本實(shí)用新型系關(guān)于一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(Automated Optical Inspection；AOI)，特別是用于檢測(cè)軟性電路板或薄型印刷電路板的檢測(cè)裝置及方法。

背景技術(shù)：

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)(Automated Optical Inspection；AOI)泛用于檢測(cè)電子電路的各領(lǐng)域中，例如集成電路(Integrated Circuit；IC)制程檢測(cè)、印刷電路板(Printed Circuit Board；PCB)檢測(cè)、液晶顯示面板(Liquid Crystal Display Panel)檢測(cè)等，主要目的在電路板、軟板、顯示面板等(通稱(chēng)為待測(cè)物)的生產(chǎn)過(guò)程中，能夠適時(shí)透過(guò)AOI檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)其外觀、線路、瑕疵等進(jìn)行預(yù)篩檢測(cè)。

由于人工工資高漲，目前業(yè)界對(duì)于AOI的檢測(cè)速度有極大的要求，并希望透過(guò)AOI檢測(cè)能同時(shí)節(jié)省人力成本所需的工時(shí)。而隨著電子產(chǎn)品往體積小、薄型化的方向發(fā)展，其相關(guān)零組件亦愈做愈小，在單位面積或體積中放入愈來(lái)愈多線路及電子組件，這也使得AOI檢測(cè)面臨極大的挑戰(zhàn)。例如在薄型的印刷電路板檢測(cè)中，待測(cè)物板厚約僅為0.1mm～3.5mm甚至更薄，此厚度在輸送過(guò)程中，容易因翹曲不平整而影響AOI檢測(cè)裝置的光學(xué)對(duì)焦，導(dǎo)致檢測(cè)的失準(zhǔn)。

故如何讓AOI檢測(cè)裝置在提高檢測(cè)速度、節(jié)省人力成本的同時(shí)，還要能因應(yīng)薄型印刷電路板或軟性電路板的檢測(cè)需求，此實(shí)為業(yè)界極待解決的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型之一目的在提出一種可檢測(cè)薄型印刷電路板或軟性電路板的裝置及方法。

本實(shí)用新型之另一目的在提出一種可檢測(cè)待測(cè)物雙面以提高檢測(cè)速度的裝置及方法。

本實(shí)用新型之又一目的為透過(guò)和待測(cè)物生產(chǎn)線脫機(jī)式(off-line)或在線式(in-line)的安排設(shè)置，以達(dá)到節(jié)省人力的目的。

為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型提出一種可平穩(wěn)輸送軟性電路板或薄型印刷電路板的裝置及方法，并可于光學(xué)檢測(cè)單元中對(duì)待測(cè)物的雙面進(jìn)行檢測(cè)，故可達(dá)到提高檢測(cè)速度之目的。

于本實(shí)用新型的實(shí)施例中，待測(cè)物傳送單元系由環(huán)狀的輸送帶所形成，并可在其所環(huán)繞的空間內(nèi)設(shè)置有至少一氣箱，該輸送帶上有復(fù)數(shù)個(gè)通孔，氣箱可透過(guò)該復(fù)數(shù)個(gè)通孔吸附于輸送帶上的待測(cè)物，故可達(dá)到平穩(wěn)傳輸軟性電路板或薄型印刷電路板的目的。

于本實(shí)用新型的實(shí)施例中，待測(cè)物傳送單元可進(jìn)一步設(shè)計(jì)成包括有左側(cè)環(huán)狀下輸送帶、環(huán)狀上輸送帶及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶，該左側(cè)環(huán)狀下輸帶及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶之間形成有一間隙(光學(xué)檢測(cè)口)，以供光學(xué)檢測(cè)單元進(jìn)行待測(cè)物底面的檢測(cè)。

于本實(shí)用新型的實(shí)施例中，光學(xué)檢測(cè)單元可進(jìn)一步設(shè)計(jì)成上光源檢測(cè)裝置及下光源檢測(cè)裝置，并對(duì)待測(cè)物進(jìn)行雙面檢測(cè)。待測(cè)物于傳送單元輸送時(shí)，可先進(jìn)行下光源檢測(cè)裝置的檢測(cè)，再進(jìn)行上光源檢測(cè)裝置的檢測(cè)；其檢測(cè)順序也可相反不以此為限。

本實(shí)用新型所述的檢測(cè)裝置，包括有一檢測(cè)裝置主體、一待測(cè)物輸送單元，該待測(cè)物輸送單元包括具有復(fù)數(shù)個(gè)通孔的環(huán)狀輸送帶，分別在檢 測(cè)裝置主體的兩側(cè)形成待測(cè)物入料口及待測(cè)物出料口，并于檢測(cè)裝置主體內(nèi)形成光學(xué)檢測(cè)口；該檢測(cè)裝置還包括有一吸氣單元、一光學(xué)檢測(cè)單元，該吸氣單元包括至少一氣箱，并設(shè)置于環(huán)狀輸送帶所形成的區(qū)域內(nèi)，該光學(xué)檢測(cè)單元包括一上光源檢測(cè)裝置及一下光源檢測(cè)裝置，其中該下光源檢測(cè)裝置透過(guò)該光學(xué)檢測(cè)口對(duì)待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè)。

所述的檢測(cè)裝置，其中該左側(cè)環(huán)狀下輸送帶及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶分別和環(huán)狀上輸送帶于垂直投影面上重迭至少一部分。

所述的檢測(cè)裝置，其中該上光源檢測(cè)裝置設(shè)置于環(huán)狀上輸送帶的左側(cè)或右側(cè)。

所述的檢測(cè)裝置，其中該上光源檢測(cè)裝置和具吸附力的左側(cè)環(huán)狀下輸帶或右側(cè)環(huán)狀下輸帶上下對(duì)應(yīng)設(shè)置。

所述的檢測(cè)裝置，其中該左側(cè)環(huán)狀下輸送帶、右側(cè)環(huán)狀下輸送帶及環(huán)狀上輸送帶三者系為等速輸送待測(cè)物。

所述的檢測(cè)裝置，其中該復(fù)數(shù)個(gè)通孔之間的間距系小于待測(cè)物邊緣的不檢測(cè)區(qū)域?qū)挾取?/p>

所述的檢測(cè)裝置，其中于待測(cè)物進(jìn)入待測(cè)物入料口前，先經(jīng)由整板機(jī)將待測(cè)物進(jìn)行整板定位的動(dòng)作。

所述的檢測(cè)裝置，其中該氣箱的吸附力大小，可于檢測(cè)裝置出廠前或透過(guò)人員操作接口進(jìn)行設(shè)定。

所述的檢測(cè)裝置，在該檢測(cè)裝置的前后檢測(cè)流程上，另設(shè)置有整板機(jī)或分板機(jī)或暫存機(jī)或放板機(jī)或收板機(jī)或打標(biāo)簽機(jī)。

所述的檢測(cè)裝置，可將其使用于在線式待測(cè)物檢測(cè)流程(in-line)中。

所述的檢測(cè)裝置，可將其使用于脫機(jī)式待測(cè)物檢測(cè)流程 (off-line)中。

【附圖說(shuō)明】

本文附圖僅以舉例方式描述本實(shí)用新型的某些實(shí)施例，于解釋申請(qǐng)專(zhuān)利范圍時(shí)，不應(yīng)僅以圖示為限。

第1圖是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置的外觀示意圖。

第2圖是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置的內(nèi)部示意圖。

第3A圖是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置中的待測(cè)物輸送單元120示意圖。

第3B圖是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置中的待測(cè)物輸送單元120的再一示意圖。

圖3C是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置中的吸氣單元130之氣箱的示意圖。

第4圖是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置，待測(cè)物A傳送至環(huán)狀上輸送帶122時(shí)的上方俯視圖。

第5圖是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置應(yīng)用于脫機(jī)式待測(cè)物檢測(cè)流程(off-line)示意圖。

第6圖是本發(fā)檢測(cè)裝置應(yīng)用于在線式待測(cè)物檢測(cè)流程(in-line)示意圖。

【具體實(shí)施方式】

為充分說(shuō)明本實(shí)用新型之目的、技術(shù)特征及功效，藉由下列具體實(shí)施例，并配合所附之圖示，對(duì)本實(shí)用新型做一詳細(xì)說(shuō)明如后：

首先請(qǐng)一并參閱圖1～圖3C，圖1系本實(shí)用新型一實(shí)施例之檢測(cè)裝置10，該檢測(cè)裝置包括有一檢測(cè)裝置主體100、人員操作接口110、待測(cè)物輸 送單元120，該待測(cè)物輸送單元120在檢測(cè)裝置主體100的兩側(cè)，形成有待測(cè)物入料口111及待測(cè)物出料口112，待測(cè)物入料口111系供待測(cè)物輸送至檢測(cè)裝置主體100，于其進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)后，再由待測(cè)物出料口112輸送至下一站，下一站例如可為分板機(jī)或收板機(jī)或暫存機(jī)或打標(biāo)簽機(jī)(圖未示)，此待測(cè)物出料口112輸出的下一站可為業(yè)界實(shí)際需求而設(shè)置。待測(cè)物A于此實(shí)施例中可為由左至右，透過(guò)輸送皮帶由待測(cè)物入料口111進(jìn)入檢測(cè)裝置主體100進(jìn)行檢測(cè)后，再由待測(cè)物出料口112輸出。

再請(qǐng)參閱圖2及圖3A，圖2系圖1檢測(cè)裝置10的進(jìn)一步內(nèi)部示意圖，該檢測(cè)裝置10包括有一待測(cè)物輸送單元120，該待測(cè)物輸送單元120包含一左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121、一環(huán)狀上輸送帶122及一右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123，于各輸送帶上并分別具有復(fù)數(shù)個(gè)通孔1201。

該待測(cè)物輸送單元120之環(huán)狀輸送帶，于輸送帶圍繞的區(qū)域內(nèi)設(shè)置有至少一吸氣單元130，該吸氣單元包括有至少一氣箱(1211或1221或1231)，藉由抽氣泵(圖未示)的吸氣將氣箱內(nèi)的氣壓降低，并可透過(guò)氣箱開(kāi)口1301及環(huán)狀輸送帶上復(fù)數(shù)個(gè)通孔1201于傳送過(guò)程中吸附待測(cè)物A。

圖3A為待測(cè)物輸送單元120的側(cè)面示意圖，在本實(shí)施例中待測(cè)物傳送單元120系由左至右(不以此方向?yàn)橄?將待測(cè)物A進(jìn)行傳送檢測(cè)，又光學(xué)檢測(cè)單元140包括有下光源檢測(cè)裝置1401及上光源檢測(cè)裝置1402，系分別對(duì)待測(cè)物A的雙面進(jìn)行檢測(cè)。其中可注意到，左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123之間存有一間隙D(光學(xué)檢測(cè)口)供下光源檢測(cè)裝置1401進(jìn)行光源照射及CCD攝像分析，且左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123系分別和環(huán)狀上輸送帶122在垂直投影面上重迭d1及d2的距離，該d1和d2的距離可相同或不相同。

待測(cè)物A于左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121上傳送時(shí)，氣箱1211透過(guò)輸送帶上復(fù)數(shù)個(gè)通孔1201吸附待測(cè)物A，使得待測(cè)物A能平穩(wěn)貼附于左側(cè)環(huán)狀下輸送 帶121上隨著輸送帶傳送前進(jìn)；當(dāng)待測(cè)物A進(jìn)入和環(huán)狀上輸送帶122重迭區(qū)域d1時(shí)，此時(shí)待測(cè)物A受環(huán)狀上輸送帶122內(nèi)氣箱1221的吸力影響，將被吸附于環(huán)狀上輸送帶122而跟著輸送帶繼續(xù)傳送前進(jìn)；當(dāng)待測(cè)物A進(jìn)入和右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123重迭的區(qū)域d2時(shí)，此時(shí)待測(cè)物A受右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123內(nèi)氣箱1231的吸力影響，將被吸附于右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123上繼續(xù)傳送前進(jìn)。其中該左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121、環(huán)狀上輸送帶122及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123三者為等速度運(yùn)轉(zhuǎn)及傳送待測(cè)物A。

繼續(xù)參閱圖3A，當(dāng)待測(cè)物A由左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121依序進(jìn)入環(huán)狀上輸送帶122及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123時(shí)，其內(nèi)部氣箱產(chǎn)生的吸附力大小可依序?yàn)椋覀?cè)環(huán)狀下輸送帶內(nèi)氣箱1231吸附力大于環(huán)狀上輸送帶內(nèi)氣箱1221吸附力且環(huán)狀上輸送帶內(nèi)氣箱1221吸附力大于左側(cè)環(huán)狀下輸送帶內(nèi)氣箱1211吸附力。上述各氣箱內(nèi)吸附力大小的控制可從檢測(cè)裝置于出廠前做好設(shè)定，或是透過(guò)人員操作接口110根據(jù)檢測(cè)裝置所處環(huán)境的實(shí)際情況做出修正設(shè)定?？梢岳斫獾氖?，若待測(cè)物A進(jìn)入檢測(cè)裝置的方向相反，則各氣箱產(chǎn)生的吸附力大小亦相反。

再參閱圖3A，當(dāng)待測(cè)物A由左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121依序進(jìn)入環(huán)狀上輸送帶122及右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123時(shí)，其內(nèi)部氣箱產(chǎn)生的吸附力亦可設(shè)計(jì)成先開(kāi)啟左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121內(nèi)部之氣箱1211，當(dāng)待測(cè)物A傳送至和環(huán)狀上輸送帶122重迭的區(qū)域d1時(shí)，此時(shí)開(kāi)啟環(huán)狀上輸帶122內(nèi)部之氣箱1221并關(guān)閉氣箱1211；當(dāng)待測(cè)物A繼續(xù)傳送至和右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123重迭的區(qū)域d2時(shí)，此時(shí)開(kāi)啟右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123內(nèi)部之氣箱1231并關(guān)閉氣箱1221?？梢岳斫獾氖?，若待測(cè)物A進(jìn)入檢測(cè)裝置的方向相反，則各氣箱開(kāi)啟、關(guān)閉的順序亦相反。

參閱圖3B，此為待測(cè)物傳送時(shí)的又一實(shí)施例，當(dāng)待測(cè)物A由環(huán)狀上輸送帶122進(jìn)入右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123時(shí)，由于待測(cè)物A的前端會(huì)逐漸脫離環(huán)狀上輸送帶122的吸附范圍而受重力吸引自然垂下，故右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123內(nèi) 部亦可不設(shè)置有氣箱1231。但是，由于沒(méi)有氣箱1231產(chǎn)生的吸附力，例如薄型印刷電路板等待測(cè)物容易因翹曲而導(dǎo)致上光源檢測(cè)裝置1402無(wú)法做一較精準(zhǔn)的光學(xué)對(duì)焦，故上光源檢測(cè)裝置1402此時(shí)應(yīng)設(shè)置于左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121(仍有氣箱產(chǎn)生之吸附力)之上。即，上光源檢測(cè)裝置1402應(yīng)和具有氣箱吸附力的環(huán)狀下輸送帶做一上下對(duì)應(yīng)的配置。

參閱圖3A及圖3B，吸氣單元130之氣箱1211、1221及1231的吸附力大小也可設(shè)計(jì)成約略相同，當(dāng)待測(cè)物A于左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121進(jìn)入間隙D(光學(xué)檢測(cè)口)時(shí)，其前端受左側(cè)環(huán)狀下輸帶121的吸附力將逐漸減小，進(jìn)而被環(huán)狀上輸送帶122的吸附力所吸附，當(dāng)待測(cè)物A繼續(xù)往前輸送至右側(cè)環(huán)狀下輸帶123時(shí)，此時(shí)待測(cè)物A的前端受環(huán)狀上輸帶122的吸附力將逐漸減小，進(jìn)而被右側(cè)環(huán)狀下輸帶123的吸附力所吸附。

參閱圖3A及圖3C，圖3C為吸氣單元130之氣箱示意(氣箱及待測(cè)物A之間的環(huán)狀輸送帶省略未繪出)，該氣箱上具有復(fù)數(shù)個(gè)氣箱開(kāi)口1301，在此實(shí)施例中，氣箱開(kāi)口1301設(shè)計(jì)成長(zhǎng)條狀(不依此形狀為限)，從待測(cè)物A進(jìn)入的方向上，氣箱開(kāi)口1301分布于氣箱的兩側(cè)(各氣箱上之氣箱開(kāi)口位置、數(shù)量亦可不相同，不依此為限)，在各環(huán)狀輸送帶內(nèi)部的氣箱于垂直投影面上亦會(huì)重迭至少一部分，以讓待測(cè)物A在進(jìn)入不同環(huán)狀輸送帶時(shí)能夠順利吸附傳送。

另外，由于氣箱產(chǎn)生吸附力時(shí)，于其上的環(huán)狀輸送帶容易因此凹陷，進(jìn)而導(dǎo)至光學(xué)檢測(cè)單元140的對(duì)焦失準(zhǔn)，故較佳的，氣箱1211、1221、1231的長(zhǎng)寬高大小設(shè)計(jì)，應(yīng)做為其上環(huán)狀輸送帶的支撐，使環(huán)狀輸送帶不因氣箱的吸附力而凹陷，特別是在光學(xué)檢測(cè)單元140的對(duì)焦檢測(cè)處。

前述氣箱吸附力的大小控制，可視檢測(cè)裝置擺放的實(shí)際環(huán)境需求或間隙D(光學(xué)檢測(cè)口)的開(kāi)口寬度要求，于檢測(cè)裝置出廠前或是透過(guò)人員操作接口110做出即刻的設(shè)定調(diào)整。

綜上，當(dāng)待測(cè)物A受環(huán)狀上輸送帶122吸附并通過(guò)間隙D(光學(xué)檢測(cè)口)時(shí)，此時(shí)下光源檢測(cè)裝置1401可透過(guò)間隙D(光學(xué)檢測(cè)口)對(duì)待測(cè)物的底面進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)；當(dāng)待測(cè)物A受右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123吸附時(shí)，此時(shí)上光源檢測(cè)裝置1402可對(duì)待測(cè)物A的正面進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)?？衫斫獾氖?，上光源檢測(cè)裝置1402可設(shè)置于左側(cè)環(huán)狀下輸送帶121之上，或是設(shè)置于右側(cè)環(huán)狀下輸送帶123之上，本創(chuàng)作不以此為限。

接著請(qǐng)參閱圖4，圖4為待測(cè)物A進(jìn)入環(huán)狀上輸送帶122時(shí)的上方俯視示意圖，其中z2為環(huán)狀上輸送帶通孔1201之間的距離。在對(duì)待測(cè)物A進(jìn)行AOI相關(guān)檢測(cè)時(shí)，實(shí)務(wù)上在待測(cè)物A的邊緣會(huì)有一段不檢測(cè)區(qū)域長(zhǎng)度z1，而圖4待測(cè)物A中的斜線覆蓋處為有效檢測(cè)區(qū)域，此不檢測(cè)區(qū)域z1的長(zhǎng)度在待測(cè)物A傳輸至環(huán)狀上輸送帶122時(shí)，若z2長(zhǎng)度大于z1長(zhǎng)度的話，則在待測(cè)物A邊緣處會(huì)形成一段通孔1201無(wú)法吸附到的區(qū)域，此無(wú)法吸附到的區(qū)域于傳送過(guò)程會(huì)下垂彎曲并影響到下光源檢測(cè)裝置1401的檢測(cè)準(zhǔn)度。故較佳的，環(huán)狀上輸送帶122的通孔1201之間的距離z2，應(yīng)小于待測(cè)物A邊緣不檢測(cè)區(qū)域的長(zhǎng)度z1。

圖5為本實(shí)用新型創(chuàng)作的檢測(cè)裝置10應(yīng)用于脫機(jī)式待測(cè)物檢測(cè)流程的實(shí)施情況(off-line)，其中在檢測(cè)裝置10之前可先設(shè)置一整板機(jī)20(或稱(chēng)靠邊機(jī))，其主要目的為讓待測(cè)物A進(jìn)入檢測(cè)裝置10之前，能夠先進(jìn)行靠邊對(duì)位的動(dòng)作，以讓檢測(cè)裝置10中的光學(xué)檢測(cè)單元140更精準(zhǔn)的擷取待測(cè)物A的影像。甚而，在整板機(jī)20之前，可再依所需設(shè)置放板機(jī)30；除此之外，也可于檢測(cè)裝置10之后再進(jìn)行一次整板動(dòng)作(圖未示)，或搭配有一分板機(jī)40來(lái)判斷待測(cè)物是否合格或不合格(具有瑕疵)、暫存區(qū)(圖未示)來(lái)暫時(shí)擺放待測(cè)物，打標(biāo)簽機(jī)(圖未示)將待測(cè)物進(jìn)行卷標(biāo)編碼，或再設(shè)置有一收板機(jī)50。

上述整板機(jī)20、放板機(jī)30、分板機(jī)40、收板機(jī)50、暫存區(qū)、打標(biāo)簽機(jī)等站別可全部或部分整合于檢測(cè)裝置10之中。或者，亦可全部設(shè)置或部 分設(shè)置于檢測(cè)裝置10的前后兩側(cè)。

圖6為本實(shí)用新型創(chuàng)作的檢測(cè)裝置10應(yīng)用于在線式待測(cè)物檢測(cè)流程生產(chǎn)線的實(shí)施情況(in-line)，為能使待測(cè)物的生產(chǎn)及檢測(cè)節(jié)省人力的搬運(yùn)及避免搬運(yùn)中可能造成的損傷，本實(shí)用新型創(chuàng)作的檢測(cè)裝置10可直接設(shè)置于待測(cè)物生產(chǎn)線60(例如印刷電路板生產(chǎn)線)之后，待測(cè)物于生產(chǎn)后，即由產(chǎn)線直接傳送至檢測(cè)裝置10進(jìn)行相關(guān)檢測(cè)。另外，整板機(jī)20、分板機(jī)40、收板機(jī)50、暫存區(qū)、打標(biāo)簽機(jī)的設(shè)置安排可如同圖5所示，不再贅述。

綜上，本實(shí)用新型透過(guò)檢測(cè)裝置10及待測(cè)物傳送單元20的設(shè)計(jì)，可解決軟性電路板或薄型印刷電路板容易翹曲不易檢測(cè)的問(wèn)題；光學(xué)檢測(cè)單元140的雙面檢測(cè)設(shè)計(jì)可提高業(yè)界對(duì)檢測(cè)速度的需求；檢測(cè)裝置10可依實(shí)際需求直接設(shè)置于待測(cè)物生產(chǎn)線60之后(in-line)，并搭配如圖6所示的整板機(jī)20、分板機(jī)40、收板機(jī)50等設(shè)備。檢測(cè)裝置10亦可不接于待測(cè)物生產(chǎn)線60之后(off-line)，并搭配如圖5所示的放板機(jī)30、整板機(jī)20、分板機(jī)40、收板機(jī)50等設(shè)備。

本實(shí)用新型在前述內(nèi)容中已以較佳實(shí)施例說(shuō)明，然熟知本項(xiàng)技術(shù)者應(yīng)理解的是，該實(shí)施例僅用于描繪本實(shí)用新型，而不應(yīng)解讀限制本實(shí)用新型之專(zhuān)利權(quán)范圍，舉凡與該實(shí)施例等效之變化與替換，均應(yīng)當(dāng)涵蓋于本實(shí)用新型之范疇內(nèi)。

【符號(hào)說(shuō)明】

10檢測(cè)裝置 100檢測(cè)裝置主體

110人員操作接口 111待測(cè)物入料口

112待測(cè)物出料口 120待測(cè)物輸送單元

121左側(cè)環(huán)狀下輸送帶 122環(huán)狀上輸送帶

123右側(cè)環(huán)狀下輸送帶 1201通孔

1211、1221、1231氣箱 130吸氣單元

140光學(xué)檢測(cè)單元 1301氣箱開(kāi)口

1402上光源檢測(cè)裝置 1401下光源檢測(cè)裝置

A待測(cè)物

D光學(xué)檢測(cè)口、間隙

d1左側(cè)環(huán)狀下輸送帶和環(huán)狀上輸送帶重迭區(qū)域

d2右側(cè)環(huán)狀下輸送帶和環(huán)狀上輸送帶重迭區(qū)域

z1不檢測(cè)區(qū)域長(zhǎng)度

z2環(huán)狀上輸送帶通孔距離

20整板機(jī)、靠邊機(jī) 30放板機(jī)

40分板機(jī) 50收板機(jī)

60待測(cè)物生產(chǎn)線。