技術(shù)總結(jié)
本實(shí)用新型提出了一種PTC芯片測試治具，包括安裝底板、導(dǎo)電底座、上蓋板、多個(gè)電流探針，導(dǎo)電底座安裝在安裝底板上，第一底板擋塊、第二底板擋塊沿導(dǎo)電底座長度方向設(shè)置，導(dǎo)電底座上沿其長度方向設(shè)有多個(gè)第一插孔；上蓋板位于導(dǎo)電底座上方，上蓋板上設(shè)有多個(gè)卡接孔，卡接孔的數(shù)量與第一插孔的數(shù)量一致且各卡接孔與各第一插孔一一對應(yīng)；沿導(dǎo)電底座的長度方向，多個(gè)電流探針間隔布置，電流探針的數(shù)量與第一插孔的數(shù)量一致且各電流探針與各第一插孔一一對應(yīng)，各電流探針的頂端卡接在卡接孔內(nèi)且各電流探針可沿著卡接孔軸向移動。本實(shí)用新型可一次對多個(gè)PTC芯片進(jìn)行測試，結(jié)構(gòu)簡單，能夠快速安全方便的測試PTC芯片的表面溫度，工作效率高。

技術(shù)研發(fā)人員：陳健
受保護(hù)的技術(shù)使用者：安徽匯展熱交換系統(tǒng)股份有限公司
文檔號碼：201620943473
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.25
技術(shù)公布日：2017.02.22