1.一種實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測(cè)試裝置，其特征在于：包括萬(wàn)用板(1)，該萬(wàn)用板上設(shè)有芯片鎖緊底座(2)和一對(duì)接線柱端子(5)；該芯片鎖緊底座上設(shè)有兩組引腳鎖緊電極插口(3)，每組引腳鎖緊電極插口中位于最外側(cè)的電極插口通過(guò)公共電極引線(7)連接至其中一個(gè)接線柱端子上，其余的電極插口分別通過(guò)對(duì)電極引線(6)連接至另一個(gè)接線柱端子上，所述公共電極引線(7)和對(duì)電極引線(6)上分別設(shè)有按鈕開(kāi)關(guān)(9)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測(cè)試裝置，其特征在于：所述公共電極引線(7)和對(duì)電極引線(6)均通過(guò)印刷電路形成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測(cè)試裝置，其特征在于：待測(cè)試光電器件(8)上設(shè)有F型電路引腳，測(cè)試時(shí)，該F型電路引腳插置于所述芯片鎖緊底座上的引腳鎖緊電極插口中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的實(shí)驗(yàn)室用薄膜光電器件測(cè)試裝置，其特征在于：所述芯片鎖緊底座上還設(shè)有用于鎖定所述F型電路引腳的鎖緊手柄(4)。