1.具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，包括基座，設(shè)置在基座上的樣品座，設(shè)置在基座上的通向樣品座的第一光路通道和第一檢測通道，與所述第一光路通道配合的第一光源，與所述第一檢測通道配合的第一熒光分析系統(tǒng)，所述第一光源的光經(jīng)過所述第一光路通道射向所述樣品座上的樣品，樣品產(chǎn)生的熒光穿過所述第一檢測通道，所述第一熒光分析系統(tǒng)用于分析經(jīng)過所述第一檢測通道射的所述熒光，
其特征在于所述基座上還設(shè)有第二光路通道和第二檢測通道，與所述第二光路通道配合的第二光源，與所述第二檢測通道配合的第二熒光分析系統(tǒng)，所述第二光源的光經(jīng)過所述第二檢測通道射向所述樣品座上的樣品，樣品產(chǎn)生的熒光穿過所述第二檢測通道，所述第二熒光分析系統(tǒng)用于分析經(jīng)過所述第二檢測通道射的所述熒光。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述第一光路通道和第一檢測通道呈90度布置，所述第二光路通道和第二檢測通道呈90度布置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述第一光路通道、第一檢測通道、第二光路通道和第二檢測通道分別設(shè)置在同一平面、并分布于所述樣品座的四周。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述第一光路通道和所述第二光路通道上分別設(shè)置一第一光源反饋強度檢測器和一第二光源反饋強度檢測器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述的基座上分別設(shè)置第一光強度檢測通道和第二光強度檢測通道，所述第一光強度檢測通道與所述第一光路通道連通，所述第二光強度檢測通道與所述第二光路通道連通，所述第一光源反饋強度檢測器與所述第一光強度檢測通道配合，所述第二光源反饋強度檢測器與所述第二光強度檢測通道配合。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述第一光路通道的出口位置設(shè)置第一光學發(fā)射窗；所述第二光路通道的出口位置設(shè)置第二光學發(fā)射窗。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述第一光源和第二光源都包括LED光源、設(shè)置在LED光源出光方向的激發(fā)濾光片，所述光學發(fā)射窗分別設(shè)置在對應(yīng)的激發(fā)濾光片的出光方向。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述第一熒光分析系統(tǒng)和第二熒光分析系統(tǒng)都包括接收對應(yīng)檢測通道的光的聚光透鏡、設(shè)置在聚光透鏡出光方向的發(fā)射濾光片，和設(shè)置在發(fā)射濾光片出光方向的光信號檢測器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的具有雙通道光路系統(tǒng)的熒光計，其特征在于所述聚光透鏡為雙凸透鏡或平凸透鏡，樣品座中心到聚光透鏡的距離由聚光透鏡的焦距決定。