本發(fā)明屬于同位素測量領域,具體涉及一種ne氣同位素測量方法。
背景技術(shù):
ne同位素含量及其比值在地球科學中應用比較廣泛,針對地外樣品,如隕石等,ne同位素可用來計算其宇宙暴露年齡,針對地幔樣品,如地幔橄欖巖,ne同位素可以用來判斷樣品中大氣組分、同位素分餾以及區(qū)分morb和oib源區(qū),針對礦床樣品,如黃鐵礦等,ne同位素可以用來示蹤成礦流體的來源。
ne有三個同位素,20ne,21ne和22ne,其中21ne和22ne峰位處干擾小且比較容易去除干擾,測量難度不大,但20ne處很容易受到40ar++的影響,且40ar++的影響不容易去除,因此20ne的精確測量難度較大。要將20ne和40ar++分開需要質(zhì)譜的分辨率達到1200以上,現(xiàn)有技術(shù)中的稀有氣體質(zhì)譜儀質(zhì)量分辨率都不能達到,所以在測量ne時40ar++的存在就會影響測量20ne的準確性。
通常的情況下,利用質(zhì)譜質(zhì)量分辨能力(mrp,massresolutionpower),采用峰中心做偏移的方式,盡量去尋找20ne的峰位上盡量平整的位置來測量。例如,通常質(zhì)譜儀做自動峰中心會在40ar++和20ne的疊加峰位上,然后自己計算要偏移到20ne的峰位上需要偏移多少個質(zhì)量數(shù),在測量程序中輸入偏移值也就是手動定峰位測量。
當前這種峰中心偏移的測量ne的方法,只適用于ne信號量較高的情況(>50000cps,約高于7×10-12ccstp),尤其適用于純化效果較好,ar干擾較低的情況,即20ne/40ar++較高的情況,通常20ne/40ar++>5時才能準確測量。但當20ne的信號量低于7×10-12ccstp時,就無法精確測量20ne。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
針對上述問題,本發(fā)明提供了一種ne氣同位素測量方法,該測量方法對測量樣品的信號含量限制較小,不單能測量ne信號量較高的情況(>50000cps,即含量約高于7×10-12ccstp),同時能夠精確測量低ne含量(20ne的信號量<5000cps,即含量約低于7×10-12ccstp時)樣品的ne氣同位素。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
一種ne氣同位素測量方法,所述方法為利用質(zhì)譜儀測量多個校準樣品得到40ar++和40ar+的關(guān)系式,隨后測量待測樣品40ar+,通過計算去除待測樣品中40ar++在質(zhì)量數(shù)20處對待測樣品20ne的影響實現(xiàn)待測樣品ne氣同位素精準測量;所述質(zhì)譜儀在測量所述多個校準樣品和所述待測樣品時的測量參數(shù)相同;所述多個校準樣品不含ne元素;各所述多個校準樣品的ar含量不同。40ar++和40ar+的關(guān)系式會因不同的儀器不同參數(shù)而有所不同,但對于同一儀器相同參數(shù)條件下,該關(guān)系是穩(wěn)定的。
進一步地,所述方法具體包括以下步驟:
(1)利用質(zhì)譜儀測量多個校準樣品的40ar+和40ar++根據(jù)測量結(jié)果擬合得到40ar++和40ar+的關(guān)系式;
(2)用質(zhì)譜儀測量待測樣品質(zhì)量數(shù)20(20ne和40ar++疊加峰處)處和40ar+得到待測樣品的mass20和待測樣品的40ar+的值;
(3)根據(jù)所述40ar++和40ar+的關(guān)系式和所述待測樣品的40ar+的值計算得到待測樣品的40ar++;
(4)待測樣品的20ne的值=所述待測樣品的mass20-所述待測樣品的40ar++。
進一步地,所述質(zhì)譜儀測量待測樣品時,所述質(zhì)譜儀與液氮溫度下的活性炭冷阱和70-90k的冷泵相連以吸附純化系統(tǒng)未去除的ar。
進一步地,所述多個校準樣品的ar的信號量范圍為300cps~100000cps。所述ar信號變化范圍越大擬合數(shù)據(jù)越精確
進一步地,所述多個校準樣品的個數(shù)大于5個。校準樣品越多,擬合數(shù)據(jù)量越多擬合得到的40ar++和40ar+的關(guān)系式越精確。
進一步地,所述測量參數(shù)包括主要是指質(zhì)譜離子源及接收器是我參數(shù);工作時,調(diào)整好測量參數(shù)后,保存在某一個tuning文件中,在測校準樣品和待測樣品時都調(diào)用同一個tuning文件即可;所述質(zhì)譜離子源包括高壓、離子阱電流、離子阱電壓、燈絲電壓;所述接收器包括電子倍增器高壓。
進一步地,所述待測樣品20ne信號量低于50000cps,即含量約低于7×10-11ccstp。
進一步地,所述待測樣品20ne信號量低于5000cps,即含量低于7×10-12ccstp。
本發(fā)明的有益技術(shù)效果:
(1)本發(fā)明對待測樣品的要求降低:現(xiàn)有技術(shù)的ne的測量方法只能針對于20ne信號量大于50000cps,即含量約高于7×10-11ccstp的樣品,且20ne/40ar++>5的樣品的測量情況較好,本發(fā)明采用ar校正的方法測量ne同位素,對于20ne信號量低于50000cps,即含量約低于7×10-11ccstp,甚至信號量低于5000cps,即含量低于7×10-12ccstp都可以較準確測量。
(2)本發(fā)明避免現(xiàn)有技術(shù)中手動定峰位測量,降低誤差、精度高。
(3)本發(fā)明方法簡單、易行,可實施性高。
附圖說明
圖1、現(xiàn)有技術(shù)中測量mass20處的峰圖;
圖2、本發(fā)明實施例中40ar++和40ar+的關(guān)系式擬合示意圖;
圖3、本發(fā)明實施例測量結(jié)果與傳統(tǒng)測量結(jié)果對比圖。
具體實施方式
為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實施例,對本發(fā)明進行進一步詳細描述。應當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
相反,本發(fā)明涵蓋任何由權(quán)利要求定義的在本發(fā)明的精髓和范圍上做的替代、修改、等效方法以及方案。進一步,為了使公眾對本發(fā)明有更好的了解,在下文對本發(fā)明的細節(jié)描述中,詳盡描述了一些特定的細節(jié)部分。對本領域技術(shù)人員來說沒有這些細節(jié)部分的描述也可以完全理解本發(fā)明。
實施例1
現(xiàn)有技術(shù)中,如圖1所示,橫軸為質(zhì)量數(shù),縱軸為信號量,單位為每秒鐘計數(shù)(cps,countpersecond)。要將20ne和40ar++分開的話質(zhì)譜的分辨率要達到1200以上,目前主流的稀有氣體質(zhì)譜儀質(zhì)量分辨率都不能達到,所以在測量ne時40ar++的存在就會影響測量20ne的準確性。
本發(fā)明采用校正40ar++的方法來測量20ne,以在nobleese稀有氣體質(zhì)譜儀上的應用為例,測量方法包括以下步驟:
(1)利用質(zhì)譜儀測量11個校準樣品的40ar+和40ar++根據(jù)測量結(jié)果擬合得到40ar++和40ar+的關(guān)系式:40ar++=0.2316*40ar+-1.2813;選用的校準樣品的40ar的信號量在400-18700cps之間,如圖2所示。
(2)用質(zhì)譜儀測量待測樣品質(zhì)量數(shù)20(20ne和40ar++疊加峰處)處和40ar+得到待測樣品的mass20和待測樣品的40ar+的值;
(3)根據(jù)所述40ar++和40ar+的關(guān)系式和所述待測樣品的40ar+的值計算得到待測樣品的40ar++;
(4)待測樣品的20ne的值=所述待測樣品的mass20-所述待測樣品的40ar++。測得20ne的信號量從2000cps到16000cps不等。區(qū)別于傳統(tǒng)測量方法的對比如圖3所示。本專利方法有效的降低了20ne/22ne比值的波動。
其中測量參數(shù)分別為:離子源參數(shù):高壓:6000v,離子阱電流:350微安,離子阱電壓:25v,燈絲電壓:-84v,接收器采用電子倍增起,其高壓為2540v。
上述ne同位素測量方法可應用于各個方面,針對地外樣品,如隕石等,ne同位素可用來計算其宇宙暴露年齡,針對地幔樣品,如地幔橄欖巖,ne同位素可以用來判斷樣品中大氣組分、同位素分餾以及區(qū)分morb和oib源區(qū),針對礦床樣品,如黃鐵礦等,ne同位素可以用來示蹤成礦流體的來源。