本發(fā)明涉及功能材料領(lǐng)域,涉及一種紅外窄帶輻射源及其制備方法,尤其涉及一種可集成的、波長(zhǎng)可調(diào)紅外窄帶輻射源及其制備方法。
技術(shù)背景
紅外輻射源,也稱紅外光源,在氣敏探測(cè)、光電特征標(biāo)識(shí)和新型紅外光譜儀等方面存在廣泛的應(yīng)用。氣敏傳感器的核心組件是紅外輻射源和紅外探測(cè)器,通過紅外輻射源輻射的特定波長(zhǎng)的紅外光,如果這些波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)于氣體的本征吸收帶,則會(huì)被吸收,紅外探測(cè)器檢查的光信號(hào)就會(huì)減弱,通過這種變化來檢測(cè)氣體。由于不同氣體對(duì)應(yīng)于不同的本征吸收帶,紅外輻射源波長(zhǎng)需要靈活調(diào)節(jié),而且氣體的本征吸收帶很窄,只有納米量級(jí),對(duì)紅外窄帶輻射源帶寬具有很高的要求,需要帶寬很窄的紅外光源作為發(fā)射源。紅外光譜儀主要包含三大要素,紅外光源、分光器件和紅外探測(cè)器。傳統(tǒng)的紅外光譜儀中的紅外光源,構(gòu)成光譜儀時(shí)需借助分光系統(tǒng),但紅外波段的分光系統(tǒng)效率很低,需要占有很大空間,無法滿足系統(tǒng)小型化趨勢(shì)要求。因此,研制成本低廉,性能優(yōu)良,波長(zhǎng)可調(diào)節(jié)的微型紅外窄帶輻射源,成為了紅外應(yīng)用領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。目前可供選擇的紅外光源主要有四種:微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)紅外窄帶輻射源、量子級(jí)聯(lián)紅外激光器、紅外發(fā)光二極管和熱輻射紅外光源。
MEMS紅外窄帶輻射源。與傳統(tǒng)紅外輻射源相比,采用微電子機(jī)械系統(tǒng)加工技術(shù)制備的紅外輻射源具有體積小、功耗低、可調(diào)制等優(yōu)點(diǎn);然而,由于其需要采用多次微納加工,制備過程復(fù)雜,成本高,重復(fù)性和良率難以保證。量子級(jí)聯(lián)激光器可以發(fā)射高強(qiáng)度的窄帶光譜,并且可以實(shí)現(xiàn)快速調(diào)制,但是量子級(jí)聯(lián)激光器制造技術(shù)復(fù)雜、制作成本非常高。目前,這類激光器的制備技術(shù)尚不成熟,且制作成本非常高,因此這種激光器性能還不足以達(dá)到廣泛的實(shí)用化水平。紅外發(fā)光二極管發(fā)射的波長(zhǎng)短,強(qiáng)度低。發(fā)射的波長(zhǎng)通常小于5微米,其輻射功率只有幾個(gè)微瓦,因而大大限制了它的適用范圍。傳統(tǒng)熱輻射紅外光源是一種寬譜光源,調(diào)制特性差。通常為體輻射光源,需要另外加設(shè)機(jī)械斬波器以實(shí)現(xiàn)光源的調(diào)制輸出特性,因此體積龐大,使用不便。
針對(duì)上述傳統(tǒng)紅外光源存在的問題,本發(fā)明公開了利用金屬-介質(zhì)耦合腔以增強(qiáng)金屬對(duì)光的吸收,并通過介質(zhì)DBR選模的紅外窄帶輻射源及其制備方法。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明公開了一種紅外窄帶輻射源及其制備方法,結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示。包括介質(zhì)布拉格反射鏡1、介質(zhì)腔層2、金屬層3和襯底4;介質(zhì)腔層2和金屬層3之間可以選擇生長(zhǎng)匹配層;介質(zhì)布拉格反射鏡1上可選擇加蓋保護(hù)層。該紅外窄帶輻射源工作波長(zhǎng)可覆蓋短波(1.1~3μm)、中波(3~6μm)乃至長(zhǎng)波(6~15μm)紅外波段;輻射發(fā)射率ε可高達(dá)100%。
所述的金屬層3可以是金、銀、銅、鋁、鎢、鉭、錸等金屬材料的一種,金屬層膜厚遠(yuǎn)大于輻射源向金屬內(nèi)傳播的穿透深度;所述的介質(zhì)腔層2為鍺、硅、硫化鋅或一氧化硅等在輻射波段具有弱吸收性質(zhì)的半導(dǎo)體或化合物材料,腔層厚度取決于材料的折射率和輻射源的工作波長(zhǎng);所述的介質(zhì)布拉格反射鏡1由輻射波段弱吸收的高折射率和低折射率材料交替生長(zhǎng)形成,如鍺、硅與硫化鋅、一氧化硅、氧化鉿之間任意一組搭配組合。
介質(zhì)布拉格反射鏡的設(shè)計(jì)原則如下:
1)選取材料。根據(jù)紅外窄帶輻射源的輻射波段,選擇在這一波段弱吸收的高折射率和低折射率介質(zhì)材料作為介質(zhì)腔和介質(zhì)布拉格反射鏡高、低折射率材料;例如高、低折射率介質(zhì)材料在短波紅外波段可分別選為氧化鉿、二氧化硅,中波紅外可分別選取硅、一氧化硅,長(zhǎng)波紅外則可分別選為鍺和硫化鋅、硒化鋅等。
2)選定參考波長(zhǎng)。紅外窄帶輻射源所需輻射處波長(zhǎng)中心位置作為介質(zhì)布拉格反射鏡參考波長(zhǎng)。
3)光學(xué)厚度確定。高折射率材料和低折射率材料的光學(xué)厚度設(shè)為選定波長(zhǎng)的1/4,如此即可實(shí)現(xiàn)布拉格反射鏡。
所述的匹配層可以是鉻或鈦或鎳,用于實(shí)現(xiàn)介質(zhì)腔層(2)和金屬層(3)之間應(yīng)力匹配,增強(qiáng)粘附性;所述的保護(hù)層可以是如氮化硅、二氧化硅等耐腐蝕抗氧化材料,用于保護(hù)易氧化的介質(zhì)腔層(2)和介質(zhì)布拉格反射鏡(1),使其不易氧化變性,并可實(shí)現(xiàn)減反增透效果。
該紅外窄帶輻射源工作的基本原理是,由基爾霍夫熱輻射定律可知,在熱平衡條件下,物體熱輻射的發(fā)射率ε等于在同溫度下物體的吸收率A,因此,如何實(shí)現(xiàn)高效窄帶超吸收是該工作的關(guān)鍵,該器件在結(jié)構(gòu)上通過優(yōu)化設(shè)計(jì)后,針對(duì)相應(yīng)工作波長(zhǎng),系統(tǒng)的輻射耦合因子與本征損耗因子相等,體系對(duì)該波長(zhǎng)的光波反射率為零,由于底層是厚度遠(yuǎn)大于光波穿透深度的金屬層,因此透射率也為零;又由于金屬層3、介質(zhì)腔層2和介質(zhì)布拉格反射鏡1之間所形成的高品質(zhì)因子光學(xué)微腔,只有相應(yīng)的窄帶寬工作波長(zhǎng)可以被共振束縛在腔內(nèi),且隨著時(shí)間的推移逐漸被體系的本征損耗所消耗吸收。當(dāng)體系加熱后,該高效窄帶超吸收體將輻射出相應(yīng)窄帶紅外光。
本發(fā)明公開了一種紅外窄帶輻射源,其制備方法如下:
1)膜系設(shè)計(jì)。利用膜系設(shè)計(jì)工具如Coating Designer(CODE)、Thin film Calculator(TFC)等設(shè)計(jì)膜系,膜系自上而下依次是介質(zhì)布拉格反射鏡1、介質(zhì)腔層2、金屬層3和襯底4。為了使得膜系透過率為0,金屬層膜厚遠(yuǎn)大于輻射源向金屬內(nèi)傳播的穿透深度。其中金屬層和介質(zhì)布拉格反射鏡之間可以插入匹配層,使得它們應(yīng)力匹配,而介質(zhì)布拉格反射鏡上可以選擇覆蓋保護(hù)層。通過調(diào)節(jié)介質(zhì)腔層2和介質(zhì)布拉格反射鏡1光學(xué)厚度來調(diào)整窄帶輻射峰峰位。
2)通過蒸發(fā)或者濺射的方法制備金屬薄膜,可以采用磁控濺射、電子束蒸發(fā)、雙離子束濺射等方法的一種來制備金屬薄膜。為了使得膜系透過率為零,金屬層膜厚遠(yuǎn)大于輻射源向金屬內(nèi)傳播的穿透深度,金屬薄膜應(yīng)當(dāng)具有紅外寬帶高反效果;
3)根據(jù)步驟1)膜系設(shè)計(jì)的結(jié)果,可以選擇在金屬薄膜上制備匹配層,如鉻或鈦或鎳,可以采用磁控濺射、電子束蒸發(fā)、雙離子束濺射等方法制備鉻或鈦或鎳薄膜,其厚度在1~20nm之間,優(yōu)選5~8nm,既可以保證原有金屬薄膜高反特性,又可大大增加介質(zhì)層與金屬層之間粘附性。
4)根據(jù)步驟1)膜系設(shè)計(jì)的結(jié)果,通過蒸發(fā)或者濺射的方法制備介質(zhì)腔層和介質(zhì)布拉格反射鏡。可以通過磁控濺射、雙離子束濺射、電子束蒸發(fā)來制備介質(zhì)腔層和介質(zhì)布拉格反射鏡,通過晶控或者光控來控制各層介質(zhì)薄膜的厚度。通過調(diào)整布拉格反射鏡與介質(zhì)腔層的厚度可以調(diào)整輻射峰的波長(zhǎng)。
5)根據(jù)步驟1)膜系設(shè)計(jì)的結(jié)果,可以選擇在膜系上制備保護(hù)層,如氮化硅、二氧化硅等。
6)上述窄帶紅外輻射光源襯底可選硅、鍺、或者二氧化硅等常規(guī)材料,也可以根據(jù)不同的需求選擇不同的襯底,例如可選取聚四氟乙烯等具有柔性特質(zhì)的材料作為襯底,這樣設(shè)計(jì)制備的樣品可彎曲,實(shí)現(xiàn)曲面輻射光源。
采用了上述技術(shù)方案后,本發(fā)明具有以下的有益效果:
1、峰值輻射率高。采用本發(fā)明公開的結(jié)構(gòu)后,紅外窄帶輻射源的峰值輻射率ε可達(dá)100%,并且其具有大面積優(yōu)勢(shì),輻射功率與面積成正比。
2、單色性好。采用金屬和介質(zhì)布拉格反射鏡共振耦合的結(jié)構(gòu),只有特定波長(zhǎng)的光可以被吸收或者輻射出來。
3、波長(zhǎng)可調(diào)。利用介質(zhì)腔層厚度和介質(zhì)布拉格反射鏡厚度可以靈活調(diào)節(jié)輻射峰位,輻射峰位可以在1.1~15.0μm波段任意調(diào)節(jié),以滿足不同應(yīng)用需求。
4、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,易于大面積制備。不同于光子晶體輔助和等離激元輔助紅外窄帶輻射源的三維結(jié)構(gòu),本發(fā)明公開的紅外窄帶輻射源是一種一維結(jié)構(gòu),僅通過鍍膜的方法就可以實(shí)現(xiàn),并且可以制備大面積樣品,實(shí)現(xiàn)高功率紅外窄帶輻射。
5、可制備在柔性襯底上。本發(fā)明公開的紅外窄帶輻射源可以制備在柔性襯底上,可以隨著襯底彎曲,可以根據(jù)應(yīng)用需求調(diào)節(jié)空間輻射場(chǎng)分布。
附圖說明
附圖1為紅外窄帶輻射源結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖2為實(shí)施例1中紅外窄帶輻射源的輻射譜。
附圖3為實(shí)施例2中紅外窄帶輻射源的輻射譜。
具體實(shí)施方式
為使本發(fā)明的內(nèi)容、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合具體實(shí)施例進(jìn)一步闡述本發(fā)明,這些實(shí)施例僅用于說明本發(fā)明,而本發(fā)明不僅限于以下實(shí)施例。下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式作詳細(xì)說明:
實(shí)施例1:
中波紅外窄帶輻射源。本實(shí)例選取Si片為襯底,首先進(jìn)行襯底清洗,接著在其表面鍍制金膜,再鍍上介質(zhì)布拉格反射鏡膜系,最后進(jìn)行測(cè)試表征樣品性能。具體實(shí)施步驟如下:
1、襯底清洗。將Si片放入酒精中超聲10分鐘,去除襯底表面油污,超聲清洗結(jié)束之后,迅速將其取出,用氮?dú)獯蹈?,放入鍍膜腔中?/p>
2、鍍制200nm金屬金薄膜。將Si片放入雙離子束濺射設(shè)備中,鍍制200nm金屬金膜之后將樣品取出。
3、鍍制介質(zhì)腔層和介質(zhì)布拉格反射鏡。將樣品薄膜置于萊寶光學(xué)高真空鍍膜系統(tǒng)中,將鍍膜腔抽空到10-5Pa,鍍膜溫度為150℃,先鍍制介質(zhì)腔層SiO,厚度為99nm。然后鍍制介質(zhì)布拉格反射鏡膜系Si(203nm)|SiO(403nm)|Si(203nm)|SiO(403nm)|Si(203nm)|SiO(403nm)|Si(203nm)|SiO(403nm)|Si(203nm)|SiO(403nm)|Si(203nm)|SiO(403nm)。待腔體內(nèi)溫度降低到80℃以下,取出樣品。
4、樣品性能測(cè)試。將樣品加熱到200℃,使用布魯克傅里葉光譜儀測(cè)試樣品輻射譜,樣品輻射譜如圖2所示。此膜系是良好紅外輻射源,輻射峰位位于3135nm,半高全寬74nm。
實(shí)施例2:
長(zhǎng)波紅外窄帶輻射源。本實(shí)例為襯底聚四氟乙烯薄片,首先進(jìn)行襯底清洗,接著在其表面鍍制金膜,然后鍍上介質(zhì)布拉格反射鏡膜系,最后測(cè)試表征樣品性能。具體實(shí)施步驟如下:
1、襯底清洗。將聚四氟乙烯薄片放入酒精中超聲10分鐘,去除襯底表面油污,超聲清洗結(jié)束之后,迅速將其取出,用氮?dú)獯蹈桑湃脲兡で恢小?/p>
2、鍍制200nm金屬金薄膜。將聚四氟乙烯薄片放入雙離子束濺射設(shè)備中,鍍制200nm金屬金膜之后將樣品取出。
3、鍍制布拉格反射鏡。將樣品薄膜置于萊寶光學(xué)高真空鍍膜系統(tǒng)中,將鍍膜腔抽空到10-5Pa,鍍膜溫度為150℃,先鍍制介質(zhì)腔層Ge,厚度為187nm。然后鍍制介質(zhì)布拉格反射鏡膜系Ge(470nm)|ZnS(892nm)|Ge(470nm)|ZnS(892nm)|Ge(470nm)|ZnS(892nm)|Ge(470nm)|ZnS(892nm)|Ge(470nm)|ZnS(892nm)|Ge(470nm)|ZnS(892nm)|。待腔體內(nèi)溫度降低到80℃一下,取出樣品。
4、樣品性能測(cè)試。將樣品加熱到200℃,使用布魯克傅里葉光譜儀測(cè)試樣品輻射譜,樣品輻射譜如圖3所示。此膜系是良好紅外輻射源,輻射峰位位于8114nm,半高全寬140nm。并且這一紅外窄帶輻射源采用聚四氟乙烯薄片作為襯底,襯底為柔性襯底,可彎曲,實(shí)現(xiàn)曲面輻射源。
以上所述的具體實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。