1.一種電流測試方法，其特征在于，包括：
通過模/數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC對第一電阻上的電壓進行采樣得到第一電壓，所述第一電阻串接在電子設(shè)備和所述電子設(shè)備的電池之間的回路上；
根據(jù)第一電壓與第一電阻的比值得到第一電流。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)第一電壓與第一電阻的比值得到第一電流之后，還包括：
將所述第一電流儲存在所述電子設(shè)備的內(nèi)部寄存器內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述第一電流儲存在所述電子設(shè)備的內(nèi)部寄存器內(nèi)之后，還包括：
所述電子設(shè)備獲取所述內(nèi)部寄存器中的所述第一電流，并將所述第一電流顯示在所述電子設(shè)備的顯示裝置上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述電子設(shè)備獲取所述內(nèi)部寄存器中的所述第一電流，并將所述第一電流顯示在所述電子設(shè)備的顯示裝置上之后，還包括：
所述電子設(shè)備根據(jù)所述第一電流得到所述電子設(shè)備的電流功耗。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述通過電子設(shè)備的模/數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC對第一電阻上的電壓進行采樣得到第一電壓包括：
所述ADC每間隔第一時間對所述第一電阻上的電壓進行采樣得到第一電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述將所述第一電流儲存在所述電子設(shè)備的內(nèi)部寄存器內(nèi)之后，還包括：
獲取所述內(nèi)部寄存器中的每間隔第一時間得到的所述第一電流。
7.根據(jù)權(quán)利要求4或6所述的方法，其特征在于，所述通過模/數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC對第一電阻上的電壓進行采樣得到第一電壓之前還包括：
開啟所述ADC的采樣開關(guān)，使所述ADC開始對所述第一電阻上的電壓進行采樣。
8.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
模/數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC、電池和第一電阻；
所述第一電阻串接在所述電子設(shè)備和所述電池之間的回路上；
所述ADC用于對所述第一電阻上的電壓進行采樣得到第一電壓，以使所述電子設(shè)備根據(jù)所述第一電壓與所述第一電阻的比值得到第一電流。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其特征在于，還包括：內(nèi)部寄存器；
所述內(nèi)部寄存器用于儲存所述第一電流。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電子設(shè)備，其特征在于，
所述ADC還用于每間隔第一時間對所述第一電阻的電壓進行采樣得到每間隔第一時間的第一電壓，以使所述電子設(shè)備根據(jù)所述每間隔第一時間的第一電壓與所述第一電阻的比值得到每間隔第一時間的第一電流；
所述內(nèi)部寄存器還用于儲存所述每間隔第一時間的第一電流。