本發(fā)明涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種內(nèi)部帶有模數(shù)轉(zhuǎn)換接口芯片的量產(chǎn)測試模塊及方法。

背景技術(shù)：

一款芯片的成本，影響著產(chǎn)品的競爭力，在芯片面積一定的情況下，我們要盡量降低測試成本。目前，降低芯片測試成本的方法有兩種:一是降低每個芯片的測試時間；二是增加同時測試芯片的數(shù)量(可同時測試的芯片數(shù)量由測試設(shè)備的通道數(shù)決定)。即，測試的芯片數(shù)目越多、速度越快，測試成本就越低。

一款芯片的測試，往往涉及到模擬部分的測試和數(shù)字部分的測試兩部分。模擬部分一般可以單獨測試，但數(shù)字部分的測試往往依賴于模擬部分。特別是，內(nèi)部帶有模數(shù)轉(zhuǎn)換接口的芯片，數(shù)字信號源是通過模數(shù)轉(zhuǎn)換而來，我們需要外部加模擬量的激勵，才能測試數(shù)字部分的功能。但是，這樣測試芯片數(shù)字部分的缺點在于：(1)給被測芯片加模擬量的激勵，要占用測試設(shè)備的精準電源；由于測試設(shè)備的精準電源數(shù)量有限，會限制可同時測試芯片的數(shù)量。(2)給被測芯片加模擬量的激勵，易受外界的干擾；(3)模擬量的激勵變化后，需要較長的穩(wěn)定時間，以及模數(shù)轉(zhuǎn)換也需要一定時間，導致測試時間很長。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明旨在提供一種內(nèi)部帶有模數(shù)轉(zhuǎn)換接口芯片的量產(chǎn)測試模塊及方法，模數(shù)轉(zhuǎn)換功能可以單獨測試，只需要加少量模擬量測試激勵即可，測試結(jié)果可以通過量產(chǎn)測試信號送給測試機臺。本發(fā)明由以下技術(shù)方案實現(xiàn)：

一種內(nèi)部帶有模數(shù)轉(zhuǎn)換接口芯片的量產(chǎn)測試模塊，所述芯片包括模擬功能模塊、數(shù)字功能模塊及數(shù)據(jù)總線，模擬功能模塊具有n個模擬量輸入端及n個模數(shù)轉(zhuǎn)換信號輸出端，數(shù)字功能模塊具有n個數(shù)模接口信號輸入端及一個數(shù)字測試信號輸出端，數(shù)據(jù)總線包括數(shù)據(jù)線和時鐘信號線；其特征在于：所述量產(chǎn)測試模塊集成于芯片內(nèi)，包括寄存器控制單元、多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel及n個二通道數(shù)據(jù)選擇器mux；寄存器控制單元接收數(shù)據(jù)總線的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生使能信號cp_en、測試信號cp_test_1、……cp_test_n及選擇信號cp_sel；各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux的一個輸入端連接芯片模擬功能模塊的相應(yīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換信號輸出端，另一個輸入端連接寄存器控制單元的測試信號cp_test_1、……cp_test_n，控制端連接寄存器控制單元的使能信號cp_en，輸出端連接芯片數(shù)字功能模塊的相應(yīng)數(shù)模接口信號輸入端；多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel的輸入端連接各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux的輸出端及芯片數(shù)字功能模塊的數(shù)字測試信號輸出端，控制端連接寄存器控制單元的選擇信號cp_sel，輸出端作為量產(chǎn)測試信號輸出端。

作為具體的技術(shù)方案，所述數(shù)據(jù)總線為i2c總線，包括數(shù)據(jù)線sda和時鐘信號線scl。

一種內(nèi)部帶有模數(shù)轉(zhuǎn)換接口芯片的量產(chǎn)測試方法，其特征在于：在所述芯片內(nèi)部設(shè)置與芯片模擬功能模塊、數(shù)字功能模塊及數(shù)據(jù)總線配合的量產(chǎn)測試模塊，并由該量產(chǎn)測試模塊執(zhí)行以下操作：

測試數(shù)字功能部分時，選擇數(shù)據(jù)總線的數(shù)據(jù)作為測試信號，提供給芯片數(shù)字功能模塊，再將數(shù)字功能模塊反饋回來的數(shù)字測試信號作為量產(chǎn)測試信號，送給測試機臺；

測試模數(shù)轉(zhuǎn)換功能時，選擇芯片模擬功能模塊輸出的模數(shù)轉(zhuǎn)換信號作為測試信號，再選出要測試的其中一個模數(shù)轉(zhuǎn)換信號作為量產(chǎn)測試信號，送給測試機臺。

作為具體的技術(shù)方案，所述量產(chǎn)測試模塊包括寄存器控制單元、多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel及n個二通道數(shù)據(jù)選擇器mux；寄存器控制單元接收數(shù)據(jù)總線的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生使能信號cp_en、測試信號cp_test_1、……cp_test_n及選擇信號cp_sel；各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux的一個輸入端連接芯片模擬功能模塊的相應(yīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換信號輸出端，另一個輸入端連接寄存器控制單元的測試信號cp_test_1、……cp_test_n，控制端連接寄存器控制單元的使能信號cp_en，輸出端連接芯片數(shù)字功能模塊的相應(yīng)數(shù)模接口信號輸入端；多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel的輸入端連接各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux的輸出端及芯片數(shù)字功能模塊的數(shù)字測試信號輸出端，控制端連接寄存器控制單元的選擇信號cp_sel，輸出端作為量產(chǎn)測試信號輸出端。

作為具體的技術(shù)方案，所述各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux受使能信號cp_en的控制，當cp_en＝0時，選擇相應(yīng)的模數(shù)轉(zhuǎn)換信號；當cp_en＝1時，選擇寄存器控制單元產(chǎn)生的相應(yīng)測試信號cp_test。

作為具體的技術(shù)方案，所述多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel，受選擇信號cp_sel的控制,選擇一個信號通路作為量產(chǎn)測試信號。

本發(fā)明通過芯片內(nèi)置的量產(chǎn)測試模塊，在量產(chǎn)測試模式下，使芯片模擬部分的測試和數(shù)字部分的測試分開。數(shù)字信號源的測試激勵通過數(shù)據(jù)總線直接提供，使數(shù)字部分的測試激勵不依賴于模擬部分，大大提高了測試效率。數(shù)字部分的測試激勵，通過數(shù)據(jù)總線直接提供的優(yōu)點有：(1)測試設(shè)備的通道數(shù)，不受限于測試設(shè)備的精準電源數(shù)量，可大大增加多芯片同測的數(shù)量。(2)測試激勵由數(shù)據(jù)總線直接提供，不易受外界的干擾；(3)可省去模擬信號穩(wěn)定與模數(shù)轉(zhuǎn)換的時間，縮短測試時間。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實施例提供的量產(chǎn)測試模塊應(yīng)用于芯片中的示意圖。

圖2為本發(fā)明實施例提供的量產(chǎn)測試模塊的結(jié)構(gòu)圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式作進一步說明：

如圖1所示，本實施例提供的量產(chǎn)測試模塊應(yīng)用于芯片中，該芯片為內(nèi)部帶有模數(shù)轉(zhuǎn)換接口的芯片，包括模擬功能模塊、數(shù)字功能模塊及i2c總線，模擬功能模塊具有n個模擬量輸入端及n個模數(shù)轉(zhuǎn)換信號輸出端，數(shù)字功能模塊具有n個數(shù)模接口信號輸入端及一個數(shù)字測試信號輸出端，i2c總線包括數(shù)據(jù)線sda和時鐘信號線scl。

如圖2所示，量產(chǎn)測試模塊包括：寄存器控制單元、n個二通道數(shù)據(jù)選擇器mux、多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel。其中，寄存器控制單元接收i2c總線的數(shù)據(jù)，產(chǎn)生使能信號cp_en、測試信號cp_test(cp_test_1、cp_test_2……cp_test_n)、選擇信號cp_sel。各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux的一個輸入端連接芯片模擬功能模塊的相應(yīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換信號輸出端，另一個輸入端連接寄存器控制單元的測試信號cp_test(cp_test_1、cp_test_2……cp_test_n)，控制端連接寄存器控制單元的使能信號cp_en，輸出端連接芯片數(shù)字功能模塊的相應(yīng)數(shù)模接口信號輸入端。多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel的輸入端連接各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux的輸出端及芯片數(shù)字功能模塊的數(shù)字測試信號輸出端，控制端連接寄存器控制單元的選擇信號cp_sel，輸出端作為量產(chǎn)測試信號輸出端。

結(jié)合圖1及圖2，上述量產(chǎn)測試模塊的工作原理說明如下：

各二通道數(shù)據(jù)選擇器mux受使能信號cp_en的控制，當cp_en＝0時，選擇相應(yīng)的模數(shù)轉(zhuǎn)換信號；當cp_en＝1時，選擇寄存器控制單元產(chǎn)生的相應(yīng)測試信號cp_test。多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel，受選擇信號cp_sel的控制,選擇一個信號通路作為量產(chǎn)測試信號。模數(shù)轉(zhuǎn)換信號為芯片模擬功能模塊產(chǎn)生的，根據(jù)實際需求，可以為一個或多個；數(shù)模接口信號送給芯片數(shù)字功能模塊；數(shù)字測試信號為數(shù)字模塊反饋回來的信號，用于檢查數(shù)字模塊功能是否正確；量產(chǎn)測試信號送給測試機臺。

本實施例中，通過二通道數(shù)據(jù)選擇器mux選擇后送出數(shù)模接口信號。正常功能時，cp_en＝0，選擇模數(shù)轉(zhuǎn)換信號，不影響正常功能。量產(chǎn)測試模式下，cp_en＝1，選擇通過i2c總線寫入的測試信號cp_test。這樣，測試數(shù)字功能部分時的測試信號，可以不通過芯片的模擬模塊，而選擇i2c總線的數(shù)據(jù)。在測試模數(shù)轉(zhuǎn)換功能時，使cp_en＝0，選擇模數(shù)轉(zhuǎn)換信號，再通過多通道數(shù)據(jù)選擇器mux_sel，選出要測試的量產(chǎn)測試信號。這樣，模擬部分模數(shù)轉(zhuǎn)換的功能，通過外部加少量模擬量激勵，把結(jié)果再從量產(chǎn)測試信號送給測試機臺即可。

相比現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的有益效果在于：

如果沒有量產(chǎn)測試模塊，數(shù)字功能模塊的數(shù)模接口信號直接由模擬功能模塊提供。測試數(shù)字功能部分的激勵，需要外部加模擬量，經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換后產(chǎn)生。數(shù)字部分測試的覆蓋率要達到很高的話，要加很多組不同組合的模擬量激勵信號，這樣測試時間就會很長。本發(fā)明在芯片內(nèi)部加入量產(chǎn)測試模塊，該量產(chǎn)測試模塊結(jié)構(gòu)簡單、設(shè)計巧妙，基本不會給芯片增加額外成本。但它實現(xiàn)了芯片模擬部分的和數(shù)字部分的測試獨立進行，提高了測試效率，降低了測試成本。模數(shù)轉(zhuǎn)換功能可以單獨測試，只需要加少量模擬量測試激勵即可，測試結(jié)果可以通過量產(chǎn)測試信號送給測試機臺。數(shù)字部分測試激勵可以通過i2c總線直接寫入，方便快捷。

以上實施例僅為充分公開而非限制本發(fā)明，凡基于本發(fā)明的創(chuàng)作主旨、未經(jīng)創(chuàng)造性勞動的等效技術(shù)特征的替換，應(yīng)當視為本申請揭露的范圍。