1.一種RFID標簽頻響特性快速測試裝置，其特征在于，包括第一塊Hackrf One(A)、射頻信號源、環(huán)路器、功分器、頻譜儀、第二塊Hackrf One(B)、上位計算機、天線；第一塊Hackrf One(A)的I路與Q路輸出連接射頻信號源的I路與Q路；射頻信號源輸出連接環(huán)路器口1；功分器輸入接環(huán)路器口3，功分器輸出一路接頻譜儀射頻輸入，功分器輸出別一路接第二塊Hackrf One(B)；第二塊Hackrf One(B)觸發(fā)輸出與頻譜儀的外觸發(fā)輸入相連；環(huán)路器口2與天線相連；兩Hackrf One的USB口與上位計算機的USB口相連；射頻信號源與頻譜儀均通過網(wǎng)絡交換機與上位計算機相連。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種RFID標簽頻響特性快速測試裝置，其特征在于，所述的頻譜儀、射頻信號源、環(huán)路器、功分器、天線的頻段選擇為700MHz～1.5GHz。
3.一種RFID標簽頻響特性快速測試方法，其特征在于，包括以下內(nèi)容：
1)頻譜儀中心頻率設為700MHz,頻寬設為0，觸發(fā)方式設為外觸發(fā)；
2)射頻信號源頻率設為700MHz,功率10dBm,外調(diào)制制輸入；
3)上位計算機設置第一塊Hackrf One(A)為發(fā)射模式，第二塊Hackrf One(B)為接收模式。
4)上位機控制Hackrf One(A)發(fā)出已調(diào)制基帶信號，調(diào)制內(nèi)容為RFID協(xié)議的“盤存”命令；
5)射頻信號源將基帶信號上變頻到700MHz；
6)射頻信號通過環(huán)路器，到達天線，通過天線向RFID標簽發(fā)射；
7)RFID標簽響應盤存命令，向天線發(fā)射響應信號；
8)天線收到RFID響應的射頻信號，通過環(huán)路器和功分器送往頻譜儀和Hackrf One(B)；
9)Hackrf One(B)解調(diào)射頻信號，并向頻譜儀發(fā)出外觸發(fā)信號；
10)頻譜儀捕捉到天線收到的RFID反射的射頻信號，并測出射頻信號的功率，結果上傳上位計算機，完成一個頻率點測量；
11)上位計算機控制頻譜儀、射頻信號源到下一個頻率點，重復5～9，直到完成所有頻率點測量；
12)測量結束，上位計算機將所有頻率點的射頻功率，繪成曲線，得到該RFID標簽的頻響曲線。