1.一種產(chǎn)品輻照劑量分布及其不均勻度的測(cè)定方法，其特征在于取與產(chǎn)品一同經(jīng)過(guò)輻照處理過(guò)的包裝紙箱或測(cè)定紙，從不同位點(diǎn)上提取待測(cè)紙材，測(cè)定其ESR信號(hào)，依據(jù)輻照在紙材中誘導(dǎo)的ESR信號(hào)與產(chǎn)品輻照劑量成正相關(guān)，計(jì)算出產(chǎn)品輻照劑量分布及其不均勻度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)定方法，其特征在于產(chǎn)品經(jīng)過(guò)輻照處理后，取該產(chǎn)品內(nèi)部或外部的與產(chǎn)品一同經(jīng)過(guò)輻照處理的包裝紙箱或測(cè)定紙，從所述包裝紙箱或測(cè)定紙的至少兩個(gè)位點(diǎn)上分別提取待測(cè)紙材，以同一批次未經(jīng)輻照處理的包裝紙箱或測(cè)定紙作為對(duì)照待測(cè)樣品并提取對(duì)照紙材，或者將所述同樣經(jīng)過(guò)輻照處理的包裝紙箱或測(cè)定紙經(jīng)過(guò)退火處理后作為對(duì)照待測(cè)樣品并提取對(duì)照紙材，測(cè)定待測(cè)紙材和對(duì)照紙材的ESR信號(hào)，通過(guò)各紙材的ESR信號(hào)強(qiáng)度計(jì)算產(chǎn)品輻照劑量分布及其不均勻度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)定方法，其特征在于所述包裝紙箱或測(cè)定紙的來(lái)源為化學(xué)成分一致的同批加工產(chǎn)品，或者加速器傳輸線或鈷源輻照吊箱內(nèi)同一加工批次產(chǎn)品；所述退火處理為將紙于90～110℃下干燥2～6小時(shí)，去除其背景信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)定方法，其特征在于所述待測(cè)紙材的取樣和制備方法為：在待提取的紙上選取輻照劑量監(jiān)測(cè)位點(diǎn)i和j，從位點(diǎn)i和j的紙內(nèi)壁夾層中，提取紙材樣品i和樣品j，紙材樣品先剪成長(zhǎng)方形再稱重，然后卷曲成圓筒，捏實(shí)，沿著管壁塞入ESR測(cè)試管并推入管底，使樣品高度在測(cè)試區(qū)域內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)定方法，其特征在于所述長(zhǎng)方形的邊長(zhǎng)為2-4cm，重量為0.100～0.300g，樣品高度在ESR測(cè)試管的測(cè)試區(qū)域內(nèi)不高于3cm。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)定方法，其特征在于所述待測(cè)紙材樣品在ESR測(cè)試管中于15天內(nèi)完成測(cè)定，以7天內(nèi)為最佳。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)定方法，其特征在于所述的產(chǎn)品劑量分布及其不均勻度計(jì)算方法為：u＝(S待測(cè)紙材1-S對(duì)照紙材)/(S待測(cè)紙材2-S對(duì)照紙材)，其中S待測(cè)紙材1、S待測(cè)紙材2分別為不同位點(diǎn)上的待測(cè)紙材的ESR信號(hào)強(qiáng)度對(duì)g值的積分值，S對(duì)照紙材為對(duì)照紙材的ESR信號(hào)強(qiáng)度對(duì)g值的積分值，g＝1.965～2.040，產(chǎn)品劑量分布進(jìn)行歸一化處理。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)定方法，其特征在于所述的產(chǎn)品劑量分布及其不均勻度計(jì)算方法為：u＝(Si-S0)/(Sj-S0)，其中Si、Sj、S0分別為紙材樣品i、紙材樣品j、對(duì)照紙材的ESR信號(hào)強(qiáng)度對(duì)g值的積分值，g＝1.965～2.040，產(chǎn)品劑量分布進(jìn)行歸一化處理。
9.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測(cè)定方法，其特征在于ESR信號(hào)的測(cè)量條件為：X波段，功率為0.1～20mW；中心磁場(chǎng)348mT，掃描寬度±20mT；調(diào)制頻率50kHz～100kHz，調(diào)制振幅0.1mT～1.0mT；時(shí)間常數(shù)40～200ms，掃描速率15mT/min，增益1.0×104～1.0×106。
10.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測(cè)定方法，其特征在于所述輻照處理是采用高能射線γ射線、X射線或電子束進(jìn)行輻照，輻射能量范圍為0.1MeV～28MeV；產(chǎn)品的輻照劑量范圍為1.5～45kGy。