本實(shí)用新型涉及一種輔助裝置，尤其涉及一種多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置，適用于多晶方錠電阻率檢測，屬于光伏發(fā)電與新能源科技技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有的多晶方錠檢測電阻，多采用四探針電阻率測試儀檢測，在檢測過程中，需要測試探頭垂直于硅錠表面，保證探針的四個(gè)接觸點(diǎn)受力相對均衡，得到一個(gè)相對準(zhǔn)確穩(wěn)定的電阻值，一般把探頭固定在一個(gè)可調(diào)節(jié)的Z軸上。

硅錠在檢測過程中，需要檢測硅錠的6個(gè)點(diǎn)的電阻值，檢測過程中就需要人為的移動(dòng)硅錠6次，移動(dòng)的過程中造成工作效率不高，人員疲勞，磕碰硅錠概率提高，導(dǎo)致檢測不準(zhǔn)確。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)之缺陷，提供一種多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置，該電阻率檢測輔助裝置具有結(jié)構(gòu)簡單、操作方便等優(yōu)點(diǎn)。

本實(shí)用新型所述技術(shù)問題是由以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的。

一種多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置，該多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置包括兩組垂直疊加的X、Y直線滑動(dòng)模塊；所述Y直線滑動(dòng)模塊包括兩根Y直線導(dǎo)軌，所述兩根Y直線導(dǎo)軌上分別裝有兩個(gè)Y滑塊，兩根Y直線導(dǎo)軌平行安裝在檢測臺的平面上；所述X直線滑動(dòng)模塊包括兩根X直線導(dǎo)軌，所述兩根X直線導(dǎo)軌上分別裝有兩個(gè)X滑塊，所述兩根Y直線導(dǎo)軌平行安裝在X滑塊的上表面；所述Y滑塊上安裝載板。

上述多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置，在X、Y直線滑動(dòng)模塊兩端分別安裝X機(jī)械限位裝置、Y機(jī)械限位裝置。

本實(shí)用新型所述的一種多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置結(jié)構(gòu)簡單、操作方便，不僅能夠提高檢測準(zhǔn)確率、工作效率，減少人員工作強(qiáng)度，而且能夠避免頻繁人為搬運(yùn)造成的硅錠磕碰，具有很高的實(shí)用性。

附圖說明

圖1本實(shí)用新型所述的多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合具體實(shí)施方式以及附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。

如圖1所示，圖中各標(biāo)號分別為：1. Y直線導(dǎo)軌；2. Y滑塊；3. X直線導(dǎo)軌；4. X滑塊；5. 載板；6. X機(jī)械限位裝置；7. Y機(jī)械限位裝置；8. 檢測臺。

本實(shí)用新型所述的一種多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置，該多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置包括兩組垂直疊加的X、Y直線滑動(dòng)模塊；所述Y直線滑動(dòng)模塊包括兩根Y直線導(dǎo)軌1，所述兩根Y直線導(dǎo)軌1上分別裝有兩個(gè)Y滑塊2，兩根Y直線導(dǎo)軌1平行安裝在檢測臺8的平面上；所述X直線滑動(dòng)模塊包括兩根X直線導(dǎo)軌3，所述兩根X直線導(dǎo)軌3上分別裝有兩個(gè)X滑塊4，所述兩根Y直線導(dǎo)軌1平行安裝在X滑塊4的上表面；所述Y滑塊2上安裝載板5。

進(jìn)一步的，上述多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置，在X、Y直線滑動(dòng)模塊兩端分別安裝X機(jī)械限位裝置6、Y機(jī)械限位裝置7。

本實(shí)用新型所述多晶硅錠電阻率檢測輔助裝置采用兩組垂直疊加的X、Y直線滑動(dòng)模塊，檢測時(shí)硅錠放置在載板5上，在檢測不同部位時(shí)，硅錠可以沿X/Y軸滑動(dòng)，避免了檢測過程中需要人為移動(dòng)硅錠6次造成工作效率不高、人員疲勞、硅錠磕碰、檢測不準(zhǔn)確等問題。X機(jī)械限位裝置6、Y機(jī)械限位裝置7，可以避免X滑塊4、Y滑塊2滑過行程導(dǎo)致測試探頭定位不準(zhǔn)確、接觸點(diǎn)受力不均衡等問題。

以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本實(shí)用新型，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本實(shí)用新型，并不用于限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。