技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種可動態(tài)觀測納米復(fù)合材料電腐蝕情況的裝置,包括:220V交流電源1、交流升壓電路2、保護(hù)電路3、計算機(jī)4、調(diào)焦裝置5、數(shù)字?jǐn)z像顯微鏡6、冷光源7、玻璃桿8、可升降絕緣柱9、搖柄10、多參數(shù)可調(diào)上電極11、下電極12、納米復(fù)合材料試樣13、實(shí)驗(yàn)臺及絕緣支架14;所述玻璃桿8與多參數(shù)可調(diào)上電極11相連,通過可升降絕緣柱控制上電極11的高度,玻璃桿兩端上設(shè)置有固定栓;所述可升降絕緣柱9表面刻有刻度便于量化調(diào)節(jié)控制上電極11的高度;所述搖柄10用于調(diào)節(jié)可升降絕緣柱9上玻璃桿8及多參數(shù)可調(diào)上電極11的位置;該裝置可動態(tài)觀測納米復(fù)合材料薄膜電腐蝕演變過程,還可以精確控制上電極高度,且上電極形狀、尺度、材質(zhì)可調(diào),因此本裝置操作簡單,實(shí)驗(yàn)精確度高且效率高。
技術(shù)研發(fā)人員:張曉虹;張?zhí)煨?白立陽;馬天驍;程羽佳
受保護(hù)的技術(shù)使用者:哈爾濱理工大學(xué)
文檔號碼:201610991227
技術(shù)研發(fā)日:2016.11.11
技術(shù)公布日:2017.01.25