動(dòng)信號(hào),控制CT/PT切換繼電器組的繼電器通斷,根據(jù)不同的測試過程,自動(dòng)更改測試連接狀態(tài),將測試信號(hào)施加至被測互感器;

所述的CT/PT切換繼電器組向上與第一信號(hào)放大器和驅(qū)動(dòng)模塊連接,接收驅(qū)動(dòng)模塊的驅(qū)動(dòng)信號(hào),根據(jù)不同的測試過程,自動(dòng)更改測試連接狀態(tài),將第一信號(hào)放大器輸出的測試信號(hào)施加至被測互感器,同時(shí)將互感器返回信號(hào)傳輸至第一信號(hào)采集器。所述CT/PT切換繼電器組,包含16個(gè)繼電器RL1~RL16,2個(gè)輸入端J5、J6和4個(gè)輸出端J1、J2、J3、J4,J2、J3專門用來測量電磁式電壓互感器時(shí)與被測電壓互感器二次側(cè)連接,J4專門用來測量電流互感器時(shí)與被測電流互感器二次側(cè)連接,從而達(dá)到一臺(tái)設(shè)備兼容CT、PT測試的目的;

測量時(shí),輸入端J5與所述的第一信號(hào)放大器連接,接收電壓信號(hào);輸入端J6與驅(qū)動(dòng)模塊連接,接收繼電器控制信號(hào);輸出端J1與被測互感器的一次側(cè)連接;輸出端J2與被測量電壓互感器的第一個(gè)二次繞組連接;輸出端J3與被測量電壓互感器的第二個(gè)二次繞組連接;輸出端J4與被測量電流互感器的二次繞組連接。

所述的一種便攜式互感器檢測裝置,采用雙處理器結(jié)構(gòu),所述的第一處理器,用于測試命令輸入和顯示數(shù)據(jù)上傳,采用AT91SAM7X512 ARM處理器;所述第二處理器,用于測試指令發(fā)出,數(shù)據(jù)運(yùn)算,采用TMS 2811 DSP處理器。

一種便攜式互感器現(xiàn)場檢測裝置,包含所述各模塊的工作流程如下:

所述的鍵盤輸入被測互感器測量信息,通過所述的第一處理器將測試命令下達(dá)至所述的第二處理器,轉(zhuǎn)換后,下達(dá)可執(zhí)行的指令至所述第一信號(hào)發(fā)生器;所述的第一信號(hào)發(fā)生器根據(jù)指令的不同發(fā)生0~120V范圍內(nèi),頻率在1~55Hz范圍內(nèi)的交流電壓信號(hào),并輸送至所述的第一信號(hào)放大器;所述的第一信號(hào)放大器對信號(hào)進(jìn)行變換處理,傳輸至所述的CT/PT切換繼電器組;與此同時(shí)第二處理器根據(jù)測試需要和狀態(tài)不同,控制驅(qū)動(dòng)模塊輸出繼電器驅(qū)動(dòng)信號(hào)至CT/PT切換繼電器組,CT/PT切換繼電器組切換測試CT或者PT時(shí)的測試接線,將第一信號(hào)放大器輸出的信號(hào)施加至被測電流或電壓互感器的本體,同時(shí)上傳電流或電壓互感器的返回信號(hào)至所述的第一信號(hào)采集器;所述第一信號(hào)采集器通過與互感器本體相連接的所述的CT/PT切換繼電器組采集返回信號(hào),上傳至第二處理器進(jìn)行運(yùn)算,并將得到的測試結(jié)果上傳到所述的第一處理器;所述的第一處理器將測試結(jié)果按一定的數(shù)據(jù)格式處理、排列,上傳到所述的顯示屏輸出顯示互感器測試結(jié)果,完成整個(gè)測試過程。

本實(shí)用新型的有益效果在于:

本實(shí)用新型采用低壓外推法和變頻信號(hào)處理技術(shù)實(shí)現(xiàn)了一臺(tái)便攜式設(shè)備兼容電流互感器和電磁式電壓互感器的性能參數(shù)測量,解決了比較法測量互感器時(shí)的設(shè)備多、笨重、接線操作復(fù)雜等弊端,大大減輕了現(xiàn)場工作的勞動(dòng)強(qiáng)度,提升了勞動(dòng)效率。

通過采用低頻信號(hào)技術(shù)實(shí)現(xiàn)了一臺(tái)便攜式設(shè)備兼容即能完成GIS內(nèi)電流互感器和電壓互感器的參數(shù)測量,解決了現(xiàn)有檢測手段檢測GIS內(nèi)互感器難以開展或受現(xiàn)場條件不能開展的弊端,豐富了互感器的現(xiàn)場檢測手段。

通過采用施加異頻測試信號(hào)進(jìn)行現(xiàn)場互感器檢測的方式,實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場復(fù)雜電磁環(huán)境下準(zhǔn)確完成互感器性能參數(shù)的檢測,解決了現(xiàn)有低壓外推法類設(shè)備現(xiàn)場檢測精度差、穩(wěn)定性差的難題,保證了現(xiàn)場檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型一種便攜式互感器現(xiàn)場檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型的CT/PT切換繼電器組結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為本實(shí)用新型檢測電流互感器的接線示意圖。

圖4為本實(shí)用新型檢測電壓互感器一個(gè)繞組的接線示意圖。

圖5為本實(shí)用新型檢測電壓互感器兩個(gè)繞組的接線示意圖。

具體實(shí)施方式

下面參照附圖說明本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式。

下面將結(jié)合附圖和實(shí)際測試案例對本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)、工程流程作進(jìn)一步說明。

如圖1所示,本實(shí)用新型的一種便攜式互感器現(xiàn)場檢測裝置100,包括第一處理器101、第二處理器102、第一信號(hào)發(fā)生器103、第一信號(hào)放大器104、第一信號(hào)采集器105、CT/PT切換繼電器組106、驅(qū)動(dòng)模塊107、鍵盤108和顯示屏109。

所述第一處理器101與所述鍵盤108連接接收所述鍵盤108輸入的被測互感器的參數(shù),向下與所述第二處理器102連接,發(fā)送測試命令,并接收所述第二處理器102返回的測試狀態(tài)信息及數(shù)據(jù)信息;向上與所述顯示屏109連接,將接收所述第二處理器102返回的信息上傳至所述顯示屏109;所述第一處理器101主要用于接收并下發(fā)所述鍵盤109的測試命令,上傳、顯示結(jié)果,是人機(jī)交互的主要控制器。設(shè)計(jì)采用AT91SAM7X512 32位ARM RISC處理器,集成了片內(nèi)Flash和SRAM,UART、SPI、CAN控制器、Ethernet網(wǎng)口、定時(shí)器/計(jì)數(shù)器、RTT和模數(shù)轉(zhuǎn)換器,能提供靈活、優(yōu)化的人機(jī)交互方案。

所述第二處理器102與所述第一處理器101連接,用于接收所述第一處理器101的測試命令,并控制所述第一信號(hào)發(fā)生器103的信號(hào)輸出;與所述驅(qū)動(dòng)模塊107連接,控制驅(qū)動(dòng)信號(hào)的輸出;同時(shí)接收所述第一信號(hào)采集器105上傳的信號(hào),對信號(hào)進(jìn)行處理運(yùn)算,得出被測互感器的誤差、變比等參數(shù);所述第二處理器102主要用于接收測試命令,發(fā)出測試指令,控制整個(gè)裝置的信號(hào)輸出,接線、測試狀態(tài)切換,并對測試信號(hào)運(yùn)行運(yùn)算處理,設(shè)計(jì)采用TMS 2811 32位數(shù)字信號(hào)處理器,其強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力,豐富的I/0口資源,控制命令靈活,低功耗等優(yōu)點(diǎn)非常適合便攜式設(shè)備使用。

所述第一信號(hào)發(fā)生器103向上與所述第二處理器102相連接,接收所述第二處理器102的控制信號(hào),輸出目標(biāo)電壓信號(hào);向下與所述第一信號(hào)放大器104連接,將目標(biāo)電壓信號(hào)輸出至所述第一信號(hào)放大器104;所述第一信號(hào)發(fā)生器103采用全波整流設(shè)計(jì),可輸出0~120V, 1~55Hz范圍內(nèi)的交流電壓信號(hào)。

所述第一信號(hào)放大器104向上與所述第一信號(hào)發(fā)生器103連接,接收所述第一信號(hào)發(fā)生器103輸出的電壓信號(hào),對該電壓信號(hào)進(jìn)行變換,并向下與所述CT/PT切換繼電器組106連接,通過所述CT/PT切換繼電器組106將輸出信號(hào)施加至被測互感器;為滿足不同變比、不同電壓等級的互感器測試需求,所述第一信號(hào)放大器104設(shè)計(jì)了五個(gè)擋位,分別為0.4V/1A、2.5V/1A、15V/0.5A、50V/0.2A、150V/0.1A。

所述第一信號(hào)采集器105向下與所述CT/PT切換繼電器組106連接,接收被測互感器返回的測量信號(hào)和第一信號(hào)放大器104施加的測試信號(hào),并對信號(hào)進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換處理;向上與所述第二處理器102連接,將采集信號(hào)上傳到所述第二處理器102;設(shè)計(jì)采用16位I/O端口MCP23S17芯片,可實(shí)現(xiàn)高精度測試。

所述驅(qū)動(dòng)模塊107與所述第二處理器102和所述CT/PT切換繼電器組106相連接,接收所述第二處理器102的控制信號(hào),產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)所述CT/PT切換繼電器組106的繼電器驅(qū)動(dòng)信號(hào),以達(dá)到切換測試接線,變換測試對象目的;設(shè)計(jì)采用74HC237和ULN2803芯片作為驅(qū)動(dòng)模塊107的主要組成芯片,來實(shí)現(xiàn)多路驅(qū)動(dòng)信號(hào)輸出的目標(biāo)。

所述CT/PT切換繼電器組106主要用來切換不同測試對象和不同測試參數(shù)時(shí)的接線狀態(tài),以達(dá)到同一臺(tái)裝置兼容不同測試對象和不同測試參數(shù)目的。

下面結(jié)合圖2詳細(xì)說明所述CT/PT切換繼電器組106連接情況。

所述CT/PT切換繼電器組包含16個(gè)繼電器RL1~RL16,2個(gè)輸入端J5、J6和4個(gè)輸出端J1、J2、J3、J4,J2、J3專門用來測量電磁式電壓互感器時(shí)與被測電壓互感器二次側(cè)連接,J4專門用來測量電流互感器時(shí)與被測電流互感器二次側(cè)連接,從而達(dá)到一臺(tái)設(shè)備兼容CT、PT測試的目的。

其中,每個(gè)繼電器的線圈一端連接正12V直流電源,另一端分別連接至所述的驅(qū)動(dòng)模塊控制信號(hào)輸出端。

還包括14個(gè)驅(qū)動(dòng)模塊控制信號(hào)輸出端CL1~CL14,所述繼電器組與驅(qū)動(dòng)模塊控制信號(hào)輸出端CL1~CL14連接如下:

第一繼電器RL1連接至CL1,第二繼電器RL2連接至CL2,第三繼電器RL3、第五繼電器RL5和第十三繼電器RL13共同連接至CL3,第四繼電器RL4連接至CL4,第六繼電器RL6、第八繼電器RL8、第十五繼電器RL15共同連接至CL6,第七繼電器RL7連接至CL7,第九繼電器RL9、第十一繼電器RL10、第十六繼電器RL16共同連接至CL9,第十繼電器連接至CL10,第十二繼電器RL12連接至CL12,第十四繼電器連接至CL14。

另外,輸入端J6的第一端子hv19與第一繼電器RL1、第二繼電器RL2和第十四繼電器RL14的第一公共點(diǎn)相互連接;輸入端J6的第二端子hv20與第一繼電器RL1、第二繼電器RL2和第十四繼電器RL14的第二公共點(diǎn)相互連接;輸入端J5的第一端子hv7與第三繼電器RL3、第六繼電器RL6和第九繼電器RL9的第一公共點(diǎn)相互連接;輸入端J5的第二端子hv8與第十二繼電器RL12、第十三繼電器RL13、第十五繼電器RL15和第十六繼電器RL16的第一公共點(diǎn)相互連接;輸入端J5的第三端子hv9與第十二繼電器RL12、第十三繼電器RL13、第十五繼電器RL15和第十六繼電器RL16的第二公共點(diǎn)相互連接;輸入端J5的第四端子hv10與第五繼電器RL5、第八繼電器RL8、和第十一繼電器RL11的第一公共點(diǎn)相互連接;輸出端J1第一端子hv1與第十二繼電器RL12第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J1第二端子hv2與第十二繼電器RL12第二常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J2第一端子hv3與第十三繼電器RL13和第十四繼電器RL14的第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J2第二端子hv4與第三繼電器RL3和第四繼電器RL4的第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J2第三端子hv5與第五繼電器RL5的第一常開觸點(diǎn)和第四繼電器RL4的第一公共點(diǎn)相互連接;輸出端J2第四端子hv6與第十三繼電器RL13和第十四繼電器RL14的第二常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J3第一端子hv11與第二繼電器RL2和第十五繼電器RL15的第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J3第二端子hv12與第六繼電器RL6和第七繼電器RL7的第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J3第三端子hv13與第八繼電器RL8的第一常開觸點(diǎn)和第七繼電器RL7的第一公共點(diǎn)相互連接;輸出端J3第四端子hv14與第二繼電器RL2和第十五繼電器RL15的第二常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J4第一端子hv15與第一繼電器RL1和第十六繼電器RL16的第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J4第二端子hv16與第九繼電器RL9和第十繼電器RL10的第一常開觸點(diǎn)相互連接;輸出端J4第三端子hv17與第十一繼電器RL11的第一常開觸點(diǎn)和第十繼電器RL10的第一公共點(diǎn)相互連接;輸出端J4第四端子hv18與第一繼電器RL1和第十六繼電器RL16的第二常開觸點(diǎn)相互連接;

測量時(shí),輸入端J5與所述的第一信號(hào)放大器連接,接收電壓信號(hào);輸入端J6與驅(qū)動(dòng)模塊連接,接收繼電器控制信號(hào);輸出端J1與被測互感器的一次側(cè)連接;輸出端J2與被測量電壓互感器的第一個(gè)二次繞組連接;輸出端J3與被測量電壓互感器的第二個(gè)二次繞組連接;輸出端J4與被測量電流互感器的二次繞組連接。

結(jié)合圖1、圖2和圖3說明,本實(shí)用新型測量電流互感器性能參數(shù)的實(shí)現(xiàn)方式如下:

測量電流互感器時(shí)接線如圖3所示,所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J1的hv1端子與被測電流互感器200的P1端相連接,hv2端子與被測電流互感器200的P2端相連接;所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J4的hv15端子和hv16端子與被測電流互感器200的S1端相連接,hv17端子和hv18端子與被測電流互感器200的S2端相連接。

測量時(shí),通過鍵盤108輸入被測電流互感器200的額定負(fù)荷、測試電流點(diǎn)等信息,并將測試信息輸入至第一處理器101,第一處理器101將測試命令下達(dá)至第二處理器102,第二處理器102下達(dá)可執(zhí)行的指令至第一信號(hào)發(fā)生器103;第一信號(hào)發(fā)生器103根據(jù)被測的變比、電流點(diǎn)和負(fù)荷的不同,發(fā)生0~120V范圍內(nèi),頻率在45~55Hz范圍內(nèi)的交流電壓信號(hào),并輸送至第一信號(hào)放大器104;第一信號(hào)放大器104對信號(hào)進(jìn)行變換處理,傳輸至CT/PT切換繼電器組106;與此同時(shí)第二處理器102根據(jù)測試需要和狀態(tài)不同,控制驅(qū)動(dòng)模塊107輸出繼電器驅(qū)動(dòng)信號(hào)至CT/PT切換繼電器組;驅(qū)動(dòng)模塊107 通過控制CL1、CL9、CL10、CL12端輸出不同的驅(qū)動(dòng)信號(hào),控制RL1、RL16、RL9、RL10、RL11、RL12常開觸點(diǎn)閉合和斷開,測量出電流互感器的變比值Kac、二次阻抗Zsc、不同電流點(diǎn)下的勵(lì)磁導(dǎo)納Y0c和二次負(fù)荷Zbc,并通過運(yùn)算得出電流互感器在各個(gè)電流點(diǎn)下的比差和角差,從而完成電流互感器變比、二次負(fù)荷和誤差的測量。并將測試結(jié)果上傳至第二處理器101,第二處理器101對上傳數(shù)據(jù)結(jié)果按一定的數(shù)據(jù)格式處理、排列,傳送至顯示屏108,顯示測試結(jié)果,測試完成。

結(jié)合圖1、圖2、圖4、圖5說明,本實(shí)用新型測量電壓互感器性能參數(shù)的實(shí)現(xiàn)方式如下:

測量電壓互感器有兩種測量模式供選擇,分別為單繞組測試和雙繞組測試。

單繞組測試,即一次完成電壓互感器一個(gè)二次繞組變比、誤差等特性參數(shù)的測量。測量電壓互感器一個(gè)繞組的接線如圖4所示,所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J1的hv1端子與被測電壓互感器300的A端相連接,hv2端子與被測電壓互感器300的N端相連接;所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J2的hv3端子和hv4端子與被測電壓互感器300的1a端相連接,hv5端子和hv6端子與被測電壓互感器300的1n端相連接。

測量時(shí),通過鍵盤108輸入被測電壓互感器300的繞組1額定負(fù)荷、測試電壓點(diǎn)、一次電壓等級、繞組1二次電壓等信息,并將測試信息輸入至第一處理器101,第一處理器101將測試命令下達(dá)至第二處理器102,第二處理器102下達(dá)可執(zhí)行的指令至第一信號(hào)發(fā)生器103;第一信號(hào)發(fā)生器103根據(jù)被測的二次電壓等級、二次電壓、電壓點(diǎn)和負(fù)荷的不同,發(fā)生0~120V范圍內(nèi),頻率在1~55Hz范圍內(nèi)的交流電壓信號(hào),并輸送至第一信號(hào)放大器104;第一信號(hào)放大器104對信號(hào)進(jìn)行變換處理,傳輸至CT/PT切換繼電器組106;與此同時(shí)第二處理器102根據(jù)測試需要和狀態(tài)不同,控制驅(qū)動(dòng)模塊107輸出繼電器驅(qū)動(dòng)信號(hào)至CT/PT切換繼電器組;驅(qū)動(dòng)模塊107 通過控制CL3、CL4、CL12、CL4端輸出不同的驅(qū)動(dòng)信號(hào),控制RL3、RL5、RL13、RL4、RL12、RL14常開觸點(diǎn)閉合和斷開,測量出電壓互感器繞組1的變比值Ka1、一次阻抗Zp、繞組1二次阻抗Zs1、不同電壓點(diǎn)下的勵(lì)磁導(dǎo)納Y0p和二次負(fù)荷Zbp,并通過運(yùn)算得出電壓互感器繞組1在各個(gè)電壓點(diǎn)下的比差和角差,從而完成電壓互感器變比、二次負(fù)荷和繞組1誤差的測量。并將測試結(jié)果上傳至第二處理器101,第二處理器101對上傳數(shù)據(jù)結(jié)果按一定的數(shù)據(jù)格式處理、排列,傳送至顯示屏108,顯示測試結(jié)果,測試完成。

雙繞組測試,即一次完成電壓互感器兩個(gè)二次繞組變比、誤差等特性參數(shù)的測量。測量電壓互感器兩個(gè)繞組的接線如圖5所示,所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J1的hv1端子與被測電壓互感器300的A端相連接,hv2端子與被測電壓互感器300的N端相連接;所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J2的hv3端子和hv4端子與被測電壓互感器300的1a端相連接,hv5端子和hv6端子與被測電壓互感器300的1n端相連接;所述CT/PT切換繼電器組106的輸出端J3的hv11端子和hv12端子與被測電壓互感器300的2a端相連接,hv13端子和hv14端子與被測電壓互感器300的2n端相連接。

測量時(shí),通過鍵盤108輸入被測電壓互感器300的被測電壓互感器一次電壓等級、測試電壓點(diǎn)、繞組1和繞組2額定負(fù)荷、繞組1和繞組2的二次電壓等信息,并將測試信息輸入至第一處理器101,第一處理器101將測試命令下達(dá)至第二處理器102,第二處理器102下達(dá)可執(zhí)行的指令至第一信號(hào)發(fā)生器103;第一信號(hào)發(fā)生器103根據(jù)被測的二次電壓等級、二次電壓、電壓點(diǎn)和負(fù)荷的不同,發(fā)生0~120V范圍內(nèi),頻率在1~55Hz范圍內(nèi)的交流電壓信號(hào),并輸送至第一信號(hào)放大器104;第一信號(hào)放大器104對信號(hào)進(jìn)行變換處理,傳輸至CT/PT切換繼電器組106;與此同時(shí)第二處理器102根據(jù)測試需要和狀態(tài)不同,控制驅(qū)動(dòng)模塊107輸出繼電器驅(qū)動(dòng)信號(hào)至CT/PT切換繼電器組;驅(qū)動(dòng)模塊107 通過控制CL2、CL3、CL4、CL6、CL7、CL12、CL14端輸出不同的驅(qū)動(dòng)信號(hào),控制RL2、RL3、RL5、RL13、RL4、RL6、RL8、RL15、RL7、RL12、RL14常開觸點(diǎn)閉合和斷開,測量出電壓互感器的一次阻抗Zp、不同電壓點(diǎn)下的勵(lì)磁導(dǎo)納Y0p、繞組1的變比值Ka1、繞組1二次阻抗Zs1、繞組2的變比值Ka2、繞組1二次阻抗Zs2和二次負(fù)荷Zbp,并通過運(yùn)算得出電壓互感器繞組1和繞組2在各個(gè)電壓點(diǎn)下的比差和角差,從而完成電壓互感器變比、二次負(fù)荷和兩個(gè)繞組誤差的測量。并將測試結(jié)果上傳至第二處理器101,第二處理器101對上傳數(shù)據(jù)結(jié)果按一定的數(shù)據(jù)格式處理、排列,傳送至顯示屏108,顯示測試結(jié)果,測試完成。

以上實(shí)施例僅供說明本實(shí)用新型之用,而非對本實(shí)用新型的限制,有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下,還可以作出各種變換或變型,因此所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該屬于本實(shí)用新型的范疇,應(yīng)由各權(quán)利要求所限定。

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