技術總結
本發(fā)明涉及一種磁芯損耗測量的定標方法，在直流功率計法測量磁件損耗的原理基礎上，通過詳細分析所建立的方波逆變裝置各個損耗部分的產(chǎn)生原理，從而建立起精確的裝置損耗定標模型，并且考慮到裝置損耗在器件于不同溫升下，其定標模型的待定系數(shù)將會發(fā)生變化，而不同的輸入電壓將會直接導致裝置開關器件處于不同的溫升下工作，因此本發(fā)明最終在所建立的定標模型的基礎上，依據(jù)不同輸入電壓進行分段定標，大大提高了裝置的測量精度。

技術研發(fā)人員：陳為;柳百毅;陳慶彬
受保護的技術使用者：福州大學
文檔號碼：201610676909
技術研發(fā)日：2016.08.17
技術公布日：2017.01.04