技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了用于外形尺寸的光學(xué)測量方法和測量裝置。光發(fā)射器和反射器布置為使得測量光束的光軸和反射光束的光軸相交，并且測量光束和反射光束形成在同一個虛擬測量平面內(nèi)；在測量光束中限定第一測量光束和第二測量光束；在反射光束中限定第一和第二反射光束；被測物體被置于測量平面內(nèi)的測量區(qū)中，第一和第二測量光束在該測量區(qū)中交疊；根據(jù)顯現(xiàn)在第一反射光束中的陰影測量被測物體的第一方向上的外徑，并根據(jù)顯現(xiàn)在第二反射光束中的陰影測量被測物體的第二方向上的外徑。

技術(shù)研發(fā)人員：三木豊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：株式會社三豐
文檔號碼：201611121014
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.08
技術(shù)公布日：2017.06.23