本實用新型涉及探頭領(lǐng)域，尤其涉及一種測量探頭及測量設備。

背景技術(shù)：

傳統(tǒng)的，對于使用測量探頭進行測量的測量設備，一般是將測量探頭點在相關(guān)觸點的接觸表面進行測量。在測量過程中,由于手的抖動可能導致接觸面積發(fā)生變化,導致量測的數(shù)值誤差較大,當接觸表面存在氧化時誤差尤其明顯。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

基于此，本實用新型在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種檢測誤差小的測量探頭及測量設備。

其技術(shù)方案如下：

一種測量探頭，用于與信號分析本體電性連接，所述測量探頭包括探頭本體，所述探頭本體包括用于與受測設備的接觸表面接觸的測量探針，所述探頭本體上設有電加熱體以及用于控制所述電加熱體的控制開關(guān)，所述電加熱體與所述測量探針連接用于加熱所述測量探針。

在其中一個實施例中，所述探頭本體還包括連接導線，所述連接導線的一端與所述測量探針電性連接，所述連接導線的另一端用于與所述信號分析本體電性連接。

在其中一個實施例中，所述探頭本體還包括絕緣外殼，所述絕緣外殼設置在所述測量探針與所述連接導線的交接處外側(cè)。

在其中一個實施例中，所述電加熱體設置在所述絕緣外殼內(nèi)部。

在其中一個實施例中，所述絕緣外殼的外側(cè)設有用于控制所述控制開關(guān)的開關(guān)按鍵。

在其中一個實施例中，所述電加熱體包括加熱本體、導熱絲以及電源輸入導線，所述導熱絲連接所述加熱本體與所述測量探針，所述電源輸入導線的一端與所述加熱本體連接，所述電源輸入導線的另一端用于與信號分析本體的電源連接。

在其中一個實施例中，所述加熱本體為高頻加熱體、電阻式加熱體、發(fā)熱絲或電熱片。

在其中一個實施例中，所述測量探針為金屬探針。

一種測量設備，包括信號分析本體以及所述的測量探頭。

在其中一個實施例中，該測量設備為萬用表或示波器。

本實用新型的有益效果在于：

所述測量探頭，探頭本體的測量探針用于點在受測設備的接觸表面上的測試點處,進行測量時，可先判斷接觸表面的測試點處是否為可熔表面，若不是，可直接采用測量探針進行測量讀數(shù)，若是，可打開所述控制開關(guān),使得電加熱體對測量探針進行加熱，測量探針點到測試點上時，測試點處的可熔表面會有少量熔掉，此時，將測量探頭少許插入測試點處的可熔表面內(nèi)，停止加熱使得可熔表面固化后讀取測量數(shù)值，讀取完成后再對測量探針進行加熱,使得測量探針從可熔表面取出，完成測試動作。所述測量探頭進行測量時，能夠?qū)κ軠y設備的接觸表面進行加熱，進而使得測量探針能夠與接觸表面充分接觸，測量時測量探針為固定狀態(tài)，接觸面積不易發(fā)生變化，檢測誤差小。

所述測量設備，包括上述所述的測量探頭，具備所述測量探頭的技術(shù)效果，檢測誤差小。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例所述的測量探頭的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實用新型實施例所述的測量設備的測量結(jié)構(gòu)示意圖。

附圖標記說明：

100、測量設備，110、探頭本體，111、測量探針，112、電加熱體，1121、加熱本體，1122、導熱絲，1123、電源輸入導線，113、控制開關(guān)，114、連接導線，115、絕緣外殼，116、開關(guān)按鍵，120、信號分析本體，200、受測設備，210、接觸表面。

具體實施方式

下面對本實用新型的實施例進行詳細說明：

如圖1、圖2所示，一種測量探頭，用于與信號分析本體120電性連接。所述測量探頭包括探頭本體110，所述探頭本體110包括用于與受測設備200的接觸表面210接觸的測量探針111，所述探頭本體110上設有電加熱體112以及用于控制所述電加熱體112的控制開關(guān)113，所述電加熱體112與所述測量探針111連接用于加熱所述測量探針111。本實施例中，所述測量探針111為金屬探針，電加熱體112能夠?qū)y量探針111進行有效的、快速的加熱。

所述測量探頭，探頭本體110的測量探針111用于點在受測設備200的接觸表面210上的測試點處,進行測量時，可先判斷接觸表面210的測試點處是否為可熔表面，若不是，可直接采用測量探針111進行測量讀數(shù)，若是，可打開所述控制開關(guān)113，使得電加熱體112對測量探針111進行加熱，測量探針111點到測試點上時，測試點處的可熔表面會有少量熔掉，此時，將測量探頭少許插入測試點處的可熔表面內(nèi)，停止加熱使得可熔表面固化后讀取測量數(shù)值,讀取完成后再對測量探針111進行加熱,使得測量探針111從可熔表面取出，完成測試動作。所述測量探頭進行測量時，能夠?qū)κ軠y設備200的接觸表面210進行加熱，進而使得測量探針111能夠與接觸表面210充分接觸，測量時測量探針111為固定狀態(tài)，接觸面積不易發(fā)生變化，檢測誤差小。本實施例中，所述可熔表面可以為錫盤表面或其他導電表面。

本實施例中，所述電加熱體112包括加熱本體1121、導熱絲1122以及電源輸入導線1123，所述導熱絲1122連接所述加熱本體1121與所述測量探針111，所述電源輸入導線1123的一端與所述加熱本體1121連接，所述電源輸入導線1123的另一端用于與信號分析本體120的電源連接。采用上述結(jié)構(gòu)，導熱絲1122能夠?qū)⒓訜岜倔w1121上產(chǎn)生的熱量傳導至測量探針111上，進而對測量探針111進行加熱；而加熱本體1121的電源則由信號分析本體120直接提供，無需額外提供電源，結(jié)構(gòu)簡單。進一步的，所述加熱本體1121可以為高頻加熱體、電阻式加熱體、發(fā)熱絲或電熱片等電加熱裝置。本實施例中，所述加熱本體1121優(yōu)選為高頻加熱體，加熱速度快、效率高，能夠?qū)y量探針111進行快速加熱，使得測量探頭快速達到預設的溫度，進而快速進行測量，提高測量效率。

進一步的，所述探頭本體110還包括連接導線114，所述連接導線114的一端與所述測量探針111電性連接，所述連接導線114的另一端用于與所述信號分析本體120電性連接。采用上述結(jié)構(gòu)，連接導線114能夠?qū)y量探針111測量得到的信號傳輸至信號分析本體120上。所述探頭本體110還包括絕緣外殼115，所述絕緣外殼115設置在所述測量探針111與所述連接導線114的交接處外側(cè)。通過設置絕緣外殼115，便于操作人員手持進行測量操作。本實施例中，所述電加熱體112設置在所述絕緣外殼115內(nèi)部，使用安全，且所述測量探頭的整體性好。所述絕緣外殼115的外側(cè)設有用于控制所述控制開關(guān)113的開關(guān)按鍵116，操作人員可以通過按動開關(guān)按鍵116來控制所述控制開關(guān)113的開閉，操作方便。

本實施例所述的測量探頭進行測量時，首先判斷測量探針111需要接觸的測試點處是否為可熔表面，如果不是，測量探針111直接接觸測試點進行量測讀數(shù)即可；如果是，打開測量探針111的控制開關(guān)113，電加熱體112快速對測量探針111進行加熱，測量探針111到達設定的溫度時讓測量探針111接觸測試點,測試點處的可熔表面會有少量熔掉，這時將測量探針111少許插入可熔表面內(nèi)，停止加熱，可熔表面會很快固化，此時可馬上讀取測量數(shù)值，讀取完成后再快速對測量探針111進行加熱，將測量探針111從可熔表面中取出，完成測試動作。所述測量探頭，通過采用電加熱原理，使得測量探針111能夠快速的介入可熔表面的內(nèi)部與測試點充分接觸,可大幅度降低由于接觸問題導致的測量誤差，尤其適用于對錫盤、焊盤或其他導電表面的測量，可降低測量誤差，提高測量精度。

所述測量設備100，包括信號分析本體120以及所述的測量探頭，具備所述測量探頭的技術(shù)效果，檢測誤差小。本實施例的測量設備100可以為萬用表、示波器等需要對受測設備的接觸表面210進行測量的設備，不僅能起到測量的功能，還具備加熱功能，功能多樣，檢測誤差小。

以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的范圍。

以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權(quán)利要求為準。