本發(fā)明涉及一種強(qiáng)散射介質(zhì)傳輸矩陣測量方法及求取強(qiáng)散射介質(zhì)傳輸矩陣所搭建的光路裝置。
背景技術(shù):
目前,人們對波的傳播的研究基本都是基于均勻介質(zhì)或者弱散射介質(zhì),然而,自然生活中有許多介質(zhì)都是強(qiáng)散射介質(zhì),例如渾濁液體,云,人的皮膚等。當(dāng)光進(jìn)入強(qiáng)散射介質(zhì)時(shí),光束就被散射到各個(gè)方向,導(dǎo)致透過光束變得雜亂無章,無法辨別。
然而,通過測量強(qiáng)散射介質(zhì)的傳輸矩陣,建立散射介質(zhì)的輸入和輸出關(guān)系,則通過對入射到強(qiáng)散射介質(zhì)的光波的波前進(jìn)行調(diào)整,削弱或抵消強(qiáng)散射介質(zhì)對光束的散射,實(shí)現(xiàn)透過強(qiáng)散射介質(zhì)的聚焦和透過強(qiáng)散射介質(zhì)的圖像反演。
當(dāng)光束入射到介質(zhì)時(shí),它的出射光和入射光之間滿足如下關(guān)系:
其中,為在第n個(gè)方向上入射到散射介質(zhì)的輸入復(fù)振幅,為光束穿過介質(zhì)的輸出平面上第m個(gè)位置上的復(fù)振幅,Ein為入射的復(fù)振幅向量,K為散射介質(zhì)的復(fù)數(shù)傳輸矩陣。
傳輸矩陣K是描述散射介質(zhì)輸入輸出特性的矩陣。散射介質(zhì)傳輸矩陣的測量難點(diǎn)在于:
1)散射介質(zhì)傳輸矩陣為復(fù)數(shù)矩陣,而探測器僅能接收光強(qiáng)信號(hào),而不包含其中的相位信息,采用現(xiàn)有的方法無法恢復(fù)其相位信息,所以也就無法求得介質(zhì)的復(fù)數(shù)傳輸矩陣。
2)散射介質(zhì)傳輸矩陣是一個(gè)多輸入多輸出系統(tǒng),改變?nèi)我廨斎氩ㄊ笗?huì)影響多個(gè)出射波矢,同樣每個(gè)出射波矢由多個(gè)輸入波矢所決定,所以這就需要測量每一個(gè)入射波矢對每一個(gè)出射波矢的影響,這樣的工作量是很龐大的,并且需要一種儀器能實(shí)現(xiàn)對每個(gè)入射波矢的單獨(dú)控制。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
根據(jù)上述提出的技術(shù)問題,而提供一種強(qiáng)散射介質(zhì)傳輸矩陣測量方法及光路裝置,用于解決現(xiàn)有的傳輸矩陣測量方法,無法恢復(fù)其相位信息,無法求得介質(zhì)的復(fù)數(shù)傳輸矩陣,工作量龐大的缺點(diǎn)。本發(fā)明采用的技術(shù)手段如下:
一種強(qiáng)散射介質(zhì)傳輸矩陣測量方法,包括以下步驟:
S1、搭建具有空間光調(diào)制器的光路裝置。
S2、在空間光調(diào)制器中加載不同的相位圖能夠?qū)崿F(xiàn)對不同角度入射的輸入光波復(fù)振幅的調(diào)整。
設(shè)定在第n個(gè)入射波矢中改變相位,通過在空間光調(diào)制器的相應(yīng)位置上加載相位數(shù)據(jù)。
在每個(gè)入射波矢方向,分別加載相位角α為0,π/2,π和3π/2,同時(shí)同步采集對應(yīng)的所有出射波輸出光強(qiáng)和
S3、將和數(shù)值代入公式(8):
公式中和E隨入射激光振幅E呈正比例變化,為了消除入射激光振幅的變化,利用光電探測器同步采集每次輸入的激光光強(qiáng)I=|E|2,其中和E通過歸一化消除。
利用公式(8)求解出對應(yīng)于入射波為n方向的傳輸矩陣kmn。
S4、重復(fù)上述步驟,依次改變每一個(gè)入射波矢的相位,采集對應(yīng)的所有出射波的輸出光強(qiáng),得到樣品的整個(gè)復(fù)數(shù)傳輸矩陣K。
作為優(yōu)選步驟S2中所述的光路裝置中光強(qiáng)信息的采集具有以下步驟:
S11、搭建光路,保證所有光學(xué)元件處于相同高度,接通激光器電源,調(diào)整擴(kuò)束鏡,使得激光輸出為平面波;調(diào)節(jié)偏振片Ⅰ同時(shí)觀察透過的光束光強(qiáng),找到使透過光強(qiáng)最大的位置固定偏振片Ⅰ。
S12、打開空間光調(diào)制器并使其正常工作,轉(zhuǎn)動(dòng)半波片,觀察空間光調(diào)制器(7)反射光束,找到使反射圖像最清晰的位置固定半波片。
S13、調(diào)節(jié)物鏡Ⅰ,使光束聚焦在所測試的散射樣品上。
S14、調(diào)節(jié)物鏡Ⅱ,使透過測試樣品的光束成像在相機(jī)上。
S15、打開相機(jī)的驅(qū)動(dòng)程序,調(diào)節(jié)相機(jī)曝光時(shí)間使成像清晰,轉(zhuǎn)動(dòng)偏振片Ⅱ,同時(shí)觀察相機(jī)采集圖像的光強(qiáng),找到光強(qiáng)最大的位置固定偏振片Ⅱ。
S16、打開電腦中相機(jī)和空間光調(diào)制器同步控制采集程序,空間光調(diào)制器分別加載預(yù)設(shè)調(diào)整相位,相機(jī)同步采集調(diào)整后相位的輸出光強(qiáng),同時(shí)光電探測器采集激光器輸入的平均光強(qiáng)。
作為優(yōu)選所述的空間光調(diào)制器為反射式的純相位型空間光調(diào)制器,分辨率為512×512,在工作中進(jìn)行像素合并處理,實(shí)現(xiàn)對N=16×16的輸入光波進(jìn)行相位調(diào)整。
作為優(yōu)選所述的的激光器為高相干性的單縱模激光器。
作為優(yōu)選所述的物鏡Ⅰ和物鏡Ⅱ?yàn)楦弑讹@微物鏡,數(shù)值孔徑NA為0.65,物鏡Ⅰ和物鏡Ⅱ放置于六維調(diào)節(jié)臺(tái)上。
作為優(yōu)選所述的光電探測器是可變增益放大光電探測器。
作為優(yōu)選所述的相機(jī)為高量化位數(shù)相機(jī),相機(jī)采集光斑范圍設(shè)定為50像元×50像元,此時(shí)所求解的傳輸矩陣維度為2500×256。
作為優(yōu)選測量的散射介質(zhì)樣品為納米氧化鋅粉末,將其均勻涂抹在薄玻璃片上。
一種光路裝置,包括:用于發(fā)射光束的激光器、偏振片Ⅰ、偏振片Ⅱ、用于調(diào)整光束方向的半波片、用于將光束擴(kuò)束的擴(kuò)束鏡、用于偏振作用的分束晶體、用于采集并消除光強(qiáng)起伏的光電探測器、用于純相位調(diào)制的空間光調(diào)制器、用于控制鏡頭透光量的光圈、放置于六維調(diào)節(jié)位移臺(tái)上的物鏡Ⅰ、放置于六維調(diào)節(jié)位移臺(tái)上的物鏡Ⅱ、鏡筒以及用于采集圖像的相機(jī);所述激光器發(fā)射的光束依次經(jīng)過偏振片Ⅰ、半波片、擴(kuò)束鏡和分束晶體。
經(jīng)過分束晶體的光束分別射向光電探測器和空間光調(diào)制器;射向空間光調(diào)制器的光束依次經(jīng)過空間光調(diào)制器和分束晶體反射,通過光圈射入至物鏡Ⅰ;經(jīng)過物鏡Ⅰ的光束聚焦至測試樣品,然后經(jīng)過物鏡Ⅱ的出射光束,最后經(jīng)過一個(gè)偏振片Ⅱ,射向相機(jī)。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明所述的強(qiáng)散射介質(zhì)傳輸矩陣測量方法及光路裝置,利用純相位型空間光調(diào)制器對輸入光進(jìn)行精密相位調(diào)整,實(shí)現(xiàn)對每一束入射波矢進(jìn)行四種特定相位的調(diào)整,同時(shí)用相機(jī)采集對應(yīng)的光強(qiáng)信息,并通過光強(qiáng)信息求解復(fù)數(shù)的傳輸矩陣。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
圖1是本發(fā)明光路裝置示意圖。
圖2是本發(fā)明入射光波(n=1)位相角改變時(shí)相機(jī)采集光強(qiáng)視圖。
圖3是本發(fā)明樣品散射傳輸矩陣視圖。
圖中:1、激光器,2、偏振片Ⅰ,3、半波片,4、擴(kuò)束鏡,5、分束晶體,6、光電探測器,7、空間光調(diào)制器,8、光圈,9、物鏡Ⅰ,10、測試樣品,11、物鏡Ⅱ,12、偏振片Ⅱ,13、鏡筒,14、相機(jī)。
具體實(shí)施方式
如圖1到圖3所示,一種強(qiáng)散射介質(zhì)傳輸矩陣測量方法,包括以下步驟:
S1、搭建具有空間光調(diào)制器7的光路裝置;所述的空間光調(diào)制器7為反射式的純相位型空間光調(diào)制器,分辨率為512×512,在工作中進(jìn)行像素合并處理,實(shí)現(xiàn)對N=16×16的輸入光波進(jìn)行相位調(diào)整。
S2、在空間光調(diào)制器7中加載不同的相位圖能夠?qū)崿F(xiàn)對不同角度入射的輸入光波復(fù)振幅的調(diào)整。
設(shè)定在第n個(gè)入射波矢中改變相位,通過在空間光調(diào)制器7的相應(yīng)位置上加載相位數(shù)據(jù)。
在每個(gè)入射波矢方向,分別加載相位角α為0,π/2,π和3π/2,同時(shí)同步采集對應(yīng)的所有出射波輸出光強(qiáng)和
步驟S2中所述的光路裝置中光強(qiáng)信息的采集具有以下步驟:
S11、搭建光路,保證所有光學(xué)元件處于相同高度,接通激光器1電源,調(diào)整擴(kuò)束鏡,使得激光輸出為平面波;調(diào)節(jié)偏振片Ⅰ2同時(shí)觀察透過的光束光強(qiáng),找到使透過光強(qiáng)最大的位置固定偏振片Ⅰ2;所述的的激光器1為高相干性的單縱模激光器。
S12、打開空間光調(diào)制器7并使其正常工作,轉(zhuǎn)動(dòng)半波片3,觀察空間光調(diào)制器7反射光束,找到使反射圖像最清晰的位置固定半波片3。
S13、調(diào)節(jié)物鏡Ⅰ9,使光束聚焦在所測試的散射樣品10上;測量的散射樣品10為納米氧化鋅粉末,將其均勻涂抹在薄玻璃片上。
S14、調(diào)節(jié)物鏡Ⅱ11,使透過測試樣品10的光束成像在相機(jī)14上;所述的物鏡Ⅰ9和物鏡Ⅱ11為40倍顯微物鏡,數(shù)值孔徑NA為0.65,物鏡Ⅰ9和物鏡Ⅱ11放置于六維調(diào)節(jié)臺(tái)上。
所述的相機(jī)14為高量化位數(shù)相機(jī),相機(jī)14采集光斑范圍設(shè)定為50像元×50像元,此時(shí)所求解的傳輸矩陣維度為2500×256。
S15、打開相機(jī)14的驅(qū)動(dòng)程序,調(diào)節(jié)相機(jī)14曝光時(shí)間使成像清晰,轉(zhuǎn)動(dòng)偏振片Ⅱ12,同時(shí)觀察相機(jī)14采集圖像的光強(qiáng),找到光強(qiáng)最大的位置固定偏振片Ⅱ12。
S16、打開電腦中相機(jī)14和空間光調(diào)制器7同步控制采集程序,空間光調(diào)制器7分別加載預(yù)設(shè)調(diào)整相位,相機(jī)14同步采集調(diào)整后相位的輸出光強(qiáng),同時(shí)光電探測器6采集激光器輸入的平均光強(qiáng)。所述的光電探測器6是可變增益放大光電探測器。
如圖2所示,給出了n=1時(shí),入射光波位相角分別增加α=0,π/2,π,3π/2時(shí),相機(jī)(14)采集的光強(qiáng),此時(shí)光電探測器(6)采集的電壓分別為3.33V,3.33V,3.35V和3.34V,利用上述數(shù)據(jù)通過式(8)對測量矩陣中第一列數(shù)據(jù)的解算;再分別另n=2,3……N,改變?nèi)肷涔獠ㄏ辔?,重?fù)上述的測量過程,即可獲得散射樣品的傳輸矩陣。如圖3所示,分別為測量得到的傳輸矩陣的強(qiáng)度圖和位相圖。
S3、將和數(shù)值代入公式(8):
利用公式(8)求解出對應(yīng)于入射波為n方向的傳輸矩陣kmn。
步驟S3中的公式(8)為下述步驟求?。?/p>
S31、設(shè)定入射波為均勻平面波E,第n個(gè)入射波的相位增加位相角α?xí)r,則有此時(shí)第m個(gè)出射波的光強(qiáng)用下面的公式表示:
S32、設(shè)定代表第m個(gè)出射波的振幅的變化,則式(2)寫成:
S33、分別改變第n個(gè)入射波中的相位α為0,π/2,π和3π/2,記錄第m個(gè)出射波的光強(qiáng)和則根據(jù)式(3)這四個(gè)光強(qiáng)表示為:
S34、利用上述四個(gè)公式,用這些光強(qiáng)來求解式(3)的第三項(xiàng),得:
公式中和E隨入射激光振幅E呈正比例變化,為了消除入射激光振幅的變化,利用光電探測器同步采集每次輸入的激光光強(qiáng)I=|E|2。
此時(shí),利用公式(8)能夠求解出對應(yīng)于入射波為n方向的傳輸矩陣kmn,其中和E通過歸一化消除。
S4、重復(fù)上述步驟,依次改變每一個(gè)入射波矢的相位,采集對應(yīng)的所有出射波的輸出光強(qiáng),得到樣品的整個(gè)復(fù)數(shù)傳輸矩陣K。
如圖1所示,一種光路裝置,包括:用于發(fā)射光束的激光器1、偏振片Ⅰ2、偏振片Ⅱ12、用于調(diào)整光束方向的半波片3、用于將光束擴(kuò)束的擴(kuò)束鏡4、用于偏振作用的分束晶體5、用于采集并消除光強(qiáng)起伏的光電探測器6、用于純相位調(diào)制的空間光調(diào)制器7、用于控制鏡頭透光量的光圈8、放置于六維調(diào)節(jié)位移臺(tái)上的物鏡Ⅰ9、放置于六維調(diào)節(jié)位移臺(tái)上的物鏡Ⅱ11、鏡筒13以及用于采集圖像的相機(jī)14;
所述激光器1發(fā)射的光束依次經(jīng)過偏振片Ⅰ2、半波片3、擴(kuò)束鏡4和分束晶體5;經(jīng)過分束晶體5的光束分別射向光電探測器6和空間光調(diào)制器7;射向空間光調(diào)制器7的光束依次經(jīng)過空間光調(diào)制器7和分束晶體5反射,通過光圈8射入至物鏡Ⅰ9;經(jīng)過物鏡Ⅰ9的光束聚焦至測試樣品10,然后經(jīng)過物鏡Ⅱ11的出射光束,最后經(jīng)過一個(gè)偏振片Ⅱ12,射向相機(jī)13。
所述的擴(kuò)束鏡4為3倍擴(kuò)束鏡。
所述的光電探測器6能夠求取輸入光的平均光強(qiáng),以消除光強(qiáng)的起伏。
本發(fā)明所述的光路裝置,是用以給定輸入矩陣采集對應(yīng)輸出矩陣的光路設(shè)計(jì)圖。
光路裝置工作時(shí),激光器1發(fā)射光束經(jīng)過偏振片Ⅰ2和半波片3產(chǎn)生滿足空間光調(diào)制器要求的線偏振光,并經(jīng)過擴(kuò)束鏡4后進(jìn)行擴(kuò)束。分束晶體5將光束分為兩部分,一束光被光電探測器6采集用以消除實(shí)驗(yàn)中的光強(qiáng)起伏;另一束光入射到空間光調(diào)制器7中實(shí)現(xiàn)對入射光波相位的調(diào)整??臻g光調(diào)制器7調(diào)制后光束經(jīng)過分束晶體5和可變光圈8后,入射到物鏡Ⅰ9,此物鏡將光束聚焦到強(qiáng)散射樣品10,物鏡Ⅱ11將出射光束經(jīng)偏振片Ⅱ12成像在相機(jī)14)像面上,相機(jī)14采集到的圖像信息即為式(2)中所對應(yīng)的光強(qiáng)。
按照上述原理,在給定的方向n的輸入光波復(fù)振幅中分別增加相位角α=0,π/2,π,3π/2,并采集對應(yīng)的光強(qiáng)信息,即每個(gè)輸出波矢對應(yīng)此輸入波矢四種不同相位的光強(qiáng)信息,根據(jù)式(8)解算傳輸矩陣元素kmn。按照上述測量方法,依次改變輸入波矢的方向,重復(fù)上述過程,完成傳輸矩陣K的求解。
以上所述,僅為本發(fā)明較佳的具體實(shí)施方式,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。